학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 37건 | 목록
1~10
Academic Journal
Tsuchiya, H.; Yokogawa, S.; Kunishima, H.; Kuwajima, T.; Usami, T.; Miura, Y.; Ohto, K.; Fujii, K.; Sakurai, M.
In Microelectronic Engineering June 2013 106:205-209
Academic Journal
In Microelectronics Reliability 2001 41(9):1409-1416
Academic Journal
Meech, K.J.; Ageorges, N.; A'Hearn, M.F.; Arpigny, C.; Ates, A.; Aycock, J.; Bagnulo, S.; Bailey, J.; Barber, R.; Barrera, L.; Barrena, R.; Bauer, J.M.; Belton, M.J.S.; Bensch, F.; Bhattacharya, B.; Biver, N.; Blake, G.; Bockelee-Morvan, D.; Boehnhardt, H.; Bonev, B.P.; Bonev, T.; Buie, M.W.; Burton, M.G.; Butner, H.M.; Cabanac, R.; Campbell, R.; Campins, H.; Capria, M.T.; Carroll, T.; Chaffee, F.; Charnley, S.B.; Cleis, R.; Coates, A.; Cochran, A.; Colom, P.; Conrad, A.; Coulson, I.M.; Crovisier, J.; deBuizer, J.; Dekany, R.; de Leon, J.; Russo, N. Dello; Delsanti, A.; DiSanti, M.; Drummond, J.; Dundon, L.; Etzel, P.B.; Farnham, T.L.; Feldman, P.; Fernandez, Y.R.; Filipovic, M.D.; Fisher, S.; Fitzsimmons, A.; Fong, D.; Fugate, R.; Fujiwara, H.; Fujiyoshi, T.; Furusho, R.; Fuse, T.; Gibb, E.; Groussin, O.; Gulkis, S.; Gurwell, M.; Hadamcik, E.; Hainaut, O.; Harker, D.; Harrington, D.; Harwit, M.; Hasegawa, S.; Hergenrother, C.W.; Hirst, P.; Hodapp, K.; Honda, M.; Howell, E.S.; Hutsemekers, D.; Iono, D.; Ip, W.-H.; Jackson, W.; Jehin, E.; Jiang, Z.J.; Jones, G.H.; Jones, P.A.; Kadono, T.; Kamath, U.W.; Kaufl, H.U.; Kasuga, T.; Kawakita, H.; Kelley, M.S.; Kerber, F.; Kidger, M.; Kinoshita, D.; Knight, M.; Lara, L.; Larson, S.M.; Lederer, S.; Lee, C.-F.; Levasseur-Regourd, A.C.; Li, J.Y.; Li, Q.-S.; Licandro, J.; Lin, Z.-Y.; Lisse, C.M.; LoCurto, G.; Lovell, A.J.; Lowry, S.C.; Lyke, J.; Lynch, D.; Ma, J.; Magee-Sauer, K.; Maheswar, G.; Manfroid, J.; Marco, O.; Martin, P.; Melnick, G.; Miller, S.; Miyata, T.; Moriarty-Schieven, G.H.; Moskovitz, N.; Mueller, B.E.A.; Mumma, M.J.; Muneer, S.; Neufeld, D.A.; Ootsubo, T.; Osip, D.; Pandea, S.K.; Pantin, E.; Paterno-Mahler, R.; Patten, B.; Penprase, B.E.; Peck, A.; Petitas, G.; Pinilla-Alonso, N.; Pittichova, J.; Pompei, E.; Prabhu, T.P.; Qi, C.; Rao, R.; Rauer, H.; Reitsema, H.; Rodgers, S.D.; Rodriguez, P.; Ruane, R.; Ruch, G.; Rujopakarn, W.; Sahu, D.K.; Sako, S.; Sakon, I.; Samarasinha, N.; Sarkissian, J.M.; Saviane, I.; Schirmer, M.; Schultz, P.; Schulz, R.; Seitzer, P.; Sekiguchi, T.; Selman, F.; Serra-Ricart, H.; Sharp, R.; Snell, R.L.; Snodgrass, C.; Stallard, T.; Stecklein, G.; Sterken, C.; Stuwe, J.A.; Sugita, S.; Sumner, M.; Suntzeff, N.; Swaters, R.; Takakuwa, S.; Takato, N.; Thomas-Osip, J.; Thompson, E.; Tokunaga, A.T.; Tozzi, G.P.; Tran, H.; Troy, M.; Trujillo, C.; Van Cleve, J.; Vasundhara, R.; Vazquez, R.; Vilas, F.; Villanueva, G.; von Braun, K.; Vora, P.; Wainscoat, R.J.; Walsh, K.; Watanabe, J.; Weaver, H.A.; Weaver, W.; Weiler, M.; Weissman, P.R.; Welsh, W.F.; Wilner, D.; Wolk, S.; Womack, M.; Wooden, D.; Woodney, L.H.; Woodward, C.; Wu, Z.-Y.; Wu, J.-H.; Yamashita, T.; Yang, B.; Yang, Y.-B.; Yokogawa, S.; Zook, A.C.; Zauderer, A.; Zhao, X.; Zhou, X.; Zucconi, J.-M.
Science. October 14, 2005, Vol. 310 Issue 5746, p265, 5 p.
Conference
2010 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS); 2010, p717-723, 7p
Conference
2009 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2009, p837-843, 7p
Conference
2009 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2009, p389-394, 6p
Conference
2009 IEEE International Interconnect Technology Conference; 2009, p191-194, 4p
Conference
Iguchi, M.; Yokogawa, S.; Aizawa, H.; Kakuhara, Y.; Tsuchiya, H.; Okada, N.; Imai, K.; Tohara, M.; Fujii, K.; Watanabe, T.
2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM); 2009, p1-4, 4p
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Yokogawa, S.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어