학술논문
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'학술논문'
에서 검색결과 23,887건 | 목록
1~20
Academic Journal
ACM Transactions on Embedded Computing Systems. 22(5s):1-25
Report
Collaboration, SNO; Abreu, M.; Allega, A.; Anderson, M. R.; Andringa, S.; Arora, S.; Asner, D. M.; Auty, D. J.; Bacon, A.; Baltazar, T.; Barão, F.; Barros, N.; Bayes, R.; Baylis, C.; Beier, E. W.; Bialek, A.; Biller, S. D.; Caden, E.; Callaghan, E. J.; Chen, M.; Cheng, S.; Cleveland, B.; Cookman, D.; Corning, J.; DeGraw, S.; Dehghani, R.; Deloye, J.; Depatie, M. M.; Dima, C.; Dittmer, J.; Dixon, K. H.; Esmaeilian, M. S.; Falk, E.; Fatemighomi, N.; Ford, R.; Gadamsetty, S.; Gaur, A.; Gooding, D.; Grant, C.; Grove, J.; Hall, S.; Hallin, A. L.; Hallman, D.; Hebert, M. R.; Heintzelman, W. J.; Helmer, R. L.; Hewitt, C.; Hreljac, B.; Huang, P.; Hunt-Stokes, R.; Inácio, A. S.; Jillings, C. J.; Kaluzienski, S.; Kaptanoglu, T.; Kladnik, J.; Klein, J. R.; Kormos, L. L.; Krar, B.; Kraus, C.; Krauss, C. B.; Kroupová, T.; Lake, C.; Lebanowski, L.; Lefebvre, C.; Liggins, B.; Lozza, V.; Luo, M.; Maguire, S.; Maio, A.; Manecki, S.; Maneira, J.; Martin, R. D.; McCauley, N.; McDonald, A. B.; Milton, G.; Morris, D.; Mubasher, M.; Naugle, S.; Nolan, L. J.; O'Keeffe, H. M.; Gann, G. D. Orebi; Ouyang, S.; Page, J.; Pal, S.; Paleshi, K.; Parker, W.; Pickard, L. J.; Pitelka, R. C.; Quenallata, B.; Ravi, P.; Reichold, A.; Riccetto, S.; Rose, J.; Rosero, R.; Shen, J.; Simms, J.; Skensved, P.; Smiley, M.; Stringer, M. I.; Tafirout, R.; Tam, B.; Tseng, J.; Vázquez-Jáuregui, E.; Virtue, C. J.; Wang, F.; Ward, M.; Wilson, J. R.; Wilson, J. D.; Wright, A.; Yang, S.; Ye, Z.; Yeh, M.; Yu, S.; Zhang, Y.; Zuber, K.
Report
Abreu, M.; Allega, A.; Anderson, M. R.; Andringa, S.; Asner, D. M.; Auty, D. J.; Bacon, A.; Baltazar, T.; Barão, F.; Barros, N.; Bayes, R.; Beier, E. W.; Bialek, A.; Biller, S. D.; Caden, E.; Chen, M.; Cheng, S.; Cleveland, B.; Cookman, D.; Corning, J.; DeGraw, S.; Dehghani, R.; Deloye, J.; Depatie, M. M.; Dima, C.; Dittmer, J.; Dixon, K. H.; Esmaeilian, M. S.; Falk, E.; Fatemighomi, N.; Ford, R.; Gadamsetty, S.; Gaur, A.; Gooding, D.; Grant, C.; Grove, J.; Hall, S.; Hallin, A. L.; Hallman, D.; Hebert, M. R.; Heintzelman, W. J.; Helmer, R. L.; Hewitt, C.; Hreljac, B.; Huang, P.; Hunt-Stokes, R.; Inácio, A. S.; Jillings, C. J.; Kaluzienski, S.; Kaptanoglu, T.; Kladnik, J.; Klein, J. R.; Kormos, L. L.; Krar, B.; Kraus, C.; Kroupová, T.; Lake, C.; Lebanowski, L.; Lefebvre, C.; Lozza, V.; Luo, M.; Maguire, S.; Maio, A.; Manecki, S.; Maneira, J.; Martin, R. D.; McCauley, N.; McDonald, A. B.; Mills, C.; Milton, G.; Morris, D.; Morton-Blake, I.; Mubasher, M.; Naugle, S.; Nolan, L. J.; O'Keeffe, H. M.; OrebiGann, G. D.; Ouyang, S.; Page, J.; Pal, S.; Paleshi, K.; Parker, W.; Pickard, L. J.; Pitelka, R. C.; Quenallata, B.; Ravi, P.; Reichold, A.; Riccetto, S.; Rose, J.; Rosero, R.; Shen, J.; Simms, J.; Skensved, P.; Smiley, M.; Tafirout, R.; Tam, B.; Tseng, J.; Vázquez-Jáuregui, E.; Virtue, C. J.; Wang, F.; Ward, M.; Wilson, J. D.; Wilson, J. R.; Wright, A.; Yang, S.; Ye, Z.; Yeh, M.; Yu, S.; Zhang, Y.; Zuber, K.; Zummo, A.
Report
Collaboration, SNO; Abreu, M.; Allega, A.; Anderson, M. R.; Andringa, S.; Asner, D. M.; Auty, D. J.; Bacon, A.; Baltazar, T.; Barão, F.; Barros, N.; Bayes, R.; Beier, E. W.; Bialek, A.; Biller, S. D.; Caden, E.; Chen, M.; Cheng, S.; Cleveland, B.; Cookman, D.; Corning, J.; DeGraw, S.; Dehghani, R.; Deloye, J.; Depatie, M. M.; Di Lodovico, F.; Dima, C.; Dittmer, J.; Dixon, K. H.; Esmaeilian, M. S.; Falk, E.; Fatemighomi, N.; Ford, R.; Gaur, A.; González-Reina, O. I.; Gooding, D.; Grant, C.; Grove, J.; Hall, S.; Hallin, A. L.; Hallman, D.; Hebert, M. R.; Heintzelman, W. J.; Helmer, R. L.; Hewitt, C.; Hreljac, B.; Huang, P.; Hunt-Stokes, R.; Inácio, A. S.; Jillings, C. J.; Kaluzienski, S.; Kaptanoglu, T.; Kladnik, J.; Klein, J. R.; Kormos, L. L.; Krar, B.; Kraus, C.; Krauss, C. B.; Kroupová, T.; Lake, C.; Lebanowski, L.; Lefebvre, C.; Lozza, V.; Luo, M.; Maguire, S.; Maio, A.; Manecki, S.; Maneira, J.; Martin, R. D.; McCauley, N.; McDonald, A. B.; Milton, G.; Morris, D.; Mubasher, M.; Naugle, S.; Nolan, L. J.; O'Keeffe, H. M.; Gann, G. D. Orebi; Ouyang, S.; Page, J.; Pal, S.; Paleshi, K.; Parker, W.; Pickard, L. J.; Quenallata, B.; Ravi, P.; Reichold, A.; Riccetto, S.; Rose, J.; Rosero, R.; Shen, J.; Simms, J.; Skensved, P.; Smiley, M.; Tafirout, R.; Tam, B.; Tseng, J.; Vázquez-Jáuregui, E.; Veinot, J. G. C.; Virtue, C. J.; Wang, F.; Ward, M.; Weigand, J. J.; Wilson, J. D.; Wilson, J. R.; Wright, A.; Yang, S.; Ye, Z.; Yeh, M.; Yu, S.; Zhang, Y.; Zuber, K.; Zummo, A.
Report
Collaboration, SNO; Abreu, M.; Albanese, V.; Allega, A.; Alves, R.; Anderson, M. R.; Andringa, S.; Anselmo, L.; Antunes, J.; Arushanova, E.; Asahi, S.; Askins, M.; Asner, D. M.; Auty, D. J.; Back, A. R.; Back, S.; Bacon, A.; Baltazar, T.; Barão, F.; Barnard, Z.; Barr, A.; Barros, N.; Bartlett, D.; Bayes, R.; Beaudoin, C.; Beier, E. W.; Berardi, G.; Bezerra, T. S.; Bialek, A.; Biller, S. D.; Blucher, E.; Boeltzig, A.; Bonventre, R.; Boulay, M.; Braid, D.; Caden, E.; Callaghan, E. J.; Caravaca, J.; Carvalho, J.; Cavalli, L.; Chauhan, D.; Chen, M.; Cheng, S.; Chkvorets, O.; Clark, K. J.; Cleveland, B.; Connors, C.; Cookman, D.; Corning, J.; Coulter, I. T.; Cox, M. A.; Cressy, D.; Dai, X.; Darrach, C.; DeGraw, S.; Dehghani, R.; Deloye, J.; Depatie, M. M.; Descamps, F.; Dima, C.; Dittmer, J.; Dixon, K. H.; Di Lodovico, F.; Doxtator, A.; Duhaime, N.; Duncan, F.; Dunger, J.; Earle, A. D.; Esmaeilian, M. S.; Fabris, D.; Falk, E.; Farrugia, A.; Fatemighomi, N.; Felber, C.; Fischer, V.; Fletcher, E.; Ford, R.; Frankiewicz, K.; Gagnon, N.; Gaur, A.; Gauthier, J.; Gibson-Foster, A.; Gilje, K.; González-Reina, O. I.; Gooding, D.; Gorel, P.; Graham, K.; Grant, C.; Grove, J.; Grullon, S.; Guillian, E.; Hahn, R. L.; Hall, S.; Hallin, A. L.; Hallman, D.; Hans, S.; Hartnell, J.; Harvey, P.; Hearns, C.; Hebert, M. R.; Hedayatipour, M.; Heintzelman, W. J.; Heise, J.; Helmer, R. L.; Hewitt, C.; Hodak, B.; Hodak, M.; Hood, M.; Horne, D.; Howe, M.; Hreljac, B.; Hu, J.; Huang, P.; Hunt-Stokes, R.; Iida, T.; Inácio, A. S.; Jackson, C. M.; Jelley, N. A.; Jillings, C. J.; Jones, C.; Jones, P. G.; Kaluzienski, S.; Kamdin, K.; Kaptanoglu, T.; Kaspar, J.; Keeter, K.; Kefelian, C.; Khaghani, P.; Kippenbrock, L.; Kladnik, J.; Klein, J. R.; Knapik, R.; Kofron, J.; Kormos, L. L.; Korte, S.; Krar, B.; Kraus, C.; Krauss, C. B.; Kroupová, T.; Labe, K.; Lafleur, F.; Lake, C.; Lam, I.; Lan, C.; Land, B. J.; Lane, R.; Langrock, S.; Larochelle, P.; Larose, S.; LaTorre, A.; Lawson, I.; Lebanowski, L.; Lee, J.; Lefebvre, C.; Lefeuvre, G. M.; Leming, E. J.; Li, A.; Li, O.; Lidgard, J.; Liggins, B.; Liimatainen, P.; Lin, Y. H.; Liu, X.; Liu, Y.; Lozza, V.; Luo, M.; Maguire, S.; Maio, A.; Majumdar, K.; Manecki, S.; Maneira, J.; Martin, R. D.; Marzec, E.; Mastbaum, A.; Mathewson, A.; McCauley, N.; McDonald, A. B.; McFarlane, K.; Mekarski, P.; Meyer, M.; Miller, C.; Mills, C.; Milton, G.; Mlejnek, M.; Mony, E.; Morissette, B.; Morris, D.; Morton-Blake, I.; Mottram, M. J.; Mubasher, M.; Nae, S.; Naugle, S.; Newcomer, M.; Nirkko, M.; Nolan, L. J.; Novikov, V. M.; O'Keeffe, H. M.; O'Sullivan, E.; Gann, G. D. Orebi; Ouyang, S.; Page, J.; Pal, S.; Paleshi, K.; Parker, W.; Parnell, M. J.; Paton, J.; Peeters, S. J. M.; Pershing, T.; Petriw, Z.; Petzoldt, J.; Pickard, L. J.; Pracsovics, D.; Prior, G.; Prouty, J. C.; Quenallata, B.; Quirk, S.; Ravi, P.; Read, S.; Reichold, A.; Reinhard, M.; Riccetto, S.; Rigan, M.; Ritchie, I.; Robertson, A.; Robertson, B. C.; Rose, J.; Rosero, R.; Rost, P. M.; Rumleskie, J.; Sörensen, A.; Schrock, P.; Schumaker, M. A.; Schwendener, M. H.; Scislowski, D.; Secrest, J.; Seddighin, M.; Segui, L.; Seibert, S.; Semenec, I.; Shaker, F.; Shantz, T.; Sharma, M. K.; Shen, J.; Shokair, T. M.; Sibley, L.; Simms, J.; Sinclair, J. R.; Singh, K.; Skensved, P.; Smiley, M.; Sonley, T.; St-Amant, M.; Stainforth, R.; Stankiewicz, S.; Strait, M.; Stringer, M. I.; Stripay, A.; Svoboda, R.; Tacchino, S.; Tafirout, R.; Tam, B.; Tanguay, C.; Tatar, J.; Tian, L.; Tolich, N.; Tseng, J.; Tseung, H. W. C.; Turner, E.; Vázquez-Jáuregui, E.; Valder, S.; Van Berg, R.; Veinot, J. G. C.; Virtue, C. J.; von Krosigk, B.; Walker, J. M. G.; Walker, M.; Wallig, J.; Walton, S. C.; Wang, F.; Wang, J.; Ward, M.; Waterfield, J.; Weigand, J. J.; White, R. F.; Wilkerson, J. F.; Wilson, J. R.; Wilson, J. D.; Winchester, T. J.; Woosaree, P.; Wright, A.; Yang, S.; Yazigi, K.; Ye, Z.; Yeh, M.; Yu, S.; Zhang, T.; Zhang, Y.; Zhao, T.; Zuber, K.; Zummo, A.
Phys. Rev. Lett. 135, 121801 (2025)
Conference
Proceedings of the 13th annual ACM international conference on Multimedia. :872-881
Report
Collaboration, SNO; Allega, A.; Anderson, M. R.; Andringa, S.; Askins, M.; Asner, D. M.; Auty, D. J.; Bacon, A.; Barão, F.; Barros, N.; Bayes, R.; Beier, E. W.; Bialek, A.; Biller, S. D.; Blucher, E.; Caden, E.; Callaghan, E. J.; Chen, M.; Cheng, S.; Cleveland, B.; Cookman, D.; Corning, J.; Cox, M. A.; Dehghani, R.; Deloye, J.; Depatie, M. M.; Di Lodovico, F.; Dima, C.; Dittmer, J.; Dixon, K. H.; Esmaeilian, M. S.; Falk, E.; Fatemighomi, N.; Ford, R.; Gaur, A.; González-Reina, O. I.; Gooding, D.; Grant, C.; Grove, J.; Hall, S.; Hallin, A. L.; Hallman, D.; Heintzelman, W. J.; Helmer, R. L.; Hewitt, C.; Hreljac, B.; Hu, J.; Huang, P.; Hunt-Stokes, R.; Hussain, S. M. A.; Inácio, A. S.; Jillings, C. J.; Kaluzienski, S.; Kaptanoglu, T.; Kladnik, J.; Klein, J. R.; Kormos, L. L.; Krar, B.; Kraus, C.; Krauss, C. B.; Kroupová, T.; Lake, C.; Lebanowski, L.; Lefebvre, C.; Lozza, V.; Luo, M.; Maio, A.; Manecki, S.; Maneira, J.; Martin, R. D.; McCauley, N.; McDonald, A. B.; Milton, G.; Morris, D.; Mubasher, M.; Naugle, S.; Nolan, L. J.; O'Keeffe, H. M.; Gann, G. D. Orebi; Page, J.; Paleshi, K.; Parker, W.; Paton, J.; Peeters, S. J. M.; Pickard, L.; Quenallata, B.; Ravi, P.; Reichold, A.; Riccetto, S.; Rose, J.; Rosero, R.; Semenec, I.; Simms, J.; Skensved, P.; Smiley, M.; Svoboda, R.; Tam, B.; Tseng, J.; Vázquez-Jáuregui, E.; Virtue, C. J.; Ward, M.; Wilson, J. R.; Wilson, J. D.; Wright, A.; Yang, S.; Yeh, M.; Ye, Z.; Yu, S.; Zhang, Y.; Zuber, K.; Zummo, A.
Phys. Rev. D 110, 122003 (2024)
Report
Collaboration, SNO; Allega, A.; Anderson, M. R.; Andringa, S.; Askins, M.; Asner, D. M.; Auty, D. J.; Bacon, A.; Baker, J.; Barão, F.; Barros, N.; Bayes, R.; Beier, E. W.; Bezerra, T. S.; Bialek, A.; Biller, S. D.; Blucher, E.; Caden, E.; Callaghan, E. J.; Chen, M.; Cheng, S.; Cleveland, B.; Cookman, D.; Corning, J.; Cox, M. A.; Dehghani, R.; Deloye, J.; Depatie, M. M.; Di Lodovico, F.; Dima, C.; Dittmer, J.; Dixon, K. H.; Esmaeilian, M. S.; Falk, E.; Fatemighomi, N.; Ford, R.; Gaur, A.; González-Reina, O. I.; Gooding, D.; Grant, C.; Grove, J.; Hall, S.; Hallin, A. L.; Hallman, D.; Heintzelman, W. J.; Helmer, R. L.; Hewitt, C.; Howard, V.; Hreljac, B.; Hu, J.; Huang, P.; Hunt-Stokes, R.; Hussain, S. M. A.; Inácio, A. S.; Jillings, C. J.; Kaluzienski, S.; Kaptanoglu, T.; Khan, H.; Kladnik, J.; Klein, J. R.; Kormos, L. L.; Krar, B.; Kraus, C.; Krauss, C. B.; Kroupová, T.; Lake, C.; Lebanowski, L.; Lefebvre, C.; Lozza, V.; Luo, M.; Maio, A.; Manecki, S.; Maneira, J.; Martin, R. D.; McCauley, N.; McDonald, A. B.; Mills, C.; Milton, G.; Colina, A. Molina; Morris, D.; Morton-Blake, I.; Mubasher, M.; Naugle, S.; Nolan, L. J.; O'Keeffe, H. M.; Gann, G. D. Orebi; Page, J.; Paleshi, K.; Parker, W.; Paton, J.; Peeters, S. J. M.; Pickard, L.; Quenallata, B.; Ravi, P.; Reichold, A.; Riccetto, S.; Rose, J.; Rosero, R.; Semenec, I.; Simms, J.; Skensved, P.; Smiley, M.; Smith, J.; Svoboda, R.; Tam, B.; Tseng, J.; Vázquez-Jáuregui, E.; Veinot, J. G. C.; Virtue, C. J.; Ward, M.; Weigand, J. J.; Wilson, J. R.; Wilson, J. D.; Wright, A.; Yang, S.; Yeh, M.; Ye, Z.; Yu, S.; Zhang, Y.; Zuber, K.; Zummo, A.
Eur. Phys. J. C 85, 17 (2025)
Conference
Chang, C. Y.; Tseng, S. H.; Chiang, M. H.; Hsin, C. T.; Ke, L. Y.; Wang, Y. J.; Yeh, C. Y.; Tsai, H. H.; Juang, Y. Z.; Yeh, W. K.
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2021 IEEE International. :23.5.1-23.5.4 Dec, 2021
Conference
Proceedings of the 15th international conference on World Wide Web. :909-910
Event-by-Event Direction Reconstruction of Solar Neutrinos in a High Light-Yield Liquid Scintillator
Report
Allega, A.; Anderson, M. R.; Andringa, S.; Antunes, J.; Askins, M.; Auty, D. J.; Bacon, A.; Baker, J.; Barros, N.; Barão, F.; Bayes, R.; Beier, E. W.; Bezerra, T. S.; Bialek, A.; Biller, S. D.; Blucher, E.; Caden, E.; Callaghan, E. J.; Chen, M.; Cheng, S.; Cleveland, B.; Cookman, D.; Corning, J.; Cox, M. A.; Dehghani, R.; Deloye, J.; Depatie, M. M.; Di Lodovico, F.; Dittmer, J.; Dixon, K. H.; Falk, E.; Fatemighomi, N.; Ford, R.; Gaur, A.; Ganzálaz-Reina, O. I.; Gooding, D.; Grant, C.; Grove, J.; Hall, S.; Hallin, A. L.; Heintzelman, W. J.; Helmer, R. L.; Hewitt, C.; Hreljac, B.; Howard, V.; Hu, J.; Hunt-Stokes, R.; Hussain, S. M. A.; Inácio, A. S.; Jillings, C. J.; Kaluzienski, S.; Kaptanoglu, T.; Khaghani, P.; Khan, H.; Klein, J. R.; Kormos, L. L.; Krar, B.; Kraus, C.; Krauss, C. B.; Kroupová, T.; Lake, C.; Lebanowski, L.; Lee, J.; Lefebvra, C.; Lin, Y. H.; Lozza, V.; Luo, M.; Maio, A.; Manecki, S.; Maneira, J.; Martin, R. D.; McCauley, N.; McDonald, A. B.; Mills, C.; Milton, G.; Morton-Blake, I.; Mubasher, M.; Colina, A. Molina; Morris, D.; Naugle, S.; Nolan, L. J.; O'Keeffe, H. M.; Gann, G. D. Orebi; Page, J.; Paleshi, K.; Parker, W.; Paton, J.; Peeters, S. J. M.; Pickard, L.; Ravi, P.; Reichold, A.; Riccetto, S.; Rigan, M.; Rose, J.; Rosero, R.; Rumleskie, J.; Semenec, I.; Skensvard, P.; Smiley, M.; Smith, J.; Svoboda, R.; Tam, B.; Tseng, J.; Valder, S.; Vázquez-Jáuregui, E.; Virtue, C. J.; Wang, J.; Ward, M.; Wilson, J. R.; Wilson, J. D.; Wright, A.; Yanez, J. P.; Yang, S.; Yeh, M.; Ye, Z.; Yu, S.; Zhang, Y.; Zuber, K.; Zummo, A.
Report
Wang, Qisi; Mustafi, S.; Fogh, E.; Astrakhantsev, N.; He, Z.; Biało, I.; Chan, Ying; Martinelli, L.; Horio, M.; Ivashko, O.; Shaik, N. E.; von Arx, K.; Sassa, Y.; Paris, E.; Fischer, M. H.; Tseng, Y.; Christensen, N. B.; Galdi, A.; Schlom, D. G.; Shen, K. M.; Schmitt, T.; Rønnow, H. M.; Chang, J.
Nature Communications 15, 5348 (2024)
Conference
Lee, C. S.; Yang, S. H.; Hung, J. T.; Chien, W. T.; Lin, M. Y.; Liao, Y. H.; Tseng, L. Y.; Hsu, W. C.; Ho, C. S.; Chou, B. Y.; Lai, Y. N.
2010 International Symposium on Next Generation Electronics Next-Generation Electronics (ISNE), 2010 International Symposium on. :178-181 Nov, 2010
Report
Collaboration, SNO; Allega, A.; Anderson, M. R.; Andringa, S.; Antunes, J.; Askins, M.; Auty, D. J.; Bacon, A.; Barros, N.; Barao, F.; Bayes, R.; Beier, E. W.; Bezerra, T. S.; Bialek, A.; Biller, S. D.; Blucher, E.; Caden, E.; Callaghan, E. J.; Cheng, S.; Chen, M.; Cleveland, B.; Cookman, D.; Corning, J.; Cox, M. A.; Dehghani, R.; Deloye, J.; Deluce, C.; Depatie, M. M.; Dittmer, J.; Dixon, K. H.; Di Lodovico, F.; Falk, E.; Fatemighomi, N.; Ford, R.; Frankiewicz, K.; Gaur, A.; Gonzalez-Reina, O. I.; Gooding, D.; Grant, C.; Grove, J.; Hallin, A. L.; Hallman, D.; Heintzelman, W. J.; Helmer, R. L.; Hu, J.; Hunt-Stokes, R.; Hussain, S. M. A.; Inacio, A. S.; Jillings, C. J.; Kaluzienski, S.; Kaptanoglu, T.; Khaghani, P.; Khan, H.; Klein, J. R.; Kormos, L. L.; Krar, B.; Kraus, C.; Krauss, C. B.; Kroupova, T.; Lam, I.; Land, B. J.; Lawson, I.; Lebanowski, L.; Lee, J.; Lefebvre, C.; Lidgard, J.; Lin, Y. H.; Lozza, V.; Luo, M.; Maio, A.; Manecki, S.; Maneira, J.; Martin, R. D.; McCauley, N.; McDonald, A. B.; Mills, C.; Morton-Blake, I.; Naugle, S.; Nolan, L. J.; O'Keeffe, H. M.; Gann, G. D. Orebi; Page, J.; Parker, W.; Paton, J.; Peeters, S. J. M.; Pickard, L.; Ravi, P.; Reichold, A.; Riccetto, S.; Richardson, R.; Rigan, M.; Rose, J.; Rosero, R.; Rumleskie, J.; Semenec, I.; Skensved, P.; Smiley, M.; Svoboda, R.; Tam, B.; Tseng, J.; Turner, E.; Valder, S.; Virtue, C. J.; Vazquez-Jauregui, E.; Wang, J.; Ward, M.; Wilson, J. R.; Wilson, J. D.; Wright, A.; Yanez, J. P.; Yang, S.; Yeh, M.; Yu, S.; Zhang, Y.; Zuber, K.; Zummo, A.
Phys.Rev.Lett. 130 (2023) 9, 091801
Report
Lin, Hsiu-Hsien; Lin, Kai-yang; Li, Chao-Te; Tseng, Yao-Huan; Jiang, Homin; Wang, Jen-Hung; Cheng, Jen-Chieh; Pen, Ue-Li; Chen, Ming-Tang; Chen, Pisin; Chen, Yaocheng; Goto, Tomotsugu; Hashimoto, Tetsuya; Hwang, Yuh-Jing; King, Sun-Kun; Kubo, Derek; Kuo, Chung-Yun; Mills, Adam; Nam, Jiwoo; Oshiro, Peter; Shen, Chang-Shao; Tseng, Hsien-Chun; Wang, Shih-Hao; Wu, Vigo Feng-Shun; Bower, Geoffrey; Chang, Shu-Hao; Chen, Pai-An; Chen, Ying-Chih; Chiang, Yi-Kuan; Fedynitch, Anatoli; Gusinskaia, Nina; Ho, Simon C. -C.; Hsiao, Tiger Y. -Y.; Hu, Chin-Ping; De Huang, Yau; Garcia, Jose Miguel Jauregui; Kim, Seong Jin; Kuo, Cheng-Yu; Ling, Decmend Fang-Jie; On, Alvina Y. L.; Peterson, Jeffrey B.; Raquel, Bjorn Jasper R.; Su, Shih-Chieh; Uno, Yuri; Wu, Cossas K. -W.; Yamasaki, Shotaro; Zhu, Hong-Ming
PASP 134 094106 (2022)
Academic Journal
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 60(7):2231-2237 Jul, 2013
Report
Collaboration, SNO; Allega, A.; Anderson, M. R.; Andringa, S.; Askins, M.; Auty, D. J.; Bacon, A.; Barros, N.; Barão, F.; Bayes, R.; Beier, E. W.; Bezerra, T. S.; Bialek, A.; Biller, S. D.; Blucher, E.; Caden, E.; Callaghan, E. J.; Cheng, S.; Chen, M.; Chkvorets, O.; Cleveland, B.; Cookman, D.; Corning, J.; Cox, M. A.; Dehghani, R.; Deluce, C.; Depatie, M. M.; Dittmer, J.; Dixon, K. H.; Di Lodovico, F.; Falk, E.; Fatemighomi, N.; Ford, R.; Frankiewicz, K.; Gaur, A.; González-Reina, O. I.; Gooding, D.; Grant, C.; Grove, J.; Hallin, A. L.; Hallman, D.; Hartnell, J.; Heintzelman, W. J.; Helmer, R. L.; Hu, J.; Hunt-Stokes, R.; Hussain, S. M. A.; Inácio, A. S.; Jillings, C. J.; Kaptanoglu, T.; Khaghani, P.; Khan, H.; Klein, J. R.; Kormos, L. L.; Krar, B.; Kraus, C.; Krauss, C. B.; Kroupová, T.; Lam, I.; Land, B. J.; Lawson, I.; Lebanowski, L.; Lee, J.; Lefebvre, C.; Lidgard, J.; Lin, Y. H.; Lozza, V.; Luo, M.; Maio, A.; Manecki, S.; Maneira, J.; Martin, R. D.; McCauley, N.; McDonald, A. B.; Meyer, M.; Mills, C.; Morton-Blake, I.; Naugle, S.; Nolan, L. J.; O'Keeffe, H. M.; Gann, G. D. Orebi; Page, J.; Parker, W.; Paton, J.; Peeters, S. J. M.; Pickard, L.; Ravi, P.; Reichold, A.; Riccetto, S.; Richardson, R.; Rigan, M.; Rose, J.; Rumleskie, J.; Semenec, I.; Skensved, P.; Smiley, M.; Svoboda, R.; Tam, B.; Tseng, J.; Turner, E.; Valder, S.; Veinot, J. G. C.; Virtue, C. J.; Vázquez-Jáuregui, E.; Wang, J.; Ward, M.; Weigand, J. J.; Wilson, J. D.; Wilson, J. R.; Wright, A.; Yanez, J. P.; Yang, S.; Yeh, M.; Yu, S.; Zhang, T.; Zhang, Y.; Zuber, K.; Zummo, A.
Phys. Rev. D 105, 112012 (2022)
Report
Acero, M. A.; Argüelles, C. A.; Hostert, M.; Kalra, D.; Karagiorgi, G.; Kelly, K. J.; Littlejohn, B.; Machado, P.; Pettus, W.; Toups, M.; Ross-Lonergan, M.; Sousa, A.; Surukuchi, P. T.; Wong, Y. Y. Y.; Abdallah, W.; Abdullahi, A. M.; Akutsu, R.; Alvarez-Ruso, L.; Alves, D. S. M.; Aurisano, A.; Balantekin, A. B.; Berryman, J. M.; Bertólez-Martínez, T.; Brunner, J.; Blennow, M.; Bolognesi, S.; Borusinski, M.; Cianci, D.; Collin, G.; Conrad, J. M.; Crow, B.; Denton, P. B.; Duvall, M.; Fernández-Martinez, E.; Fong, C. S.; Foppiani, N.; Forero, D. V.; Friend, M.; García-Soto, A.; Giganti, C.; Giunti, C.; Gandhi, R.; Ghosh, M.; Hardin, J.; Heeger, K. M.; Ishitsuka, M.; Izmaylov, A.; Jones, B. J. P.; Jordan, J. R.; Kamp, N. W.; Katori, T.; Kim, S. B.; Koerner, L. W.; Lamoureux, M.; Lasserre, T.; Leach, K. G.; Learned, J.; Li, Y. F.; Link, J. M.; Louis, W. C.; Mahn, K.; Meyers, P. D.; Maricic, J.; Marko, D.; Maruyama, T.; Mertens, S.; Minakata, H.; Mocioiu, I.; Mooney, M.; Moulai, M. H.; Nunokawa, H.; Ochoa-Ricoux, J. P.; Oh, Y. M.; Ohlsson, T.; Päs, H.; Pershey, D.; Robertson, R. G. H.; Rosauro-Alcaraz, S.; Rott, C.; Roy, S.; Salvado, J.; Scott, M.; Seo, S. H.; Shaevitz, M. H.; Smiley, M.; Spitz, J.; Stachurska, J.; Thakore, T.; Ternes, C. A.; Thompson, A.; Tseng, S.; Vogelaar, B.; Weiss, T.; Wendell, R. A.; Wright, T.; Xin, Z.; Yang, B. S.; Yoo, J.; Zennamo, J.; Zettlemoyer, J.; Zornoza, J. D.; Ahmad, S.; Basto-Gonzalez, V. S.; Bowden, N. S.; Cañas, B. C.; Caratelli, D.; Chang, C. V.; Chen, C.; Classen, T.; Convery, M.; Davies, G. S.; Dennis, S. R.; Djurcic, Z.; Dorrill, R.; Du, Y.; Evans, J. J.; Fahrendholz, U.; Formaggio, J. A.; Foust, B. T.; Gatti, H. Frandini; Garcia-Gamez, D.; Gariazzo, S.; Gehrlein, J.; Grant, C.; Gomes, R. A.; Hansell, A. B.; Halzen, F.; Ho, S.; Zink, J. Hoefken; Jones, R. S.; Kunkle, P.; Li, J. -Y.; Li, S. C.; Luo, X.; Malyshkin, Yu.; Massaro, D.; Mastbaum, A.; Mohanta, R.; Mumm, H. P.; Nebot-Guinot, M.; Neilson, R.; Ni, K.; Nieves, J.; Gann, G. D. Orebi; Pandey, V.; Pascoli, S.; Qian, X.; Rajaoalisoa, M.; Roca, C.; Roskovec, B.; Saul-Sala, E.; Saldaña, L.; Scholberg, K.; Shakya, B.; Slocum, P. L.; Snider, E. L.; Steiger, H. Th. J.; Steklain, A. F.; Stock, M. R.; Sutanto, F.; Takhistov, V.; Tsai, Y. -D.; Tsai, Y. -T.; Venegas-Vargas, D.; Wallbank, M.; Wang, E.; Weatherly, P.; Westerdale, S.; Worcester, E.; Wu, W.; Yang, G.; Zamorano, B.
J. Phys. G: Nucl. Part. Phys. 51 120501 (2024)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] L. Y. Tseng
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어