학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 803건 | 목록
1~10
Report
Abe, K.; Haga, Y.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Imaizumi, S.; Iyogi, K.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kataoka, Y.; Kato, Y.; Kishimoto, Y.; Miki, S.; Mine, S.; Miura, M.; Mochizuki, T.; Moriyama, S.; Nagao, Y.; Nakahata, M.; Nakajima, T.; Nakano, Y.; Nakayama, S.; Okada, T.; Okamoto, K.; Orii, A.; Sato, K.; Sekiya, H.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Takenaka, A.; Tanaka, H.; Tasaka, S.; Tomura, T.; Ueno, K.; Watanabe, S.; Yano, T.; Yokozawa, T.; Han, S.; Irvine, T.; Kajita, T.; Kametani, I.; Kaneyuki, K.; Lee, K. P.; McLachlan, T.; Okumura, K.; Richard, E.; Tashiro, T.; Wang, R.; Xia, J.; Megias, G. D.; Bravo-Berguño, D.; Labarga, L.; Zaldivar, B.; Goldhaber, M.; Blaszczyk, F. d. M.; Gustafson, J.; Kachulis, C.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Stone, J. L.; Sulak, L. R.; Sussman, S.; Wan, L.; Wester, T.; Pointon, B. W.; Bian, J.; Carminati, G.; Elnimr, M.; Griskevich, N. J.; Kropp, W. R.; Locke, S.; Renshaw, A.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Weatherly, P.; Ganezer, K. S.; Hartfiel, B. L.; Hill, J.; Keig, W. E.; Hong, N.; Kim, J. Y.; Lim, I. T.; Park, R. G.; Akiri, T.; Bodur, B.; Himmel, A.; Li, Z.; O'Sullivan, E.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Wongjirad, T.; Bernard, L.; Coffani, A.; Drapier, O.; Hedri, S. El; Giampaolo, A.; Imber, J.; Mueller, Th. A.; Paganini, P.; Quilain, B.; Ishizuka, T.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Choi, K.; Learned, J. G.; Matsuno, S.; Smith, S. N.; Amey, J.; Anthony, L. H. V.; Litchfield, R. P.; Ma, W. Y.; Marin, D.; Sztuc, A. A.; Uchida, Y.; Wascko, M. O.; Berardi, V.; Catanesi, M. G.; Intonti, R. A.; Radicioni, E.; Calabria, N. F.; De Rosa, G.; Machado, L. N.; Collazuol, G.; Iacob, F.; Lamoureux, M.; Ospina, N.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Pronost, G.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Cao, S.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Ishii, T.; Jakkapu, M.; Kobayashi, T.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Boschi, T.; Di Lodovico, F.; Migenda, J.; Sedgwick, S. Molina; Taani, M.; Zsoldos, S.; Abe, KE.; Hasegawa, M.; Isobe, Y.; Kotsar, Y.; Miyabe, H.; Ozaki, H.; Shiozawa, T.; Sugimoto, T.; Suzuki, A. T.; Takeuchi, Y.; Yamamoto, S.; Ali, A.; Ashida, Y.; Bronner, C.; Feng, J.; Hayashino, T.; Hiraki, T.; Hirota, S.; Huang, K.; Jiang, M.; Kikawa, T.; Mori, M.; Murakami, A.; Nakamura, KE.; Nakaya, T.; Patel, N. D.; Suzuki, K.; Takahashi, S.; Tateishi, K.; Wendell, R. A.; Yasutome, K.; Fernandez, P.; McCauley, N.; Mehta, P.; Pritchard, A.; Tsui, K. M.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Mitsuka, G.; Murase, M.; Muto, F.; Niwa, T.; Tsukada, T. Suzuki M.; Frankiewicz, K.; Mijakowski, P.; Hignight, J.; Jiang, J.; Jung, C. K.; Li, X.; Palomino, J. L.; Santucci, G.; Vilela, C.; Wilking, M. J.; Yanagisawa, C.; Fukuda, D.; Hagiwara, K.; Harada, M.; Horai, T.; Ishino, H.; Ito, S.; Kayano, T.; Kibayashi, A.; Kitagawa, H.; Koshio, Y.; Ma, W.; Mori, T.; Nagata, H.; Piplani, N.; Sakai, S.; Sakuda, M.; Takahira, Y.; Xu, C.; Yamaguchi, R.; Kuno, Y.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Goldsack, A.; Samani, S.; Simpson, C.; Wark, D.; Nova, F.; Tacik, R.; Yang, J. Y.; Cole, A.; Jenkins, S. J.; Malek, M.; McElwee, J. M.; Stone, O.; Thiesse, M. D.; Thompson, L. F.; Okazawa, H.; Choi, Y.; Kim, S. B.; Yu, I.; Ichikawa, A. K.; Ito, K.; Nishijima, K.; Calland, R. G.; de Perio, P.; Martens, K.; Murdoch, M.; Vagins, M. R.; Koshiba, M.; Totsuka, Y.; Iwamoto, K.; Nakajima, Y.; Ogawa, N.; Suda, Y.; Yokoyama, M.; Hamabe, D.; Izumiyama, S.; Kuze, M.; Okajima, Y.; Tanaka, M.; Yoshida, T.; Inomoto, M.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Matsumoto, R.; Ohta, K.; Shinoki, M.; Martin, J. F.; Nantais, C. M.; Tanaka, H. A.; Towstego, T.; Akutsu, R.; Hartz, M.; Konaka, A.; Prouse, N. W.; Chen, S.; Xu, B. D.; Zhang, Y.; Berkman, S.; Tobayama, S.; Connolly, K.; Wilkes, R. J.; Posiadala-Zezula, M.; Hadley, D.; Richards, B.; Jamieson, B.; Walker, J.; Marti, Ll.; Minamino, A.; Pintaudi, G.; Sano, S.; Sasaki, R.
JINST 17 P10029 (2022)
Academic Journal
Academic Journal
International Journal of Information Security. :1-31
Academic Journal
International Journal of Information Technology: An Official Journal of Bharati Vidyapeeth's Institute of Computer Applications and Management. 15(8):4349-4363
Conference
2018 International Joint Conference on Neural Networks (IJCNN) Neural Networks (IJCNN), 2018 International Joint Conference on. :1-8 Jul, 2018
Indirect Search for Dark Matter from the Galactic Center and Halo with the Super-Kamiokande Detector
Report
Collaboration, Super-Kamiokande; Abe, K.; Bronner, C.; Haga, Y.; Hayato, Y.; Ikeda, M.; Imaizumi, S.; Ito, H.; Iyogi, K.; Kameda, J.; Kataoka, Y.; Kato, Y.; Kishimoto, Y.; Marti, Ll.; Miura, M.; Moriyama, S.; Mochizuki, T.; Nagao, Y.; Nakahata, M.; Nakajima, Y.; Nakajima, T.; Nakayama, S.; Okada, T.; Okamoto, K.; Orii, A.; Pronost, G.; Sekiya, H.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Takeda, A.; Takenaka, A.; Tanaka, H.; Tasaka, S.; Tomura, T.; Ueno, K.; Yano, T.; Yokozawa, T.; Akutsu, R.; Han, S.; Irvine, T.; Kajita, T.; Kametani, I.; Lee, K. P.; McLachlan, T.; Okumura, K.; Richard, E.; Tashiro, T.; Wang, R.; Xia, J.; Bravo-Berguño, D.; Labarga, L.; Fernandez, P.; Blaszczyk, F. d. M.; Gustafson, J.; Kachulis, C.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Stone, J. L.; Sulak, L. R.; Sussman, S.; Wan, L.; Wester, T.; Berkman, S.; Tobayama, S.; Bian, J.; Carminati, G.; Elnimr, M.; Griskevich, N. J.; Kropp, W. R.; Locke, S.; Mine, S.; Renshaw, A.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Weatherly, P.; Hartfiel, B. L.; Hill, J.; Keig, W. E.; Hong, N.; Kim, J. Y.; Lim, I. T.; Park, R. G.; Akiri, T.; Bodur, B.; Himmel, A.; Li, Z.; O'Sullivan, E.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Wongjirad, T.; Coffani, A.; Drapier, O.; Hedri, S. El; Giampaolo, A.; Gonin, M.; Imber, J.; Mueller, Th. A.; Paganini, P.; Quilain, B.; Ishizuka, T.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Choi, K.; Learned, J. G.; Matsuno, S.; Smith, S. N.; Amey, J.; Anthony, L. H. V.; Litchfield, R. P.; Ma, W. Y.; Sztuc, A. A.; Uchida, Y.; Wascko, M. O.; Berardi, V.; Catanesi, M. G.; Intonti, R. A.; Radicioni, E.; Calabria, N. F.; Machado, L. N.; De Rosa, G.; Collazuol, G.; Iacob, F.; Lamoureux, M.; Ospina, N.; Ludovici, L.; Boschi, T.; Di Lodovico, F.; Sedgwick, S. Molina; Zsoldos, S.; Nishimura, Y.; Cao, S.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Ishii, T.; Kobayashi, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Abe, KE.; Hasegawa, M.; Isobe, Y.; Miyabe, H.; Nakano, Y.; Shiozawa, T.; Sugimoto, T.; Suzuki, A. T.; Takeuchi, Y.; Yamamoto, S.; Ali, A.; Ashida, Y.; Hayashino, T.; Hiraki, T.; Hirota, S.; Huang, K.; Ieki, K.; Jiang, M.; Kikawa, T.; Mori, M.; Murakami, A.; Nakamura, KE.; Nakaya, T.; Patel, N. D.; Suzuki, K.; Takahashi, S.; Tateishi, K.; Wendell, R. A.; McCauley, N.; Mehta, P.; Pritchard, A.; Tsui, K. M.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Mitsuka, G.; Murase, M.; Muto, F.; Niwa, T.; Sato, K.; Suzuki, T.; Taani, M.; Tsukada, z M.; Mijakowski, P.; Frankiewicz, K.; Hignight, J.; Jung, C. K.; Li, X.; Palomino, J. L.; Santucci, G.; Vilela, C.; Wilking, M. J.; Yanagisawa, C.; Fukuda, D.; Hagiwara, K.; Harada, M.; Horai, T.; Ishino, H.; Ito, S.; Kayano, T.; Kibayashi, A.; Koshio, Y.; Ma, W.; Mori, T.; Nagata, H.; Piplani, N.; Sakuda, M.; Seiya, S.; Takahira, Y.; Xu, C.; Yamaguchi, R.; Kuno, Y.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Simpson, C.; Wark, D.; Nova, F.; Tacik, R.; Yang, J. Y.; Cole, A.; Jenkins, S. J.; McElwee, J.; Thiesse, M.; Thompson, L.; Okazawa, H.; Kim, S. B.; Choi, Y.; Ito, K.; Nishijima, K.; Iwamoto, K.; Koshiba, M.; Suda, Y.; Yokoyama, M.; Calland, R. G.; Goldsack, A.; Martens, K.; Murdoch, M.; Suzuki, Y.; Vagins, M. R.; Hamabe, D.; Kuze, M.; Okajima, Y.; Tanaka, M.; Yoshida, T.; Inomoto, M.; Ishitsuka, M.; Matsumoto, R.; Ohta, K.; Shinoki, M.; Martin, J. F.; Nantais, C. M.; Tanaka, H. A.; Towstego, T.; Hartz, M.; Konaka, A.; de Perio, P.; Prouse, N. W.; Chen, S.; Xu, B. D.; Zhang, Y.; Richards, B.; Connolly, K.; Wilkes, R. J.; Jamieson, B.; Walker, J.; Giorgio, P.; Minamino, A.; Pintaudi, G.
Phys. Rev. D 102, 072002 (2020)
Conference
TENCON 2017 - 2017 IEEE Region 10 Conference Region 10 Conference, TENCON 2017 - 2017 IEEE. :579-584 Nov, 2017
Report
Abe, K.; Akutsu, R.; Ali, A.; Alt, C.; Amey, J.; Andreopoulos, C.; Anthony, L.; Antonova, M.; Aoki, S.; Ariga, A.; Ashida, Y.; Atkin, E. T.; Awataguchi, Y.; Azuma, Y.; Ban, S.; Barbi, M.; Barker, G. J.; Barr, G.; Barry, C.; Batkiewicz-Kwasniak, M.; Beloshapkin, A.; Bench, F.; Berardi, V.; Berkman, S.; Berner, R. M.; Berns, L.; Bhadra, S.; Bienstock, S.; Blondel, A.; Bolognesi, S.; Bordoni, S.; Bourguille, B.; Boyd, S. B.; Brailsford, D.; Bravar, A.; Bronner, C.; Avanzini, M. Buizza; Calcutt, J.; Calland, R. G.; Campbell, T.; Cao, S.; Cartwright, S. L.; Castillo, R.; Catanesi, M. G.; Cervera, A.; Chappell, A.; Checchia, C.; Cherdack, D.; Chikuma, N.; Christodoulou, G.; Coleman, J.; Collazuol, G.; Cook, L.; Coplowe, D.; Cudd, A.; Dabrowska, A.; De Rosa, G.; Dealtry, T.; Denner, P. F.; Dennis, S. R.; Densham, C.; Di Lodovico, F.; Dokania, N.; Dolan, S.; Drapier, O.; Duy, K. E.; Dumarchez, J.; Dunne, P.; Eklund, L.; Emery-Schrenk, S.; Ereditato, A.; Fernandez, P.; Feusels, T.; Finch, A. J.; Fiorentini, G. A.; Fiorillo, G.; Francois, C.; Friend, M.; Fujii, Y.; Fujita, R.; Fukuda, D.; Fukuda, R.; Fukuda, Y.; Gameil, K.; Garcia, A.; Giganti, C.; Gizzarelli, F.; Golan, T.; Gonin, M.; Gorin, A.; Guigue, M.; Hadley, D. R.; Haegel, L.; Haigh, J. T.; Hamacher-Baumann, P.; Hansen, D.; Harada, J.; Hartz, M.; Hasegawa, T.; Hastings, N. C.; Hayashino, T.; Hayato, Y.; Hillairet, A.; Hiraki, T.; Hiramoto, A.; Hirota, S.; Hogan, M.; Holeczek, J.; Van, N. T. Hong; Hosomi, F.; Huang, K.; Iacob, F.; Ichikawa, A. K.; Ikeda, M.; Imber, J.; Inoue, T.; Insler, J.; Intonti, R. A.; Ishida, T.; Ishii, T.; Ishitsuka, M.; Iwai, E.; Iwamoto, K.; Izmaylov, A.; Jamieson, B.; Jenkins, S. J.; Jesus-Valls, C.; Jiang, M.; Johnson, S.; Jonsson, P.; Jung, C. K.; Kabirnezhad, M.; Kaboth, A. C.; Kajita, T.; Kakuno, H.; Kameda, J.; Karlen, D.; Kataoka, Y.; Katori, T.; Kato, Y.; Kearns, E.; Khabibullin, M.; Khotjantsev, A.; Kim, H.; Kim, J.; King, S.; Kisiel, J.; Knight, A.; Knox, A.; Kobayashi, T.; Koch, L.; Koga, T.; Koller, P. P.; Konaka, A.; Kormos, L. L.; Koshio, Y.; Kowalik, K.; Kubo, H.; Kudenko, Y.; Kukita, N.; Kurjata, R.; Kutter, T.; Kuze, M.; Labarga, L.; Lagoda, J.; Lamont, I.; Lamoureux, M.; Lasorak, P.; Laveder, M.; Lawe, M.; Licciardi, M.; Lindner, T.; Liptak, Z. J.; Litcheld, R. P.; Liu, S. L.; Li, X.; Longhin, A.; Lopez, J. P.; Lou, T.; Ludovici, L.; Lu, X.; Lux, T.; Machado, L. N.; Magaletti, L.; Mahn, K.; Malek, M.; Manly, S.; Maret, L.; Marino, A. D.; Martin, J. F.; Martins, P.; Martynenko, S.; Maruyama, T.; Matsubara, T.; Matsushita, K.; Matveev, V.; Mavrokoridis, K.; Ma, W. Y.; Mazzucato, E.; McCarthy, M.; McCauley, N.; McFarland, K. S.; McGrew, C.; Mefodiev, A.; Metelko, C.; Mezzetto, M.; Minamino, A.; Mineev, O.; Mine, S.; Missert, A.; Miura, M.; Bueno, L. Molina; Moriyama, S.; Morrison, J.; Mueller, Th. A.; Munteanu, L.; Murphy, S.; Nagai, Y.; Nakadaira, T.; Nakahata, M.; Nakajima, Y.; Nakamura, A.; Nakamura, K. G.; Nakamura, K.; Nakamura, K. D.; Nakanishi, Y.; Nakayama, S.; Nakaya, T.; Nakayoshi, K.; Nantais, C.; Ngoc, T. V.; Nielsen, C.; Niewczas, K.; Nishikawa, K.; Nishimura, Y.; Nonnenmacher, T. S.; Nova, F.; Novella, P.; Nowak, J.; Nugent, J. C.; O'Keeffe, H. M.; O'Sullivan, L.; Okumura, K.; Okusawa, T.; Oryszczak, W.; Ovsyannikova, S. M. Oser T.; Owen, R. A.; Oyam, Y.; Palladino, V.; Palomino, J. L.; Paolone, V.; Parker, W. C.; Patel, N. D.; Paudyal, P.; Pavin, M.; Payne, D.; Penn, G. C.; Pickering, Y. Petrov L.; Pidcott, C.; Guerra, E. S. Pinzon; Pistillo, C.; Porwit, B. Popov K.; Posiadala-Zezula, M.; Poutissou, J. M.; Pritchard, A.; Przewlocki, P.; Quilain, B.; Radermacher, T.; Radicioni, E.; Radics, B.; Rato, P. N.; Rayner, M. A.; Reinherz-Aronis, E.; Riccio, C.; Rondio, E.; Rossi, B.; Roth, S.; Rubbia, A.; Ruggeri, A. C.; Rychter, A.; Sakashita, K.; Sanchez, F.; Sasaki, S.; Scantamburlo, E.; Schloesser, C. M.; Scholberg, K.; Schwehr, J.; Scott, M.; Seiya, Y.; Sekiguchi, T.; Sekiya, H.; Sgalaberna, D.; Shah, R.; Shaikhiev, A.; Shaker, F.; Shaw, D.; Shaykina, A.; Shiozawa, M.; Shirahige, T.; Shorrock, W.; Shvartsman, A.; Smirnov, A.; Smy, M.; Sobczyk, J. T.; Sobel, H.; Soler, F. J. P.; Sonoda, Y.; Steinmann, J.; Stewart, T.; Stowell, P.; Suda, Y.; Suvorov, S.; Suzuki, A.; Suzuki, S. Y.; Suzuki, Y.; Sztuc, A. A.; Tacik, R.; Tada, M.; Takeda, A.; Takeuchi, Y.; Tamura, R.; Tanaka, H. K.; Tanaka, H. A.; Tanaka, S.; Thakore, T.; Thompson, L. F.; Tobayama, S.; Toki, W.; Tomura, T.; Touramanis, C.; Tsui, K. M.; Tsukamoto, T.; Tzanov, M.; Uchida, Y.; Uno, W.; Vagins, M.; Valder, S.; Vallari, Z.; Vargas, D.; Vasseur, G.; Vilela, C.; Vinning, W. G. S.; Vladisavljevic, T.; Volkov, V. V.; Wachala, T.; Walker, J.; Walsh, J. G.; Walter, C. W.; Wang, Y.; Wark, D.; Wascko, M. O.; Weber, A.; Wendell, R.; Wilking, M. J.; Wilkinson, C.; Wilson, J. R.; Wilson, R. J.; Wood, K.; Wret, C.; Yamada, Y.; Yamamoto, K.; Yamasu, S.; Yanagisawa, C.; Yang, G.; Yano, T.; Yasutome, K.; Yen, S.; Yershov, N.; Yokoyama, M.; Yoshida, T.; Yu, M.; Zalewska, A.; Zalipska, J.; Zambelli, L.; Zaremba, K.; Zarnecki, G.; Ziembicki, M.; Zimmerman, E. D.; Zito, M.; Zsoldos, S.; Zykova, A.
Phys. Rev. D 101, 012007 (2020)
Report
Phys. Rev. Lett. 123, 027203 (2019)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Patel, N. D.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어