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Academic Journal
Jaegle, M.; Pernau, H.-F.; Pfützner, M.; Benkendorf, M.; Li, Xinke; Bartel, M.; Herm, O.; Drost, S.; Rutsch, D.; Jacquot, A.; Wöllenstein, J.
In Procedia Engineering 2016 168:770-773
Conference
Jaegle, M.; Pernau, H.-F.; Pfützner, M.; Benkendorf, M.; Li, X.; Bartel, M.; Herm, O.; Drost, S.; Rutsch, D.; Wöllenstein, J.; Jacquot, A.
In: Sensoren und Messsysteme - Beitrage der 19. ITG/GMA-Fachtagung , Sensoren und Messsysteme - Beitrage der 19. ITG/GMA-Fachtagung. (Sensoren und Messsysteme - Beitrage der 19. ITG/GMA-Fachtagung, 2020, :181-184)
Conference
Jaegle, M.; Pernau, H.-F.; Pfützner, M.; Benkendorf, M.; Li, X.; Bartel, M.; Herm, O.; Drost, S.; Rutsch, D.; Wöllenstein, J.; Jacquot, A.
In: Sensoren und Messsysteme - 19. ITG/GMA-Fachtagung , Sensoren und Messsysteme - 19. ITG/GMA-Fachtagung. (Sensoren und Messsysteme - 19. ITG/GMA-Fachtagung, 2018, :181-184)
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[AR] Rutsch, D.
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