부산대학교 도서관

Kovalenko, V.; Kovalenko, O.; Stryzhak, V.; Stryzhak, M.; Ruzmetov, A.

In: International Journal of Mechatronics and Applied Mechanics. (International Journal of Mechatronics and Applied Mechanics, 2023, 2023(14):248-256)

Heerspink, H.J.L.; de Zeeuw, D.; Parving, H.-H.; Andress, D.L.; Melnick, J.Z.; Miller, M.G.; Yi, T.; Wigderson, M.; Bakris, G.; Correa-Rotter, R.; Hou, F.-F.; Kitzman, D.W.; Kohan, D.; Makino, H.; McMurray, J.J.V.; Pergola, P.E.; Perkovic, V.; Tobe, S.; Elbert, A.; Vallejos, A.; Alvarisqueta, A.; Maffei, L.; Juncos, L.; de Arteaga, J.; Greloni, G.; Farias, E.; Zucchini, A.; Vogel, D.; Cusumano, A.; Santos, J.; Fraenkel, M.; Gallagher, M.; Davis, T.; Acharya, S.; Cooke, D.; Suranyi, M.; Roger, S.; Toussaint, N.; Pollock, C.; Chan, D.; Stranks, S.; MacIsaac, R.; Endre, Z.; Schmidt, A.; Prager, R.; Mayer, G.; Warling, X.; Jadoul, M.; Hougardy, J.; Vercammen, C.; Van Vlem, B.; Gillard, P.; Costa e Forti, A.; Borges, J.L.; Santos Canani, L.; Eliaschewitz, F.; Leite, S.; Fraige Filho, F.; Paschoalin, R.; Moura Neto, J.A.; Deboni, L.; de Lourdes Noronha, I.; Cercato, C.; Prompt, C.A.; Zanella, M.; Rassi, N.; D'Avila, D.; Milagres, R.; Felicio, J.; Pecoits Filho, R.; Riella, M.C.; Salles, 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K.; Yi, J.H.; Lee, S.A.; Cho, H.C.; Kim, S.-G.; Cha, D.-R.; Seo, J.A.; Choi, K.M.; Woo, J.-T.; Ahn, K.J.; Lee, J.H.; Kim, I.-J.; Lee, M.-K.; Jang, H.C.; Park, K.-S.; Kim, B.S.; Mok, J.O.; Shin, M.; Yoon, S.A.; Nam-Goong, I.-S.; Chung, C.H.; Yu, T.Y.; Lee, H.W.; Soto Gonzalez, A.; Almirall, J.; Egido, J.; Calero Gonzalez, F.; Fernandez Fresnedo, G.; Valera Cortes, I.; Praga Terente, M.; Garcia Mendez, I.; Navarro Gonzalez, J.; Herrero Calvo, J.; Cigarran Guldris, S.; Prieto Velasco, M.; Minguela Pesquera, J.I.; Galan, A.; Pascual, J.; Marques Vidas, M.; Martins Munoz, J.; Rodriguez-Perez, J.; Castro-Alonso, C.; Bonet Sol, J.; Seron, D.; Fernandez Giraldez, E.; Arrieta Lezama, J.; Montero, N.; Hernandez-Jaras, J.; Santamaria Olmo, R.; Molas Coten, J.R.; Hellberg, O.; Fellstrom, B.; Bock, A.; Pei, D.; Lin, C.-L.; Tien, K.-J.; Chen, C.-C.; Huang, C.-N.; Jiang, J.-Y.; Wu, D.-A.; Chu, C.-H.; Tseng, S.-T.; Chen, J.-F.; Bau, C.-T.; Sheu, W.; Wu, M.-S.; Sari, R.; Sezer, S.; Yildiz, A.; Satman, I.; Kalender, B.; Mankovskyy, B.; Fushtey, I.; Stanislavchuk, M.; Kolenyk, M.; Dudar, I.; Zolotaikina, V.; Abrahamovych, O.; Kostynenko, T.; Petrosyan, O.; Kuskalo, P.; Galushchak, O.; Legun, O.; Topchii, I.; Martynyuk, L.; Stryzhak, V.; Panina, S.; Tkach, S.; Korpachev, V.; Maxwell, P.; Gnudi, L.; Kon, S.P.; Tindall, H.; Kalra, P.; Mark, P.; Patel, D.; El-Shahawy, M.; Bai, L.; Nica, R.; Lien, Y.-H.; Menefee, J.; Busch, R.; Miller, A.; Ahmed, A.; Arif, A.; Lee, J.; Desai, S.; Bansal, S.; Bentsianov, M.; Belledonne, M.; Jere, C.; Gaona, R.; Greenwood, G.; Brusco, O.; Boiskin, M.; Belo, D.; Minasian, R.; Atray, N.; Lawrence, M.; Taliercio, J.; Pergola, P.; Scott, D.; Alvarez, G.; Marder, B.; Powell, T.; Bakdash, W.; Stoica, G.; McFadden, C.; Rendell, M.; Wise, J.; Jones, A.; Jardula, M.; Madu, I.-J.; Varghese, F.; Tulloch, B.; Ahmed, Z.; Hames, M.; Nazeer, I.; Shahid, N.; John, R.; Montero, M.; Fitz-Patrick, D.; Phillips, L.; Guasch, A.; Christofides, E.; Gundroo, A.; Amin, M.; Bowman-Stroud, C.; Link, M.; Mulloy, L.; Nammour, M.; Lalwani, T.; Hanson, L.; Whaley-Connell, A.; Herman, L.; Chatha, R.; Osama, S.; Liss, K.; Kayali, Z.; Bhargava, A.; Israel, E.; Peguero-Rivera, A.; Fang, M.; Slover, J.; Barengolts, E.; Flores, J.; Muoneke, R.; Savin, V.; Awua-Larbi, S.; Levine, A.; Newman, G.; Golestaneh, L.; Bohm, G.; Reisin, E.; Cruz, L.; Weiss, R.; Zieve, F.; Horwitz, E.; Chuang, P.; Mersey, J.; Manley, J.; Graf, R.; Bedros, F.; Joshi, S.; Frias, J.; Assefi, A.; O'Shaughnessy, A.; Brantley, R.; Minga, T.; Tietjen, D.; Kantor, S.; Jamal, A.; Guadiz, R.; Hershon, K.; Bressler, P.; Kopyt, N.; Cathcart, H.; Bloom, S.; Reichel, R.; Nakhle, S.; Dulude, E.; Tarkan, J.; Baker, P.; Zeig, S.; Moya Hechevarria, J.; Ropero-Cartier, A.; De la Calle, G.; Doshi, A.; Saba, F.; Sligh, T.; Shaw, S.; Kumar, J.; Szerlip, H.; Bayliss, G.; Perlman, A.; Sakhrani, L.; Gouge, S.; Argoud, G.; Acosta, I.; Elder, J.; Joshi, S.; Sensenbrenner, J.; Vicks, S.; Mangoo-Karim, R.; Galphin, C.; Leon-Forero, C.; Gilbert, J.; Brown, E.; Ijaz, A.; Butt, S.; Markell, M.; Arauz-Pacheco, C.; Sloan, L.; Alvarado, O.; Jabbour, S.; Simon, E.; Rastogi, A.; James, S.; Hall, K.; Melish, J.; Dixon, B.; Adolphe, A.; Kovesdy, C.; Beddhu, S.; Solomon, R.; Fernando, R.; Levin, E.; Thakar, C.; Robey, B.; Goldfarb, D.; Fried, L.; Maddukuri, G.; Thomson, S.; Annand, A.; Kronfli, S.; Kalirao, P.; Schmidt, R.; Dahl, N.; Blumenthal, S.; Weinstein, D.; Ostergaard, O.; Weinstein, T.; Ono, Y.; Yalcin, M.; Karim, S.

In: The Lancet. (The Lancet, 11 - 17 May 2019, 393(10184):1937-1947)

Alieksieiev, V.; Kovalenko, V.; Stryzhak, V.; Varchenko, I.; Stryzhak, M.; Heiden, B.; Tonino-Heiden, B.

In: International Conference on Reliable Systems Engineering, ICoRSE 2022. (Lecture Notes in Networks and Systems, 2023, 534 LNNS:222-232)