학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 23,288건 | 목록
1~20
Academic Journal
IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 46(5):717-720 May, 2025
Report
Abbasi, R.; Ackermann, M.; Adams, J.; Agarwalla, S. K.; Aguilar, J. A.; Ahlers, M.; Alameddine, J. M.; Ali, S.; Amin, N. M.; Andeen, K.; Anton, G.; Argüelles, C.; Ashida, Y.; Athanasiadou, S.; Audehm, J.; Axani, S. N.; Babu, R.; Bai, X.; V., A. Balagopal; Baricevic, M.; Barwick, S. W.; Basu, V.; Bay, R.; Tjus, J. Becker; Behrens, P.; Beise, J.; Bellenghi, C.; Benkel, B.; BenZvi, S.; Berley, D.; Bernardini, E.; Besson, D. Z.; Bishop, A.; Blaufuss, E.; Bloom, L.; Blot, S.; Bohmer, M.; Bontempo, F.; Motzkin, J. Y. Book; Borowka, J.; Meneguolo, C. Boscolo; Böser, S.; Botner, O.; Böttcher, J.; Bouma, S.; Braun, J.; Brinson, B.; Brisson-Tsavoussis, Z.; Burley, R. T.; Bustamante, M.; Butterfield, D.; Campana, M. A.; Carloni, K.; Cataldo, M.; Chattopadhyay, S.; Chau, N.; Chen, Z.; Chirkin, D.; Choi, S.; Clark, B. A.; Clark, R.; Coleman, A.; Coleman, P.; Collin, G. H.; Borja, D. A. Coloma; Conrad, J. M.; Corley, R.; Cowen, D. F.; Deaconu, C.; De Clercq, C.; De Kockere, S.; DeLaunay, J. J.; Delgado, D.; Delmeulle, T.; Deng, S.; Desai, A.; Desiati, P.; de Vries, K. D.; de Wasseige, G.; Díaz-Vélez, J. C.; DiKerby, S.; Dittmer, M.; Do, G.; Domi, A.; Draper, L.; Dueser, L.; Dujmovic, H.; Durnford, D.; Dutta, K.; DuVernois, M. A.; Egby, T.; Ehrhardt, T.; Eidenschink, L.; Eimer, A.; Eller, P.; Ellinger, E.; Elsässer, D.; Engel, R.; Erpenbeck, H.; Esmail, W.; Eulig, S.; Evans, J.; Evans, J. J.; Evenson, P. A.; Fan, K. L.; Fang, K.; Farrag, K.; Fazely, A. R.; Fedynitch, A.; Feigl, N.; Finley, C.; Fischer, L.; Flaggs, B.; Fox, D.; Franckowiak, A.; Fujii, T.; Fukami, S.; Fürst, P.; Gallagher, J.; Ganster, E.; Garcia, A.; Garg, G.; Genton, E.; Gerhardt, L.; Ghadimi, A.; Giri, P.; Glaser, C.; Glüsenkamp, T.; Goswami, S.; Granados, A.; Grant, D.; Gray, S. J.; Griffin, S.; Griswold, S.; Guevel, D.; Günther, C.; Gutjahr, P.; Ha, C.; Haack, C.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Halve, L.; Halzen, F.; Hamacher, L.; Minh, M. Ha; Handt, M.; Hanson, K.; Hardin, J.; Harnisch, A. A.; Hatch, P.; Haungs, A.; Häußler, J.; Heinen, D.; Helbing, K.; Hellrung, J.; Hendricks, B.; Henke, B.; Hennig, L.; Henningsen, F.; Henrichs, J.; Heuermann, L.; Heyer, N.; Hickford, S.; Hidvegi, A.; Hill, C.; Hill, G. C.; Hoffman, K. D.; Hoffmann, B.; Hooper, D.; Hori, S.; Hoshina, K.; Hostert, M.; Hou, W.; Huber, T.; Huege, T.; Santiago, E. Huesca; Hultqvist, K.; Hussain, R.; Hymon, K.; Ishihara, A.; Ishii, T.; Iwakiri, W.; Jacquart, M.; Jain, S.; Jaitly, A.; Janik, O.; Jansson, M.; Jeong, M.; Jin, M.; Kalekin, O.; Kamp, N.; Kang, D.; Kang, W.; Kang, X.; Kappes, A.; Kardum, L.; Karg, T.; Karl, M.; Karle, A.; Katil, A.; Katori, T.; Katz, U.; Kauer, M.; Kelley, J. L.; Khanal, M.; Zathul, A. Khatee; Kheirandish, A.; Kiryluk, J.; Kleifges, M.; Klein, C.; Klein, S. R.; Kobayashi, T.; Kobayashi, Y.; Kochocki, A.; Kolanoski, H.; Kontrimas, T.; Köpke, L.; Kopper, C.; Koskinen, D. J.; Koundal, P.; Kowalski, M.; Kozynets, T.; Kravchenko, I.; Krieger, N.; Krishnamoorthi, J.; Krishnan, T.; Krupczak, E.; Kumar, A.; Kun, E.; Kurahashi, N.; Lad, N.; Arnaud, L. Lallement; Larson, M. J.; Lauber, F.; DeHolton, K. Leonard; Leszczyńska, A.; Liao, J.; Liu, M.; Liubarska, M.; Lohan, M.; LoSecco, J.; Love, C.; Lu, L.; Lucarelli, F.; Lyu, Y.; Madsen, J.; Magnus, E.; Mahn, K. B. M.; Makino, Y.; Manao, E.; Mancina, S.; Mandalia, S.; Sainte, W. Marie; Mariş, I. C.; Marka, S.; Marka, Z.; Marsee, M.; Marten, L.; Martinez-Soler, I.; Maruyama, R.; Mayhew, F.; McNally, F.; Mead, J. V.; Meagher, K.; Mechbal, S.; Medina, A.; Meier, M.; Merckx, Y.; Merten, L.; Meyers, Z.; Mikhailova, M.; Millsop, A.; Mitchell, J.; Montaruli, T.; Moore, R. W.; Morii, Y.; Morse, R.; Mosbrugger, A.; Moulai, M.; Mousadi, D.; Mukherjee, T.; Muzio, M.; Naab, R.; Nakos, M.; Narayan, A.; Naumann, U.; Necker, J.; Nelles, A.; Neste, L.; Neumann, M.; Niederhausen, H.; Nisa, M. U.; Noda, K.; Noell, A.; Novikov, A.; Oberla, E.; Pollmann, A. Obertacke; O'Dell, V.; Olivas, A.; Orsoe, R.; Osborn, J.; O'Sullivan, E.; Palusova, V.; Papp, L.; Parenti, A.; Park, N.; Paudel, E. N.; Paul, L.; Heros, C. Pérez de los; Pernice, T.; Petersen, T. C.; Peterson, J.; Pizzuto, A.; Plum, M.; Pontén, A.; Popovych, Y.; Rodriguez, M. Prado; Pries, B.; Procter-Murphy, R.; Przybylski, G. T.; Pyras, L.; Rack-Helleis, J.; Rad, N.; Rameez, M.; Ravn, M.; Rawlins, K.; Rechav, Z.; Rehman, A.; Resconi, E.; Reusch, S.; Rho, C. D.; Rhode, W.; Riedel, B.; Riegel, M.; Rifaie, A.; Roberts, E. J.; Robertson, S.; Rongen, M.; Rott, C.; Ruhe, T.; Ruohan, L.; Ryckbosch, D.; Safa, I.; Saffer, J.; Salazar-Gallegos, D.; Sampathkumar, P.; Sandrock, A.; Sandstrom, P.; Sanger-Johnson, G.; Santander, M.; Sarkar, S.; Savelberg, J.; Savina, P.; Schaile, P.; Schaufel, M.; Schieler, H.; Schindler, S.; Schlickmann, L.; Schlüter, B.; Schlüter, F.; Schmeisser, N.; Schmidt, T.; Schröder, F. G.; Schumacher, L.; Schwirn, S.; Sclafani, S.; Seckel, D.; Seen, L.; Seikh, M.; Selcuk, Z.; Seunarine, S.; Shaevitz, M. H.; Shah, R.; Shefali, S.; Shimizu, N.; Silva, M.; Skrzypek, B.; Snihur, R.; Soedingrekso, J.; Søgaard, A.; Soldin, D.; Soldin, P.; Sommani, G.; Spannfellner, C.; Spiczak, G. M.; Spiering, C.; Stachurska, J.; Stamatikos, M.; Stanev, T.; Stezelberger, T.; Stoffels, J.; Stürwald, T.; Stuttard, T.; Sullivan, G. W.; Taboada, I.; Taketa, A.; Tamang, T.; Tanaka, H. K. M.; Ter-Antonyan, S.; Terliuk, A.; Thiesmeyer, M.; Thompson, W. G.; Thwaites, J.; Tilav, S.; Tollefson, K.; Torres, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Trettin, A.; Tsunesada, Y.; Twagirayezu, J. P.; Upadhyay, A. K.; Upshaw, K.; Vaidyanathan, A.; Valtonen-Mattila, N.; Valverde, J.; Vandenbroucke, J.; van Eeden, T.; van Eijndhoven, N.; van Rootselaar, L.; van Santen, J.; Carbonell, F. J. Vara; Varsi, F.; Veberic, D.; Veitch-Michaelis, J.; Venugopal, M.; Carrasco, S. Vergara; Verpoest, S.; Vieregg, A.; Vijai, A.; Villarreal, J.; Walck, C.; Wang, A.; Washington, D.; Weaver, C.; Weigel, P.; Weindl, A.; Weldert, J.; Wen, A. Y.; Wendt, C.; Werthebach, J.; Weyrauch, M.; Whitehorn, N.; Wiebusch, C. H.; Williams, D. R.; Wissel, S.; Witthaus, L.; Wolf, M.; Wörner, G.; Wrede, G.; Wren, S.; Xu, X. W.; Yañez, J. P.; Yao, Y.; Yildizci, E.; Yoshida, S.; Young, R.; Yu, F.; Yu, S.; Yuan, T.; Zegarelli, A.; Zhang, S.; Zhang, Z.; Zhelnin, P.; Zierke, S.; Zilberman, P.; Zimmerman, M.; Collaboration, IceCube-Gen2
Report
G Collaboration; Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, O.; Bouma, S.; Buitink, S.; Camphyn, R.; Chan, J.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Coleman, A.; Couberly, K.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; Giri, P.; Glaser, C.; Glüsenkamp, T.; Gui, H.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Helbing, K.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, N.; Hornhuber, C.; Santiago, E. Huesca; Hughes, K.; Jaitly, A.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kimo, J.; Kopper, C.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Kugelmeier, M.; Lahmann, R.; Liu, C. -H.; Marsee, M. J.; Meyers, Z. S.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, M.; Rifaie, A.; Ryckbosch, D.; Schlemper, O.; Schlüter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Stachurska, J.; Stoffels, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Tutt, J.; Broeck, D. J. Van Den; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Academic Journal
Guo, Y.; Qin, Y.; Xiao, M.; Porter, M.; Song, Q.; Popa, D.; Efthymiou, L.; Cheng, K.; Kravchenko, I.; Shao, L.; Wang, H.; Udrea, F.; Zhang, Y.
IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 46(4):556-559 Apr, 2025
Report
Kowalski, R. A.; Mueller, N. S.; Álvarez-Pérez, G.; Obst, M.; Diaz-Granados, K.; Carini, G.; Senarath, A.; Dixit, S.; Niemann, R.; Iyer, R. B.; Kaps, F. G.; Wetzel, J.; Klopf, J. M.; Kravchenko, I. I.; Wolf, M.; Folland, T. G.; Eng, L. M.; Kehr, S. C.; Alonso-Gonzalez, P.; Paarmann, A.; Caldwell, J. D.
Report
Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, O.; Bouma, S.; Buitink, S.; Camphyn, R.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Coleman, A.; Couberly, K.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; Giri, P.; Glaser, C.; Glusenkamp, T.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, N.; Hornhuber, C.; Santiago, E. Huesca; Hughes, K.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Lahmann, R.; Liu, C. H.; Marsee, M. J.; McLennan, C.; Mikhailova, M.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, M.; Ryckbosch, D.; Schluter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Stachurska, J.; Stoffels, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Tutt, J.; Broeck, D. J. Van Den; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Academic Journal
Journal of Applied Spectroscopy. :1-8
Academic Journal
Russian Engineering Research. 45(5):635-640
Report
Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, O.; Bouma, S.; Buitink, S.; Camphyn, R.; Cataldo, M.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Coleman, A.; Couberly, K.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; Glaser, C.; Glüsenkamp, T.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, N.; Hornhuber, C.; Hughes, K.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kerr, C.; Klein, C.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Lahmann, R.; Latif, U.; Laub, P.; Liu, C. -H.; Marsee, M. J.; Meyers, Z. S.; Mikhailova, M.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Polfrey, S.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, M.; Reichert, M.; Rix, J.; Ryckbosch, D.; Schlüter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Smith, D.; Stoffels, J.; Terveer, K.; Toscano, S.; Tosi, D.; Tutt, J.; Broeck, D. J. Van Den; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Veale, J.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Academic Journal
Journal of Machinery Manufacture and Reliability. 54(3):269-279
Sociologisk forskning. 58(4):467-482
Academic Journal
Journal of Applied Spectroscopy. 92(1):8-15
Academic Journal
Bervinova, A. V.; Palikov, V. A.; Borozdina, N. A.; Kravchenko, I. N.; Pakhomova, I. A.; Dalevich, R. A.; Hajiguliyeva, S. Z.; Arshintseva, E. V.; Pushkin, S. Yu.; Dyachenko, I. A.; Murashev, A. N.
Doklady Biological Sciences. 520(1):17-21
Academic Journal
Journal of High Energy Physics. 2025(7)
Academic Journal
Journal of High Energy Physics. 2025(6)
Academic Journal
Wang, Y.; Porter, M.; Xiao, M.; Lu, A.; Yee, N.; Kravchenko, I.; Srijanto, B.; Cheng, K.; Wong, H.Y.; Zhang, Y.
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(3):1481-1487 Mar, 2024
Academic Journal
Journal of High Energy Physics. 2025(6)
Academic Journal
Journal of High Energy Physics. 2025(6)
Report
Ali, S.; Allison, P.; Archambault, S.; Beatty, J. J.; Besson, D. Z.; Bishop, A.; Chen, P.; Chen, Y. C.; Clark, B. A.; Clay, W.; Connolly, A.; Couberly, K.; Cremonesi, L.; Cummings, A.; Dasgupta, P.; Debolt, R.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; DuVernois, M. A.; Flaherty, J.; Friedman, E.; Gaior, R.; Giri, P.; Hanson, J.; Harty, N.; Hoffman, K. D.; Huang, J. J.; Huang, M. -H.; Hughes, K.; Ishihara, A.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kim, K. -C.; Kim, M. -C.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Kuo, C. Y.; Kurusu, K.; Latif, U. A.; Liu, C. H; Liu, T. C.; Luszczak, W.; Mase, K.; Muzio, M. S.; Nam, J.; Nichol, R. J.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Pan, Y.; Pfendner, C.; Punsuebsay, N.; Roth, J.; Salcedo-Gomez, A.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Shaio, Y. -S.; Smith, D.; Toscano, S.; Torres, J.; Touart, J.; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A.; Wang, M. -Z.; Wang, S. -H.; Wissel, S. A.; Xie, C.; Yoshida, S.; Young, R.
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] Kravchenko, I.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어