학술논문
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'학술논문'
에서 검색결과 39건 | 목록
1~20
Conference
Crotti, G.; Letizia, P.S.; Styblikova, R.; Hlavacek, Jan; Agazar, M.; Istrate, D.; Mohns, E.; Van den Brom, H.; Munoz, F.; Cayci, H.; Ayhan, B.; Mazza, P.; D'Avanzo, G.; Tinarelli, R.; Mingotti, A.; Luiso, M.; Delle Femine, A.; Meyer, J.; Stiegler, R.
2024 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) Precision Electromagnetic Measurements (CPEM), 2024 Conference on. :1-2 Jul, 2024
Academic Journal
Crotti G.; Letizia P. S.; Meyer J.; Stiegler R.; Agazar M.; Istrate D.; Chen Y.; Mohns E.; Cayci H.; Ayhan B.; van Den Brom H.; Munoz F.; Mazza P.; Palladini D.; Luiso M.; Landi C.; Tinarelli R.; Mingotti A.
IET Conference Proceedings. 2023:3739-3743
Academic Journal
Agazar M; Laboratoire National de Métrologie et d'Essais (LNE), 1 Rue Gaston Boissier, 75015 Paris, France.; Iodice C; Department of Engineering, Università degli Studi della Campania 'Luigi Vanvitelli', Via Roma 29, 81031 Aversa, Italy.; Luiso M; Department of Engineering, Università degli Studi della Campania 'Luigi Vanvitelli', Via Roma 29, 81031 Aversa, Italy.
Publisher: MDPI Country of Publication: Switzerland NLM ID: 101204366 Publication Model: Electronic Cited Medium: Internet ISSN: 1424-8220 (Electronic) Linking ISSN: 14248220 NLM ISO Abbreviation: Sensors (Basel) Subsets: PubMed not MEDLINE; MEDLINE
Conference
Crotti, G.; van den Brom, H.E.; Mohns, E.; Tinarelli, R.; Luiso, M.; Styblikova, R.; Agazar, M; Cayci, H.; Mazza, P.; Meyer, J.; Almutairi, M.
2020 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) Precision Electromagnetic Measurements (CPEM), 2020 Conference on. :1-2 Aug, 2020
Academic Journal
Agazar M; LNE (Laboratoire National de Métrologie et d'Essais), 1 Rue Gaston Boissier, 75015 Paris, France.; Saadeddine H; LNE (Laboratoire National de Métrologie et d'Essais), 1 Rue Gaston Boissier, 75015 Paris, France.; Dougdag K; LNE (Laboratoire National de Métrologie et d'Essais), 1 Rue Gaston Boissier, 75015 Paris, France.; Ouameur M; LNE (Laboratoire National de Métrologie et d'Essais), 1 Rue Gaston Boissier, 75015 Paris, France.; Azzoug M; LNE (Laboratoire National de Métrologie et d'Essais), 1 Rue Gaston Boissier, 75015 Paris, France.
Publisher: MDPI Country of Publication: Switzerland NLM ID: 101204366 Publication Model: Electronic Cited Medium: Internet ISSN: 1424-8220 (Electronic) Linking ISSN: 14248220 NLM ISO Abbreviation: Sensors (Basel) Subsets: PubMed not MEDLINE; MEDLINE
Academic Journal
Agazar M; Laboratoire National de Métrologie et d'Essais (LNE), 1 Rue Gaston Boissier, 75015 Paris, France.; D'Avanzo G; Ricerca sul Sistema Energetico-RSE S.p.A., Via Rubattino, 54, 20134 Milan, Italy.; Frigo G; Swiss Federal Institute of Metrology METAS, 3003 Bern, Switzerland.; Giordano D; Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRIM), Str. Delle Cacce, 91, 10135 Turin, Italy.; Iodice C; Department of Engineering, Università degli Studi della Campania 'Luigi Vanvitelli', Via Roma 29, 81031 Aversa, Italy.; Letizia PS; Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRIM), Str. Delle Cacce, 91, 10135 Turin, Italy.; Luiso M; Department of Engineering, Università degli Studi della Campania 'Luigi Vanvitelli', Via Roma 29, 81031 Aversa, Italy.; Mariscotti A; Dipartimento di Ingegneria Navale, Elettrica, Elettronica e delle Telecomunicazioni, Università degli Studi di Genova, Via Opera Pia 11a, 16145 Genova, Italy.; Mingotti A; Department of Electrical, Electronic and Information Engineering 'Gugliemo Marconi' Alma Mater Studiorum-University of Bologna, viale del Risorgimento, 2, 40136 Bologna, Italy.; Munoz F; VSL B.V. (VSL), Thijsseweg 11, 2629 JA Delft, The Netherlands.; Palladini D; Ricerca sul Sistema Energetico-RSE S.p.A., Via Rubattino, 54, 20134 Milan, Italy.; Rietveld G; VSL B.V. (VSL), Thijsseweg 11, 2629 JA Delft, The Netherlands.; Department of Electrical Engineering, Mathematics and Computer Science (EEMCS), University of Twente, Drienerlolaan 5, 7522 NB Enschede, The Netherlands.; van den Brom H; VSL B.V. (VSL), Thijsseweg 11, 2629 JA Delft, The Netherlands.
Publisher: MDPI Country of Publication: Switzerland NLM ID: 101204366 Publication Model: Electronic Cited Medium: Internet ISSN: 1424-8220 (Electronic) Linking ISSN: 14248220 NLM ISO Abbreviation: Sensors (Basel) Subsets: PubMed not MEDLINE; MEDLINE
Academic Journal
Letizia PS; Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRIM), Strada delle Cacce 91, 10135 Torino, Italy.; Crotti G; Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRIM), Strada delle Cacce 91, 10135 Torino, Italy.; Mingotti A; Department of Electrical, Electronic and Information Engineering, Guglielmo Marconi, Alma Mater Studiorum, University of Bologna, Viale del Risorgimento 2, 40136 Bologna, Italy.; Tinarelli R; Department of Electrical, Electronic and Information Engineering, Guglielmo Marconi, Alma Mater Studiorum, University of Bologna, Viale del Risorgimento 2, 40136 Bologna, Italy.; Chen Y; Department 2.3-Electrical Energy Measuring Techniques, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Bundesallee 100, 38116 Braunschweig, Germany.; Mohns E; Department 2.3-Electrical Energy Measuring Techniques, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Bundesallee 100, 38116 Braunschweig, Germany.; Agazar M; Laboratoire National de Métrologie et d'Essais (LNE), 1 Rue Gaston Boissier, 75015 Paris, France.; Istrate D; Laboratoire National de Métrologie et d'Essais (LNE), 1 Rue Gaston Boissier, 75015 Paris, France.; Ayhan B; Power and Energy Laboratory, TÜBİTAK National Metrology Institute, 41470 Gebze, Kocaeli, Türkiye.; Çayci H; Power and Energy Laboratory, TÜBİTAK National Metrology Institute, 41470 Gebze, Kocaeli, Türkiye.; Stiegler R; Institute of Electrical Power Systems and High Voltage Engineering, TUD Dresden University of Technology, 01062 Dresden, Germany.
Publisher: MDPI Country of Publication: Switzerland NLM ID: 101204366 Publication Model: Electronic Cited Medium: Internet ISSN: 1424-8220 (Electronic) Linking ISSN: 14248220 NLM ISO Abbreviation: Sensors (Basel) Subsets: PubMed not MEDLINE; MEDLINE
Conference
Elg, Alf Peter; Garnacho, F.; Agazar, M.; Meisner, J.; Merev, A.; Houtzager, E.; Hällström, J.; Lahti, K.; Escurra, C. M.; Platero, C. A.; Micand, T.; Steiner, T.; Voss, A.
VDE High Voltage Technology. :252-257
Conference
Elg, Alf Peter; Garnacho, F.; Agazar, M.; Meisner, J.; Merev, A.; Houtzager, E.; Hällström, J.; Lahti, K.; Escurra, C. M.; Platero, C. A.; Micand, T.; Steiner, T.; Voss, A.
VDE High Voltage Technology 2020. :252-257
Academic Journal
In: Metrology . (Metrology, March 2024, 4(1):1-14)
Compensated high input impedance stage for the measurements of four terminals resistors up to 20 kHz
Conference
2020 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) Precision Electromagnetic Measurements (CPEM), 2020 Conference on. :1-2 Aug, 2020
Conference
Agazar, M.; Elg, A.-P.; Ramírez, A.; Rovira, J.; Iodice, C.; Luiso, M.; Giordano, D.; Letizia, P.S.; Hällström, J.; Nieminen, T.
In: EPJ Web of Conferences , 22nd International Metrology Congress, CIM 2025. (EPJ Web of Conferences, 7 April 2025, 323)
Academic Journal
In: Metrologia . (Metrologia, 1 October 2022, 59(5))
Conference
In: 2021 IEEE 7th International Conference on Smart Instrumentation, Measurement and Applications, ICSIMA 2021 , 2021 IEEE 7th International Conference on Smart Instrumentation, Measurement and Applications, ICSIMA 2021. (2021 IEEE 7th International Conference on Smart Instrumentation, Measurement and Applications, ICSIMA 2021, 23 August 2021, :257-260)
Conference
In: 2021 IEEE 12th Annual Information Technology, Electronics and Mobile Communication Conference, IEMCON 2021 , 2021 IEEE 12th Annual Information Technology, Electronics and Mobile Communication Conference, IEMCON 2021. (2021 IEEE 12th Annual Information Technology, Electronics and Mobile Communication Conference, IEMCON 2021, 2021, :796-798)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] Agazar, M.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어