학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 45,647건 | 목록
170~180
Academic Journal
Chen, S.; Browne, F.; Doornenbal, P.; Lee, J.; Obertelli, A.; Tsunoda, Y.; Otsuka, T.; Chazono, Y.; Hagen, G.; Holt, J.D.; Jansen, G.R.; Ogata, K.; Shimizu, N.; Utsuno, Y.; Yoshida, K.; Achouri, N.L.; Baba, H.; Calvet, D.; Château, F.; Chiga, N.; Corsi, A.; Cortés, M.L.; Delbart, A.; Gheller, J.-M.; Giganon, A.; Gillibert, A.; Hilaire, C.; Isobe, T.; Kobayashi, T.; Kubota, Y.; Lapoux, V.; Liu, H.N.; Motobayashi, T.; Murray, I.; Otsu, H.; Panin, V.; Paul, N.; Rodriguez, W.; Sakurai, H.; Sasano, M.; Steppenbeck, D.; Stuhl, L.; Sun, Y.L.; Togano, Y.; Uesaka, T.; Wimmer, K.; Yoneda, K.; Aktas, O.; Aumann, T.; Chung, L.X.; Flavigny, F.; Franchoo, S.; Gasparic, I.; Gerst, R.-B.; Gibelin, J.; Hahn, K.I.; Kim, D.; Koiwai, T.; Kondo, Y.; Koseoglou, P.; Lehr, C.; Linh, B.D.; Lokotko, T.; MacCormick, M.; Moschner, K.; Nakamura, T.; Park, S.Y.; Rossi, D.; Sahin, E.; Söderström, P.-A.; Sohler, D.; Takeuchi, S.; Törnqvist, H.; Vaquero, V.; Wagner, V.; Wang, S.; Werner, V.; Xu, X.; Yamada, H.; Yan, D.; Yang, Z.; Yasuda, M.; Zanetti, L.
In Physics Letters B 10 August 2023 843
Academic Journal
Wang, H.; Yasuda, M.; Kondo, Y.; Nakamura, T.; Tostevin, J.A.; Ogata, K.; Otsuka, T.; Poves, A.; Shimizu, N.; Yoshida, K.; Achouri, N.L.; Al Falou, H.; Atar, L.; Aumann, T.; Baba, H.; Boretzky, K.; Caesar, C.; Calvet, D.; Chae, H.; Chiga, N.; Corsi, A.; Crawford, H.L.; Delaunay, F.; Delbart, A.; Deshayes, Q.; Dombrádi, Zs.; Douma, C.; Elekes, Z.; Fallon, P.; Gašparić, I.; Gheller, J.-M.; Gibelin, J.; Gillibert, A.; Harakeh, M.N.; Hirayama, A.; Hoffman, C.R.; Holl, M.; Horvat, A.; Horváth, Á.; Hwang, J.W.; Isobe, T.; Kahlbow, J.; Kalantar-Nayestanaki, N.; Kawase, S.; Kim, S.; Kisamori, K.; Kobayashi, T.; Körper, D.; Koyama, S.; Kuti, I.; Lapoux, V.; Lindberg, S.; Marqués, F.M.; Masuoka, S.; Mayer, J.; Miki, K.; Murakami, T.; Najafi, M.A.; Nakano, K.; Nakatsuka, N.; Nilsson, T.; Obertelli, A.; Orr, N.A.; Otsu, H.; Ozaki, T.; Panin, V.; Paschalis, S.; Revel, A.; Rossi, D.; Saito, A.T.; Saito, T.; Sasano, M.; Sato, H.; Satou, Y.; Scheit, H.; Schindler, F.; Schrock, P.; Shikata, M.; Shimizu, Y.; Simon, H.; Sohler, D.; Sorlin, O.; Stuhl, L.; Takeuchi, S.; Tanaka, M.; Thoennessen, M.; Törnqvist, H.; Togano, Y.; Tomai, T.; Tscheuschner, J.; Tsubota, J.; Uesaka, T.; Yang, Z.; Yoneda, K.
In Physics Letters B 10 August 2023 843
Academic Journal
In IFAC PapersOnLine 2018 51(31):542-548
Academic Journal
Tanoue, H. ; Morinaga, J. ; Yoshizawa, T. ; Yugami, M. ; Itoh, H. ; Nakamura, T. ; Uehara, Y. ; Masuda, T. ; Odagiri, H. ; Sugizaki, T. ; Kadomatsu, T. ; Miyata, K. ; Endo, M. ; Terada, K. ; Ochi, H. ; Takeda, S. ; Yamagata, K. ; Fukuda, T. ; Mizuta, H. ; Oike, Y.
In Osteoarthritis and Cartilage January 2018 26(1):108-117
Academic Journal
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 70(4):737-745 Apr, 2023
Report
Stefanescu, A. I.; Panin, V.; Trache, L.; Motobayashi, T.; Otsu, H.; Saastamoinen, A.; Uesaka, T.; Stuhl, L.; Tanaka, J.; Tudor, D.; Stefanescu, I. C.; Spiridon, A. E.; Yoneda, K.; Baba, H.; Kurokawa, M.; Togano, Y.; Halasz, Z.; Sasano, M.; Ota, S.; Kubota, Y.; Ahn, D. S.; Kobayashi, T.; Elekes, Z.; Fukuda, N.; Takeda, H.; Kim, D.; Takada, E.; Suzuki, H.; Yoshida, K.; Shimizu, Y.; Liu, H. N.; Sun, Y. L.; Isobe, T.; Gibelin, J.; Li, P. J.; Zenihiro, J.; Marqués, F. M.; Harakeh, M. N.; Kiss, G. G.; Kurihara, A.; Yasuda, M.; Nakamura, T.; Park, S.; Yang, Z.; Harada, T.; Nishimura, M.; Sato, H.; Hahn, I. S.; Chae, K. Y.; Elson, J. M.; Sobotka, L. G.; Bertulani, C. A.
Eur. Phys. J. A (2022) 58:223
Report
Corsi, A.; Kubota, Y.; Casal, J.; Gomez-Ramos, M.; Moro, A. M.; Authelet, G.; Baba, H.; Caesar, C.; Calvet, D.; Delbart, A.; Dozono, M.; Feng, J.; Flavigny, F.; Gheller, J. -M.; Gibelin, J.; Giganon, A.; Gillibert, A.; Hasegawa, K.; Isobe, T.; Kanaya, Y.; Kawakami, S.; Kim, D.; Kiyokawa, Y.; Kobayashi, M.; Kobayashi, N.; Kobayashi, T.; Kondo, Y.; Korkulu, Z.; Koyama, S.; Lapoux, V.; Maeda, Y.; Marqués, F. M.; Motobayashi, T.; Miyazaki, T.; Nakamura, T.; Nakatsuka, N.; Nishio, Y.; Obertelli, A.; Ohkura, A.; Orr, N. A.; Ota, S.; Otsu, H.; Ozaki, T.; Panin, V.; Paschalis, S.; Pollacco, E. C.; Reichert, S.; Rousse, J. -Y.; Saito, A. T.; Sakaguchi, S.; Sako, M.; Santamaria, C.; Sasano, M.; Sato, H.; Shikata, M.; Shimizu, Y.; Shindo, Y.; Stuhl, L.; Sumikama, T.; Sun, Y. L.; Tabata, M.; Togano, Y.; Tsubota, J.; Uesaka, T.; Yang, Z. H.; Yasuda, J.; Yoneda, K.; Zenihiro, J.
Physics Letters B Volume 840, 10 May 2023, 137875
Report
Gibelin, J.; Beaumel, D.; Motobayashi, T.; Blumenfeld, Y.; Aoi, N.; Baba, H.; Elekes, Z.; Fortier, S.; Frascaria, N.; Fukuda, N.; Gomi, T.; Ishikawa, K.; Kondo, Y.; Kubo, T.; Lima, V.; Nakamura, T.; Saito, A.; Satou, Y.; Scarpaci, J. -A.; Takeshita, E.; Takeuchi, S.; Teranishi, T.; Togano, Y.; Vinodkumar, A. M.; Yanagisawa, Y.; Yoshida, K.
Report
Harada, M.; Abe, K.; Bronner, C.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Hosokawa, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kaneshima, R.; Kashiwagi, Y.; Kataoka, Y.; Miki, S.; Mine, S.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakano, Y.; Nakahata, M.; Nakayama, S.; Noguchi, Y.; Okamoto, K.; Sato, K.; Sekiya, H.; Shiba, H.; Shimizu, K.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Takenaka, A.; Tanaka, H.; Watanabe, S.; Yano, T.; Han, S.; Kajita, T.; Okumura, K.; Tashiro, T.; Tomiya, T.; Wang, X.; Yoshida, S.; Megias, G. D.; Fernandez, P.; Labarga, L.; Ospina, N.; Zaldivar, B.; Pointon, B. W.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Wan, L.; Wester, T.; Bian, J.; Griskevich, N. J.; Locke, S.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Yankelevich, A.; Hill, J.; Lee, S. H.; Moon, D. H.; Park, R. G.; Bodur, B.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Beauchene, A.; Drapier, O.; Giampaolo, A.; Mueller, Th. A.; Santos, A. D.; Paganini, P.; Quilain, B.; Ishizuka, T.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Learned, J. G.; Choi, K.; Iovine, N.; Cao, S.; Anthony, L. H. V.; Martin, D.; Scott, M.; Sztuc, A. A.; Uchida, Y.; Berardi, V.; Catanesi, M. G.; Radicioni, E.; Calabria, N. F.; Langella, A.; Machado, L. N.; De Rosa, G.; Collazuol, G.; Iacob, F.; Lamoureux, M.; Mattiazzi, M.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Pronost, G.; Fujisawa, C.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Okazaki, R.; Akutsu, R.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Kobayashi, T.; Jakkapu, M.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Bhuiyan, N.; Burton, G. T.; Di Lodovico, F.; Gao, J.; Goldsack, A.; Katori, T.; Migenda, J.; Xie, Z.; Zsoldos, S.; Kotsar, Y.; Ozaki, H.; Suzuki, A. T.; Takagi, Y.; Takeuchi, Y.; Feng, J.; Feng, L.; Hu, J. R.; Hu, Z.; Kikawa, T.; Mori, M.; Nakaya, T.; Wendell, R. A.; Yasutome, K.; Jenkins, S. J.; McCauley, N.; Mehta, P.; Tarrant, A.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Ninomiya, K.; Lagoda, J.; Lakshmi, S. M.; Mandal, M.; Mijakowski, P.; Prabhu, Y. S.; Zalipska, J.; Jia, M.; Jiang, J.; Jung, C. K.; Wilking, M. J.; Yanagisawa, C.; Hino, Y.; Ishino, H.; Kitagawa, H.; Koshio, Y.; Nakanishi, F.; Sakai, S.; Tada, T.; Tano, T.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Samani, S.; Wark, D.; Holin, A.; Nova, F.; Yang, B. S.; Yang, J. Y.; Yoo, J.; Fannon, J. E. P.; Kneale, L.; Malek, M.; McElwee, J. M.; Thiesse, M. D.; Thompson, L. F.; Wilson, S. T.; Okazawa, H.; Kim, S. B.; Kwon, E.; Seo, J. W.; Yu, I.; Ichikawa, A. K.; Nakamura, K. D.; Tairafune, S.; Nishijima, K.; Nakagiri, K.; Nakajima, Y.; Shima, S.; Taniuchi, N.; Watanabe, E.; Yokoyama, M.; de Perio, P.; Martens, K.; Tsui, K. M.; Vagins, M. R.; Xia, J.; Kuze, M.; Izumiyama, S.; Matsumoto, R.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Kinoshita, T.; Ommura, Y.; Shigeta, N.; Shinoki, M.; Suganuma, T.; Yamauchi, K.; Martin, J. F.; Tanaka, H. A.; Towstego, T.; Gaur, R.; Gousy-Leblanc, V.; Hartz, M.; Konaka, A.; Li, X.; Prouse, N. W.; Chen, S.; Xu, B. D.; Zhang, B.; Posiadala-Zezula, M.; Boyd, S. B.; Edwards, R.; Hadley, D.; Nicholson, M.; Flaherty, M. O; Richards, B.; Ali, A.; Jamieson, B.; Marti, Ll.; Minamino, A.; Pintaudi, G.; Sano, S.; Suzuki, S.; Wada, K.
Conference
2022 17th International Microsystems, Packaging, Assembly and Circuits Technology Conference (IMPACT) Microsystems, Packaging, Assembly and Circuits Technology Conference (IMPACT), 2022 17th International. :1-4 Oct, 2022
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Nakamura, T.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어