학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 44,515건 | 목록
30~40
Academic Journal
IEEE Access Access, IEEE. 9:77771-77783 2021
Report
Adams, C. B.; Benbow, W.; Brill, A.; Buckley, J. H.; Capasso, M.; Chromey, A. J.; Errando, M.; Falcone, A.; Farrell, K. A.; Feng, Q.; Finley, J P.; Foote, G.; Fortson, L.; Furniss, A.; Gent, A.; Gillanders, G. H.; Giuri, C.; Gueta, O.; Hanna, D.; Hassan, T.; Hervet, O.; Holder, J.; Hona, B.; Humensky, T. B.; Jin, W.; Kaaret, P.; Kertzman, M.; Kieda, D.; Kleiner, T. K.; Krennrich, F.; Kumar, S.; Lang, M. J.; Lundy, M.; Maier, G.; McGrath, C. E.; Moriarty, P.; Mukherjee, R.; Nieto, D.; Nievas-Rosillo, M.; O'Brien, S.; Ong, R. A.; Otte, A. N.; Park, N.; Patel, S.; Pfrang, K.; Pichel, A.; Pohl, M.; Prado, R. R.; Quinn, J.; Ragan, K.; Reynolds, P. T.; Ribeiro, D.; Roache, E.; Rovero, A. C.; Ryan, J. L.; Santander, M.; Schlenstedt, S.; Sembroski, G. H.; Shang, R.; Tak, D.; Vassiliev, V. V.; Weinstein, A.; Williams, D. A.; Williamson, T. J.; Acciari, V. A.; Ansoldi, S.; Antonelli, L. A.; Engels, A. Arbet; Artero, M.; Asano, K.; Baack, D.; Babić, A.; Baquero, A.; de Almeida, U. Barres; Barrio, J. A.; Batković, I.; González, J. Becerra; Bednarek, W.; Bellizzi, L.; Bernardini, E.; Bernardos, M.; Berti, A.; Besenrieder, J.; Bhattacharyya, W.; Bigongiari, C.; Biland, A.; Blanch, O.; Bökenkamp, H.; Bonnol, G.; Bošnjak, Ž.; Busetto, G.; Carosi, R.; Ceribella, G.; Cerruti, M.; Chai, Y.; Chilingarian, A.; Cikota, S.; Colak, S. M.; Colombo, E.; Contreras, J. L.; Cortina, J.; Covino, S.; D'Amico, G.; D'Elia, V.; Da Vela, P.; Dazzi, F.; De Angelis, A.; De Lotto, B.; Delfino, M.; Delgado, J.; Mendez, C. Delgado; Depaoli, D.; Di Pierro, F.; Di Venere, L.; Espiñeira, E. Do Souto; Prester, D. Dominis; Donini, A.; Dorner, D.; Doro, M.; Elsaesser, D.; Ramazani, V. Fallah; Fattorini, A.; Fonseca, M. V.; Font, L.; Fruck, C.; Fukami, S.; Fukazawa, Y.; López, R. J. García; Garczarczyk, M.; Gasparyan, S.; Gaug, M.; Giglietto, N.; Giordano, F.; Gliwny, P.; Godinović, N.; Green, J. G.; Green, D.; Hadasch, D.; Hahn, A.; Heckmann, L.; Herrera, J.; Hoang, J.; Hrupec, D.; Hütten, M.; Inada, T.; Ishio, K.; Iwamura, Y.; Martínez, I. Jiménez; Jormanainen, J.; Jouvin, L.; Karjalainen, M.; Kerszberg, D.; Kobayashi, Y.; Kubo, H.; Kushida, J.; Lamastra, A.; Lelas, D.; Leone, F.; Lindfors, E.; Linhoff, L.; Lombardi, S.; Longo, F.; López-Coto, R.; López-Moya, M.; López-Oramas, A.; Loporchio, S.; Fraga, B. Machado de Oliveira; Maggio, C.; Majumdar, P.; Makariev, M.; Mallamaci, M.; Maneva, G.; Manganaro, M.; Mannheim, K.; Maraschi, L.; Mariotti, M.; Martínez, M.; Mazin, D.; Menchiari, S.; Mender, S.; Mićanović, S.; Miceli, D.; Miener, T.; Miranda, J. M.; Mirzoyan, R.; Molina, E.; Moralejo, A.; Morcuende, D.; Moreno, V.; Moretti, E.; Nakamori, T.; Nava, L.; Neustroev, V.; Nigro, C.; Nilsson, K.; Nishijima, K.; Nozaki, K. Noda S.; Ohtani, Y.; Oka, T.; Otero-Santos, J.; Paiano, S.; Palatiello, M.; Paneque, D.; Paoletti, R.; Paredes, J. M.; Pavletić, L.; Peñil, P.; Persic, M.; Pihet, M.; Moroni, P. G. Prada; Prandini, E.; Priyadarshi, C.; Puljak, I.; Rhode, W.; Ribó, M.; Rico, J.; Righi, C.; Rugliancich, A.; Saha, L.; Sahakyan, N.; Saito, T.; Sakurai, S.; Satalecka, K.; Saturni, F. G.; Schleicher, B.; Schmidt, K.; Schweizer, T.; Sitarek, J.; Šnidarić, I.; Spolon, D. Sobczynska A.; Stamerra, A.; Strišković, J.; Strom, D.; Strzys, M.; Suda, Y.; Surić, T.; Takahashi, M.; Takeishi, R.; Tavecchio, F.; Temnikov, P.; Terzić, T.; Teshima, M.; Tosti, L.; Truzzi, S.; Tutone, A.; Ubach, S.; van Scherpenberg, J.; Vanzo, G.; Acosta, M. Vazquez; Ventura, S.; Verguilov, V.; Vigorito, C. F.; Vitale, V.; Vovk, I.; Will, M.; Wunderlich, C.; Yamamoto, T.; Zarić, D.; Abdalla, H.; Aharonian, F.; Ait-Benkhali, F.; Anguener, O.; Arcaro, C.; Ashkar, H.; Backes, M.; Martins, V. Barbosa; Barnard, M.; Batzofin, R.; Becherini, Y.; Berge, D.; Bernloehr, K.; Bi, B.; Boettcher, M.; Boisson, C.; Bolmont, J.; de Bony, M.; Breuhaus, M.; Brose, R.; Brun, F.; Bulik, T.; Caroff, S.; Casanova, S.; Chand, T.; Chen, A.; Cotter, G.; Mbarubucyeye, J. Damascene; Devin, J.; Djannati-Atai, A.; Egberts, K.; Ernenwein, J.; Fegan, S.; Fiasson, A.; de Clairfontaine, G. Fichet; Fontaine, G.; Fuessling, M.; Funk, S.; Gabici, S.; Giavitto, G.; Glawion, D.; Glicenstein, J.; Grondin, M.; Hinton, J.; Hofmann, W.; Holch, T.; Holler, M.; Horns, D.; Huang, Z.; Jamrozy, M.; Jankowsky, F.; Joshi, V.; Jung-Richardt, I.; Kasai, E.; Katarzynski, K.; Khelifi, B.; Komin, N.; Kosack, K.; Kostunin, D.; Stum, S. Le; Lemiere, A.; Lenain, J.; Leuschner, F.; Levy, C.; Lohse, T.; Luashvili, A.; Lypova, I.; Mackey, J.; Majumdar, J.; Malyshev, D.; Marandon, V.; Marchegiani, P.; Marcowith, A.; Marti'i-Devesa, G.; Marx, R.; Maurin, G.; Meintjes, P.; Mitchell, A.; Moderski, R.; Mohrmann, L.; Montanari, A.; Moulin, E.; Muller, J.; Murach, T.; de Naurois, M.; Nayerhoda, A.; Niemiec, J.; Noel, A.; O'Brien, P.; Ohm, S.; Olivera-Nieto, L.; de Ona-Wilhelmi, E.; Ostrowski, M.; Panny, S.; Panter, M.; Parsons, D.; Peron, G.; Poireau, V.; Prokhorov, D.; Prokoph, H.; Puehlhofer, G.; Punch, M.; Quirrenbach, A.; Reichherzer, P.; Reimer, A.; Reimer, O.; Renaud, M.; Rieger, F.; Romoli, C.; Rowell, G.; Rudak, B.; Ricarte, H. Rueda; Velasco, E. Ruiz; Sahakian, V.; Sailer, S.; Salzmann, H.; Sanchez, D.; Santangelo, A.; Sasaki, M.; Schuessler, F.; Schutte, H.; Schwanke, U.; Senniappan, M.; Shapopi, J.; Simoni, R.; Sol, H.; Specovius, A.; Spencer, S.; Steenkamp, R.; Steinmassl, S.; Sun, L.; Takahashi, T.; Tanaka, T.; Terrier, R.; Tsuji, N.; Uchiyama, Y.; van Eldik, C.; van Soelen, B.; Veh, J.; Venter, C.; Vink, J.; Wagner, S.; White, R.; Wierzcholska, A.; Wong, Y. W.; Zacharias, M.; Zargaryan, D.; Zdziarski, A.; Zech, A.; Zhu, S.; Zouari, S.; Zywucka, N.; Moritani, Y.; Torres, D. F.
Conference
Carissimi, M.; Zurla, R.; Auricchio, C.; Calvetti, E.; Capecchi, L.; Croce, L.; Zanchi, S.; Rana, V.; Mishra, P.; Mukherjee, R.; Tyagi, V.; Disegni, F.; Manfre, D.; Torti, C.; Gallinari, D.; Rossi, S.; Gambero, A.; Brambilla, D.; Zuliani, P.; Cabrini, A.; Torelli, G.; Pasotti, M.
ESSCIRC 2019 - IEEE 45th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC) Solid State Circuits Conference (ESSCIRC), ESSCIRC 2019 - IEEE 45th European. :135-138 Sep, 2019
Report
Adams, C. B.; Ambrosi, G.; Ambrosio, M.; Aramo, C.; Batista, P. I.; Benbow, W.; Bertucci, B.; Bissaldi, E.; Bitossi, M.; Boiano, A.; Bonavolontà, C.; Bose, R.; Brill, A.; Brown, A. M.; Buckley, J. H.; Cameron, R. A.; Canestrari, R.; Capasso, M.; Caprai, M.; Covault, C. E.; Depaoli, D.; Di Venere, L.; Errando, M.; Fegan, S.; Feng, Q.; Fiandrini, E.; Furniss, A.; Gent, A.; Giglietto, N.; Giordano, F.; Giro, E.; Halliday, R.; Hervet, O.; Holder, J.; Humensky, T. B.; Incardona, S.; Ionica, M.; Jin, W.; Kieda, D.; Licciulli, F.; Loporchio, S.; Marsella, G.; Masone, V.; Meagher, K.; Meures, T.; Mode, B. A. W.; Mognet, S. A. I.; Mukherjee, R.; Okumura, A.; Otte, N.; Pantaleo, F. R.; Paoletti, R.; Pareschi, G.; Di Pierro, F.; Pueschel, E.; Ribeiro, D.; Riitano, L.; Roache, E.; Rousselle, J.; Rugliancich, A.; Santander, M.; Shang, R.; Stiaccini, L.; Tajima, H.; Taylor, L. P.; Tosti, L.; Tovmassian, G.; Tripodo, G.; Vagelli, V.; Valentino, M.; Vandenbroucke, J.; Vassiliev, V. V.; Williams, D. A.; Zink, A.
Proceedings of Science, PoS(ICRC2021)830
Report
Adams, C. B.; Ambrosi, G.; Ambrosio, M.; Aramo, C.; Batista, P. I.; Benbow, W.; Bertucci, B.; Bissaldi, E.; Bitossi, M.; Boiano, A.; Bonavolonta, C.; Bose, R.; Brill, A.; Brown, A. M.; Buckley, J. H.; Cameron, R. A.; Capasso, M.; Caprai, M.; Covault, C. E.; Depaoli, D.; Di Venere, L.; Errando, M.; Fegan, S.; Feng, Q.; Fiandrini, E.; Furniss, A.; Gent, A.; Giglietto, N.; Giordano, F.; Halliday, R.; Hervet, O.; Humensky, T. B.; Incardona, S.; Ionica, M.; Jin, W.; Kieda, D.; Licciulli, F.; Loporchio, S.; Marsella, G.; Masone, V.; Meagher, K.; Meures, T.; Mode, B. A. W.; Mognet, S. A. I.; Mukherjee, R.; Okumura, A.; Otte, N.; Pantaleo, F. R.; Paoletti, R.; Pareschi, G.; Di Pierro, F.; Pueschel, E.; Ribeiro, D.; Riitano, L.; Roache, E.; Ross, D.; Rousselle, J.; Rugliancich, A.; Santander, M.; Shang, R.; Stiaccini, L.; Tajima, H.; Taylor, L. P.; Tosti, L.; Tovmassian, G.; Tripodo, G.; Vagelli, V.; Valentino, M.; Vandenbroucke, J.; Vassiliev, V. V.; Watson, J. J.; White, R.; Williams, D. A.; Zink, A.
Academic Journal
Prakrati Kamath; Prathvi Kamath; Sharon J R Saldanha; Thilak B Shetty; Shobha J Rodrigues; Mahesh M; Umesh Y Pai; Puneeth K Hegde; Prashant Bajantri; Sandipan Mukherjee
F1000Research. 13:37
Report
Adams, C. B.; Archer, A.; Benbow, W.; Brill, A.; Buckley, J. H.; Capasso, M.; Christiansen, J. L.; Chromey, A. J.; Errando, M.; Falcone, A.; Farrell, K. A.; Feng, Q.; Foote, G. M.; Fortson, L.; Furniss, A.; Gent, A.; Gillanders, G. H.; Giuri, C.; Gueta, O.; Hanna, D.; Hervet, O.; Holder, J.; Hona, B.; Humensky, T. B.; Jin, W.; Kaaret, P.; Kertzman, M.; Kleiner, T. K.; Kumar, S.; Lang, M. J.; Lundy, M.; Maier, G.; McGrath, C. E; Moriarty, P.; Mukherjee, R.; Nieto, D.; Nievas-Rosillo, M.; O'Brien, S.; Ong, R. A.; Otte, A. N.; Patel, S. R.; Patel, S.; Pfrang, K.; Pohl, M.; Prado, R. R.; Pueschel, E.; Quinn, J.; Ragan, K.; Reynolds, P. T.; Ribeiro, D.; Roache, E.; Ryan, J. L.; Sadeh, I.; Santander, M.; Sembroski, G. H.; Shang, R.; Tak, D.; Vassiliev, V. V.; Weinstein, A.; Williams, D. A.; Williamson, T. J.
Report
Adams, C. B.; Benbow, W.; Brill, A.; Buckley, J. H.; Capasso, M.; Christiansen, J. L.; Chromey, A. J.; Daniel, M. K.; Errando, M.; Falcone, A.; Farrell, K. A.; Feng, Q.; Finley, J. P.; Fortson, L.; Furniss, A.; Gent, A.; Giuri, C.; Hanna, D.; Hassan, T.; Hervet, O.; Holder, J.; Hughes, G.; Humensky, T. B.; Jin, W.; Kaaret, P.; Kertzman, M.; Kieda, D.; Kumar, S.; Lang, M. J.; Lundy, M.; Maier, G.; McGrath, C. E; Moriarty, P.; Mukherjee, R.; Nieto, D.; Nievas-Rosillo, M.; O'Brien, S.; Ong, R. A.; Otte, A. N.; Park, N.; Patel, S.; Pfrang, K.; Pohl, M.; Prado, R. R.; Pueschel, E.; Quinn, J.; Ragan, K.; Reynolds, P. T.; Ribeiro, D.; Roache, E.; Ryan, J. L.; Santander, M.; Sembroski, G. H.; Shang, R.; Weinstein, A.; Williams, D. A.; Williamson, T. J.; Bartos, I.; Corley, K. R.; Márka, S.; Márka, Z.; Veske, D.
Academic Journal
IEEE Systems Journal Systems Journal, IEEE. 14(3):3836-3843 Sep, 2020
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[Author] Mukherjee R
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어