학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 415건 | 목록
40~50
Report
Osherson, B.; Filippini, J. P.; Fu, J.; Gramillano, R. V.; Gualtieri, R.; Shaw, E. C.; Ade, P. A. R.; Amiri, M.; Benton, S. J.; Bock, J. J.; Bond, J. R.; Bryan, S. A.; Chiang, H. C.; Contaldi, C. R.; Dore, O.; Fraisse, A. A.; Gambrel, A. E.; Gandilo, N. N.; Gudmundsson, J. E.; Halpern, M.; Hartley, J.; Hasselfield, M.; Hilton, G.; Holmes, W.; Hristov, V. V.; Irwin, K. D.; Jones, W. C.; Kermish, Z. D.; Mason, P. V.; Megerian, K.; Moncelsi, L.; Morford, T. A.; Nagy, J. M.; Netterfield, C. B.; Padilla, I. L.; Rahlin, A. S.; Reintsema, C.; Ruhl, J. E.; Runyan, M. C.; Shariff, J. A.; Soler, J. D.; Trangsrud, A.; Tucker, C.; Tucker, R. S.; Turner, A. D.; Weber, A. C.; Wiebe, D. V.; Young, E. Y.
Broadband, millimeter-wave antireflection coatings for large-format, cryogenic aluminum oxide optics
Report
Nadolski, A.; Vieira, J. D.; Sobrin, J. A.; Kofman, A. M.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderson, A. J.; Avva, J. S.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bryant, L.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cheshire IV, J. R.; Chesmore, G. E.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Dierickx, M.; Ding, J.; Dutcher, D.; Everett, W.; Farwick, J.; Ferguson, K. R.; Florez, L.; Foster, A.; Fu, J.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Groh, J. C.; Guns, S.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Harris, R. J.; Henning, J. W.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O.; Jonas, M.; Jones, A.; Korman, M.; Kovac, J.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Lowitz, A. E.; McMahon, J.; Meier, J.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; sada, C. M. Po; Quan, W.; Rahlin, A.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Tandoi, C.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Applied Optics, Vol. 59, Issue 10, pp. 3285-3295 (2020)
Report
Avva, J. S.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderson, A. J.; Aylor, K.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bleem, L. E.; Bocquet, S.; Bryant, L.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Crawford, T. M.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dodelson, S.; Dutcher, D.; Everett, W.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Groh, J. C.; Guns, S.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Knox, L.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Raghunathan, S.; Rahlin, A.; Reichardt, C. L.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Wu, W. L. K.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Report
Bianchini, F.; Wu, W. L. K.; Ade, P. A. R.; Anderson, A. J.; Austermann, J. E.; Avva, J. S.; Beall, J. A.; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bleem, L. E.; Carlstrom, J. E.; Chang, C. L.; Chaubal, P.; Chiang, H. C.; Citron, R.; Moran, C. Corbett; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; de Haan, T.; Dobbs, M. A.; Everett, W.; Gallicchio, J.; George, E. M.; Gilbert, A.; Gupta, N.; Halverson, N. W.; Harrington, N.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hrubes, J. D.; Huang, N.; Hubmayr, J.; Irwin, K. D.; Knox, L.; Lee, A. T.; Li, D.; Lowitz, A.; Manzotti, A.; McMahon, J. J.; Meyer, S. S.; Millea, M.; Mocanu, L. M.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nibarger, J. P.; Noble, G.; Novosad, V.; Omori, Y.; Padin, S.; Patil, S.; Pryke, C.; Reichardt, C. L.; Ruhl, J. E.; Saliwanchik, B. R.; Sayre, J. T.; Schaffer, K. K.; Sievers, C.; Simard, G.; Smecher, G.; Stark, A. A.; Story, K. T.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Veach, T.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.
Report
Sayre, J. T.; Reichardt, C. L.; Henning, J. W.; Ade, P. A. R.; Anderson, A. J.; Austermann, J. E.; Avva, J. S.; Beall, J. A.; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bianchini, F.; Bleem, L. E.; Carlstrom, J. E.; Chang, C. L.; Chiang, H. C.; Citron, R.; Moran, C. Corbett; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; de Haan, T.; Dobbs, M. A.; Everett, W.; Gallicchio, J.; George, E. M.; Gilbert, A.; Gupta, N.; Halverson, N. W.; Harrington, N.; Hilton, G. C.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hrubes, J. D.; Huang, N.; Hubmayr, J.; Irwin, K. D.; Knox, L.; Lee, A. T.; Li, D.; Lowitz, A.; McMahon, J. J.; Meyer, S. S.; Mocanu, L. M.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nibarger, J. P.; Noble, G.; Novosad, V.; Padin, S.; Patil, S.; Pryke, C.; Ruhl, J. E.; Saliwanchik, B. R.; Schaffer, K. K.; Sievers, C.; Smecher, G.; Stark, A. A.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Veach, T.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Wu, W. L. K.; Yefremenko, V.
Phys. Rev. D 101, 122003 (2020)
Report
Bleem, L. E.; Bocquet, S.; Stalder, B.; Gladders, M. D.; Ade, P. A. R.; Allen, S. W.; Anderson, A. J.; Annis, J.; Ashby, M. L. N.; Austermann, J. E.; Avila, S.; Avva, J. S.; Bayliss, M.; Beall, J. A.; Bechtol, K.; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bertin, E.; Bianchini, F.; Blake, C.; Brodwin, M.; Brooks, D.; Buckley-Geer, E.; Burke, D. L.; Carlstrom, J. E.; Rosell, A. Carnero; Kind, M. Carrasco; Carretero, J.; Chang, C. L.; Chiang, H. C.; Citron, R.; Moran, C. Corbett; Costanzi, M.; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; da Costa, L. N.; de Haan, T.; De Vicente, J.; Desai, S.; Diehl, H. T.; Dietrich, J. P.; Dobbs, M. A.; Eifler, T. F.; Everett, W.; Flaugher, B.; Floyd, B.; Frieman, J.; Gallicchio, J.; García-Bellido, J.; George, E. M.; Gerdes, D. W.; Gilbert, A.; Gruen, D.; Gruendl, R. A.; Gschwend, J.; Gupta, N.; Gutierrez, G.; Halverson, N. W.; Harrington, N.; Henning, J. W.; Heymans, C.; Holder, G. P.; Hollowood, D. L.; Holzapfel, W. L.; Honscheid, K.; Hrubes, J. D.; Huang, N.; Hubmayr, J.; Irwin, K. D.; James, D. J.; Jeltema, T.; Joudaki, S.; Khullar, G.; Klein, M.; Knox, L.; Kuropatkin, N.; Lee, A. T.; Li, D.; Lidman, C.; Lowitz, A.; MacCrann, N.; Mahler, G.; Maia, M. A. G.; Marshall, J. L.; McDonald, M.; McMahon, J. J.; Melchior, P.; Menanteau, F.; Meyer, S. S.; Miquel, R.; Mocanu, L. M.; Mohr, J. J.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nibarger, J. P.; Noble, G.; Novosad, V.; Padin, S.; Palmese, A.; Parkinson, D.; Patil, S.; Paz-Chinchón, F.; Plazas, A. A.; Pryke, C.; Ramachandra, N. S.; Reichardt, C. L.; González, J. D. Remolina; Romer, A. K.; Roodman, A.; Ruhl, J. E.; Rykoff, E. S.; Saliwanchik, B. R.; Sanchez, E.; Saro, A.; Sayre, J. T.; Schaffer, K. K.; Schrabback, T.; Serrano, S.; Sharon, K.; Sievers, C.; Smecher, G.; Smith, M.; Soares-Santos, M.; Stark, A. A.; Story, K. T.; Suchyta, E.; Tarle, G.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Veach, T.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Weller, J.; Whitehorn, N.; Wu, W. L. K.; Yefremenko, V.; Zhang, Y.
Report
Anderson, A. J.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Avva, J. S.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cho, H. -M.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Fu, J.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Gilbert, A.; Groh, J. C.; Guns, S.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Rahlin, A.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Report
Bender, A. N.; Anderson, A. J.; Avva, J. S.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Benson, B. A.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cho, H. -M.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Fu, J.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Gilbert, A.; Groh, J. C.; Guns, S.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Rahlin, A.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Report
Huang, N.; Bleem, L. E.; Stalder, B.; Ade, P. A. R.; Allen, S. W.; Anderson, A. J.; Austermann, J. E.; Avva, J. S.; Beall, J. A.; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bianchini, F.; Bocquet, S.; Brodwin, M.; Carlstrom, J. E.; Chang, C. L.; Chiang, H. C.; Citron, R.; Moran, C. Corbett; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; de Haan, T.; Dobbs, M. A.; Everett, W.; Floyd, B.; Gallicchio, J.; George, E. M.; Gilbert, A.; Gladders, M. D.; Guns, S.; Gupta, N.; Halverson, N. W.; Harrington, N.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hrubes, J. D.; Hubmayr, J.; Irwin, K. D.; Khullar, G.; Knox, L.; Lee, A. T.; Li, D.; Lowitz, A.; McDonald, M.; McMahon, J. J.; Meyer, S. S.; Mocanu, L. M.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nibarger, J. P.; Noble, G.; Novosad, V.; Padin, S.; Patil, S.; Pryke, C.; Reichardt, C. L.; Ruhl, J. E.; Saliwanchik, B. R.; Saro, A.; Sayre, J. T.; Schaffer, K. K.; Sharon, K.; Sievers, C.; Smecher, G.; Stark, A. A.; Story, K. T.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Veach, T.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Wu, W. L. K.; Yefremenko, V.
Report
Raghunathan, S.; Patil, S.; Baxter, E.; Benson, B. A.; Bleem, L. E.; Crawford, T. M.; Holder, G. P.; McClintock, T.; Reichardt, C. L.; Varga, T. N.; Whitehorn, N.; Ade, P. A. R.; Allam, S.; Anderson, A. J.; Austermann, J. E.; Avila, S.; Avva, J. S.; Bacon, D.; Beall, J. A.; Bender, A. N.; Bianchini, F.; Bocquet, S.; Brooks, D.; Burke, D. L.; Carlstrom, J. E.; Carretero, J.; Castander, F. J.; Chang, C. L.; Chiang, H. C.; Citron, R.; Costanzi, M.; Crites, A. T.; da Costa, L. N.; Desai, S.; Diehl, H. T.; Dietrich, J. P.; Dobbs, M. A.; Doel, P.; Everett, S.; Evrard, A. E.; Feng, C.; Flaugher, B.; Fosalba, P.; Frieman, J.; Gallicchio, J.; García-Bellido, J.; Gaztanaga, E.; George, E. M.; Giannantonio, T.; Gilbert, A.; Gruendl, R. A.; Gschwend, J.; Gupta, N.; Gutierrez, G.; de Haan, T.; Halverson, N. W.; Harrington, N.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Hollowood, D. L.; Holzapfel, W. L.; Honscheid, K.; Hrubes, J. D.; Huang, N.; Hubmayr, J.; Irwin, K. D.; Jeltema, T.; Kind, M. Carrasco; Knox, L.; Kuropatkin, N.; Lahav, O.; Lee, A. T.; Li, D.; Lima, M.; Lowitz, A.; Maia, M. A. G.; Marshall, J. L.; McMahon, J. J.; Melchior, P.; Menanteau, F.; Meyer, S. S.; Miquel, R.; Mocanu, L. M.; Mohr, J. J.; Montgomery, J.; Moran, C. Corbett; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nibarger, J. P.; Noble, G.; Novosad, V.; Ogando, R. L. C.; Padin, S.; Plazas, A. A.; Pryke, C.; Rapetti, D.; Romer, A. K.; Roodman, A.; Rosell, A. Carnero; Rozo, E.; Ruhl, J. E.; Rykoff, E. S.; Saliwanchik, B. R.; Sanchez, E.; Sayre, J. T.; Scarpine, V.; Schaffer, K. K.; Schubnell, M.; Serrano, S.; Sevilla-Noarbe, I.; Sievers, C.; Smecher, G.; Smith, M.; Soares-Santos, M.; Stark, A. A.; Story, K. T.; Suchyta, E.; Swanson, M. E. C.; Tarle, G.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Veach, T.; De Vicente, J.; Vieira, J. D.; Vikram, V.; Wang, G.; Wu, W. L. K.; Yefremenko, V.; Zhang, Y.
Phys. Rev. Lett. 123, 181301 (2019)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Ruhl, J. E.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어