학술논문
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Academic Journal
Guarcello, C.; Ahrens, F.; Avallone, G.; Barone, C.; Borghesi, M.; Callegaro, L.; Carapella, G.; Caricato, A.P.; Carusotto, I.; Cian, A.; D'Elia, A.; Gioacchino, D.D.; Enrico, E.; Falferi, P.; Fasolo, L.; Faverzani, M.; Ferri, E.; Filatrella, G.; Gatti, C.; Giachero, A.; Giubertoni, D.; Granata, V.; Leo, A.; Labranca, D.; Ligi, C.; Maccarrone, G.; Mantegazzini, F.; Margesin, B.; Maruccio, G.; Mezzena, R.; Monteduro, A.G.; Moretti, R.; Nucciotti, A.; Oberto, L.; Origo, L.; Komnang, A.S.P.; Pagano, S.; Piersanti, L.; Rettaroli, A.; Rizzato, S.; Tocci, S.; Vinante, A.; Zannoni, M.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 34(3):1-5 May, 2024
Academic Journal
Ahrens, F.; Ferri, E.; Avallone, G.; Barone, C.; Borghesi, M.; Callegaro, L.; Carapella, G.; Caricato, A.P.; Carusotto, I.; Cian, A.; D'Elia, A.; Gioacchino, D.D.; Enrico, E.; Falferi, P.; Fasolo, L.; Faverzani, M.; Filatrella, G.; Gatti, C.; Giachero, A.; Giubertoni, D.; Granata, V.; Guarcello, C.; Labranca, D.; Leo, A.; Ligi, C.; Maccarrone, G.; Mantegazzini, F.; Margesin, B.; Maruccio, G.; Mezzena, R.; Monteduro, A.G.; Moretti, R.; Nucciotti, A.; Oberto, L.; Origo, L.; Pagano, S.; Piedjou, A.S.; Piersanti, L.; Rettaroli, A.; Rizzato, S.; Tocci, S.; Vinante, A.; Zannoni, M.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 34(3):1-5 May, 2024
Academic Journal
Moretti, R.; Corti, H.A.; Labranca, D.; Ahrens, F.; Avallone, G.; Babusci, D.; Banchi, L.; Barone, C.; Beretta, M.M.; Borghesi, M.; Buonomo, B.; Calore, E.; Carapella, G.; Chiarello, F.; Cian, A.; Cidronali, A.; Costa, F.; Cuccoli, A.; D'Elia, A.; Gioacchino, D.D.; Pascoli, S.D.; Falferi, P.; Fanciulli, M.; Faverzani, M.; Felici, G.; Ferri, E.; Filatrella, G.; Foggetta, L.G.; Gatti, C.; Giachero, A.; Giazotto, F.; Giubertoni, D.; Granata, V.; Guarcello, C.; Lamanna, G.; Ligi, C.; Maccarrone, G.; Macucci, M.; Manara, G.; Mantegazzini, F.; Marconcini, P.; Margesin, B.; Mattioli, F.; Miola, A.; Nucciotti, A.; Origo, L.; Pagano, S.; Paolucci, F.; Piersanti, L.; Rettaroli, A.; Sanguinetti, S.; Schifano, S.F.; Spagnolo, P.; Tocci, S.; Toncelli, A.; Torrioli, G.; Vinante, A.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 34(3):1-5 May, 2024
Academic Journal
Alesini, D.; Braggio, C.; Carugno, G.; Crescini, N.; D’ Agostino, D.; Di Gioacchino, D.; Di Vora, R.; Falferi, P.; Gambardella, U.; Gatti, C.; Iannone, G.; Ligi, C.; Lombardi, A.; Maccarrone, G.; Ortolan, A.; Pengo, R.; Pira, C.; Rettaroli, A.; Ruoso, G.; Taffarello, L.; Tocci, S.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 1 January 2021 985
Academic Journal
Gatti, C.; Affronte, M.; Balanov, A.; Bonizzoni, C.; Brida, G.; Chiariello, F.; Chikhi, N.; Coda, G.; D'Elia, A.; Di Gioacchino, D.; Enrico, E.; Eremin, I.; Ejrnaes, M.; Il'ichev, E.; Fasolo, L.; Fistul, M.; Ghirri, A.; Greco, A.; Ligi, C.; Maccarone, G.; Meda, A.; Navez, P.; Oelsner, G.; Rajteri, M.; Rettaroli, A.; Ruggiero, B.; Savel'ev, S.; Silvestrini, P.; Tocci, S.; Ustinov, A.; Vanacore, P.; Zagoskin, A.; Lisitskiy, M.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 33(5):1-5 Aug, 2023
Report
Di Giulio, C.; Cardelli, F.; Pioli, S.; Alesini, D.; Bellaveglia, M.; Bini, S.; Buonomo, B.; Cantarella, S.; Catuscelli, G.; Ceccarelli, M.; Ceccarelli, R.; Cianfrini, M.; Clementi, R.; Di Pasquale, E.; Di Raddo, G.; Di Raddo, R.; Falone, A.; Gallo, A.; Latini, G.; Liedl, A.; Lollo, V.; Piermarini, G.; Piersanti, L.; Quaglia, S.; Rossi, L. A.; Sabbatini, L.; Scarselletta, G.; Scampati, M.; Tocci, S.; Zarlenga, R.
Academic Journal
Giannetti, G.; Anania, M.P.; Bellaveglia, M.; Del Dotto, A.; Gallo, A.; Giribono, A.; Piersanti, L.; Pompili, R.; Romeo, S.; Serenellini, B.; Tocci, S.; Vaccarezza, C.; Villa, F.; Ferrario, M.; Cianchi, A.; Galletti, M.; Chiadroni, E.
In: Measurement Science and Technology . (Measurement Science and Technology, February 2024, 35(2))
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