학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 414건 | 목록
180~190
Conference
Monna, A.; Lang-Bardl, F.; Grupp, F.; Bender, R.; Haeuser, M.; Hess, H. J.; Hopp, U.; Kravcar, H.; Richter, J.; Schlichter, J.; Gebler, H.
Proceedings of SPIE; 5/10/2018, Vol. 10702, p1-7, 7p
Periodical
Sodnik, Zoran; Karafolas, Nikos; Cugny, Bruno; Thiele, H.; Mottaghibonab, A.; Dubowy, M.; Mecsaci, A.; Gubbini, E.; Gawlik, K.; Grupp, F.; Penka, D.; Kaminski, J.
Proceedings of SPIE; July 2019, Vol. 11180 Issue: 1 p111802V-111802V-12, 11068411p
Conference
Thiele, H.; Mottaghibonab, A.; Gal, C.; Gawlik, K.; Dubowy, M.; Grupp, F.; Penka, D.; Bode, A.; Bender, R.
Proceedings of SPIE; 12/1/2017, Vol. 10562, p1-9, 9p
Conference
Krecker, K.; Fabricius, M.; Bender, R.; Fahrenschon, V.; Gössl, C.; Grupp, F.; Häuser, M.; Hopp, U.; Kellermann, H.; Lang-Bardl, F.; Mitch, W.; Richter, J.; Rukdee, S.; Saglia, R.; Hans, O.; Hintz, J.; Wirthensohn, S.; Gebler, H.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Ground-Based and Airborne Instrumentation for Astronomy VIII. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11447)
Conference
Kellermann, H.; Wang, L.; Fahrenschon, V.; Grupp, F.; Hopp, U.; Bender, R.; Steuer, J.; Schmidt, M.; Ries, C.; Goessl, C.; Mitsch, W.; Zhao, F.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Ground-Based and Airborne Instrumentation for Astronomy VIII. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11447)
Conference
Fahrenschon, V.; Kellermann, H.; Wang, L.; Grupp, F.; Hopp, U.; Saglia, R.; Bender, R.; Gössl, C.; Mitsch, W.; Schmidt, M.; Ries, C.; Steuer, J.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Ground-Based and Airborne Instrumentation for Astronomy VIII. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11447)
Conference
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Space Telescopes and Instrumentation 2020: Optical, Infrared, and Millimeter Wave. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11443)
Conference
Hazumi, M.; De Haan, T.; Hasegawa, M.; Kato, A.; Kohri, K.; Maki, M.; Minami, Y.; Nagasaki, T.; Sekimoto, Y.; Suzuki, J.; Dotani, T.; Ebisawa, K.; Hasebe, T.; Kaga, T.; Murata, Y.; Nagata, R.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Okada, N.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takeda, Y.; Tominaga, M.; Tsujimoto, M.; Yamasaki, N.Y.; Yoshida, T.; Ghigna, T.; Katayama, N.; Matsumura, T.; Sakurai, Y.; Stever, S.; Sugai, H.; Takakura, S.; Ade, P.A.R.; Calabrese, E.; Hargrave, P.; Noviello, F.; Pisano, G.; Tucker, C.; Adler, A.; Allys, E.; Boulanger, F.; Levrier, F.; Ritacco, A.; Arnold, K.; Flauger, R.; Russell, M.; Seibert, J.; Auguste, D.; Bonis, J.; Henrot-Versillé, S.; Louis, T.; Peloton, J.; Tristram, M.; Aumont, J.; Banday, A.J.; Montier, L.; Mot, B.; Rambaud, D.; Roudil, G.; Aurlien, R.; Banjeri, R.; Brilenkov, M.; Eriksen, H.K.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Gjerløw, E.; Herman, D.; Svalheim, T.L.; Thommesen, H.; Wehus, I.; Austermann, J.; Beall, J.; Duff, S.; Hilton, G.; Hubmayr, J.; Lanen, J.V.; Ullom, J.; Vissers, M.; Baccigalupi, C.; Campeti, P.; Krachmalnicoff, N.; Poletti, D.; Barreiro, R.B.; Casas, F.J.; Diego-Palazuelos, P.; Herranz, D.; De La Hoz, E.; Martinez-Gonzalez, E.; Vielva, P.; Basak, S.; Beck, D.; Cukierman, A.; Kuo, C.L.; Puglisi, G.; Thompson, K.L.; Beckman, S.; Cheung, K.; Hill, C.A.; Lee, A.T.; Raum, C.; Taylor, E.; Westbrook, B.; Bermejo, J.; De Bernardis, P.; Columbro, F.; D'alessandro, G.; De Petris, M.; Lamagna, L.; Masi, S.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Bersanelli, M.; Colombo, L.; Franceschet, C.; Maino, D.; Mandelli, S.; Mennella, A.; Realini, S.; Tomasi, M.; Borrill, J.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Curtis, D.; Linder, E.; Bounissou, S.; Grain, J.; Maffei, B.; Brown, M.; Dickinson, C.; Remazeilles, M.; Bucher, M.; Errard, J.; Ganga, K.; Leloup, C.; Patanchon, G.; Stompor, R.; Carones, A.; Migliaccio, M.; Vittorio, N.; Challinor, A.; Namikawa, T.; Sherwin, B.; Chan, V.; Hlozek, R.A.; Nerval, S.; Chinone, Y.; Nishino, H.; Cliche, J.F.; Dobbs, M.; Montgomery, J.; Cubas, J.; Dachlythra, N.; Gudmundsson, J.E.; Duband, L.; Duval, J.M.; Prouvé, T.; Elleflot, T.; Suzuki, A.; Wollack, E.J.; Essinger-Hileman, T.; Kogut, A.; Shirron, P.; Switzer, E.; Finelli, F.; Gruppuso, A.; Morgante, G.; Paoletti, D.; Sandri, M.; Villa, F.; Gao, J.R.; Genova-Santos, R.; Pagano, L.; Rubino-Martin, J.A.; Gerbino, M.; Natoli, P.; Gervasi, M.; Zannoni, M.; Thorne, B.; Gradziel, M.L.; Murphy, J.A.; Grupp, F.; Weller, J.; Halverson, N.W.; Jaehnig, G.; Hattori, M.; Hirota, Y.; Kobayashi, Y.; Konishi, K.; Ohsaki, H.; Terao, Y.; Yumoto, J.; Hivon, E.; Hoshino, Y.; Sugiyama, S.; Ichiki, K.; Iida, T.; Imada, H.; Kashima, S.; Mitsuda, K.; Nagai, M.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Komatsu, K.; Nagano, Y.; Takase, Y.; Toda, T.; Kawasaki, T.; Kogiso, N.; Ogawa, H.; Okada, N.; Komatsu, E.; Reinecke, M.; Kreykenbohm, I.; Sasaki, M.; Wilms, J.; Kushino, A.; Lattanzi, M.; Luzzi, G.; Maciaszek, T.; Nakamura, S.; Nishibori, T.; Shinozaki, K.; O'sullivan, C.; Trappe, N.; Ohta, I.S.; Polenta, G.; Sakurai, H.; Savini, G.; Winter, B.; Scott, D.; Shiraishi, M.; Tsuji, M.; Signorelli, G.; Tartari, A.; Smecher, G.; Vermeulen, G.; Zonca, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Space Telescopes and Instrumentation 2020: Optical, Infrared, and Millimeter Wave. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11443)
Conference
Montier, L.; Mot, B.; Aumont, J.; Banday, A.J.; Rambaud, D.; Roudil, G.; De Bernardis, P.; Pisano, G.; Columbro, F.; Lamagna, L.; D'alessandro, G.; De Petris, M.; Masi, S.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Maffei, B.; Bounissou, S.; Grain, J.; Ritacco, A.; Tucker, C.; Ade, P.A.R.; Calabrese, E.; Hargrave, P.; Gudmundsson, J.E.; Dachlythra, N.; Henrot-Versillé, S.; Auguste, D.; Bonis, J.; Louis, T.; Peloton, J.; Tristram, M.; Montgomery, J.; Cliche, J.F.; Dobbs, M.; Prouvé, T.; Duband, L.; Duval, J.M.; Russell, M.; Arnold, K.; Flauger, R.; Seibert, J.; Savini, G.; Winter, B.; Stever, S.; Ishino, H.; Komatsu, K.; Nagano, Y.; Takase, Y.; Toda, T.; Ghigna, T.; Hazumi, M.; Imada, H.; Katayama, N.; Matsumura, T.; Sakurai, Y.; Sugai, H.; Takakura, S.; Thompson, K.L.; Kuo, C.L.; Beck, D.; Cukierman, A.; Puglisi, G.; Tsujimoto, M.; Dotani, T.; Ebisawa, K.; Hasebe, T.; Kaga, T.; Murata, Y.; Nagata, R.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Okada, N.; Sekimoto, Y.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takeda, Y.; Tominaga, M.; Yamasaki, N.Y.; Yoshida, T.; Westbrook, B.; Beckman, S.; Cheung, K.; Hill, C.A.; Lee, A.T.; Raum, C.; Taylor, E.; Adler, A.; Allys, E.; Boulanger, F.; Levrier, F.; Aurlien, R.; Banerji, R.; Brilenkov, M.; Eriksen, H.K.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Gjerløw, E.; Herman, D.; Svalheim, T.L.; Thommesen, H.; Wehus, I.; Austermann, J.; Beall, J.; Duff, S.; Hilton, G.; Hubmayr, J.; Lanen, J.V.; Ullom, J.; Vissers, M.; Baccigalupi, C.; Campeti, P.; Krachmalnicoff, N.; Poletti, D.; Barreiro, R.B.; Casas, F.J.; Diego-Palazuelos, P.; Herranz, D.; De La Hoz, E.; Martinez-Gonzalez, E.; Vielva, P.; Basak, S.; Bermejo, J.; Bersanelli, M.; Colombo, L.; Franceschet, C.; Maino, D.; Mandelli, S.; Mennella, A.; Realini, S.; Tomasi, M.; Borrill, J.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Curtis, D.; Linder, E.; Brown, M.; Dickinson, C.; Remazeilles, M.; Bucher, M.; Errard, J.; Ganga, K.; Leloup, C.; Patanchon, G.; Stompor, R.; Carones, A.; Migliaccio, M.; Vittorio, N.; Challinor, A.; Namikawa, T.; Sherwin, B.; Chan, V.; Hlozek, R.A.; Nerval, S.; Chinone, Y.; Nishino, H.; Cubas, J.; Elleflot, T.; Suzuki, A.; Essinger-Hileman, T.; Finelli, F.; Gruppuso, A.; Kogut, A.; Shirron, P.; Switzer, E.; Wollack, E.J.; Morgante, G.; Paoletti, D.; Sandri, M.; Villa, F.; Gao, J.R.; Genova-Santos, R.; Rubino-Martin, J.A.; Gerbino, M.; Natoli, P.; Pagano, L.; Gervasi, M.; Zannoni, M.; Thorne, B.; Gradziel, M.L.; Murphy, J.A.; Grupp, F.; De Haan, T.; Hasegawa, M.; Kato, A.; Kohri, K.; Maki, M.; Minami, Y.; Nagasaki, T.; Suzuki, J.; Halverson, N.W.; Jaehnig, G.; Hattori, M.; Hirota, Y.; Kobayashi, Y.; Konishi, K.; Ohsaki, H.; Terao, Y.; Yumoto, J.; Hivon, E.; Hoshino, Y.; Sugiyama, S.; Ichiki, K.; Iida, T.; Kashima, S.; Mitsuda, K.; Nagai, M.; Ishimura, K.; Kawasaki, T.; Kogiso, N.; Ogawa, H.; Okada, N.; Komatsu, E.; Reinecke, M.; Weller, J.; Kreykenbohm, I.; Sasaki, M.; Wilms, J.; Kushino, A.; Lattanzi, M.; Luzzi, G.; Maciaszek, T.; Nakamura, S.; Nishibori, T.; Shinozaki, K.; O'sullivan, C.; Trappe, N.; Ohta, I.S.; Polenta, G.; Sakurai, H.; Scott, D.; Shiraishi, M.; Tsuji, M.; Signorelli, G.; Tartari, A.; Smecher, G.; Vermeulen, G.; Zonca, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Space Telescopes and Instrumentation 2020: Optical, Infrared, and Millimeter Wave. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11443)
Conference
Sekimoto, Y.; Dotani, T.; Ebisawa, K.; Hasebe, T.; Hazumi, M.; Kaga, T.; Murata, Y.; Nagata, R.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Okada, N.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takeda, Y.; Tominaga, M.; Tsujimoto, M.; Yamasaki, N.Y.; Yoshida, T.; De Haan, T.; Hasegawa, M.; Kato, A.; Kohri, K.; Maki, M.; Minami, Y.; Nagasaki, T.; Suzuki, J.; Ade, P.A.R.; Calabrese, E.; Hargrave, P.; Pisano, G.; Tucker, C.; Adler, A.; Allys, E.; Boulanger, F.; Levrier, F.; Ritacco, A.; Arnold, K.; Flauger, R.; Russell, M.; Seibert, J.; Auguste, D.; Bonis, J.; Henrot-Versille, S.; Louis, T.; Peloton, J.; Tristram, M.; Aumont, J.; Banday, A.J.; Montier, L.; Mot, B.; Rambaud, D.; Roudil, G.; Aurlien, R.; Banerji, R.; Brilenkov, M.; Eriksen, H.K.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Gjerløw, E.; Herman, D.; Svalheim, T.L.; Thommesen, H.; Wehus, I.; Austermann, J.; Beall, J.; Duff, S.; Hilton, G.; Hubmayr, J.; Lanen, J.V.; Ullom, J.; Vissers, M.; Baccigalupi, C.; Campeti, P.; Krachmalnicoff, N.; Poletti, D.; Barreiro, R.B.; Casas, F.J.; Diego-Palazuelos, P.; Herranz, D.; De La Hoz, E.; Martinez-Gonzalez, E.; Vielva, P.; Basak, S.; Beck, D.; Cukierman, A.; Kuo, C.L.; Puglisi, G.; Thompson, K.L.; Beckman, S.; Cheung, K.; Hill, C.A.; Lee, A.T.; Raum, C.; Taylor, E.; Westbrook, B.; Bermejo, J.; De Bernardis, P.; Columbro, F.; D'Alessandro, G.; De Petris, M.; Lamagna, L.; Masi, S.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Bersanelli, M.; Colombo, L.; Franceschet, C.; Maino, D.; Mandelli, S.; Mennella, A.; Realini, S.; Tomasi, M.; Borrill, J.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Curtis, D.; Linder, E.; Bounissou, S.; Grain, J.; Maffei, B.; Brown, M.; Dickinson, C.; Remazeilles, M.; Bucher, M.; Errard, J.; Ganga, K.; Leloup, C.; Patanchon, G.; Stompor, R.; Carones, A.; Migliaccio, M.; Vittorio, N.; Challinor, A.; Namikawa, T.; Sherwin, B.; Chan, V.; Hlozek, R.A.; Nerval, S.; Chinone, Y.; Nishino, H.; Cliche, J.F.; Dobbs, M.; Montgomery, J.; Cubas, J.; Dachlythra, N.; Gudmundsson, J.E.; Duband, L.; Duval, J.M.; Prouve, T.; Elleflot, T.; Suzuki, A.; Essinger-Hileman, T.; Kogut, A.; Shirron, P.; Switzer, E.; Wollack, E.J.; Finelli, F.; Gruppuso, A.; Morgante, G.; Paoletti, D.; Sandri, M.; Villa, F.; Gao, J.R.; Genova-Santos, R.; Rubino-Martin, J.A.; Gerbino, M.; Natoli, P.; Pagano, L.; Gervasi, M.; Zannoni, M.; Ghigna, T.; Thorne, B.; Imada, H.; Katayama, N.; Matsumura, T.; Sakurai, Y.; Stever, S.; Sugai, H.; Takakura, S.; Gradziel, M.L.; Murphy, J.A.; Grupp, F.; Halverson, N.W.; Jaehnig, G.; Hattori, M.; Hirota, Y.; Kobayashi, Y.; Konishi, K.; Ohsaki, H.; Terao, Y.; Yumoto, J.; Hivon, E.; Hoshino, Y.; Sugiyama, S.; Ichiki, K.; Iida, T.; Kashima, S.; Mitsuda, K.; Nagai, M.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Komatsu, K.; Nagano, Y.; Takase, Y.; Toda, T.; Kawasaki, T.; Kogiso, N.; Ogawa, H.; Okada, N.; Komatsu, E.; Reinecke, M.; Weller, J.; Kreykenbohm, I.; Sasaki, M.; Wilms, J.; Kushino, A.; Lattanzi, M.; Luzzi, G.; MacIaszek, T.; Nakamura, S.; Nishibori, T.; Shinozaki, K.; O Sullivan, C.; Trappe, N.; Ohta, I.S.; Polenta, G.; Sakurai, H.; Savini, G.; Winter, B.; Scott, D.; Shiraishi, M.; Tsuji, M.; Signorelli, G.; Tartari, A.; Smecher, G.; Vermeulen, G.; Zonca, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy X. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11453)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Grupp, F.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어