학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 120건 | 목록
110~120
Conference
O'Sullivan, C.; Bernard, J.-P.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Gault, A.; Gayer, D.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Hamilton, J.-C.; Harari, D.; Haynes, V.; Hoang, D.T.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Loucatos, S.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Marnieros, S.; May, A.; McCulloch, M.; Melhuish, S.; Montier, L.; Mundo, L.M.; Murphy, J.A.; Murphy, J.D.; Olivieri, E.; Pajot, F.; Pastoriza, H.; Perbost, C.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Prêle, D.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Salatino, M.; Scóccola, C.G.; Scully, S.; Stolpovskiy, M.; Timbie, P.; Torchinsky, S.A.; Tucker, G.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Ade, P.; Kristukat, C.; Mattei, A.; Pelosi, A.; Pisano, G.; Schillaci, A.; Suarez, F.; Tucker, C.; Amico, G.; Battistelli, E.; Buzi, D.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Lamagna, L.; Masi, S.; Mele, L.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Polenta, G.; Puddu, R.; Zullo, A.; Auguste, D.; Bonis, J.; Couchot, F.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Guerrard, E.; Henrot-Versillé, S.; Jules, E.; Louis, T.; Perdereau, O.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Vanneste, S.; Wicek, F.; Aumont, J.; Maffei, B.; Banfi, S.; Baù, A.; Gervasi, M.; Passerini, A.; Spinelli, S.; Zannoni, M.; Barbarán, G.; Bonaparte, J.; Di Donato, A.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Luterstein, R.; Medina, M.C.; Romero, G.E.; Battaglia, P.; Bersanelli, M.; Franceschet, C.; Incardona, F.; Mennella, A.; Pezzotta, F.; Viganò, D.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bigot-Sazy, M.-A.; Bleurvacq, N.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Columbro, F.; D'Agostino, R.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Dumoulin, L.; Gamboa Lerena, M.M.; García, B.; Tartari, A.; Thermeau, J.-P.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10708)
Conference
Salatino, M.; Chapron, C.; Hoang, D.T.; Coppi, G.; De Gasperis, G.; Di Donato, A.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M.M.; García, B.; Gault, A.; Gayer, D.; Giraud-Héraud, Y.; Grandsire, L.; Hamilton, J.-C.; Haynes, V.; Incardona, F.; Kaplan, J.; Loucatos, S.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; May, A.J.; McCulloch, M.A.; Melhuish, S.; Mennella, A.; Mundo, L.M.; Murphy, J.A.; Murphy, J.D.; O'Sullivan, C.; Perbost, C.; Pezzotta, F.; Piccirillo, L.; Ringegni, P.; Scóccola, C.G.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Timbie, P.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Watson, B.; Bélier, B.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Harari, D.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Mattei, A.; Medina, M.C.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Romero, G.E.; Schillaci, A.; Scully, S.; Tucker, G.; Zullo, A.; Maestre, S.; Marty, W.; Montier, L.; Rambaud, D.; Bernard, J.-P.; Giard, M.; Pajot, F.; Marnieros, S.; Bergé, L.; Dumoulin, L.; Olivieri, E.; Henrot-Versillé, S.; Auguste, D.; Bonis, J.; Couchot, F.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Guerrard, E.; Jules, E.; Louis, T.; Perdereau, O.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Vanneste, S.; Wicek, F.; Ade, P.; Pisano, G.; Tucker, C.; Amico, G.; Battistelli, E.; Buzi, D.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Leo, M.; De Petris, M.; Lamagna, L.; Masi, S.; Mele, L.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Polenta, G.; Puddu, R.; Aumont, J.; Maffei, B.; Banfi, S.; Baù, A.; Gervasi, M.; Passerini, A.; Spinelli, S.; Zannoni, M.; Piat, M.; Prêle, D.; Thermeau, J.P.; Torchinsky, S.A.; Voisin, F.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Bennett, D.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M.-A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; D'Agostino, R.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10708)
Conference
O'Sullivan, C.; Bennett, D.; Bonaparte, J.; Bunn, E.; Coppi, G.; D'Agostino, R.; De Gasperis, G.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Gamboa Lerena, M.M.; García, B.; Giard, M.; Gradziel, M.; Haynes, V.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Marnieros, S.; May, A.; McCulloch, M.; Melhuish, S.; Montier, L.; Mundo, L.M.; Murphy, J.A.; Olivieri, E.; Pajot, F.; Piccirillo, L.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Scóccola, C.G.; Suarez, F.; Vittorio, N.; Watson, B.; De Leo, M.; De Petris, M.; Amico, G.; Buzi, D.; Coppolecchia, A.; Gault, A.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Harari, D.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Lowitz, A.; Masi, S.; Medina, M.C.; Mele, L.; Paiella, A.; Pastoriza, H.; Piacentini, F.; Polenta, G.; Puddu, R.; Romero, G.E.; Schillaci, A.; Timbie, P.; Tucker, G.; Zullo, A.; Pelosi, A.; Mennella, A.; Battaglia, P.; Bersanelli, M.; Cavaliere, F.; Franceschet, C.; Incardona, F.; Pezzotta, F.; Viganò, D.; Zannoni, M.; Banfi, S.; Baù, A.; Gervasi, M.; Passerini, A.; Spinelli, S.; Piat, M.; Bigot-Sazy, M.-A.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Giraud-Héraud, Y.; Grandsire, L.; Kaplan, J.; Loucatos, S.; Perbost, C.; Prêle, D.; Salatino, M.; Stolpovskiy, M.; Tartari, A.; Thermeau, J.-P.; Torchinsky, S.A.; Voisin, F.; Ade, P.; Pisano, G.; Tucker, C.; Auguste, D.; Bonis, J.; Couchot, F.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Guerrard, E.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D.T.; Jules, E.; Louis, T.; Perdereau, O.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Vanneste, S.; Wicek, F.; Aumont, J.; Maffei, B.; Burke, D.; Gayer, D.; Murphy, J.D.; Scully, S.; Mattei, A.; Bleurvacq, N.; Chapron, C.; Hamilton, J.-C.; Barbarán, G.; Battistelli, E.; Bélier, B.; Bergé, L.; Bernard, J.-P.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Buzzelli, A.; Columbro, F.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Di Donato, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10708)
Conference
May, A.J.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Gamboa Lerena, M.M.; García, B.; Gault, A.; Gayer, D.; Gradziel, M.; Haynes, V.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Marnieros, S.; McCulloch, M.A.; Mundo, L.M.; Murphy, J.A.; Murphy, J.D.; O'Sullivan, C.; Olivieri, E.; Ringegni, P.; Scóccola, C.G.; Suarez, F.; Timbie, P.; Vittorio, N.; Watson, B.; Chapron, C.; Piat, M.; Thermeau, J.-P.; Bigot-Sazy, M.-A.; Bleurvacq, N.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Grandsire, L.; Hamilton, J.-C.; Harari, D.; Hoang, D.T.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Loucatos, S.; Mattei, A.; Medina, M.C.; Mele, L.; Montier, L.; Pajot, F.; Pastoriza, H.; Perbost, C.; Prêle, D.; Rambaud, D.; Romero, G.E.; Salatino, M.; Scully, S.; Stolpovskiy, M.; Tartari, A.; Torchinsky, S.A.; Tucker, G.; Voisin, F.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Masi, S.; Schillaci, A.; Amico, G.; Battistelli, E.; Buzi, D.; Lamagna, L.; Paiella, A.; Pelosi, A.; Piacentini, F.; Polenta, G.; Puddu, R.; Zullo, A.; Ade, P.; Pisano, G.; Tucker, C.; Auguste, D.; Bonis, J.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Guerrard, E.; Henrot-Versillé, S.; Jules, E.; Louis, T.; Perdereau, O.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Vanneste, S.; Wicek, F.; Aumont, J.; Maffei, B.; Banfi, S.; Baù, A.; Gervasi, M.; Passerini, A.; Spinelli, S.; Zannoni, M.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Bersanelli, M.; Cavaliere, F.; Franceschet, C.; Incardona, F.; Mennella, A.; Pezzotta, F.; Viganó, D.; Coppi, G.; Melhuish, S.; Piccirillo, L.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J.-P.; Bonaparte, J.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzzelli, A.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10708)
Conference
Burke, D.; Gayer, D.; Kalinauskaite, E.; O'Sullivan, C.; Murphy, J.D.; Bennett, D.G.; Gradziel, M.L.; Murphy, J.A.; De Petris, M.; De Leo, M.; Amico, G.; Battistelli, E.; Buzi, D.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Lamagna, L.; Masi, S.; Mele, L.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Polenta, G.; Puddu, R.; Schillaci, A.; Mennella, A.; Battaglia, P.; Bersanelli, M.; Cavaliere, F.; Franceschet, C.; Incardona, F.; Pezzotta, F.; Viganò, D.; Zannoni, M.; Banfi, S.; Baù, A.; Gervasi, M.; Passerini, A.; Spinelli, S.M.; Auguste, D.; Bonis, J.; Couchot, F.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Guerrard, E.; Henrot-Versillé, S.; Jules, E.; Louis, T.; Perdereau, O.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Wicek, F.; Aumont, J.; Maffei, B.; Barbarán, G.; Luterstein, R.; Bélier, B.; Bergé, L.; Drilien, A.-A.; Dumoulin, L.; Holtzer, N.; Marnieros, S.; Néel, D.; Olivieri, E.; Rigaut, O.; Bernard, J.-P.; Giard, M.; Montier, L.; Pajot, F.; Rambaud, D.; Torchinsky, S.A.; Bigot-Sazy, M.-A.; Bleurvac, N.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Giraud-Héraud, Y.; Grandsire, L.; Hamilton, J.-C.; Hoang, D.T.; Kaplan, J.; Loucatos, S.; Perbost, C.; Piat, M.R.; Prêle, D.; Salatino, M.; Stolpovskiy, M.; Thermeau, J.-P.; Voisin, F.; Bonaparte, J.; Di Donato, A.; Fasciszewski, A.; Bunn, E.F.; Buzzelli, A.; D'Agostino, R.; De Gasperis, G.; Lukovic, V.; Vittorio, N.; Coppi, G.; Haynes, V.; May, A.J.; McCulloch, M.A.; Melhuish, S.J.; Piccirillo, L.; Watson, B.; Etchegoyen, A.; García, B.; Suarez, F.; Gamboa-Lerena, M.; Scóccola, C.G.; Gault, A.; Lowitz, A.; Timbie, P.T.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Harari, D.; Pastoriza, H.; Korotkov, A.L.; Tucker, G.S.; Kristukat, C.; Lande, J.; Medina, M.C.; Romero, G.E.; Mundo, L.; Ringegni, P.; Pisano, G.; Tucker, C.E.; Scully, S.P.; Tartari, A.; Mattei, A.; Pelosi, A.; Zullo, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XI. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10531)
Conference
Lystrup, Makenzie; Perrin, Marshall D.; Lamagna, L.; Gudmundsson, J. E.; Imada, H.; Hargrave, P.; Franceschet, C.; De Petris, M.; Austermann, J.; Bounissou, S.; Columbro, F.; de Bernardis, P.; Henrot-Versillé, S.; Hubmayr, J.; Jaehnig, G.; Keskitalo, R.; Maffei, B.; Masi, S.; Matsumura, T.; Montier, L.
Proceedings of SPIE; 5/20/2020, Vol. 11443, p1144370-1144370, 1p
Conference
Mennella, A.; Bersanelli, M.; Cavaliere, F.; Del Torto, F.; Franceschet, C.; Incardona, F.; Viganò, D.; Ade, P.A.R.; Pisano, G.; Tucker, C.; Aumont, J.; Maffei, B.; Martino, J.; Banfi, S.; Baù, A.; Gervasi, M.; Passerini, A.; Zannoni, M.; Battaglia, P.; Battistelli, E.S.; Buzi, D.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; D’Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Leo, M.; De Petris, M.; Lamagna, L.; Masi, S.; Mele, L.; Paiella, A.; Pelosi, A.; Piacentini, F.; Puddu, R.; Schillaci, A.; Zullo, A.; Bélier, B.; Bennett, D.; Burke, D.P.; Gayer, D.; Gradziel, M.; Murphy, A.; O’Sullivan, C.; Bergé, L.; Dumoulin, L.; Holtzer, N.; Lande, J.; Marnieros, S.; Néel, D.; Rigaut, O.; Bernard, J.Ph.; Giard, M.; Montier, L.; Pajot, F.; Rambaud, D.; Bigot-Sazy, M.A.; Bleurvacq, N.; Bordier, G.; Brossard, J.; Cammilleri, D.; Chanial, P.; Chapron, C.; Decourcelle, T.; Ghribi, A.; Giraud-Héraud, Y.; Grandsire, L.; Hamilton, J.Ch.; Kaplan, J.; Loucatos, S.; Perbost, C.; Piat, M.; Prêle, D.; Salatino, M.; Stolpovskiy, M.; Tartari, A.; Torchinsky, S.; Voisin, F.; Bunn, E.F.; Buzzelli, A.; D’Agostino, R.; De Gasperis, G.; Gault, A.; Lukovic, V.; Vittorio, N.; Coppi, G.; Haynes, V.; May, A.; McCulloch, M.; Melhuish, S.; Ng, M.W.; Piccirillo, L.; Watson, B.; Couchot, F.; Henrot-Versillé, S.; Perdereau, O.; Tristram, M.; Etchegoyen, A.; Garcia, B.; Suarez, F.; Harari, D.; Korotkov, A.; Tucker, G.; Krachmalnicoff, N.; Lowitz, A.; Timbie, P.; Medina, M.C.; Romero, G.E.; Scully, S.
In: Proceedings of Science , European Physical Society Conference on High Energy Physics, EPS-HEP 2017. (Proceedings of Science, 2017)
Periodical
Zmuidzinas, Jonas; Gao, Jian-Rong; Stankowiak, G.; Piat, M.; Battistelli, E.; D'Alessandro, G.; de Bernardis, P.; De Petris, M.; González, M.; Grandsire, L.; Hamilton, J.-Ch.; Hoang, T. D.; Masi, S.; Marnieros, S.; Mennella, A.; Mousset, L.; O'Sullivan, C.; Prêle, D.; Tartari, A.; Thermeau, J.-P.; Torchinsky, S. A.; Voisin, F.; Zannoni, M.; Ade, P.; Alberro, J. G.; Almela, A.; Amico, G.; Arnaldi, L. H.; Auguste, D.; Aumont, J.; Azzoni, S.; Banfi, S.; Bélier, B.; Baù, A.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J.-Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M.-A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Cobos Cerutti, A. C.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; de Gasperis, G.; De Leo, M.; Dheilly, S.; Duca, C.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Ferreyro, L. P.; Fracchia, D.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; Ganga, K. M.; García, B.; García Redondo, M. E.; Gaspard, M.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Gilles, V.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; Gradziel, M.; Hampel, M. R.; Harari, Diego; Henrot-Versillé, S.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Maffei, B.; Marty, W.; Mattei, A.; May, A.; McCulloch, M.; Mele, L.; Melo, D.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; Nati, F.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perciballi, M.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Platino, M.; Polenta, G.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Rasztocky, E.; Salum, J. M.; Schillaci, A.; Scóccola, C.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Supanitsky, A. D.; Timbie, P.; Tomasi, M.; Tucker, G.; Tucker, C.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Wicek, F.; Wright, M.; Zullo, A.
Proceedings of SPIE; December 2020, Vol. 11453 Issue: 1 p1145328-1145328-14
Periodical
Zmuidzinas, Jonas; Gao, Jian-Rong; Sekimoto, Y.; Ade, P. A. R.; Adler, A.; Allys, E.; Arnold, K.; Auguste, D.; Aumont, J.; Aurlien, R.; Austermann, J.; Baccigalupi, C.; Banday, A. J.; Banerji, R.; Barreiro, R. B.; Basak, S.; Beall, J.; Beck, D.; Beckman, S.; Bermejo, J.; de Bernardis, P.; Bersanelli, M.; Bonis, J.; Borrill, J.; Boulanger, F.; Bounissou, S.; Brilenkov, M.; Brown, M.; Bucher, M.; Calabrese, E.; Campeti, P.; Carones, A.; Casas, F. J.; Challinor, A.; Chan, V.; Cheung, K.; Chinone, Y.; Cliche, J. F.; Colombo, L.; Columbro, F.; Cubas, J.; Cukierman, A.; Curtis, D.; D'Alessandro, G.; Dachlythra, N.; De Petris, M.; Dickinson, C.; Diego-Palazuelos, P.; Dobbs, M.; Dotani, T.; Duband, L.; Duff, S.; Duval, J. M.; Ebisawa, K.; Elleflot, T.; Eriksen, H. K.; Errard, J.; Essinger-Hileman, T.; Finelli, F.; Flauger, R.; Franceschet, C.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Ganga, K.; Gao, J. R.; Genova-Santos, R.; Gerbino, M.; Gervasi, M.; Ghigna, T.; Gjerløw, E.; Gradziel, M. L.; Grain, J.; Grupp, F.; Gruppuso, A.; Gudmundsson, J. E.; de Haan, T.; Halverson, N. W.; Hargrave, P.; Hasebe, T.; Hasegawa, M.; Hattori, M.; Hazumi, M.; Henrot-Versillé, S.; Herman, D.; Herranz, D.; Hill, C. A.; Hilton, G.; Hirota, Y.; Hivon, E.; Hlozek, R. A.; Hoshino, Y.; de la Hoz, E.; Hubmayr, J.; Ichiki, K.; iida, T.; Imada, H.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Jaehnig, G.; Kaga, T.; Kashima, S.; Katayama, N.; Kato, A.; Kawasaki, T.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Kobayashi, Y.; Kogiso, N.; Kogut, A.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Komatsu, K.; Konishi, K.; Krachmalnicoff, N.; Kreykenbohm, I.; Kuo, C. L.; Kushino, A.; Lamagna, L.; Lanen, J. V.; Lattanzi, M.; Lee, A. T.; Leloup, C.; Levrier, F.; Linder, E.; Louis, T.; Luzzi, G.; Maciaszek, T.; Maffei, B.; Maino, D.; Maki, M.; Mandelli, S.; Martinez-Gonzalez, E.; Masi, S.; Matsumura, T.; Mennella, A.; Migliaccio, M.; Minanmi, Y.; Mitsuda, K.; Montgomery, J.; Montier, L.; Morgante, G.; Mot, B.; Murata, Y.; Murphy, J. A.; Nagai, M.; Nagano, Y.; Nagasaki, T.; Nagata, R.; Nakamura, S.; Namikawa, T.; Natoli, P.; Nerval, S.; Nishibori, T.; Nishino, H.; O'Sullivan, C.; Ogawa, H.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Ohsaki, H.; Ohta, I. S.; Okada, N.; Okada, N.; Pagano, L.; Paiella, A.; Paoletti, D.; Patanchon, G.; Peloton, J.; Piacentini, F.; Pisano, G.; Polenta, G.; Poletti, D.; Prouvé, T.; Puglisi, G.; Rambaud, D.; Raum, C.; Realini, S.; Reinecke, M.; Remazeilles, M.; Ritacco, A.; Roudil, G.; Rubino-Martin, J. A.; Russell, M.; Sakurai, H.; Sakurai, Y.; Sandri, M.; Sasaki, M.; Savini, G.; Scott, D.; Seibert, J.; Sherwin, B.; Shinozaki, K.; Shiraishi, M.; Shirron, P.; Signorelli, G.; Smecher, G.; Stever, S.; Stompor, R.; Sugai, H.; Sugiyama, S.; Suzuki, A.; Suzuki, J.; Svalheim, T. L.; Switzer, E.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takakura, S.; Takase, Y.; Takeda, Y.; Tartari, A.; Taylor, E.; Terao, Y.; Thommesen, H.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Toda, T.; Tomasi, M.; Tominaga, M.; Trappe, N.; Tristram, M.; Tsuji, M.; Tsujimoto, M.; Tucker, C.; Ullom, J.; Vermeulen, G.; Vielva, P.; Villa, F.; Vissers, M.; Vittorio, N.; Wehus, I.; Weller, J.; Westbrook, B.; Wilms, J.; Winter, B.; Wollack, E. J.; Yamasaki, N. Y.; Yoshida, T.; Yumoto, J.; Zannoni, M.; Zonca, A.
Proceedings of SPIE; December 2020, Vol. 11453 Issue: 1 p1145310-1145310-21
Periodical
Zmuidzinas, Jonas; Gao, Jian-Rong; Salatino, M.; Bélier, B.; Chapron, C.; Hoang, D. T.; Maestre, S.; Marnieros, S.; Marty, W.; Montier, L.; Piat, M.; Prêle, D.; Rambaud, D.; Thermeau, J. P.; Torchinsky, S. A.; Henrot-Versillé, S.; Voisin, F.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J.-Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M.-A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; D’Alessandro, G.; de Bernardis, P.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; García, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J.-Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A. J.; McCulloch, M. A.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Mennella, A.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; O'Sullivan, C.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Puddu, R.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Timbie, P.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Watson, B.; Wicek, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.
Proceedings of SPIE; July 2018, Vol. 10708 Issue: 1 p1070845-1070845-12
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Columbro, F.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어