학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 740건 | 목록
1~10
Report
Ali, S.; Allison, P.; Archambault, S.; Beatty, J. J.; Besson, D. Z.; Bishop, A.; Chen, P.; Chen, Y. C.; Clark, B. A.; Clay, W.; Connolly, A.; Couberly, K.; Cremonesi, L.; Cummings, A.; Dasgupta, P.; Debolt, R.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; DuVernois, M. A.; Flaherty, J.; Friedman, E.; Gaior, R.; Giri, P.; Hanson, J.; Harty, N.; Hoffman, K. D.; Huang, J. J.; Huang, M. -H.; Hughes, K.; Ishihara, A.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kim, K. -C.; Kim, M. -C.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Kuo, C. Y.; Kurusu, K.; Latif, U. A.; Liu, C. H; Liu, T. C.; Luszczak, W.; Mase, K.; Muzio, M. S.; Nam, J.; Nichol, R. J.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Pan, Y.; Pfendner, C.; Punsuebsay, N.; Roth, J.; Salcedo-Gomez, A.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Shaio, Y. -S.; Smith, D.; Toscano, S.; Torres, J.; Touart, J.; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A.; Wang, M. -Z.; Wang, S. -H.; Wissel, S. A.; Xie, C.; Yoshida, S.; Young, R.
Report
Seikh, M. F. H; Besson, D. Z.; Ali, S.; Allison, P.; Archambault, S.; Beatty, J. J.; Bishop, A.; Chen, P.; Chen, Y. C.; Clark, B. A.; Clay, W.; Connolly, A.; Couberly, K.; Cremonesi, L.; Cummings, A.; Dasgupta, P.; Debolt, R.; De Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; DuVernois, M. A.; Flaherty, J.; Friedman, E.; Gaior, R.; Giri, P.; Hanson, J.; Harty, N.; Hendricks, B.; Hoffman, K. D.; Huang, J. J.; Huang, M. H. A.; Hughes, K.; Ishihara, A.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kim, K. C.; Kim, M. C.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Kuo, C. Y.; Kurusu, K.; Latif, U. A.; Liu, C. H.; Liu, T. C.; Luszczak, W.; Mase, K.; Muzio, M. S.; Nam, J.; Nichol, R. J.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Pan, Y.; Pfendner, C.; Punsuebsay, N.; Roth, J.; Salcedo-Gomez, A.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Shiao, Y. S.; Smith, D. J. B.; Toscano, S.; Torres, J.; Touart, J.; van Eijndhoven, N.; Varner, G. S.; Vieregg, A.; Wang, M. Z.; Wang, S. H.; Wissel, S. A.; Xie, C.; Yoshida, S.; Young, R.
PoS ICRC2023 (2023) 1163
Academic Journal
Aguilar, JA; Anker, A; Allison, P; Archambault, S; Baldi, P; Barwick, SW; Beatty, JJ; Beise, J; Besson, D; Bishop, A; Bondarev, E; Botner, O; Bouma, S; Buitink, S; Cataldo, M; Chen, CC; Chen, CH; Chen, P; Chen, YC; Choi, T; Clark, BA; Clay, W; Curtis-Ginsberg, Z; Connolly, A; Cremonesi, L; Dasgupta, P; Davies, J; de Kockere, S; de Vries, KD; Deaconu, C; DuVernois, MA; Flaherty, J; Friedman, E; Gaior, R; Gaswint, G; Glaser, C; Hallgren, A; Hallmann, S; Ham, Y-B; Hanson, JC; Harty, N; Hendricks, B; Hoffman, KD; Hong, E; Hornhuber, C; Hsu, SY; Hu, L; Huang, JJ; Huang, M-H; Hughes, K; Ishihara, A; Jee, G; Jung, J; Karle, A; Kelley, JL; Klein, SR; Kleinfelder, SA; Kim, J; Kim, K-C; Kim, M-C; Kravchenko, I; Krebs, R; Ku, Y; Kuo, CY; Kurusu, K; Kwon, Hyuck-Jin; Lahmann, R; Landsman, H; Latif, U; Lee, C; Leung, C-H; Li, C-J; Liu, J; Liu, T-C; Lu, M-Y; Madison, K; Mammo, J; Mase, K; McAleer, S; Meures, T; Meyers, ZS; Michaels, K; Mikhailova, M; Mulrey, K; Nam, J; Nichol, RJ; Nir, G; Nelles, A; Novikov, A; Nozdrina, A; Oberla, E; Oeyen, B; Osborn, J; Pan, Y; Pandya, H; Paul, MP; Persichilli, C; Pfendner, C; Plaisier, I; Punsuebsay, N
Report
Allison, P.; Archambault, S.; Beatty, J. J.; Besson, D. Z.; Bishop, A.; Chen, C. C.; Chen, C. H.; Chen, P.; Chen, Y. C.; Clark, B. A.; Clay, W.; Connolly, A.; Cremonesi, L.; Dasgupta, P.; Davies, J.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; DuVernois, M. A.; Flaherty, J.; Friedman, E.; Gaior, R.; Hanson, J.; Harty, N.; Hendricks, B.; Hoffman, K. D.; Hong, E.; Hsu, S. Y.; Hu, L.; Huang, J. J.; Huang, M. -H.; Hughes, K.; Ishihara, A.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kim, K. -C.; Kim, M. -C.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Ku, Y.; Kuo, C. Y.; Kurusu, K.; Landsman, H.; Latif, U. A.; Li, C. -J.; Liu, T. -C.; Lu, M. -Y.; Madison, B.; Madison, K.; Mase, K.; Meures, T.; Nam, J.; Nichol, R. J.; Nir, G.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Osborn, J.; Pan, Y.; Pfendner, C.; Punsuebsay, N.; Roth, J.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Shiao, Y. -S.; Shultz, A.; Smith, D.; Toscano, S.; Torres, J.; Touart, J.; van Eijndhoven, N.; Varner, G. S.; Vieregg, A.; Wang, M. -Z.; Wang, S. -H.; Wang, Y. H.; Wissel, S. A.; Xie, C.; Yoshida, S.; Young, R.
Conference
Kariya, N.; Tsuda, M.; Kurusu, T.; Kondo, M.; Nishitani, K.; Tokuhira, H.; Shimokawa, J.; Yokota, Y.; Tanimoto, H.; Onoue, S.; Shimada, Y.; Kato, T.; Hosotani, K.; Arai, F.; Fujiwara, M.; Uchiyama, Y.; Ohuchi, K.
2020 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2020 International Conference o. :161-164 Sep, 2020
Report
Aguilar, J. A.; Anker, A.; Allison, P.; Archambault, S.; Baldi, P.; Barwick, S. W.; Beatty, J. J.; Beise, J.; Besson, D.; Bishop, A.; Bondarev, E.; Botner, O.; Bouma, S.; Buitink, S.; Cataldo, M.; Chen, C. C.; Chen, C. H.; Chen, P.; Chen, Y. C.; Clark, B. A.; Clay, W.; Curtis-Ginsberg, Z.; Connolly, A.; Dasgupta, P.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; DuVernois, M. A.; Flaherty, J.; Friedman, E.; Gaior, R.; Gaswint, G.; Glaser, C.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Harty, N.; Hendricks, B.; Hoffman, K. D.; Hornhuber, C.; Hsu, S. Y.; Hu, L.; Huang, J. J.; Huang, M. -H.; Hughes, K.; Ishihara, A.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Klein, S. R.; Kleinfelder, S. A.; Kim, K. -C.; Kim, M. -C.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Ku, Y.; Kuo, C. Y.; Kurusu, K.; Lahmann, R.; Landsman, H.; Latif, U.; Li, C. -J.; Liu, J.; Liu, T. -C.; Lu, M. -Y.; Madison, K.; Mammo, J.; Mase, K.; McAleer, S.; Meures, T.; Meyers, Z. S.; Michaels, K.; Mikhailova, M.; Mulrey, K.; Nam, J.; Nichol, R. J.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Osborn, J.; Pan, Y.; Pandya, H.; Paul, M. P.; Persichilli, C.; Plaisier, I.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Rice-Smith, R.; Roth, J.; Ryckbosch, D.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Shiao, Y. -S.; Smith, D.; Southall, D.; Tatar, J.; Torres, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Touart, J.; Broeck, D. J. Van Den; van Eijndhoven, N.; Varner, G. S.; Vieregg, A. G.; Wang, M. -Z.; Wang, S. -H; Wang, Y. H.; Welling, C.; Williams, D. R.; Wissel, S.; Xie, C.; Yoshida, S.; Young, R.; Zhao, L.; Zink, A.
Academic Journal
Takayama, S.; Iwai, S.; Kubo, Y.; Koyanagi, K.; Miyazaki, H.; Orikasa, T.; Ishii, Y.; Kurusu, T.; Amemiya, N.; Ogitsu, T.; Iwata, Y.; Noda, K.; Yoshimoto, M.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 29(5):1-5 Aug, 2019
Conference
2018 IEEE International Conference on Robotics and Biomimetics (ROBIO) Robotics and Biomimetics (ROBIO), 2018 IEEE International Conference on. :150-155 Dec, 2018
Report
ARA Collaboration; Allison, P.; Archambault, S.; Beatty, J. J.; Beheler-Amass, M.; Besson, D. Z.; Beydler, M.; Chen, C. C.; Chen, C. H.; Chen, P.; Clark, B. A.; Clay, W.; Connolly, A.; Cremonesi, L.; Davies, J.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; Duvernois, M.; Friedman, E.; Gaior, R.; Hanson, J.; Hanson, K.; Hoffman, K. D.; Hokanson-Fasig, B.; Hong, E.; Hsu, S. Y.; Hu, L.; Huang, J. J.; Huang, M. -H.; Hughes, K.; Ishihara, A.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Khandelwal, R.; Kim, K. -C.; Kim, M. -C.; Kravchenko, I.; Kurusu, K.; Landsman, H.; Latif, U. A.; Laundrie, A.; Li, C. -J.; Liu, T. -C.; Lu, M. -Y.; Madison, B.; Mase, K.; Meures, T.; Nam, J.; Nichol, R. J.; Nir, G.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; O'Murchadha, A.; Osborn, J.; Pan, Y.; Pfendner, C.; Roth, J.; Sandstrom, P.; Seckel, D.; Shiao, Y. -S.; Shultz, A.; Smith, D.; Torres, J.; Touart, J.; van Eijndhoven, N.; Varner, G. S.; Vieregg, A. G.; Wang, M. -Z.; Wang, S. -H.; Wissel, S. A.; Yoshida, S.; Young, R.
Phys. Rev. D 102, 043021 (2020)
Report
Allison, P.; Archambault, S.; Beatty, J. J.; Besson, D. Z.; Chen, C. C.; Chen, C. H.; Chen, P.; Christenson, A.; Clark, B. A.; Clay, W.; Connolly, A.; Cremonesi, L.; Deaconu, C.; Duvernois, M.; Friedman, L.; Gaior, R.; Hanson, J.; Hanson, K.; Haugen, J.; Hoffman, K. D.; Hong, E.; Hsu, S. Y.; Hu, L.; Huang, J. J.; Huang, A. M. -H.; Hughes, K.; Ishihara, A.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Khandelwal, R.; Kim, M. -C.; Kravchenko, I.; Kruse, J.; Kurusu, K.; Kuwabara, T.; Latif, U. A.; Laundrie, A.; Li, C. -J.; Liu, T. -C.; Lu, M. -Y.; Madison, B.; Mase, K.; Meures, T.; Nam, J.; Nichols, R. J.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Pan, Y.; Pfendner, C.; Relich, M.; Sandstrom, P.; Seckel, D.; Shiao, Y. S.; Shultz, A.; Smith, D.; Song, M.; Torres, J.; Touart, J.; Varner, G. S.; Vieregg, A.; Wang, M. Z.; Wang, S. H.; Wissel, S.; Yoshida, S.; Young, R.
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] Kurusu, K
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어