학술논문
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170~180
Conference
In: 2015 Australian Control Conference, AUCC 2015 , 2015 Australian Control Conference, AUCC 2015. (2015 Australian Control Conference, AUCC 2015, 21 December 2015, :300-305)
Academic Journal
IEEE Embedded Systems Letters IEEE Embedded Syst. Lett. Embedded Systems Letters, IEEE. PP(99):1-1
Conference
In: SEI 2015 - 106. Tagung der Studiengruppe Elektronische Instrumentierung im Fruhjahr 2015 , SEI 2015 - 106. Tagung der Studiengruppe Elektronische Instrumentierung im Fruhjahr 2015. (SEI 2015 - 106. Tagung der Studiengruppe Elektronische Instrumentierung im Fruhjahr 2015, 2015, :267-283)
Academic Journal
An, F.; An, G.; Cai, X.; Cao, G.; Cao, J.; Deng, Z.; Ding, Y.; Fang, J.; Grassi, M.; Guan, M.; Guo, W.; He, M.; Heng, Y.; Hu, J.; Hu, T.; Jiang, X.; Li, W.; Li, W.; Li, X.; Li, Y.; Lin, T.; Liu, J.; Liu, S.; Lu, H.; Lu, J.; Lu, J.; Qian, S.; Qin, Z.; Sun, X.; Wang, R.; Wang, Y.; Wang, Z.; Wang, Z.; Wang, Z.; Wei, W.; Wen, L.; Xie, Y.; Xing, Z.-Z.; Xu, J.; Yan, B.; Yang, C.; Yu, B.; Yu, Z.; Zhan, L.; Zhang, J.; Zhao, Z.; Zhong, W.; Zhou, L.; Zhou, S.; Zhou, Y.; Zou, J.; An, Q.; Liang, H.; Liu, S.; Peng, H.; Sun, Y.; Antonelli, V.; D'Angelo, D.; Ford, R.; Giammarchi, M.; Lombardi, P.; Ludhova, L.; Meroni, E.; Miramonti, L.; Ranucci, G.; Baussan, E.; Dracos, M.; Jollet, C.; Meregaglia, A.; Beacom, J.; Bezrukov, L.; Lubsandorzhiev, B.; Lyashuk, V.; Sinev, V.; Tkachev, I.; Blyth, S.; Hsiung, Y.; Brugnera, R.; Garfagnini, A.; Sirignano, C.; Avanzini, M.B.; Drapier, O.; Gonin, M.; Mueller, T.; Busto, J.; Dornic, D.; Cabrera, A.; De Kerret, H.; Volpe, C.; Cai, H.; Zhang, Z.; Zhou, X.; Cammi, A.; Chiesa, D.; Clemenza, M.; Previtali, E.; Sisti, M.; Chang, Y.; Wang, C.-H.; Chen, S.; Deng, Z.; Gong, G.; Gong, H.; Wang, Y.; Wang, Z.; Chen, S.; Qi, M.; Chen, Y.; Han, R.; Ma, X.; Clerbaux, B.; Favart, L.; Yang, Y.; Conrad, J.; Djurcic, Z.; Guarino, V.; Yang, G.; Dusini, S.; Lippi, I.; Meng, G.; Mezzetto, M.; Stanco, L.; Dye, S.; Enqvist, T.; Kuusiniemi, P.; Fan, D.; Long, Y.; Zhou, G.; Göger-Neff, M.; Möllenberg, R.; Oberauer, L.; Gan, H.; Xi, Y.; Gonchar, M.; Krumshteyn, Z.; Naumov, D.; Olshevskiy, A.; Smirnov, O.; Taichenachev, D.; Grewing, C.; Karagounis, M.; Kruth, A.; Robens, M.; Van Waasen, S.; Yao, Y.; Yegin, U.; Guo, G.; Liu, J.; Qian, Y.; Wang, H.; Guo, X.-H.; Hagner, C.; Wonsak, B.; Hu, S.; Huang, H.; Li, X.; Ruan, X.; Zhou, J.; Huang, X.; Li, C.; Wang, M.; Wu, Q.; Huo, L.; Liu, J.; Wang, G.; Zhang, J.; Ioannisian, A.; Kazarian, N.; Jeitler, M.; Wulz, C.-E.; Ji, X.; Kang, L.; Li, Y.; Yang, L.; Lachenmaier, T.; Leitner, R.; Vorobel, V.; Li, J.; Xia, D.; Zhou, W.; Li, Z.-B.; Ling, J.; Liu, H.; Tang, J.; Wang, W.; You, Z.; Zhang, H.-H.; Zhang, Y.-M.; Lin, G.-L.; Lin, Y.-H.; Peng, J.-C.; Liu, D.; Liu, H.; Ruan, X.; Liu, Q.; Zheng, Y.; Lu, J.; Luo, S.; Mantovani, F.; Ricci, B.; Mao, Y.; Wang, S.; Mari, S.M.; Salamanna, G.; McDonough, W.F.; Ochoa-Ricoux, J.P.; Ortica, F.; Romani, A.; Paoloni, A.; Votano, L.; Qian, X.; Zhang, C.; Raffelt, G.; Shaevitz, M.; Soiron, M.; Stahl, A.; Steinmann, J.; Wiebusch, C.; Trzaska, W.; Wurm, M.; Yang, C.; Zhou, R.; Yermia, F.; Yu, C.; Zavatarelli, S.; Zhang, Q.; Zhou, Y.
In: Journal of Physics G: Nuclear and Particle Physics . (Journal of Physics G: Nuclear and Particle Physics, 10 February 2016, 43(3))
Conference
In: 7th World Congress in Industrial Process Tomography . (7th World Congress in Industrial Process Tomography, 2014, :577-584)
Conference
In: SEI 2013 - 104. Tagung der Studiengruppe Elektronische Instrumentierung im Fruhjahr 2013 , SEI 2013 - 104. Tagung der Studiengruppe Elektronische Instrumentierung im Fruhjahr 2013. (SEI 2013 - 104. Tagung der Studiengruppe Elektronische Instrumentierung im Fruhjahr 2013, 2013, :12-31)
Conference
In: Informatik aktuell . (Informatik aktuell, 2013, :110-115)
Conference
In: Informatik aktuell . (Informatik aktuell, 2013, :283-289)
Conference
In: Proceedings of IEEE Sensors , IEEE SENSORS 2013 - Proceedings. (Proceedings of IEEE Sensors, 2013)
Conference
Gorke, H.; Erven, W.; Kemmerling, G.; Loevenich, H.; Van Waasen, S.; Gotta, D.; Hartmann, R.; Strüder, L.
In: SEI 2013 - 104. Tagung der Studiengruppe Elektronische Instrumentierung im Fruhjahr 2013 , SEI 2013 - 104. Tagung der Studiengruppe Elektronische Instrumentierung im Fruhjahr 2013. (SEI 2013 - 104. Tagung der Studiengruppe Elektronische Instrumentierung im Fruhjahr 2013, 2013, :68-73)
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