학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 39건 | 목록
10~20
Academic Journal
Anton, G.; Hoessl, J.; Hufschmidt, P.; Michel, T.; Schmidt, S.; Wagenpfeil, M.; Wrede, G.; Ziegler, T.; Badhrees, I.; Gornea, R.; Jessiman, C.; Koffas, T.; Sinclair, D.; Veenstra, B.; Watkins, J.; Barbeau, P.S.; Runge, J.; Beck, D.; Coon, M.; Echevers, J.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Dolgolenko, A.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.Y.; Bhatta, T.; Larson, A.; Maclellan, R.; Breidenbach, M.; Davis, J.; Delaquis, S.; Johnson, A.; Kaufman, L.J.; Mong, B.; Odian, A.; Rowson, P.C.; Brunner, T.; Darroch, L.; Mcelroy, T.; Murray, K.; Totev, T.I.; Dilling, J.; Krücken, R.; Lan, Y.; Retière, F.; Cao, G.F.; Cen, W.R.; Tolba, T.; Wen, L.J.; Chambers, C.; Craycraft, A.; Fairbank, W.; Fairbank, D.; Iverson, A.; Todd, J.; Yahne, D.R.; Cleveland, B.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Farine, J.; Licciardi, C.; Robinson, A.L.; Wichoski, U.; Daniels, T.; Daugherty, S.J.; Devoe, R.; Fudenberg, D.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Lenardo, B.G.; Li, G.S.; Neilson, R.; Tosi, D.; Weber, M.; Wu, S.X.; Dolinski, M.J.; Gautam, P.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Yen, Y.-R.; Feyzbakhsh, S.; Pocar, A.; Tarka, M.; Fierlinger, P.; Hall, C.; Hughes, M.; Nusair, O.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Soma, A.K.; Veeraraghavan, V.; Jamil, A.; Li, Z.; Moore, D.C.; Xia, Q.; Kumar, K.S.; Njoya, O.; Leonard, D.S.; Vuilleumier, J.-L.
In: Physical Review C . (Physical Review C, June 2020, 101(6))
Academic Journal
Anton, G.; Hoessl, J.; Hufschmidt, P.; Michel, T.; Schmidt, S.; Wagenpfeil, M.; Wrede, G.; Ziegler, T.; Badhrees, I.; Gornea, R.; Jessiman, C.; Koffas, T.; Sinclair, D.; Veenstra, B.; Watkins, J.; Barbeau, P.S.; Runge, J.; Beck, D.; Coon, M.; Echevers, J.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Danilov, M.; Dolgolenko, A.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.Y.; Bhatta, T.; Larson, A.; MacLellan, R.; Breidenbach, M.; Davis, J.; Delaquis, S.; Johnson, A.; Kaufman, L.J.; Mong, B.; Odian, A.; Rowson, P.C.; Brunner, T.; Darroch, L.; McElroy, T.; Murray, K.; Totev, T.I.; Dilling, J.; Krücken, R.; Lan, Y.; Retière, F.; Cao, G.F.; Cen, W.R.; Tolba, T.; Wen, L.J.; Chambers, C.; Craycraft, A.; Fairbank, W.; Fairbank, D.; Iverson, A.; Todd, J.; Yahne, D.R.; Cleveland, B.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Farine, J.; Licciardi, C.; Robinson, A.L.; Wichoski, U.; Daniels, T.; Ruddell, D.; Daugherty, S.J.; Devoe, R.; Fudenberg, D.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Lenardo, B.G.; Li, G.S.; Weber, M.; Wu, S.X.; Dolinski, M.J.; Gautam, P.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Yen, Y.-R.; Feyzbakhsh, S.; Pocar, A.; Tarka, M.; Fierlinger, P.; Hall, C.; Hughes, M.; Nusair, O.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Soma, A.K.; Veeraraghavan, V.; Jamil, A.; Li, Z.; Moore, D.C.; Xia, Q.; Kumar, K.S.; Njoya, O.; Leonard, D.S.; Vogel, P.; Vuilleumier, J.-L.
In: Physical Review Letters . (Physical Review Letters, 18 October 2019, 123(16))
Academic Journal
Gallina, G.; Giampa, P.; Retière, F.; Kroeger, J.; Zhang, G.; Ward, M.; Margetak, P.; Doria, L.; Brunner, T.; De St. Croix, A.; Dilling, J.; Gornea, R.; Krücken, R.; Lan, Y.; Li, G.; Dalmasson, J.; DeVoe, R.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Lenardo, B.G.; Weber, M.; Wu, S.X.; Tsang, T.; Chiu, M.; Giacomini, G.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Al Kharusi, S.; Darroch, L.; Ito, Y.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Murray, K.; Totev, T.I.; Alfaris, M.; Blatchford, J.; Feyzbakhsh, S.; Kodroff, D.; Pocar, A.; Tarka, M.; Anton, G.; Hößl, J.; Michel, T.; Wagenpfeil, M.; Ziegler, T.; Arnquist, I.J.; Hoppe, E.W.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Overman, C.T.; Saldanha, R.; Tsang, R.; Badhrees, I.; Elbeltagi, M.; Koffas, T.; Watkins, J.; Barbeau, P.S.; Beck, D.; Coon, M.; Echevers, J.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.; Bhatta, T.; Larson, A.; MacLellan, R.; Brodsky, J.P.; Heffner, M.; House, A.; Sangiorgio, S.; Stiegler, T.; Brown, E.; Odgers, K.; Cao, G.F.; Cen, W.R.; Ding, Y.Y.; Jiang, X.S.; Lv, P.; Ning, Z.; Sun, X.L.; Tolba, T.; Wei, W.; Wen, L.J.; Wu, W.H.; Zhao, J.; Cao, L.; Qiu, D.; Wang, Q.; Wu, X.; Yang, H.; Zhou, Y.; Chambers, C.; Craycraft, A.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Iverson, A.; Todd, J.; Charlebois, S.A.; Fontaine, R.; Nolet, F.; Parent, S.; Pratte, J.-F.; Rossignol, T.; Roy, N.; St-Hilaire, G.; Vachon, F.; Cleveland, B.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Farine, J.; Licciardi, C.; Robinson, A.; Walent, M.; Wichoski, U.; Daniels, T.; Daugherty, S.J.; Kaufman, L.J.; Visser, G.; Dolinski, M.J.; Gautam, P.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Richman, M.; Yen, Y.-R.; Dragone, A.; Mong, B.; Odian, A.; Oriunno, M.; Rowson, P.C.; Skarpaas, K.; Fabris, L.; Newby, R.J.; Hughes, M.; Nakarmi, P.; Nusair, O.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Soma, A.K.; Veeraraghavan, V.; Jamil, A.; Li, Z.; Moore, D.C.; Xia, Q.; Kumar, K.S.; Njoya, O.; Leonard, D.S.; Vuilleumier, J.-L.
In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment . (Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 1 October 2019, 940:371-379)
Academic Journal
Li, Z.; Moore, D.C.; Jamil, A.; Xia, Q.; Cen, W.R.; Wen, L.J.; Cao, G.F.; Ding, Y.Y.; Jiang, X.S.; Lv, P.; Ning, Z.; Sun, X.L.; Tolba, T.; Wei, W.; Wu, W.H.; Zhao, J.; Robinson, A.; Caden, E.; Cleveland, B.; Mesrobian-Kabakian, A.D.; Farine, J.; Licciardi, C.; Walent, M.; Wichoski, U.; Odian, A.; Dragone, A.; Kaufman, L.J.; Mong, B.; Oriunno, M.; Rowson, P.C.; Viii, K.S.; Kharusi, S.A.; Brunner, T.; Darroch, L.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Murray, K.; Totev, T.I.; Anton, G.; Hößl, J.; Michel, T.; Wagenpfeil, M.; Ziegler, T.; Arnquist, I.J.; Vacri, M.L.D.; Ferrara, S.; Hoppe, E.W.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Overman, C.T.; Saldanha, R.; Tsang, R.; Badhrees, I.; Chana, B.; Elbeltagi, M.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Koffas, T.; Viel, S.; Vivo-Vilches, C.; Watkins, J.; Barbeau, P.S.; Runge, J.; Beck, D.; Coon, M.; Echevers, J.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.; Bhatta, T.; Larson, A.; Maclellan, R.; Brodsky, J.P.; Heffner, M.; House, A.; Sangiorgio, S.; Stiegler, T.; Brown, E.; Fucarino, A.; Odgers, K.; Croix, A.D.S.; Dilling, J.; Gallina, G.; Krücken, R.; Lan, Y.; Retière, F.; Ward, M.; Cao, L.; Wang, Q.; Wu, X.; Yang, H.; Zhou, Y.; Chambers, C.; Craycraft, A.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Iverson, A.; Todd, J.; Charlebois, S.A.; Fontaine, R.; Nolet, F.; Parent, S.; Pratte, J.-F.; Rossignol, T.; Roy, N.; St-Hilaire, G.; Vachon, F.; Chiu, M.; Giacomini, G.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Tsang, T.; Dalmasson, J.; Devoe, R.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Lenardo, B.G.; Li, G.; Weber, M.; Wu, S.X.; Daniels, T.; Daugherty, S.J.; Visser, G.; Dolinski, M.J.; Gautam, P.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Richman, M.; Yen, Y.-R.; Fabris, L.; Newby, R.J.; Feyzbakhsh, S.; Kodroff, D.; Pocar, A.; Hughes, M.; Nakarmi, P.; Nusair, O.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Soma, A.K.; Veeraraghavan, V.; Kumar, K.S.; Njoya, O.; Tarka, M.; Leach, K.G.; Natzke, C.R.; Leonard, D.S.; Vuilleumier, J.-L.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 24 September 2019, 14(9))
Academic Journal
Chambers, C.; Walton, T.; Fairbank, D.; Craycraft, A.; Yahne, D.R.; Todd, J.; Iverson, A.; Fairbank, W.; Alamre, A.; Badhrees, I.; Cree, W.; Gornea, R.; Jessiman, C.; Koffas, T.; Veenstra, B.; Watkins, J.; Albert, J.B.; Daugherty, S.J.; Kaufman, L.J.; Visser, G.; Anton, G.; Hößl, J.; Hufschmidt, P.; Michel, T.; Schmidt, S.; Schneider, J.; Wagenpfeil, M.; Wrede, G.; Ziegler, T.; Arnquist, I.J.; Hoppe, E.W.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Overman, C.T.; Saldanha, R.; Tsang, R.; Barbeau, P.S.; Beck, D.; Coon, M.; Echevers, J.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Burenkov, A.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.; Bhatta, T.; Daughhetee, J.; Larson, A.; MacLellan, R.; Bourque, F.; Charlebois, S.A.; Côté, M.; Fontaine, R.; Nolet, F.; Parent, S.; Pratte, J.-F.; Rossignol, T.; Roy, N.; St-Hilaire, G.; Vachon, F.; Brodsky, J.P.; Heffner, M.; House, A.; Sangiorgio, S.; Stiegler, T.; Brown, E.; Odgers, K.; Brunner, T.; Darroch, L.; Ito, Y.; Murray, K.; Totev, T.I.; Dilling, J.; Gallina, G.; Krücken, R.; Lan, Y.; Retière, F.; Cao, G.F.; Cen, W.R.; Ding, Y.Y.; Jiang, X.S.; Lv, P.; Ning, Z.; Sun, X.L.; Tolba, T.; Wei, W.; Wen, L.J.; Wu, W.H.; Zhang, X.; Zhao, J.; Cao, L.; Qiu, D.; Wang, Q.; Zhou, Y.; Chiu, M.; Giacomini, G.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rao, T.; Rescia, S.; Tsang, T.; Cleveland, B.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Farine, J.; Licciardi, C.; Robinson, A.; Wichoski, U.; Dalmasson, J.; DeVoe, R.; Fudenberg, D.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Kravitz, S.; Li, G.; Schubert, A.; Weber, M.; Wu, S.X.; Daniels, T.; Delaquis, S.; Dragone, A.; Mong, B.; Odian, A.; Oriunno, M.; Rowson, P.C.; Skarpaas, K.; Dolinski, M.J.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Yen, Y.-R.; Fabris, L.; Newby, R.J.; Feyzbakhsh, S.; Kodroff, D.; Pocar, A.; Tarka, M.; Hughes, M.; Nusair, O.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Soma, A.K.; Veeraraghavan, V.; Jamil, A.; Li, Z.; Moore, D.C.; Xia, Q.; Kumar, K.S.; Njoya, O.; Leonard, D.S.; Vuilleumier, J.-L.
In: Nature . (Nature, 9 May 2019, 569(7755):203-207)
Academic Journal
Sun, X.L.; Tolba, T.; Cao, G.F.; Lv, P.; Wen, L.J.; Cen, W.R.; Ding, Y.Y.; Jiang, X.S.; Ning, Z.; Wei, W.; Wu, W.H.; Zhao, J.; Odian, A.; Dalmasson, J.; Delaquis, S.; Dragone, A.; Kaufman, L.J.; Mong, B.; Oriunno, M.; Rowson, P.C.; Viii, K.S.; Vachon, F.; Bourque, F.; Charlebois, S.A.; Côté, M.; Fontaine, R.; Nolet, F.; Parent, S.; Pratte, J.-F.; Rossignol, T.; Roy, N.; St-Hilaire, G.; Alamre, A.; Badhrees, I.; Cree, W.; Gornea, R.; Jessiman, C.; Koffas, T.; Sinclair, D.; Veenstra, B.; Watkins, J.; Albert, J.B.; Daugherty, S.J.; Visser, G.; Anton, G.; Hößl, J.; Hufschmidt, P.; Michel, T.; Schmidt, S.; Schneider, J.; Wagenpfeil, M.; Wrede, G.; Ziegler, T.; Arnquist, I.J.; Hoppe, E.W.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Overman, C.T.; Saldanha, R.; Tsang, R.; Barbeau, P.S.; Beck, D.; Coon, M.; Echevers, J.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Burenkov, A.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.; Bhatta, T.; Daughhetee, J.; Larson, A.; Maclellan, R.; Brodsky, J.P.; Heffner, M.; House, A.; Sangiorgio, S.; Stiegler, T.; Brown, E.; Odgers, K.; Brunner, T.; Darroch, L.; Ito, Y.; Murray, K.; Totev, T.I.; Dilling, J.; Gallina, G.; Krücken, R.; Lan, Y.; Retière, F.; Cao, L.; Qiu, D.; Wang, Q.; Zhou, Y.; Chambers, C.; Craycraft, A.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Harris, D.; Iverson, A.; Todd, J.; Chiu, M.; Giacomini, G.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rao, T.; Rescia, S.; Tsang, T.; Cleveland, B.; Mesrobian-Kabakian, A.D.; Farine, J.; Licciardi, C.; Robinson, A.; Wichoski, U.; Devoe, R.; Fudenberg, D.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Kravitz, S.; Li, G.; Weber, M.; Wu, S.X.; Daniels, T.; Dolinski, M.J.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Yen, Y.-R.; Fabris, L.; Newby, R.J.; Feyzbakhsh, S.; Kodroff, D.; Pocar, A.; Fierlinger, P.; Hughes, M.; Nusair, O.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Soma, A.K.; Veeraraghavan, V.; Jamil, A.; Li, Z.; Moore, D.C.; Xia, Q.; Kumar, K.S.; Njoya, O.; Tarka, M.; Leonard, D.S.; Moe, M.; Vuilleumier, J.-L.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 17 September 2018, 13(9))
Academic Journal
Delaquis, S.; Dalmasson, J.; Kaufman, L.J.; Breidenbach, M.; Davis, J.; Johnson, A.; Mong, B.; Odian, A.; Rowson, P.C.; Waite, A.; Jewell, M.J.; Weber, M.; Devoe, R.; Fudenberg, D.; Gratta, G.; Kravitz, S.; Li, G.S.; Schubert, A.; Ostrovskiy, I.; Richards, T.; Hughes, M.; Piepke, A.; Soma, A.K.; Veeraraghavan, V.; Ziegler, T.; Anton, G.; Bayerlein, R.; Hoessl, J.; Hufschmidt, P.; Michel, T.; Schmidt, S.; Wagenpfeil, M.; Wrede, G.; Albert, J.B.; Daugherty, S.J.; Badhrees, I.; Cree, W.; Gornea, R.; Koffas, T.; Sinclair, D.; Watkins, J.; Barbeau, P.S.; Beck, D.; Coon, M.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Danilov, M.; Dolgolenko, A.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.Y.; Brunner, T.; Murray, K.; Cao, G.F.; Cen, W.R.; Tolba, T.; Wen, L.J.; Chambers, C.; Craycraft, A.; Fairbank, W.; Harris, D.; Iverson, A.; Todd, J.; Cleveland, B.; Mesrobian-Kabakian, A.D.; Farine, J.; Licciardi, C.; Robinson, A.L.; Wichoski, U.; Daniels, T.; Daughhetee, J.; Maclellan, R.; Dilling, J.; Krücken, R.; Lan, Y.; Retière, F.; Dolinski, M.J.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Yen, Y.-R.; Feyzbakhsh, S.; Pocar, A.; Tarka, M.; Fierlinger, P.; Hall, C.; Jamil, A.; Moore, D.; Xia, Q.; Kumar, K.S.; Njoya, O.; Leonard, D.S.; Vuilleumier, J.-L.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 29 August 2018, 13(8))
Academic Journal
Albert, J.B.; Daugherty, S.J.; Johnson, T.N.; Kaufman, L.J.; Visser, G.; Zettlemoyer, J.; Anton, G.; Hufschmidt, P.; Hößl, J.; Michel, T.; Schmidt, S.; Schneider, J.; Wagenpfeil, M.; Wrede, G.; Ziegler, T.; Arnquist, I.J.; Hoppe, E.W.; Orrell, J.L.; Overman, C.T.; Ortega, G.S.; Saldanha, R.; Tsang, R.; Badhrees, I.; Cree, W.; Gornea, R.; Graham, K.; Killick, R.; Koffas, T.; Licciardi, C.; Sinclair, D.; Barbeau, P.; Beck, D.; Coon, M.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Burenkov, A.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.; Bourque, F.; Charlebois, S.A.; Côté, M.; Fontaine, R.; Nolet, F.; Parent, S.; Pratte, J.-F.; Rossignol, T.; Roy, N.; St-Hilaire, G.; Vachon, F.; Brodsky, J.P.; Heffner, M.; House, A.; Sangiorgio, S.; Stiegler, T.; Brown, E.; Odgers, K.; Brunner, T.; Ito, Y.; Murray, K.; Dilling, J.; Krücken, R.; Lan, Y.; Retiere, F.; Cao, G.F.; Cen, W.R.; Ding, Y.Y.; Jiang, X.S.; Ning, Z.; Sun, X.L.; Tolba, T.; Wei, W.; Wen, L.J.; Wu, W.H.; Zhang, X.; Zhao, J.; Cao, L.; Qiu, D.; Wang, Q.; Zhou, Y.; Chambers, C.; Craycraft, A.; Fairbank, W.; Harris, D.; Iverson, A.; Todd, J.; Chiu, M.; Giacomini, G.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rao, T.; Rescia, S.; Tsang, T.; Cleveland, B.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Farine, J.; Robinson, A.; Wichoski, U.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Delaquis, S.; Dragone, A.; Mong, B.; Odian, A.; Oriunno, M.; Rowson, P.C.; Skarpaas, K.; Devoe, R.; Fudenberg, D.; Gratta, G.; Jewell, M.; Kravitz, S.; Li, G.; Schubert, A.; Weber, M.; Wu, S.X.; Daughhetee, J.; Hasan, M.; Maclellan, R.; Didberidze, T.; Hughes, M.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Soma, A.K.; Veeraraghavan, V.; Dolinski, M.J.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Yen, Y.-R.; Fabris, L.; Newby, R.J.; Feyzbakhsh, S.; Johnston, S.; Pocar, A.; Jamil, A.; Li, Z.; Moore, D.; Kumar, K.S.; Njoya, O.; Tarka, M.; Leonard, D.S.; Vogel, P.; Vuilleumier, J.-L.
In: Physical Review C . (Physical Review C, 15 June 2018, 97(6))
Academic Journal
Albert, J.B.; Daugherty, S.J.; Kaufman, L.J.; Zettlemoyer, J.; Anton, G.; Bayerlein, R.; Hoessl, J.; Hufschmidt, P.; Jamil, A.; Michel, T.; Schmidt, S.; Wagenpfeil, M.; Wrede, G.; Ziegler, T.; Badhrees, I.; Cree, W.; Gornea, R.; Graham, K.; Koffas, T.; Licciardi, C.; Sinclair, D.; Barbeau, P.S.; Beck, D.; Coon, M.; Homiller, S.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Danilov, M.; Dolgolenko, A.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.Ya.; Breidenbach, M.; Davis, J.; Delaquis, S.; Johnson, A.; Mong, B.; Odian, A.; Rowson, P.C.; Waite, A.; Brunner, T.; Murray, K.; Dilling, J.; Krücken, R.; Lan, Y.; Retière, F.; Cao, G.F.; Cen, W.R.; Tolba, T.; Wen, L.J.; Chambers, C.; Craycraft, A.; Fairbank, W.; Walton, T.; Cleveland, B.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Farine, J.; Robinson, A.L.; Wichoski, U.; Daniels, T.; Daughhetee, J.; Maclellan, R.; Devoe, R.; Fudenberg, D.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Kravitz, S.; Li, G.S.; Schubert, A.; Weber, M.; Didberidze, T.; Hughes, M.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Soma, A.K.; Tsang, R.; Dolinski, M.J.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Yen, Y.-R.; Feyzbakhsh, S.; Johnston, S.; Pocar, A.; Fierlinger, P.; Hall, C.; Kumar, K.S.; Njoya, O.; Tarka, M.; Leonard, D.S.; Moore, D.; Nelson, R.; Vogel, P.; Vuilleumier, J.-L.
In: Physical Review D . (Physical Review D, 1 April 2018, 97(7))
Academic Journal
Albert, J.B.; Daugherty, S.J.; Kaufman, L.J.; Zettlemoyer, J.; Anton, G.; Bayerlein, R.; Hoessl, J.; Hufschmidt, P.; Jamil, A.; Michel, T.; Schmidt, S.; Wagenpfeil, M.; Wrede, G.; Ziegler, T.; Badhrees, I.; Cree, W.; Gornea, R.; Graham, K.; Koffas, T.; Licciardi, C.; Sinclair, D.; Barbeau, P.S.; Beck, D.; Coon, M.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Danilov, M.; Dolgolenko, A.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.Y.; Breidenbach, M.; Daniels, T.; Davis, J.; Delaquis, S.; Johnson, A.; Mong, B.; Odian, A.; Rowson, P.C.; Russell, J.J.; Waite, A.; Brunner, T.; Murray, K.; Dilling, J.; Krücken, R.; Lan, Y.; Retière, F.; Cao, G.F.; Cen, W.R.; Tolba, T.; Wen, L.J.; Chambers, C.; Craycraft, A.; Fairbank, W.; Walton, T.; Cleveland, B.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Farine, J.; Wichoski, U.; Daughhetee, J.; Maclellan, R.; Devoe, R.; Fudenberg, D.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Kravitz, S.; Li, G.S.; Schubert, A.; Weber, M.; Didberidze, T.; Hughes, M.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Tsang, R.; Dolinski, M.J.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Yen, Y.-R.; Feyzbakhsh, S.; Johnston, S.; Pocar, A.; Fierlinger, P.; Hall, C.; Kumar, K.S.; Njoya, O.; Tarka, M.; Leonard, D.S.; Moore, D.; Nelson, R.; Vogel, P.; Vuilleumier, J.-L.
In: Physical Review Letters . (Physical Review Letters, 15 February 2018, 120(7))
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Cen, W.R.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어