학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 367건 | 목록
70~80
Academic Journal
Ballansat, J.; Baudin, P.; David, P.; Delebecque, P.; Elles, S.; Gaglione, R.; Geffroy, N.; Jezequel, S.; Massol, N.; Rambure, T.; Tassan, J.; Todorov, T.; Yildizkaya, T.; Cavalli-Sforza, M.; Grinstein, S.; Korolkov, I.; Leyton, M.; Lopez, I.; Padilla, C.; Tsiskaridze, S.; Kastanas, A.; Maeland, S.; Sandaker, H.; Stugu, B.; Anderssen, E.; Axen, B.; Arguin, J.; Brossamer, J.; Caminada, L.; Carney, R.; Dube, S.; Einsweiler, K.; Fleury, J.; Gabrielli, A.; Garcia-Sciveres, M.; Gnani, D.; Gray, H.; Hartman, N.; Heim, T.; Heinemann, B.; Hinman, R.R.; Holmes, T.; Jeanty, L.; Jensen, F.; Joseph, J.; Lu, Y.; Mekkaoui, A.; Murray, P.; Parker, S.; Potamianos, K.; Quayle, B.; Sood, A.; Yao, W.; Grancagnolo, S.; Ehrmann, O.; Ancu, L.S.; Cervelli, A.; Ereditato, A.; Miucci, A.; Schneider, B.; Stramaglia, M.; Stucci, S.; Weber, M.S.; Balbi, G.; Bindi, F.; Bruni, G.; Bruschi, M.; D'Amen, G.; Falchieri, D.; Giangiacomi, N.; Polini, A.; Travaglini, R.; Zoccoli, A.; Backhaus, M.; Barbero, M.; Dietsche, W.; Eyring, A.; Gonella, L.; Hemperek, T.; Hügging, F.; Janssen, J.; Karagounis, M.; Krüger, H.; Kruth, A.; Lapoire, C.; Obermann, T.; Ockenfels, W.; Pohl, D.; Vogt, M.; Wermes, N.; Bortolin, C.; Budun, E.; Capeans, M.; Catinaccio, A.; Červ, M.; Ciapetti, M.; Crespo-Lopez, O.; De Oliveira, R.; Dette, K.; Girolamo, B.D.; Dittus, F.; Diyakov, D.; Dobos, D.; Dopke, J.; Egorov, K.; Elsing, M.; Feigl, S.; Perez, S.F.; Gallrapp, C.; Gibson, S.; Giugni, D.; Godlewski, J.; Gris, A.; Jentzsch, J.; Lantzsch, K.; Maier, A.; Mandelli, B.; Michal, S.; Miglioranzi, S.; Morley, A.; Nessi, M.; Nordberg, M.; Nuiry, F.; Oide, H.; Pernegger, H.; Piacquadio, G.; Pons, X.; Bueso, X.P.; Richards, E.; Ristic, B.; Rossi, C.; Rummler, A.; Salek, D.; Salzburger, A.; Schorlemmer, A.; Sciuccati, A.; Teixeira, A.; Therry, X.; Vuillermet, R.; Welch, S.; Wenig, S.; Zwalinski, L.; Alkire, S.; Bermgan, A.; Klein, M.; Smith, M.; Gregor, I.; Hegner, F.; Rubinskiy, I.; Styles, N.; Alex, M.; Altenheiner, S.; Gössling, C.; Klingenberg, R.; Troska, G.; Wittig, T.; Barbier, G.; De Mendizabal, J.B.; Cadoux, F.; Clark, A.; Debieux, S.; Favre, Y.; Ferrere, D.; Gonzalez-Sevilla, S.; Guescini, F.; Husi, C.; Iacobucci, G.; Rosa, A.L.; Mesa, J.; Muenstermann, D.; Pelleriti, G.; Picazio, A.; Weber, M.; Beccherle, R.; Darbo, G.; Dondero, P.; Favareto, A.; Gariano, G.; Gaudiello, A.; Gemme, C.; Guido, E.; Morettini, P.; Rossi, L.P.; Rovani, A.; Ruscino, E.; Sannino, M.; Bates, R.; Buttar, C.; Doonan, K.; George, M.; Grosse-Knetter, J.; Krieger, N.; Quadt, A.; Weingarten, J.; Collot, J.; Dzahini, D.; Eraud, L.; Grondin, D.; Hostachy, J.; Marchand, D.; Menu, J.; Rarbi, F.; Kretz, M.; Kugel, A.; Schroer, N.; Mallik, U.; Pylypchenko, Y.; Zaidan, R.; Lorenzi, F.D.; Ikegami, Y.; Nakamura, K.; Takubo, Y.; Unno, Y.; Allport, P.; Casse, G.; Forshaw, D.; Tsurin, I.; Cindro, V.; Gorišek, A.; Mandić, I.; Mikuž, M.; Beau, T.; Bomben, M.; Calderini, G.; Chauveau, J.; Ghislain, P.; Laporte, D.; Marchiori, G.; Schwemling, P.; Borri, M.; Dann, N.; Davia, C.; Lai, C.; Nellist, C.; Watts, S.; Bousson, N.; Breugnon, P.; Djama, F.; Fougeron, D.; Gastaldi, T.; Gensolen, F.; Hallewell, G.; Kostyukhina-Visoven, I.; Menouni, M.; Mochizuki, K.; Pangaud, P.; Rivière, F.; Rozanov, A.; Vacavant, L.; Vigeolas, E.; Alberti, F.; Alimonti, G.; Andreani, A.; Andreazza, A.; Citterio, M.; Coelli, S.; Lari, T.; Latorre, S.; Manca, F.; Meroni, C.; Monti, M.; Ragusa, F.; Sabatini, F.; Troncon, C.; Ince, T.; Nisius, R.; Terzo, S.; Gorelov, I.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S.; Toms, K.; Wang, R.; Gromov, V.; Hessey, N.P.; Jansen, L.; Kluit, R.; Koffeman, E.; Schipper, J.; Verlaat, B.; Zivkovic, V.; Gan, K.K.; Ishmukhametov, R.; Kagan, H.; Kass, R.; Looper, K.; Moore, J.; Moss, J.; Smith, D.S.; Yang, Y.; Yi, Y.; Abbott, B.; Bertsche, C.; Bertsche, D.; Boyd, R.G.; Gutierrez, P.; Hasib, A.; Skubic, P.; Strauss, M.; Rizatdinova, F.; Bassalat, A.; Benoit, M.; Dinu, N.; Falou, A.; Idarraga, J.; Lounis, A.; Dorholt, O.; Franconi, L.; Gjersdal, H.; Ould-Saada, F.; Røhne, O.; Hetmánek, M.; Janoška, Z.; Korchak, O.; Popule, J.; Šícho, P.; Sloboda, M.; Tomášek, M.; Vrba, V.; Battaglia, M.; Seiden, A.; Spencer, E.; Chen, S.P.; Daly, C.; Hauck, S.; Hsu, S.C.; Kuykendall, W.; Lubatti, H.J.; Marx, M.; Mayer, J.; Buchholz, P.; Heidbrink, S.; Ibragimov, I.; Walkowiak, W.; Ziolkowski, M.; Grenier, P.; Hasi, J.; Kagan, M.; Kenney, C.; Kocian, M.; Nelson, D.; Oriunno, M.; Su, D.; Wittgen, M.; Lindquist, B.; Puldon, D.; Stupak, J.; Tsybychev, D.; Zaman, A.; Chu, M.; Teng, P.; Chau, C.C.; Goldrick, G.M.; Rudolph, M.S.; Trischuk, W.; Betta, G.F.D.; Povoli, M.; Cobal, M.; Giordani, M.P.; Albert, J.; Fausten, C.; Flick, T.; Glitza, K.W.; Kersten, S.; Kind, P.; Kovalenko, S.; Mättig, P.; Riegel, C.; Sanny, B.; Schmidt, U.; Wagner, W.; Wensing, M.; Zeitnitz, C.; Izen, J.M.; Gavrilenko, I.; Dao, V.; Bell, A.; Scanlon, T.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 16 May 2018, 13(5))
Book
(Lecture Notes in Electrical Engineering, 2017, 409:35-41)
Academic Journal
Moustakas, K.; Barbero, M.; Berdalovic, I.; Bespin, C.; Breugnon, P.; Caicedo, I.; Cardella, R.; Degerli, Y.; Egidos Plaja, N.; Godiot, S.; Guilloux, F.; Hemperek, T.; Hirono, T.; Krüger, H.; Kugathasan, T.; Marin Tobon, C.A.; Pangaud, P.; Pernegger, H.; Riedler, P.; Rymaszewski, P.
Academic Journal
Mandic, I.; Cindro, V.; Gorisek, A.; Hiti, B.; Kramberger, G.; Mikuz, M.; Zavrtanik, M.; Hemperek, T.; Daas, M.; Hügging, F.; Krüger, H.; Pohl, D.-L.; Wermes, N.; Gonella, L.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 28 February 2017, 12(2))
Academic Journal
Demaria, N.; Casa, G.D.; Mazza, G.; Rivetti, A.; Rolo, M.D.D.R.; Barbero, M.B.; Fougeron, D.; Gensolen, F.; Godiot, S.; Menouni, M.; Pangaud, P.; Rozanov, A.; Wang, A.; Bomben, M.; Calderini, G.; Crescioli, F.; Dortz, O.L.; Marchiori, G.; Dzahini, D.; Rarbi, F.E.; Gaglione, R.; Gonella, L.; Hemperek, T.; Huegging, F.; Karagounis, M.; Kishishita, T.; Krueger, H.; Rymaszewski, P.; Wermes, N.; Ciciriello, F.; Corsi, F.; Marzocca, C.; Robertis, G.D.; Loddo, F.; Licciulli, F.; Andreazza, A.; Liberali, V.; Shojaii, S.; Stabile, A.; Bagatin, M.; Bisello, D.; Mattiazzo, S.; Ding, L.; Gerardin, S.; Giubilato, P.; Neviani, A.; Paccagnella, A.; Vogrig, D.; Wyss, J.; Bacchetta, N.; Canio, F.D.; Gaioni, L.; Nodari, B.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Comotti, D.; Ratti, L.; Vacchi, C.; Beccherle, R.; Bellazzini, R.; Magazzu, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Poulios, S.; Fanucci, L.; Rizzi, A.; Saponara, S.; Androsov, K.; Bilei, G.M.; Menichelli, M.; Conti, E.; Marconi, S.; Passeri, D.; Placidi, P.; Monteil, E.; Pacher, L.; Gajanana, D.; Gromov, V.; Hessey, N.; Kluit, R.; Zivkovic, V.; Havranek, M.; Janoska, Z.; Marcisovsky, M.; Neue, G.; Tomasek, L.; Kafka, V.; Sicho, P.; Vrba, V.; Vila, I.; Lopez-Morillo, E.; Aguirre, M.A.; Palomo, F.R.; Muñoz, F.; Abbaneo, D.; Christiansen, J.; Dannheim, D.; Dobos, D.; Linssen, L.; Pernegger, H.; Valerio, P.; Tehrani, N.A.; Bell, S.; Prydderch, M.L.; Thomas, S.; Christian, D.C.; Fahim, F.; Hoff, J.; Lipton, R.; Liu, T.; Zimmerman, T.; Garcia-Sciveres, M.; Gnani, D.; Mekkaoui, A.; Gorelov, I.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S.; Toms, K.; Witt, J.N.D.; Grillo, A.; Paternò, A.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 21 December 2016, 11(12))
Conference
Baselga, M.; Jansen, H.; Kroeninger, K.A.; Weingarten, J.; Diehl, L.; Lex, F.; Parzefall, U.; Rodriguez, A.R.; Sorgenfrei, N.; Sperlich, D.; Arling, J.-H.; Gregor, I.-M.; Sharma, S.; Hemperek, T.
In: 2022 IEEE NSS/MIC RTSD - IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference and Room Temperature Semiconductor Detector Conference , 2022 IEEE NSS/MIC RTSD - IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference and Room Temperature Semiconductor Detector Conference. (2022 IEEE NSS/MIC RTSD - IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference and Room Temperature Semiconductor Detector Conference, 2022)
Conference
Glessgen, F.; Backhaus, M.; Ristic, B.; Wallny, R.; Canelli, F.; Jofrehei, A.; Jin, W.; Kilminster, B.; MacChiolo, A.; Dieter, Y.M.; Dingfelder, J.C.; Hemperek, T.; Huegging, F.; Pohl, D.-L.; Wang, T.; Wermes, N.; Wolf, P.; Muenstermann, D.
In: Journal of Physics: Conference Series . (Journal of Physics: Conference Series, 2022, 2374(1))
Conference
Menouni, M.; Barrillon, P.; Fougeron, D.; Joly, E.; Strebler, T.; Flores, L.; Lalic, J.; Hemperek, T.
In: Journal of Physics: Conference Series . (Journal of Physics: Conference Series, 2022, 2374(1))
Academic Journal
Hirono, T.; Gonella, L.; Hemperek, T.; Hügging, F.; Krüger, H.; Pohl, D.-L.; Rymaszewski, P.; Wermes, N.; Barbero, M.; Breugnon, P.; Godiot, S.; Liu, J.; Pangaud, P.; Rozanov, A.; Wang, A.; Peric, I.
In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment . (Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 21 September 2016, 831:94-98)
Academic Journal
In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment . (Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 1 October 2015, 796:8-12)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Hemperek, T.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어