학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 159건 | 목록
30~40
Report
Schillaci, A.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Amiri, M.; Barkats, D.; Thakur, R. Basu; Bischoff, C. A.; Bock, J. J.; Boenish, H.; Bullock, E.; Buza, V.; Cheshire, J.; Connors, J.; Cornelison, J.; Crumrine, M.; Cukierman, A.; Dierickx, M.; Duband, L.; Fatigoni, S.; Filippini, J. P.; Hall, G.; Halpern, M.; Harrison, S.; Henderson, S.; Hildebrandt, S. R.; Hilton, G. C.; Hui, H.; Irwin, K. D.; Kang, J.; Karkare, K. S.; Karpel, E.; Kefeli, S.; Kovac, J. M.; Kuo, C. L.; Lau, K.; Megerian, K. G.; Moncelsi, L.; Namikawa, T.; Nguyen, H. T.; O'Brient, R.; Palladino, S.; Precup, N.; Prouvé, T.; Pryke, C.; Racine, B.; Reintsema, C. D.; Richter, S.; Schmitt, B.; Schwarz, R.; Sheehy, C. D.; Soliman, A.; Germaine, T. St.; Steinbach, B.; Sudiwala, R. V.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Turner, A. D.; Umiltà, C.; Vieregg, A. G.; Wandui, A.; Weber, A. C.; Wiebe, D. V.; Willmert, J.; Wu, W. L. K.; Yang, E.; Yoon, K. W.; Young, E.; Yu, C.; Zhang, C.
Report
Zhang, C.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Amiri, M.; Barkats, D.; Thakur, R. Basu; Bischoff, C. A.; Bock, J. J.; Boenish, H.; Bullock, E.; Buza, V.; Cheshire, J.; Connors, J.; Cornelison, J.; Crumrine, M.; Cukierman, A.; Dierickx, M.; Duband, L.; Fatigoni, S.; Filippini, J. P.; Hall, G.; Halpern, M.; Harrison, S.; Henderson, S.; Hildebrandt, S. R.; Hilton, G. C.; Hui, H.; Irwin, K. D.; Kang, J.; Karkare, K. S.; Karpel, E.; Kefeli, S.; Kovac, J. M.; Kuo, C. L.; Lau, K.; Megerian, K. G.; Moncelsi, L.; Namikawa, T.; Nguyen, H. T.; O'Brient, R.; Palladino, S.; Precup, N.; Prouvé, T.; Pryke, C.; Racine, B.; Reintsema, C. D.; Richter, S.; Schillaci, A.; Schmitt, B.; Schwarz, R.; Sheehy, C. D.; Soliman, A.; Germaine, T. St.; Steinbach, B.; Sudiwala, R. V.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Turner, A. D.; Umiltà, C.; Vieregg, A. G.; Wandui, A.; Weber, A. C.; Wiebe, D. V.; Willmert, J.; Wu, W. L. K.; Yang, E.; Yoon, K. W.; Young, E.; Yu, C.
Report
Collaboration, The BICEP/Keck; Germaine, T. St; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Amiri, M.; Barkats, D.; Thakur, R. Basu; Bischoff, C. A.; Bock, J. J.; Boenish, H.; Bullock, E.; Buza, V.; Cheshire, J.; Connors, J.; Cornelison, J.; Crumrine, M.; Cukierman, A.; Dierickx, M.; Duband, L.; Fatigoni, S.; Filippini, J. P.; Fliescher, S.; Grayson, J. A.; Hall, G.; Halpern, M.; Harrison, S.; Hildebrandt, S. R.; Hilton, G. C.; Hui, H.; Irwin, K. D.; Kang, J.; Karkare, K. S.; Karpel, E.; Kefeli, S.; Kernasovskiy, S. A.; Kovac, J. M.; Kuo, C. L.; Lau, K.; Leitch, E. M.; Megerian, K. G.; Moncelsi, L.; Namikawa, T.; Netterfield, C. B.; Nguyen, H. T.; O'Brient, R.; Ogburn IV, R. W.; Palladino, S.; Pryke, C.; Racine, B.; Reintsema, C. D.; Richter, S.; Schillaci, A.; Schwarz, R.; Sheehy, C. D.; Soliman, A.; Steinbach, B.; Sudiwala, R. V.; Thompson, K. L.; Tolan, J. E.; Tucker, C.; Turner, A. D.; Umilta, C.; Vieregg, A. G.; Wandui, A.; Weber, A. C.; Wiebe, D. V.; Willmert, J.; Wong, C. L.; Wu, W. L. K.; Yang, E.; Yoon, K. W.; Young, E.; Yu, C.; Zhang, C.
Broadband, millimeter-wave antireflection coatings for large-format, cryogenic aluminum oxide optics
Report
Nadolski, A.; Vieira, J. D.; Sobrin, J. A.; Kofman, A. M.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderson, A. J.; Avva, J. S.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bryant, L.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cheshire IV, J. R.; Chesmore, G. E.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Dierickx, M.; Ding, J.; Dutcher, D.; Everett, W.; Farwick, J.; Ferguson, K. R.; Florez, L.; Foster, A.; Fu, J.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Groh, J. C.; Guns, S.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Harris, R. J.; Henning, J. W.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O.; Jonas, M.; Jones, A.; Korman, M.; Kovac, J.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Lowitz, A. E.; McMahon, J.; Meier, J.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; sada, C. M. Po; Quan, W.; Rahlin, A.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Tandoi, C.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Applied Optics, Vol. 59, Issue 10, pp. 3285-3295 (2020)
Report
Avva, J. S.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderson, A. J.; Aylor, K.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bleem, L. E.; Bocquet, S.; Bryant, L.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Crawford, T. M.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dodelson, S.; Dutcher, D.; Everett, W.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Groh, J. C.; Guns, S.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Knox, L.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Raghunathan, S.; Rahlin, A.; Reichardt, C. L.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Wu, W. L. K.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Academic Journal
Anderson, A. J.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Avva, J. S.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cho, H.-M.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Ding, J.
Report
Cukierman, Ari; Ahmed, Zeeshan; Henderson, Shawn; Young, Edward; Yu, Cyndia; Barkats, Denis; Brown, David; Chaudhuri, Saptarshi; Cornelison, James; D'Ewart, John M.; Dierickx, Marion; Dober, Bradley J.; Dusatko, John; Fatigoni, Sofia; Filippini, Jeff P.; Frisch, Josef C.; Haller, Gunther; Halpern, Mark; Hilton, Gene C.; Hubmayr, Johannes; Irwin, Kent D.; Karkare, Kirit S.; Karpel, Ethan; Kernasovskiy, Sarah A.; Kovac, John M.; Kovacs, Attila; Kuenstner, Stephen E.; Kuo, Chao-Lin; Li, Dale; Mates, John A. B.; Smith, Stephen; Germaine, Tyler St.; Ullom, Joel N.; Vale, Leila R.; Van Winkle, Daniel D.; Vasquez, Jesus; Willmert, Justin; Zeng, Lingzhen; Ade, P. A. R.; Amiri, M.; Thakur, R. Basu; Bischoff, C. A.; Bock, J. J.; Boenish, H.; Bullock, E.; Buza, V.; Cheshire, J.; Connors, J.; Crumrine, M.; Duband, L.; Hall, G.; Harrison, S.; Hildebrandt, S. R.; Hui, H.; Kang, J.; Kefeli, S.; Lau, K.; Megerian, K. G.; Moncelsi, L.; Namikawa, T.; Nguyen, H. T.; O'Brient, R.; Palladino, S.; Pryke, C.; Racine, B.; Reintsema, C. D.; Richter, S.; Schillaci, A.; Schwarz, R.; Sheehy, C. D.; Soliman, A.; Steinbach, B.; Sudiwala, R. V.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Turner, A. D.; Umilta, C.; Vieregg, A. G.; Wandui, A.; Weber, A. C.; Wiebe, D. V.; Wu, W. L. K.; Yang, H.; Yoon, K. W.; Zhang, C.
Report
Anderson, A. J.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Avva, J. S.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cho, H. -M.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Fu, J.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Gilbert, A.; Groh, J. C.; Guns, S.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Rahlin, A.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Report
Bender, A. N.; Anderson, A. J.; Avva, J. S.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Benson, B. A.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cho, H. -M.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Fu, J.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Gilbert, A.; Groh, J. C.; Guns, S.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Rahlin, A.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Thakur, R. Basu
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어