학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 96건 | 목록
30~40
Academic Journal
In: Geopolitics of Energy . (Geopolitics of Energy, 2016, 38(5-6):18-28)
Academic Journal
In: Journal of the Electrochemical Society . (Journal of the Electrochemical Society, 2014, 161(14):A2121-A2127)
Academic Journal
In: Journal of Vocational Rehabilitation . (Journal of Vocational Rehabilitation, 2014, 41(3):193-208)
Academic Journal
Chuss, D.T.; Fixsen, D.J.; Hinderks, J.; Kogut, A.J.; Mirel, P.; Switzer, E.; Voellmer, G.M.; Wollack, E.J.; Eimer, J.R.; Lazear, J.
In: Review of Scientific Instruments . (Review of Scientific Instruments, June 2014, 85(6))
Academic Journal
In: Monthly Notices of the Royal Astronomical Society . (Monthly Notices of the Royal Astronomical Society, 21 April 2013, 430(4):3054-3069)
Academic Journal
Menanteau, F.; Hughes, J.P.; Sifón, C.; Barrientos, L.F.; Dünner, R.; Infante, L.; Battaglia, N.; Bond, J.R.; Hajian, A.; Hincks, A.D.; Nolta, M.R.; Switzer, E.; Crichton, D.; Gralla, M.; Marriage, T.A.; Das, S.; Devlin, M.J.; Dicker, S.; Reese, E.D.; Schmitt, B.L.; Hasselfield, M.; Hilton, M.; Moodley, K.; Kosowsky, A.; Marsden, D.; Niemack, M.D.; Page, L.A.; Sievers, J.; Staggs, S.T.; Partridge, B.; Spergel, D.N.; Wollack, E.J.
In: Astrophysical Journal . (Astrophysical Journal, 1 March 2013, 765(1))
Conference
Essinger-Hileman, T.; Anderson, C.; Barlis, A.; Barrentine, E.; Bellis, N.; Bulcha, B.; Cataldo, G.; Connors, J.; Cursey, P.; Ehsan, N.; Fernandez, L.-R.; Glenn, J.; Hays-Wehle, J.; Hess, L.; Jahromi, A.; Kimball, M.; Kogut, A.; Lowe, L.; Mirzaei, M.; Moseley, H.; Mugge-Durum, J.; Noroozian, O.; Rodriguez, S.; Shire, K.; Somerville, R.; Stevenson, T.; Switzer, E.; Oxholm, T.; Siebert, G.; Timbie, P.; Ade, P.; Tucker, C.; Beeman, J.; Breysse, P.; Pen, U.-L.; Volpert, C.; Bolatto, A.; McMahon, J.; Sinclair, A.; Golec, J.; Mauskopf, P.; Yang, S.; Pullen, A.; Visbal, E.; Wollack, E.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy X. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11453)
Conference
Hazumi, M.; De Haan, T.; Hasegawa, M.; Kato, A.; Kohri, K.; Maki, M.; Minami, Y.; Nagasaki, T.; Sekimoto, Y.; Suzuki, J.; Dotani, T.; Ebisawa, K.; Hasebe, T.; Kaga, T.; Murata, Y.; Nagata, R.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Okada, N.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takeda, Y.; Tominaga, M.; Tsujimoto, M.; Yamasaki, N.Y.; Yoshida, T.; Ghigna, T.; Katayama, N.; Matsumura, T.; Sakurai, Y.; Stever, S.; Sugai, H.; Takakura, S.; Ade, P.A.R.; Calabrese, E.; Hargrave, P.; Noviello, F.; Pisano, G.; Tucker, C.; Adler, A.; Allys, E.; Boulanger, F.; Levrier, F.; Ritacco, A.; Arnold, K.; Flauger, R.; Russell, M.; Seibert, J.; Auguste, D.; Bonis, J.; Henrot-Versillé, S.; Louis, T.; Peloton, J.; Tristram, M.; Aumont, J.; Banday, A.J.; Montier, L.; Mot, B.; Rambaud, D.; Roudil, G.; Aurlien, R.; Banjeri, R.; Brilenkov, M.; Eriksen, H.K.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Gjerløw, E.; Herman, D.; Svalheim, T.L.; Thommesen, H.; Wehus, I.; Austermann, J.; Beall, J.; Duff, S.; Hilton, G.; Hubmayr, J.; Lanen, J.V.; Ullom, J.; Vissers, M.; Baccigalupi, C.; Campeti, P.; Krachmalnicoff, N.; Poletti, D.; Barreiro, R.B.; Casas, F.J.; Diego-Palazuelos, P.; Herranz, D.; De La Hoz, E.; Martinez-Gonzalez, E.; Vielva, P.; Basak, S.; Beck, D.; Cukierman, A.; Kuo, C.L.; Puglisi, G.; Thompson, K.L.; Beckman, S.; Cheung, K.; Hill, C.A.; Lee, A.T.; Raum, C.; Taylor, E.; Westbrook, B.; Bermejo, J.; De Bernardis, P.; Columbro, F.; D'alessandro, G.; De Petris, M.; Lamagna, L.; Masi, S.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Bersanelli, M.; Colombo, L.; Franceschet, C.; Maino, D.; Mandelli, S.; Mennella, A.; Realini, S.; Tomasi, M.; Borrill, J.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Curtis, D.; Linder, E.; Bounissou, S.; Grain, J.; Maffei, B.; Brown, M.; Dickinson, C.; Remazeilles, M.; Bucher, M.; Errard, J.; Ganga, K.; Leloup, C.; Patanchon, G.; Stompor, R.; Carones, A.; Migliaccio, M.; Vittorio, N.; Challinor, A.; Namikawa, T.; Sherwin, B.; Chan, V.; Hlozek, R.A.; Nerval, S.; Chinone, Y.; Nishino, H.; Cliche, J.F.; Dobbs, M.; Montgomery, J.; Cubas, J.; Dachlythra, N.; Gudmundsson, J.E.; Duband, L.; Duval, J.M.; Prouvé, T.; Elleflot, T.; Suzuki, A.; Wollack, E.J.; Essinger-Hileman, T.; Kogut, A.; Shirron, P.; Switzer, E.; Finelli, F.; Gruppuso, A.; Morgante, G.; Paoletti, D.; Sandri, M.; Villa, F.; Gao, J.R.; Genova-Santos, R.; Pagano, L.; Rubino-Martin, J.A.; Gerbino, M.; Natoli, P.; Gervasi, M.; Zannoni, M.; Thorne, B.; Gradziel, M.L.; Murphy, J.A.; Grupp, F.; Weller, J.; Halverson, N.W.; Jaehnig, G.; Hattori, M.; Hirota, Y.; Kobayashi, Y.; Konishi, K.; Ohsaki, H.; Terao, Y.; Yumoto, J.; Hivon, E.; Hoshino, Y.; Sugiyama, S.; Ichiki, K.; Iida, T.; Imada, H.; Kashima, S.; Mitsuda, K.; Nagai, M.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Komatsu, K.; Nagano, Y.; Takase, Y.; Toda, T.; Kawasaki, T.; Kogiso, N.; Ogawa, H.; Okada, N.; Komatsu, E.; Reinecke, M.; Kreykenbohm, I.; Sasaki, M.; Wilms, J.; Kushino, A.; Lattanzi, M.; Luzzi, G.; Maciaszek, T.; Nakamura, S.; Nishibori, T.; Shinozaki, K.; O'sullivan, C.; Trappe, N.; Ohta, I.S.; Polenta, G.; Sakurai, H.; Savini, G.; Winter, B.; Scott, D.; Shiraishi, M.; Tsuji, M.; Signorelli, G.; Tartari, A.; Smecher, G.; Vermeulen, G.; Zonca, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Space Telescopes and Instrumentation 2020: Optical, Infrared, and Millimeter Wave. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11443)
Conference
Montier, L.; Mot, B.; Aumont, J.; Banday, A.J.; Rambaud, D.; Roudil, G.; De Bernardis, P.; Pisano, G.; Columbro, F.; Lamagna, L.; D'alessandro, G.; De Petris, M.; Masi, S.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Maffei, B.; Bounissou, S.; Grain, J.; Ritacco, A.; Tucker, C.; Ade, P.A.R.; Calabrese, E.; Hargrave, P.; Gudmundsson, J.E.; Dachlythra, N.; Henrot-Versillé, S.; Auguste, D.; Bonis, J.; Louis, T.; Peloton, J.; Tristram, M.; Montgomery, J.; Cliche, J.F.; Dobbs, M.; Prouvé, T.; Duband, L.; Duval, J.M.; Russell, M.; Arnold, K.; Flauger, R.; Seibert, J.; Savini, G.; Winter, B.; Stever, S.; Ishino, H.; Komatsu, K.; Nagano, Y.; Takase, Y.; Toda, T.; Ghigna, T.; Hazumi, M.; Imada, H.; Katayama, N.; Matsumura, T.; Sakurai, Y.; Sugai, H.; Takakura, S.; Thompson, K.L.; Kuo, C.L.; Beck, D.; Cukierman, A.; Puglisi, G.; Tsujimoto, M.; Dotani, T.; Ebisawa, K.; Hasebe, T.; Kaga, T.; Murata, Y.; Nagata, R.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Okada, N.; Sekimoto, Y.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takeda, Y.; Tominaga, M.; Yamasaki, N.Y.; Yoshida, T.; Westbrook, B.; Beckman, S.; Cheung, K.; Hill, C.A.; Lee, A.T.; Raum, C.; Taylor, E.; Adler, A.; Allys, E.; Boulanger, F.; Levrier, F.; Aurlien, R.; Banerji, R.; Brilenkov, M.; Eriksen, H.K.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Gjerløw, E.; Herman, D.; Svalheim, T.L.; Thommesen, H.; Wehus, I.; Austermann, J.; Beall, J.; Duff, S.; Hilton, G.; Hubmayr, J.; Lanen, J.V.; Ullom, J.; Vissers, M.; Baccigalupi, C.; Campeti, P.; Krachmalnicoff, N.; Poletti, D.; Barreiro, R.B.; Casas, F.J.; Diego-Palazuelos, P.; Herranz, D.; De La Hoz, E.; Martinez-Gonzalez, E.; Vielva, P.; Basak, S.; Bermejo, J.; Bersanelli, M.; Colombo, L.; Franceschet, C.; Maino, D.; Mandelli, S.; Mennella, A.; Realini, S.; Tomasi, M.; Borrill, J.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Curtis, D.; Linder, E.; Brown, M.; Dickinson, C.; Remazeilles, M.; Bucher, M.; Errard, J.; Ganga, K.; Leloup, C.; Patanchon, G.; Stompor, R.; Carones, A.; Migliaccio, M.; Vittorio, N.; Challinor, A.; Namikawa, T.; Sherwin, B.; Chan, V.; Hlozek, R.A.; Nerval, S.; Chinone, Y.; Nishino, H.; Cubas, J.; Elleflot, T.; Suzuki, A.; Essinger-Hileman, T.; Finelli, F.; Gruppuso, A.; Kogut, A.; Shirron, P.; Switzer, E.; Wollack, E.J.; Morgante, G.; Paoletti, D.; Sandri, M.; Villa, F.; Gao, J.R.; Genova-Santos, R.; Rubino-Martin, J.A.; Gerbino, M.; Natoli, P.; Pagano, L.; Gervasi, M.; Zannoni, M.; Thorne, B.; Gradziel, M.L.; Murphy, J.A.; Grupp, F.; De Haan, T.; Hasegawa, M.; Kato, A.; Kohri, K.; Maki, M.; Minami, Y.; Nagasaki, T.; Suzuki, J.; Halverson, N.W.; Jaehnig, G.; Hattori, M.; Hirota, Y.; Kobayashi, Y.; Konishi, K.; Ohsaki, H.; Terao, Y.; Yumoto, J.; Hivon, E.; Hoshino, Y.; Sugiyama, S.; Ichiki, K.; Iida, T.; Kashima, S.; Mitsuda, K.; Nagai, M.; Ishimura, K.; Kawasaki, T.; Kogiso, N.; Ogawa, H.; Okada, N.; Komatsu, E.; Reinecke, M.; Weller, J.; Kreykenbohm, I.; Sasaki, M.; Wilms, J.; Kushino, A.; Lattanzi, M.; Luzzi, G.; Maciaszek, T.; Nakamura, S.; Nishibori, T.; Shinozaki, K.; O'sullivan, C.; Trappe, N.; Ohta, I.S.; Polenta, G.; Sakurai, H.; Scott, D.; Shiraishi, M.; Tsuji, M.; Signorelli, G.; Tartari, A.; Smecher, G.; Vermeulen, G.; Zonca, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Space Telescopes and Instrumentation 2020: Optical, Infrared, and Millimeter Wave. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11443)
Conference
Sekimoto, Y.; Dotani, T.; Ebisawa, K.; Hasebe, T.; Hazumi, M.; Kaga, T.; Murata, Y.; Nagata, R.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Okada, N.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takeda, Y.; Tominaga, M.; Tsujimoto, M.; Yamasaki, N.Y.; Yoshida, T.; De Haan, T.; Hasegawa, M.; Kato, A.; Kohri, K.; Maki, M.; Minami, Y.; Nagasaki, T.; Suzuki, J.; Ade, P.A.R.; Calabrese, E.; Hargrave, P.; Pisano, G.; Tucker, C.; Adler, A.; Allys, E.; Boulanger, F.; Levrier, F.; Ritacco, A.; Arnold, K.; Flauger, R.; Russell, M.; Seibert, J.; Auguste, D.; Bonis, J.; Henrot-Versille, S.; Louis, T.; Peloton, J.; Tristram, M.; Aumont, J.; Banday, A.J.; Montier, L.; Mot, B.; Rambaud, D.; Roudil, G.; Aurlien, R.; Banerji, R.; Brilenkov, M.; Eriksen, H.K.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Gjerløw, E.; Herman, D.; Svalheim, T.L.; Thommesen, H.; Wehus, I.; Austermann, J.; Beall, J.; Duff, S.; Hilton, G.; Hubmayr, J.; Lanen, J.V.; Ullom, J.; Vissers, M.; Baccigalupi, C.; Campeti, P.; Krachmalnicoff, N.; Poletti, D.; Barreiro, R.B.; Casas, F.J.; Diego-Palazuelos, P.; Herranz, D.; De La Hoz, E.; Martinez-Gonzalez, E.; Vielva, P.; Basak, S.; Beck, D.; Cukierman, A.; Kuo, C.L.; Puglisi, G.; Thompson, K.L.; Beckman, S.; Cheung, K.; Hill, C.A.; Lee, A.T.; Raum, C.; Taylor, E.; Westbrook, B.; Bermejo, J.; De Bernardis, P.; Columbro, F.; D'Alessandro, G.; De Petris, M.; Lamagna, L.; Masi, S.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Bersanelli, M.; Colombo, L.; Franceschet, C.; Maino, D.; Mandelli, S.; Mennella, A.; Realini, S.; Tomasi, M.; Borrill, J.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Curtis, D.; Linder, E.; Bounissou, S.; Grain, J.; Maffei, B.; Brown, M.; Dickinson, C.; Remazeilles, M.; Bucher, M.; Errard, J.; Ganga, K.; Leloup, C.; Patanchon, G.; Stompor, R.; Carones, A.; Migliaccio, M.; Vittorio, N.; Challinor, A.; Namikawa, T.; Sherwin, B.; Chan, V.; Hlozek, R.A.; Nerval, S.; Chinone, Y.; Nishino, H.; Cliche, J.F.; Dobbs, M.; Montgomery, J.; Cubas, J.; Dachlythra, N.; Gudmundsson, J.E.; Duband, L.; Duval, J.M.; Prouve, T.; Elleflot, T.; Suzuki, A.; Essinger-Hileman, T.; Kogut, A.; Shirron, P.; Switzer, E.; Wollack, E.J.; Finelli, F.; Gruppuso, A.; Morgante, G.; Paoletti, D.; Sandri, M.; Villa, F.; Gao, J.R.; Genova-Santos, R.; Rubino-Martin, J.A.; Gerbino, M.; Natoli, P.; Pagano, L.; Gervasi, M.; Zannoni, M.; Ghigna, T.; Thorne, B.; Imada, H.; Katayama, N.; Matsumura, T.; Sakurai, Y.; Stever, S.; Sugai, H.; Takakura, S.; Gradziel, M.L.; Murphy, J.A.; Grupp, F.; Halverson, N.W.; Jaehnig, G.; Hattori, M.; Hirota, Y.; Kobayashi, Y.; Konishi, K.; Ohsaki, H.; Terao, Y.; Yumoto, J.; Hivon, E.; Hoshino, Y.; Sugiyama, S.; Ichiki, K.; Iida, T.; Kashima, S.; Mitsuda, K.; Nagai, M.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Komatsu, K.; Nagano, Y.; Takase, Y.; Toda, T.; Kawasaki, T.; Kogiso, N.; Ogawa, H.; Okada, N.; Komatsu, E.; Reinecke, M.; Weller, J.; Kreykenbohm, I.; Sasaki, M.; Wilms, J.; Kushino, A.; Lattanzi, M.; Luzzi, G.; MacIaszek, T.; Nakamura, S.; Nishibori, T.; Shinozaki, K.; O Sullivan, C.; Trappe, N.; Ohta, I.S.; Polenta, G.; Sakurai, H.; Savini, G.; Winter, B.; Scott, D.; Shiraishi, M.; Tsuji, M.; Signorelli, G.; Tartari, A.; Smecher, G.; Vermeulen, G.; Zonca, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy X. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11453)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Switzer, E.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어