학술논문
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1~10
Academic Journal
Zerarka, M.; Rustichelli, V.; Perrotin, O.; Reynes, J.M.; Tremouilles, D.; Azzopardi, S.; Serre, A.; Bergeret, F.; Allirand, L.; Coccetti, F.
In Microelectronics Reliability November 2023 150
Academic Journal
Abbrescia, M.; Avanzini, C.; Baldini, L.; Baldini Ferroli, R.; Batignani, G.; Battaglieri, M.; Boi, S.; Bossini, E.; Carnesecchi, F.; Cavazza, F.; Cicaló, C.; Cifarelli, L.; Coccetti, F.; Coccia, E.; Corvaglia, A.; De Gruttola, D.; De Pasquale, S.; Galante, L.; Garbini, M.; Gemme, G.; Gnesi, I.; Grazzi, S.; Hatzifotiadou, D.; La Rocca, P.; Liu, Z.; Mandaglio, G.; Margotti, A.; Maron, G.; Mazziotta, M.N.; Mulliri, A.; Nania, R.; Noferini, F.; Nozzoli, F.; Palmonari, F.; Panareo, M.; Panetta, M.P.; Paoletti, R.; Pellegrino, C.; Perasso, L.; Pinazza, O.; Pinto, C.; Pisano, S.; Riggi, F.; Righini, G.; Ripoli, C.; Rizzi, M.; Sartorelli, G.; Scapparone, E.; Schioppa, M.; Scioli, G.; Scribano, A.; Selvi, M.; Taiuti, M.; Terreni, G.; Trifiró, A.; Trimarchi, M.; Vistoli, C.; Votano, L.; Williams, M.C.S.; Zichichi, A.; Zuyeuski, R.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A October 2023 1055
Academic Journal
In Microelectronics Reliability September 2023 148
Academic Journal
Bossini, E.; Abbrescia, M.; Avanzini, C.; Baldini, L.; Baldini Ferroli, R.; Batignani, G.; Battaglieri, M.; Boi, S.; Carnesecchi, F.; Cavazza, F.; Cicalò, C.; Cifarelli, L.; Coccetti, F.; Coccia, E.; Corvaglia, A.; De Gruttola, D.; De Pasquale, S.; Galante, L.; Garbini, M.; Gemme, G.; Gnesi, I.; Grazzi, S.; Hatzifotiadou, D.; Rocca, P. La; Liu, Z.; Mandaglio, G.; Margotti, A.; Maron, G.; Mazziotta, M.N.; Mulliri, A.; Nania, R.; Noferini, F.; Nozzoli, F.; Palmonari, F.; Panareo, M.; Panetta, M.P.; Paoletti, R.; Pellegrino, C.; Perasso, L.; Pinazza, O.; Pinto, C.; Pisano, S.; Riggi, F.; Righini, G.; Ripoli, C.; Rizzi, M.; Sartorelli, G.; Scapparone, E.; Schioppa, M.; Scioli, G.; Scribano, A.; Selvi, M.; Taiuti, M.; Terreni, G.; Trifirò, A.; Trimarchi, M.; Vistoli, C.; Votano, L.; Williams, M.C.S.; Zichichi, A.; Zuyeuski, R.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 11 January 2023 1046
Academic Journal
Grazzi, S.; Abbrescia, M.; Avanzini, C.; Baldini, L.; Ferroli, R. Baldini; Batignani, G.; Battaglieri, M.; Bisio, P.; Boi, S.; Bossini, E.; Carnesecchi, F.; Cavazza, D.; Celentano, A.; Cicalò, C.; Cifarelli, L.; Coccetti, F.; Coccia, E.; Corvaglia, A.; Gruttola, D. De; Pasquale, S. De; Galante, L.; Garbini, M.; Gemme, G.; Gnesi, I.; Hatzifotiadou, D.; Rocca, P. La; Liu, Z.; Mandaglio, G.; Margotti, A.; Maron, G.; Marsicano, L.; Mazziotta, M.N.; Mulliri, A.; Nania, R.; Noferini, F.; Nozzoli, F.; Palmonari, F.; Panareo, M.; Panetta, M.P.; Paoletti, R.; Pellegrino, C.; Perasso, L.; Pinazza, O.; Pinto, C.; Pisano, S.; Riggi, F.; Righini, G.; Ripoli, C.; Rizzi, M.; Sartorelli, G.; Scapparone, E.; Schioppa, M.; Scioli, G.; Scribano, A.; Selvi, M.; Taiuti, M.; Terreni, G.; Trifirò, A.; Trimarchi, M.; Vistoli, C.; Votano, L.; Williams, M.C. S.; Zichichi, A.; Zuyeuski, R.
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 1 January 2023 1045
Academic Journal
In Microelectronics Reliability November 2021 126
Academic Journal
In Microelectronics Reliability September 2019 100-101
Academic Journal
Lisker, M.; Lukosius, M.; Fraschke, M.; Kitzmann, J.; Dabrowski, J.; Fursenko, O.; Kulse, P.; Schulz, K.; Krüger, A.; Drews, J.; Schulze, S.; Wolansky, D.; Schubert, A.M.; Katzer, J.; Stolarek, D.; Costina, I.; Wolff, A.; Dziallas, G.; Coccetti, F.; Mai, A.
In Microelectronic Engineering 15 January 2019 205:44-52
Academic Journal
Zur, L.; Armellini, C.; Belmokhtar, S.; Bouajaj, A.; Cattaruzza, E.; Chiappini, A.; Coccetti, F.; Ferrari, M.; Gonella, F.; Righini, G.C.; Trave, E.; Vomiero, A.; Enrichi, F.
In Optical Materials January 2019 87:102-106
Report
Ripoli, C.; Abbrescia, M.; Avanzini, C.; Baldini, L.; Ferroli, R. Baldini; Batignani, G.; Battaglieri, M.; Boi, S.; Bossini, E.; Carnesecchi, F.; Cavazza, D.; Cicalò, C.; Cifarelli, L.; Coccetti, F.; Coccia, E.; Corvaglia, A.; De Gruttola, D.; De Pasquale, S.; Galante, L.; Garbini, M.; Gnesi, I.; Gramstad, E.; Grazzi, S.; Håland, E. S.; Hatzifotiadou, D.; La Rocca, P.; Liu, Z.; Lombardo, L.; Mandaglio, G.; Margotti, A.; Maron, G.; Mazziotta, M. N.; Mulliri, A.; Nania, R.; Noferini, F.; Nozzoli, F.; Ould-Saada, F.; Palmonari, F.; Panareo, M.; Panetta, M. P.; Paoletti, R.; Parvis, M.; Pellegrino, C.; Perasso, L.; Pinazza, O.; Pinto, C.; Pisano, S.; Riggi, F.; Righini, G.; Rizzi, M.; Sartorelli, G.; Scapparone, E.; Schioppa, M.; Scioli, G.; Scribano, A.; Selvi, M.; Taiuti, M.; Terreni, G.; Trifirò, A.; Trimarchi, M.; Vistoli, C.; Votano, L.; Williams, M. C. S.; Zichichil, A.; Zuyeuskiv, R.
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[AR] Coccetti, F.
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