학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 96건 | 목록
70~80
Academic Journal
Aoki, S.; Ariga, A.; Ereditato, A.; Juget, F.; Knuesel, J.; Kreslo, I.; Lutter, G.; Meisel, F.; Pistillo, C.; Arrabito, L.; Autiero, D.; Déclais, Y.; Laktineh, I.; Besnier, M.; Duchesneau, D.; Bozza, C.; Grella, G.; Kose, U.; Rescigno, R.; Sirignano, C.; Buontempo, S.; De Lellis, G.; Di Capua, F.; Di Crescenzo, A.; Marotta, A.; Migliozzi, P.; Russo, A.; Lavina, L.S.; Strolin, P.; Tioukov, V.; Carrara, E.; Longhin, A.; Consiglio, L.; Cozzi, M.; Giacomelli, G.; Giorgini, M.; Pozzato, M.; Sioli, M.; Tenti, M.; Di Ferdinando, D.; Mandrioli, G.; Patrizii, L.; Sirri, G.; D'Ambrosio, N.; Esposito, L.S.; De Serio, M.; Ieva, M.; Muciaccia, M.T.; Pastore, A.; Simone, S.; Di Marco, N.; Pupilli, F.; Fukuda, T.; Hamada, K.; Kitagawa, N.; Komatsu, M.; Morishima, K.; Naganawa, N.; Nakamura, M.; Nakano, T.; Niwa, K.; Nonoyama, Y.; Sato, O.; Yoshida, J.; Yoshioka, T.; Kodama, K.; Lundberg, B.; Rameika, R.; Paolone, V.; Rosa, G.
In: New Journal of Physics . (New Journal of Physics, November 2010, 12)
Academic Journal
In: Radiation Measurements . (Radiation Measurements, October 2009, 44(9-10):840-845)
Academic Journal
Acquafredda, R.; Ambrosio, M.; Buontempo, S.; Chukanov, A.; De Lellis, G.; Di Capua, F.; Marotta, A.; Migliozzi, P.; Russo, A.; Scotto Lavina, L.; Strolin, P.; Tioukov, V.; Ugolino, U.; Adam, T.; Baussan, E.; Chon-Sen, N.; Dick, N.; Dracos, M.; Gaudiot, G.; Goeltzenlichter, T.; Grapton, J.-N.; Guyonnet, J.-L.; Jollet, C.; Le, T.D.; Meregaglia, A.; Schuler, J.; Wurtz, J.; Agafonova, N.; Boyarkin, V.; Enikeev, R.; Kutsenov, V.V.; Kuznetsov, V.A.; Malgin, A.; Matveev, V.; Ryasny, V.; Ryazhskaya, O.; Talochkin, V.; Yakushev, V.; Alvarez Sanchez, P.; Efthymiopoulos, I.; Elsener, K.; Gschwendtner, E.; Lewis, J.; Meddahi, M.; Serrano, J.; Anokhina, A.; Galkin, V.I.; Nikitina, V.; Osedlo, V.; Publichenko, P.; Roganova, T.; Sazhina, G.; Aoki, S.; Hara, T.; Ariga, A.; Borer, K.; Ereditato, A.; Hauger, M.; Hess, M.; Janicsko Csathy, J.; Juget, F.; Knuesel, J.; Kreslo, I.; Lutter, G.; Meisel, F.; Messina, M.; Moser, U.; Pistillo, C.; Pretzl, K.; Schütz, H.U.; Vuilleumier, J.L.; Waelchli, T.; Weber, M.; Ariga, T.; Fukuda, T.; Hoshino, K.; Kazuyama, M.; Komatsu, M.; Morishima, K.; Naganawa, N.; Nakamura, M.; Nakano, T.; Niwa, K.; Nonoyama, Y.; Park, B.D.; Sato, O.; Takahashi, S.; Arrabito, L.; Aufranc, C.; Autiero, D.; Brugière, T.; Carlus, B.; Chaussard, L.; Déclais, Y.; Descombes, T.; Dominjon, A.; Gardien, S.; Girerd, C.; Guerin, C.; Laktineh, I.; Manai, K.; Marteau, J.; Pennacchio, E.; Badertscher, A.; Lazzaro, C.; Rubbia, A.; Strauss, T.; Viant, T.; Bagulya, A.; Chernyavsky, M.; Orlova, G.; Polukhina, N.; Starkov, N.; Tsarev, V.; Vladimirov, M.; Bergnoli, A.; Bertolin, A.; Ciesielski, R.; Dal Corso, F.; Dusini, S.; Fanin, C.; Bersani Greggio, F.; Grianti, F.; Besnier, M.; Biaré, D.; Boutigny, D.; Damet, J.; Duchesneau, D.; Favier, J.; Fournier, L.; Gallet, R.; Hamane, T.; Lavy, M.; Le Flour, T.; Lieunard, S.; Monteiro, I.; Moreau, F.; Mugnier, P.; Pessard, H.; Zghiche, A.; Bick, D.; Ebert, J.; Ferber, T.; Goellnitz, C.; Hagner, C.; Janutta, B.; Lenkeit, J.; Schmidt Parzefall, W.; Wonsak, B.; Zimmermann, R.; Blin, S.; Boucrot, J.; Campagne, J.E.; De La Taille, C.; Martin-Chassard, G.; Raux, L.; Repellin, P.; Bozza, C.; D'Amato, G.; Grella, G.; Rescigno, R.; Romano, G.; Sirignano, C.; Brugnera, R.; Carrara, E.; Garfagnini, A.; Longhin, A.; Stanco, L.; Sugonyaev, V.; Consiglio, L.; Cozzi, M.; Giacomelli, G.; Giorgini, M.; Mauri, N.; Pozzato, M.; Sioli, M.; Tenti, M.; Di Ferdinando, D.; Mandrioli, G.; Patrizii, L.; Sirri, G.; Brunetti, G.; Cazes, A.; Chiarella, V.; Di Troia, C.; Dulach, B.; Felici, G.; Franceschi, A.; Incurvati, M.; Napolitano, T.; Paniccia, M.; Paoloni, A.; Pellegrino, L.; Sanelli, C.; Spinetti, M.; Terranova, F.; Votano, L.; D'Ambrosio, N.; Esposito, S.; Gustavino, C.; Meschini, A.; Orlandi, D.; De Serio, M.; Fini, R.; Ieva, M.; Simone, S.; Di Giovanni, A.; Di Marco, N.; Monacelli, P.; Pupilli, F.; Dmitrievski, S.; Gornushkin, Y.; Khovansky, N.; Krasnoperov, A.; Krumstein, Z.; Nozdrin, A.; Olchevski, A.; Sadovski, A.; Tereschenko, V.; Egorov, O.; Golubkov, D.; Rostovtseva, I.; Zaitsev, Y.; Frekers, D.; Pilipenko, V.; Fukushima, C.; Kimura, M.; Ogawa, S.; Shibuya, H.; Galkin, V.A.; Ossetski, D.; Rizhikov, D.; Saveliev, V.; Goldberg, J.; Guler, M.; Kose, U.; Tolun, P.; Tufanli, S.; Hierholzer, M.; Schroeder, H.; Jakovcic, K.; Klicek, B.; Ljubicic, A.; Stipcevic, M.; Kim, S.H.; Park, I.G.; Song, J.S.; Yoon, C.S.; Kodama, K.; Ushida, N.; Kolev, D.; Tsenov, R.; Verguilov, V.; Muciaccia, M.T.; Pastore, A.; Rosa, G.; Schembri, A.; Sato, Y.; Tezuka, I.; Van Beek, G.; Vilain, P.; Wilquet, G.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 2009, 4(4))
Academic Journal
Agafonova, N.; Boyarkin, V.; Enikeev, R.; Kutsenov, V.V.; Kuznetsov, V.A.; Malgin, A.; Matveev, V.; Ryasny, V.; Ryazhskaya, O.; Yakushev, V.; Anokhina, A.; Galkin, V.I.; Nikitina, V.; Osedlo, V.; Publichenko, P.; Roganova, T.; Aoki, S.; Hara, T.; Ariga, A.; Ariga, T.; Ereditato, A.; Juget, F.; Knuesel, J.; Kreslo, I.; Lutter, G.; Meisel, F.; Messina, M.; Moser, U.; Pistillo, C.; Pretzl, K.; Schütz, H.U.; Vuilleumier, J.L.; Arrabito, L.; Autiero, D.; Brugière, T.; Cazes, A.; Chaussard, L.; Déclais, Y.; Dominjon, A.; Laktineh, I.; Manai, K.; Marteau, J.; Pennacchio, E.; Badertscher, A.; Lazzaro, C.; Rubbia, A.; Strauss, T.; Bagulya, A.; Chernyavsky, M.; Orlova, G.; Polukhina, N.; Starkov, N.; Tsarev, V.; Vladimirov, M.; Bersani Greggio, F.; Chiarella, V.; Di Troia, C.; Felici, G.; Grianti, F.; Paniccia, M.; Paoloni, A.; Spinetti, M.; Terranova, F.; Votano, L.; Bertolin, A.; Brugnera, R.; Carrara, E.; Dal Corso, F.; Dusini, S.; Garfagnini, A.; Besnier, M.; Duchesneau, D.; Favier, J.; Pessard, H.; Zghiche, A.; Bick, D.; Ebert, J.; Ferber, T.; Goellnitz, C.; Hagner, C.; Janutta, B.; Lenkeit, J.; Schmidt Parzefall, W.; Wonsak, B.; Zimmermann, R.; Bozza, C.; D'amato, G.; Grella, G.; Rescigno, R.; Romano, G.; Sirignano, C.; Longhin, A.; Stanco, L.; Sugonyaev, V.; Brunetti, G.; Cozzi, M.; Giacomelli, G.; Giorgini, M.; Mauri, N.; Pozzato, M.; Sioli, M.; Di Ferdinando, D.; Mandrioli, G.; Medinaceli, E.; Patrizii, L.; Sirri, G.; Buontempo, S.; Chukanov, A.; De Lellis, G.; Di Capua, F.; Marotta, A.; Migliozzi, P.; Russo, A.; Scotto Lavina, L.; Strolin, P.; Tioukov, V.; Chon-Sen, N.; Dracos, M.; Goeltzenlichter, T.; Jollet, C.; Meregaglia, A.; Schuler, J.; D'ambrosio, N.; Esposito, L.S.; Gustavino, C.; De Serio, M.; Fini, R.; Ieva, M.; Muciaccia, M.T.; Pastore, A.; Simone, S.; Di Giovanni, A.; Di Marco, N.; Monacelli, P.; Pupilli, F.; Dmitrievski, S.; Gornushkin, Y.; Krasnoperov, A.; Krumstein, Z.; Nozdrin, A.; Olchevski, A.; Sadovski, A.; Tereschenko, V.; Egorov, O.; Golubkov, D.; Rostovtseva, I.; Zaitsev, Y.; Frekers, D.; Pilipenko, V.; Fukuda, T.; Hamada, K.; Hoshino, K.; Kazuyama, M.; Kitagawa, N.; Komatsu, M.; Kubota, H.; Miyamoto, S.; Morishima, K.; Naganawa, N.; Naka, T.; Nakamura, M.; Nakano, T.; Niwa, K.; Nonoyama, Y.; Sato, O.; Takahashi, S.; Yoshioka, T.; Yoshida, J.; Fukushima, C.; Kimura, M.; Matsuo, T.; Ogawa, S.; Shibuya, H.; Galkin, V.A.; Ossetski, D.; Rizhikov, D.; Saveliev, V.; Goldberg, J.; Guler, M.; Kose, U.; Tolun, P.; Tufanli, S.; Hierholzer, M.; Schroeder, H.; Jakovcic, K.; Klicek, B.; Ljubicic, A.; Stipcevic, M.; Kim, S.H.; Park, B.D.; Park, I.G.; Song, J.S.; Yoon, C.S.; Kodama, K.; Ushida, N.; Kolev, D.; Tsenov, R.; Verguilov, V.; Rosa, G.; Schembri, A.; Sato, Y.; Tezuka, I.; Vilain, P.; Wilquet, G.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 2009, 4(6))
Academic Journal
Bay, F.; Guler, M.; Kose, U.; Tolun, P.; Tufanli, S.; Besnier, M.; Duchesneau, D.; Favier, J.; Pessard, H.; Zghiche, A.; D'Ambrosio, N.; Esposito, L.S.; Gustavino, C.; Schembri, A.; Muciaccia, M.T.; Pastore, A.; Simone, S.; De Serio, M.; Fini, R.; Ieva, M.; Ereditato, A.; Knuesel, J.; Kreslo, I.; Messina, M.; Moser, U.; Pistillo, C.; Pretzl, K.; Di Ferdinando, D.; Mandrioli, G.; Patrizii, L.; Pozzato, M.; Sirri, G.; Togo, V.; Valieri, C.; Brunetti, G.; Consiglio, L.; Cozzi, M.; Giacomelli, G.; Giorgini, M.; Manzoor, S.; Mauri, N.; Sioli, M.; Tenti, M.; Vilain, P.; Wilquet, G.; Dmitrievski, S.; Gornoushkin, Y.; Zemskova, S.; Cazes, A.; Chiarella, V.; Di Troia, C.; Dulach, B.; Felici, G.; Franceschi, A.; Paoloni, A.; Spinetti, M.; Terranova, F.; Votano, L.; Fukushima, C.; Kimura, M.; Ogawa, S.; Shibuya, H.; Bick, D.; Ebert, J.; Ferber, T.; Goellnitz, C.; Hagner, C.; Hierholzer, M.; Janutta, B.; Lenkeit, J.; Wonsak, B.; Zimmermann, R.; Kim, S.H.; Park, B.D.; Park, I.G.; Song, J.S.; Yoon, C.S.; Kodama, K.; Ushida, N.; Aoki, S.; Hara, T.; Di Giovanni, A.; Di Marco, N.; Monacelli, P.; Pupilli, F.; Arrabito, L.; Autiero, D.; Brugiere, T.; Chaussard, L.; Déclais, Y.; Dominjon, A.; Laktineh, I.; Manai, K.; Marteau, J.; Pennacchio, E.; Enikeev, R.; Ryazhskaya, O.; Egorov, O.; Golubkov, D.; Rostovtseva, I.; Zaitsev, Y.; Chernyavsky, M.; Gusev, G.; Polukhina, N.; Starkov, N.; Tsarev, V.; Vladimirov, M.; Anokhina, A.; Galkin, V.I.; Nikitina, V.; Osedlo, V.; Publichenko, P.; Roganova, T.; Sazhina, G.; Ariga, A.; Fukuda, T.; Hiramatsu, S.; Hoshino, K.; Kawai, T.; Kazuyama, M.; Komatsu, M.; Matsuoka, H.; Miyamoto, S.; Morishima, K.; Naganawa, N.; Naka, T.; Nakamura, M.; Nakamura, T.; Nakano, T.; Niwa, K.; Nonoyama, Y.; Sato, O.; Taira, Y.; Takahashi, S.; Yoshida, J.; Buontempo, S.; Chukanov, A.; Di Capua, F.; Marotta, A.; Migliozzi, P.; Russo, A.; Scotto Lavina, L.; Tioukov, V.; De Lellis, G.; Strolin, P.; Janicsko Csathy, J.; Juget, F.; Lutter, G.; Meisel, F.; Vuilleumier, J.L.; Galkin, V.A.; Ossetski, D.; Ryzhikov, D.; Saveliev, V.; Bergnoli, A.; Dal Corso, F.; Dusini, S.; Longhin, A.; Stanco, L.; Brugnera, R.; Carrara, E.; Garfagnini, A.; Sugonyaev, V.; Rosa, G.; Bozza, C.; D'Amato, G.; Grella, G.; Sirignano, C.; Chon-Sen, N.; Dracos, M.; Jollet, C.; Meregaglia, A.; Wurtz, J.; Bersani Greggio, F.; Grianti, F.; Sato, Y.; Jakovcic, K.; Ljubicic, A.; Stipcevic, M.; Badertscher, A.; Lazzaro, C.; Rubbia, A.; Strauss, T.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 2008, 3(7))
Academic Journal
Cecchini, S.; Cozzi, M.; Errico, M.; Giacomelli, G.; Giorgini, M.; Kumar, A.; Manzoor, S.; Margiotta, A.; Medinaceli, E.; Spurio, M.; Di Ferdinando, D.; Fabbri, F.; Giacomelli, R.; Mandrioli, G.; Patrizii, L.; Popa, V.; Sahnoun, Z.; Sirri, G.; Togo, V.; Valieri, C.; McDonald, J.; Pinfold, J.; Qureshi, I.E.; Velarde, A.; Saavedra, O.; Zanini, A.
In: European Physical Journal C . (European Physical Journal C, October 2008, 57(3):525-533)
Academic Journal
Bay, F.; Cuha, V.; Guler, M.; Kose, U.; Tolun, P.; Tufanli, S.; Besnier, M.; Duchesneau, D.; Favier, J.; Pessard, H.; Zghiche, A.; D'Ambrosio, N.; Esposito, L.S.; Gustavino, C.; Schembri, A.; Muciaccia, M.T.; Pastore, A.; Simone, S.; De Serio, M.; Fini, R.; Ieva, M.; Ereditato, A.; Knuesel, J.; Kreslo, I.; Messina, M.; Moser, U.; Pistillo, C.; Pretzl, K.; Di Ferdinando, D.; Mandrioli, G.; Patrizii, L.; Sirri, G.; Brunetti, G.; Consiglio, L.; Cozzi, M.; Giacomelli, G.; Giorgini, M.; Mauri, N.; Pozzato, M.; Sioli, M.; Tenti, M.; Vilain, P.; Wilquet, G.; Dmitrievski, S.; Gornushkin, Y.; Zemskova, S.; Cazes, A.; Chiarella, V.; Di Troia, C.; Felici, G.; Paoloni, A.; Spinetti, M.; Terranova, F.; Votano, L.; Matsuo, T.; Mikado, S.; Ogawa, S.; Shibuya, H.; Goldberg, J.; Bick, D.; Ebert, J.; Ferber, T.; Goellnitz, C.; Hagner, C.; Hierholzer, M.; Janutta, B.; Lenkeit, J.; Wonsak, B.; Zimmermann, R.; Kim, S.H.; Park, B.D.; Park, I.G.; Song, J.S.; Yoon, C.S.; Kodama, K.; Ushida, N.; Aoki, S.; Hara, T.; Di Giovanni, A.; Di Marco, N.; Monacelli, P.; Pupilli, F.; Arrabito, L.; Autiero, D.; Brugiere, T.; Chaussard, L.; Déclais, Y.; Dominjon, A.; Laktineh, I.; Manai, K.; Marteau, J.; Pennacchio, E.; Enikeev, R.; Ryazhskaya, O.; Egorov, O.; Golubkov, D.; Rostovtseva, I.; Zaitsev, Y.; Chernyavsky, M.; Gusev, G.; Polukhina, N.; Starkov, N.; Tsarev, V.; Vladimirov, M.; Anokhina, A.; Galkin, V.I.; Nikitina, V.; Osedlo, V.; Publichenko, P.; Roganova, T.; Sazhina, G.; Frekers, D.; Pilipenko, V.; Ariga, A.; Fukuda, T.; Hiramatsu, S.; Hoshino, K.; Kawai, T.; Kazuyama, M.; Komatsu, M.; Matsuoka, H.; Miyamoto, S.; Morishima, K.; Naganawa, N.; Naka, T.; Nakamura, M.; Nakamura, T.; Nakano, T.; Niwa, K.; Nonoyama, Y.; Sato, O.; Taira, Y.; Takahashi, S.; Yoshida, J.; Buontempo, S.; Chukanov, A.; Di Capua, F.; Marotta, A.; Migliozzi, P.; Russo, A.; Scotto Lavina, L.; Tioukov, V.; De Lellis, G.; Strolin, P.; Janicsko Csathy, J.; Juget, F.; Lutter, G.; Meisel, F.; Vuilleumier, J.L.; Galkin, V.A.; Ossetski, D.; Ryzhikov, D.; Saveliev, V.; Bertolin, A.; Dal Corso, F.; Dusini, S.; Longhin, A.; Stanco, L.; Sugonyaev, V.; Brugnera, R.; Carrara, E.; Garfagnini, A.; Rosa, G.; Bozza, C.; D'Amato, G.; Grella, G.; Sirignano, C.; Chon-Sen, N.; Dracos, M.; Jollet, C.; Meregaglia, A.; Greggio, F.G.; Grianti, F.; Sato, Y.; Tezuka, I.; Jakovcic, K.; Ljubicic, A.; Stipcevic, M.; Badertscher, A.; Lazzaro, C.; Rubbia, A.; Strauss, T.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 2008, 3(7))
Academic Journal
Togo, V.; Balestra, S.; Cecchini, S.; Di Ferdinando, D.; Frutti, M.; Giacomelli, G.; Giorgini, M.; Kumar, A.; Mandrioli, G.; Manzoor, S.; Margiotta, A.; Medinaceli, E.; Patrizii, L.; Popa, V.; Spurio, M.
In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment . (Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 21 September 2007, 580 1 SPEC. ISS.:58-61)
Academic Journal
De Serio, M.; Fini, R.A.; Ieva, M.; Muciaccia, M.T.; Pastore, A.; Simone, S.; Ereditato, A.; Kreslo, I.; Moser, U.; Pistillo, C.; Savvinov, N.; Waelchli, T.; Consiglio, L.; Cozzi, M.; Di Ferdinando, D.; Giacomelli, G.; Giorgini, M.; Mandrioli, G.; Patrizii, L.; Pozzato, M.; Sioli, M.; Sirri, G.; Petukhov, Y.; D'Ambrosio, N.; Di Marco, N.; Esposito, L.S.; Monacelli, P.; Arrabito, L.; Laktineh, I.; Manai, K.; Buontempo, S.; De Lellis, G.; Di Capua, F.; Marotta, A.; Migliozzi, P.; Russo, A.; Lavina, L.S.; Strolin, P.; Tioukov, V.; Csathy, J.J.; Juget, F.; Rosa, G.; Schembri, A.; Bozza, C.; Grella, G.; Romano, G.; Sirignano, C.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 18 May 2007, 2)
Academic Journal
D'Ambrosio, N.; Esposito, L.S.; De Serio, M.; Ieva, M.; Muciaccia, M.T.; Pastore, A.; Simone, S.; Ereditato, A.; Kreslo, I.; Moser, U.; Pistillo, C.; Savvinov, N.; Consiglio, L.; Cozzi, M.; Di Ferdinando, D.; Giacomelli, G.; Giorgini, M.; Mandrioli, G.; Patrizii, L.; Pozzato, M.; Sioli, M.; Sirri, G.; Di Marco, N.; Monacelli, P.; Arrabito, L.; Autiero, D.; Caffari, Y.; Laktineh, I.; Marteau, J.; Buontempo, S.; De Lellis, G.; Di Capua, F.; Marotta, A.; Migliozzi, P.; Russo, A.; Lavina, L.S.; Strolin, P.; Tioukov, V.; Gagnebin, S.; Hauger, M.; Csathy, J.J.; Juget, F.; Longhin, A.; Rosa, G.; Schembri, A.; Bozza, C.; Grella, G.; Romano, G.; Sirignano, C.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 1 February 2007, 2)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] D. Di Ferdinando
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어