학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 22,242건 | 목록
1~20
Kim MG; IT Research Institute, Chosun University, Gwangju 61452, Republic of Korea.; Pan SB; IT Research Institute, Chosun University, Gwangju 61452, Republic of Korea.
Publisher: MDPI Country of Publication: Switzerland NLM ID: 101204366 Publication Model: Electronic Cited Medium: Internet ISSN: 1424-8220 (Electronic) Linking ISSN: 14248220 NLM ISO Abbreviation: Sensors (Basel) Subsets: PubMed not MEDLINE; MEDLINE
Academic Journal
Dodo, T.; Cheoun, M.K.; Choi, J.H.; Choi, J.Y.; Goh, J.; Haga, K.; Harada, M.; Hasegawa, S.; Hwang, W.; Iida, T.; Jang, H.I.; Jang, J.S.; Joo, K.K.; Jung, D.E.; Kang, S.K.; Kasugai, Y.; Kawasaki, T.; Kim, E.J.; Kim, J.Y.; Kim, S.B.; Kim, W.; Kinoshita, H.; Konno, T.; Lee, D.H.; Lim, I.T.; Little, C.; Marzec, E.; Maruyama, T.; Masuda, S.; Meigo, S.; Moon, D.H.; Nakano, T.; Niiyama, M.; Nishikawa, K.; Pac, M.Y.; Park, H.W.; Park, J.S.; Park, R.G.; Peeters, S.J.M.; Rott, C.; Sakai, K.; Sakamoto, S.; Shima, T.; Shin, C.D.; Spitz, J.; Suekane, F.; Sugaya, Y.; Suzuya, K.; Takeuchi, Y.; Yamaguchi, Y.; Yeh, M.; Yeo, I.S.; Yoo, C.; Yu, I.
Progress of Theoretical and Experimental Physics. February, 2025, Vol. 2025 Issue 2, p1n, 8 p.
Academic Journal
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 36(3):416-424 Aug, 2023
Academic Journal
Mori, M.; Abe, K.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Hosokawa, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kaneshima, R.; Kashiwagi, Y.; Kataoka, Y.; Miki, S.; Mine, S.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakano, Y.; Nakahata, M.; Nakayama, S.; Noguchi, Y.; Okamoto, K.; Sato, K.; Sekiya, H.; Shiba, H.; Shimizu, K.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Takenaka, A.; Tanaka, H.; Watanabe, S.; Yano, T.; Han, S.; Kajita, T.; Okumura, K.; Tashiro, T.; Tomiya, T.; Wang, X.; Yoshida, S.; Megias, G.D.; Fernandez, P.; Labarga, L.; Ospina, N.; Zaldivar, B.; Pointon, B.W.; Kearns, E.; Raaf, J.L.; Wan, L.; Wester, T.; Bian, J.; Griskevich, N.J.; Locke, S.; Smy, M.B.; Sobel, H.W.; Takhistov, V.; Yankelevich, A.; Hill, J.; Jang, M.C.; Lee, S.H.; Moon, D.H.; Park, R.G.; Bodur, B.; Scholberg, K.; Walter, C.W.; Beauchene, A.; Drapier, O.; Giampaolo, A.; Mueller, Th.A.; Santos, A.D.; Paganini, P.; Quilain, B.; Rogly, R.; Ishizuka, T.; Nakamura, T.; Jang, J.S.; Learned, J.G.; Choi, K.; Iovine, N.; Cao, S.; Anthony, L.H.V.; Martin, D.; Scott, M.; Sztuc, A.A.; Uchida, Y.; Berardi, V.; Catanesi, M.G.; Radicioni, E.; Calabria, N.F.; Langella, A.; Machado, L.N.; Rosa, G. De; Collazuol, G.; Iacob, F.; Lamoureux, M.; Mattiazzi, M.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Perisse, L.; Pronost, G.; Fujisawa, C.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Okazaki, R.; Akutsu, R.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Kobayashi, T.; Jakkapu, M.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Bhuiyan, N.; Burton, G.T.; Edwards, R.; Di Lodovico, F.; Gao, J.; Goldsack, A.; Katori, T.; Migenda, J.; Ramsden, R.M.; Xie, Z.; Zsoldos, S.; Kotsar, Y.; Ozaki, H.; Suzuki, A.T.; Takagi, Y.; Takeuchi, Y.; Zhong, H.; Bronner, C.; Feng, J.; Hu, J.R.; Hu, Z.; Kawaune, M.; Kikawa, T.; LiCheng, F.; Nakaya, T.; Wendell, R.A.; Yasutome, K.; Jenkins, S.J.; McCauley, N.; Mehta, P.; Tarant, A.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Ninomiya, K.; Yoshioka, Y.; Lagoda, J.; Lakshmi, S.M.; Mandal, M.; Mijakowski, P.; Prabhu, Y.S.; Zalipska, J.; Jia, M.; Jiang, J.; Jung, C.K.; Shi, W.; Wilking, M.J.; Yanagisawa, C.; Harada, M.; Hino, Y.; Ishino, H.; Kitagawa, H.; Koshio, Y.; Nakanishi, F.; Sakai, S.; Tada, T.; Tano, T.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Samani, S.; Wark, D.; Holin, A.; Nova, F.; Jung, S.; Yang, B.S.; Yang, J.Y.; Yoo, J.; Fannon, J.E.P.; Kneale, L.; Malek, M.; McElwee, J.M.; Thiesse, M.D.; Thompson, L.F.; Wilson, S.; Okazawa, H.; Kim, S.B.; Kwon, E.; Seo, J.W.; Yu, I.; Ichikawa, A.K.; Nakamura, K.D.; Tairafune, S.; Nishijima, K.; Eguchi, A.; Nakagiri, K.; Nakajima, Y.; Shima, S.; Taniuchi, N.; Watanabe, E.; Yokoyama, M.; de Perio, P.; Fujita, S.; Martens, K.; Tsui, K.M.; Vagins, M.R.; Valls, C.J.; Xia, J.; Kuze, M.; Izumiyama, S.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Kinoshita, T.; Matsumoto, R.; Ommura, Y.; Shigeta, N.; Shinoki, M.; Suganuma, T.; Yamauchi, K.; Yoshida, T.; Martin, J.F.; Tanaka, H.A.; Towstego, T.; Gaur, R.; Gousy-Leblanc, V.; Hartz, M.; Konaka, A.; Li, X.; Prouse, N.W.; Chen, S.; Xu, B.D.; Zhang, B.; Posiadala-Zezula, M.; Boyd, S.B.; Hadley, D.; Nicholson, M.; O'Flaherty, M.; Richards, B.; Ali, A.; Jamieson, B.; Amanai, S.; Marti, Ll.; Minamino, A.; Pintaudi, G.; Sano, S.; Suzuki, S.; Wada, K.
Progress of Theoretical and Experimental Physics. October, 2024, Vol. 2024 Issue 10, p1C, 21 p.
Academic Journal
IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 22(8):7684-7691 Apr, 2022
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] Kim, S.B.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어