학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 213건 | 목록
20~30
Academic Journal
Avasthi, A.; Monreal, B.; Bowyer, T.W.; Church, E.; Hayes, J.C.; Humble, P.H.; Orrell, J.L.; Saldanha, R.; Bray, C.; Leach, K.G.; Marino, A.; Brunner, T.; Catarineu, N.; Heffner, M.; Kim, S.H.; Pang, S.; Sangiorgio, S.; Visser, A.; Guenette, R.; Stanford, C.; Haselschwardt, S.J.; McKinsey, D.N.; Olcina, I.; Hertel, S.A.; Pocar, A.; Jamil, A.; Moore, D.C.; Lang, R.F.; Lenardo, B.G.; Lippincott, W.H.; Miller, E.H.; Mong, B.; Monzani, M.E.; Rowson, P.C.
In: Physical Review D . (Physical Review D, 1 December 2021, 104(11))
Academic Journal
Wagenpfeil, M.; Ziegler, T.; Schneider, J.; Michel, T.; Anton, G.; Fieguth, A.; Murra, M.; Schulte, D.; Althueser, L.; Huhmann, C.; Weinheimer, C.; Adhikari, G.; Yang, L.; Al kharusi, S.; Brunner, T.; Chambers, C.; Darroch, L.; Gingras, C.; Lan, Y.; Mcelroy, T.; Medina peregrina, M.; Murray, K.; Rasiwala, H.; Totev, T.; Angelico, E.; Gratta, G.; Hardy, C.A.; Jewell, M.; Li, G.; Wu, S.X.; Arnquist, I.J.; Di vacri, M.L.; Ferrara, S.; Gorham, A.; Harouaka, K.; Hoppe, E.W.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Overman, C.T.; Saldanha, R.; Spadoni, F.; Badhrees, I.; Chana, B.; Elbeltagi, M.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Viel, S.; Vivo-Vilches, C.; Bane, J.; Feyzbakhsh, S.; Kumar, K.S.; Pocar, A.; Beck, D.; Brodsky, J.P.; Echevers, J.; Li, S.; Tarka, M.; Thibado, S.; Belov, V.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.; Heffner, M.; House, A.; Sangiorgio, S.; Stiegler, T.; Bhatta, T.; Maclellan, R.; Bolotnikov, A.; Chiu, M.; Giacomini, G.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Worcester, M.; Breur, P.A.; Devoe, R.; Kaufman, L.J.; Mong, B.; Odian, A.; Rowson, P.C.; Brown, E.; Odgers, K.; Tidball, A.; Caden, E.; Cleveland, B.; Der mesrobian-Kabakian, A.; Farine, J.; Licciardi, C.; Robinson, A.; Walent, M.; Wichoski, U.; Cao, G.F.; Yan, W.; Charlebois, S.A.; Deslandes, K.; Martel-Dion, P.; Nolet, F.; Parent, S.; Pratte, J.-F.; Richard, C.; Rossignol, T.; Roy, N.; Vachon, F.; Chernyak, D.; Hughes, M.; Nusair, O.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Tsang, R.; Veeraraghavan, V.; Craycraft, A.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Iverson, A.; Todd, J.; Daniels, T.; De st. croix, A.; Gallina, G.; Krücken, R.; Massacret, N.; Reti re, F.; Dolinski, M.J.; Gautam, P.; Hansen, E.V.; Richman, M.; Soma, A.K.; Fabris, L.; Nattress, J.; Newby, R.J.; Jamil, A.; Li, Z.; Moore, D.C.; Xia, Q.; Larson, A.; Leach, K.G.; Natzke, C.R.; Ringuette, J.; Leonard, D.S.; Lindsay, R.; Nzobadila ondze, J.C.; Ramonnye, G.J.; Triambak, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, August 2021, 16(8))
Academic Journal
Jamil, A.; Ziegler, T.; Hufschmidt, P.; Li, G.; Lupin-Jimenez, L.; Michel, T.; Ostrovskiy, I.; Retiere, F.; Schneider, J.; Wagenpfeil, M.; Alamre, A.; Albert, J.B.; Anton, G.; Arnquist, I.J.; Badhrees, I.; Barbeau, P.S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Bourque, F.; Brodsky, J.P.; Brown, E.; Brunner, T.; Burenkov, A.; Cao, G.F.; Cao, L.; Cen, W.R.; Chambers, C.; Charlebois, S.A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Cote, M.; Craycraft, A.; Cree, W.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; Daugherty, S.J.; Daughhetee, J.; Delaquis, S.; Mesrobian-Kabakian, A.D.; DeVoe, R.; Dilling, J.; Ding, Y.Y.; Dolinski, M.J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Fudenberg, D.; Gallina, G.; Giacomini, G.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E.V.; Harris, D.; Hasan, M.; Heffner, M.; HoBl, J.; Hoppe, E.W.; House, A.; Hughes, M.; Ito, Y.; Iverson, A.; Jessiman, C.; Jewell, M.J.; Jiang, X.S.; Karelin, A.; Kaufman, L.J.; Koffas, T.; Kravitz, S.; Krucken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K.S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leonard, D.S.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lin, Y.H.; Lv, P.; MacLellan, R.; Mong, B.; Moore, D.C.; Murray, K.; Newby, R.J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Odian, A.; Oriunno, M.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Overman, C.T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J.; Qiu, D.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rao, T.; Rescia, S.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P.C.; Roy, N.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Schmidt, S.; Schubert, A.; Sinclair, D.; Skarpaas, K.; Soma, A.K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X.L.; Tarka, M.; Todd, J.; Tolba, T.; Totev, T.I.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veenstra, B.; Veeraraghavan, V.; Visser, G.; Vuilleumier, J.; Wang, Q.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wen, L.J.; Wichoski, U.; Wrede, G.; Wu, S.X.; Wu, W.H.; Xia, Q.; Yang, L.; Yen, Y.; Zeldovich, O.; Zhang, X.; Zhao, J.; Zhou, Y.
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 65(11):2823-2833 Nov, 2018
Academic Journal
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, February 2021, 16(2))
Academic Journal
Al Kharusi, S.; Brunner, T.; Chambers, C.; Darroch, L.; McElroy, T.; Murray, K.; Totev, T.I.; Anton, G.; Hoessl, J.; Hufschmidt, P.; Michel, T.; Schmidt, S.; Wagenpfeil, M.; Wrede, G.; Ziegler, T.; Badhrees, I.; Gornea, R.; Jessiman, C.; Koffas, T.; Sinclair, D.; Veenstra, B.; Watkins, J.; Barbeau, P.S.; Runge, J.; Beck, D.; Coon, M.; Echevers, J.; Li, S.; Belov, V.; Dolgolenko, A.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.Y.; Bhatta, T.; Larson, A.; MacLellan, R.; Breidenbach, M.; Davis, J.; Delaquis, S.; Johnson, A.; Kaufman, L.J.; Mong, B.; Odian, A.; Rowson, P.C.; Skarpaas, K.; Dilling, J.; Krücken, R.; Lan, Y.; Retière, F.; Cao, G.F.; Cen, W.R.; Tolba, T.; Wen, L.J.; Cleveland, B.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Farine, J.; Licciardi, C.; Robinson, A.L.; Wichoski, U.; Craycraft, A.; Fairbank, W.; Fairbank, D.; Iverson, A.; Todd, J.; Yahne, D.R.; Daniels, T.; Ruddell, D.; Daugherty, S.J.; Devoe, R.; Fudenberg, D.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Lenardo, B.G.; Li, G.S.; Weber, M.; Wu, S.X.; Dolinski, M.J.; Gautam, P.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Yen, Y.-R.; Feyzbakhsh, S.; Kumar, K.S.; Pocar, A.; Tarka, M.; Thibado, S.; Fierlinger, P.; Hall, C.; Hughes, M.; Nakarmi, P.; Nusair, O.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Soma, A.K.; Tsang, R.; Veeraraghavan, V.; Jamil, A.; Li, Z.; Moore, D.C.; Xia, Q.; Kostensalo, J.; Suhonen, J.; Leonard, D.S.; Njoya, O.; Vogel, P.; Vuilleumier, J.-L.; Yang, L.
In: Physical Review Letters . (Physical Review Letters, 12 June 2020, 124(23))
Academic Journal
Anton, G.; Hoessl, J.; Hufschmidt, P.; Michel, T.; Schmidt, S.; Wagenpfeil, M.; Wrede, G.; Ziegler, T.; Badhrees, I.; Gornea, R.; Jessiman, C.; Koffas, T.; Sinclair, D.; Veenstra, B.; Watkins, J.; Barbeau, P.S.; Runge, J.; Beck, D.; Coon, M.; Echevers, J.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Dolgolenko, A.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.Y.; Bhatta, T.; Larson, A.; Maclellan, R.; Breidenbach, M.; Davis, J.; Delaquis, S.; Johnson, A.; Kaufman, L.J.; Mong, B.; Odian, A.; Rowson, P.C.; Brunner, T.; Darroch, L.; Mcelroy, T.; Murray, K.; Totev, T.I.; Dilling, J.; Krücken, R.; Lan, Y.; Retière, F.; Cao, G.F.; Cen, W.R.; Tolba, T.; Wen, L.J.; Chambers, C.; Craycraft, A.; Fairbank, W.; Fairbank, D.; Iverson, A.; Todd, J.; Yahne, D.R.; Cleveland, B.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Farine, J.; Licciardi, C.; Robinson, A.L.; Wichoski, U.; Daniels, T.; Daugherty, S.J.; Devoe, R.; Fudenberg, D.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Lenardo, B.G.; Li, G.S.; Neilson, R.; Tosi, D.; Weber, M.; Wu, S.X.; Dolinski, M.J.; Gautam, P.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Yen, Y.-R.; Feyzbakhsh, S.; Pocar, A.; Tarka, M.; Fierlinger, P.; Hall, C.; Hughes, M.; Nusair, O.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Soma, A.K.; Veeraraghavan, V.; Jamil, A.; Li, Z.; Moore, D.C.; Xia, Q.; Kumar, K.S.; Njoya, O.; Leonard, D.S.; Vuilleumier, J.-L.
In: Physical Review C . (Physical Review C, June 2020, 101(6))
Academic Journal
Nakarmi, P.; Ostrovskiy, I.; Soma, A.K.; Hughes, M.; Nusair, O.; Piepke, A.; Veeraraghavan, V.; Retière, F.; Brunner, T.; Mamahit, S.B.; Croix, A.D.S.; Dilling, J.; Doria, L.; Edaltafar, F.; Gallina, G.; Gornea, R.; Krücken, R.; Lan, Y.; Massacret, N.; Ward, M.; Kharusi, S.Al.; Chambers, C.; Darroch, L.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Murray, K.; Totev, T.I.; Alfaris, M.; Blatchford, J.; Feyzbakhsh, S.; Kumar, K.S.; Pocar, A.; Tarka, M.; Anton, G.; Hößl, J.; Michel, T.; Wagenpfeil, M.; Ziegler, T.; Arnquist, I.J.; Vacri, M.L.D.; Ferrara, S.; Hoppe, E.W.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Overman, C.T.; Saldanha, R.; Tsang, R.; Badhrees, I.; Chana, B.; Elbeltagi, M.; Goeldi, D.; Koffas, T.; Viel, S.; Vivo-Vilches, C.; Watkins, J.; Barbeau, P.S.; Runge, J.; Beck, D.; Coon, M.; Echevers, J.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.; Bhatta, T.; Larson, A.; Maclellan, R.; Breur, P.A.; Dragone, A.; Kaufman, L.J.; Mong, B.; Odian, A.; Oriunno, M.; Rowson, P.C.; Viii, K.S.; Brodsky, J.P.; Heffner, M.; House, A.; Sangiorgio, S.; Stiegler, T.; Brown, E.; Fucarino, A.; Odgers, K.; Caden, E.; Cleveland, B.; Mesrobian-Kabakian, A.D.; Farine, J.; Licciardi, C.; Robinson, A.; Walent, M.; Wichoski, U.; Cao, G.F.; Ding, Y.Y.; Jiang, X.S.; Lv, P.; Ning, Z.; Sun, X.L.; Wei, W.; Wen, L.J.; Wu, W.H.; Zhao, J.; Cao, L.; Wang, Q.; Wu, X.; Yang, H.; Zhou, Y.; Charlebois, S.A.; Fontaine, R.; Nolet, F.; Parent, S.; Pratte, J.-F.; Rossignol, T.; Roy, N.; St-Hilaire, G.; Vachon, F.; Chiu, M.; Giacomini, G.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Tsang, T.; Craycraft, A.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Iverson, A.; Todd, J.; Wager, T.; Dalmasson, J.; Devoe, R.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Lenardo, B.G.; Li, G.; Weber, M.; Wu, S.X.; Daniels, T.; Visser, G.; Dolinski, M.J.; Gautam, P.; Hansen, E.V.; Richman, M.; Fabris, L.; Newby, R.J.; Jamil, A.; Li, Z.; Moore, D.C.; Xia, Q.; Leach, K.G.; Natzke, C.R.; Leonard, D.S.; Njoya, O.; Vuilleumier, J.-L.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 17 January 2020, 15(1))
Academic Journal
Anton, G.; Hoessl, J.; Hufschmidt, P.; Michel, T.; Schmidt, S.; Wagenpfeil, M.; Wrede, G.; Ziegler, T.; Badhrees, I.; Gornea, R.; Jessiman, C.; Koffas, T.; Sinclair, D.; Veenstra, B.; Watkins, J.; Barbeau, P.S.; Runge, J.; Beck, D.; Coon, M.; Echevers, J.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Danilov, M.; Dolgolenko, A.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.Y.; Bhatta, T.; Larson, A.; MacLellan, R.; Breidenbach, M.; Davis, J.; Delaquis, S.; Johnson, A.; Kaufman, L.J.; Mong, B.; Odian, A.; Rowson, P.C.; Brunner, T.; Darroch, L.; McElroy, T.; Murray, K.; Totev, T.I.; Dilling, J.; Krücken, R.; Lan, Y.; Retière, F.; Cao, G.F.; Cen, W.R.; Tolba, T.; Wen, L.J.; Chambers, C.; Craycraft, A.; Fairbank, W.; Fairbank, D.; Iverson, A.; Todd, J.; Yahne, D.R.; Cleveland, B.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Farine, J.; Licciardi, C.; Robinson, A.L.; Wichoski, U.; Daniels, T.; Ruddell, D.; Daugherty, S.J.; Devoe, R.; Fudenberg, D.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Lenardo, B.G.; Li, G.S.; Weber, M.; Wu, S.X.; Dolinski, M.J.; Gautam, P.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Yen, Y.-R.; Feyzbakhsh, S.; Pocar, A.; Tarka, M.; Fierlinger, P.; Hall, C.; Hughes, M.; Nusair, O.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Soma, A.K.; Veeraraghavan, V.; Jamil, A.; Li, Z.; Moore, D.C.; Xia, Q.; Kumar, K.S.; Njoya, O.; Leonard, D.S.; Vogel, P.; Vuilleumier, J.-L.
In: Physical Review Letters . (Physical Review Letters, 18 October 2019, 123(16))
Academic Journal
Gallina, G.; Giampa, P.; Retière, F.; Kroeger, J.; Zhang, G.; Ward, M.; Margetak, P.; Doria, L.; Brunner, T.; De St. Croix, A.; Dilling, J.; Gornea, R.; Krücken, R.; Lan, Y.; Li, G.; Dalmasson, J.; DeVoe, R.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Lenardo, B.G.; Weber, M.; Wu, S.X.; Tsang, T.; Chiu, M.; Giacomini, G.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Al Kharusi, S.; Darroch, L.; Ito, Y.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Murray, K.; Totev, T.I.; Alfaris, M.; Blatchford, J.; Feyzbakhsh, S.; Kodroff, D.; Pocar, A.; Tarka, M.; Anton, G.; Hößl, J.; Michel, T.; Wagenpfeil, M.; Ziegler, T.; Arnquist, I.J.; Hoppe, E.W.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Overman, C.T.; Saldanha, R.; Tsang, R.; Badhrees, I.; Elbeltagi, M.; Koffas, T.; Watkins, J.; Barbeau, P.S.; Beck, D.; Coon, M.; Echevers, J.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.; Bhatta, T.; Larson, A.; MacLellan, R.; Brodsky, J.P.; Heffner, M.; House, A.; Sangiorgio, S.; Stiegler, T.; Brown, E.; Odgers, K.; Cao, G.F.; Cen, W.R.; Ding, Y.Y.; Jiang, X.S.; Lv, P.; Ning, Z.; Sun, X.L.; Tolba, T.; Wei, W.; Wen, L.J.; Wu, W.H.; Zhao, J.; Cao, L.; Qiu, D.; Wang, Q.; Wu, X.; Yang, H.; Zhou, Y.; Chambers, C.; Craycraft, A.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Iverson, A.; Todd, J.; Charlebois, S.A.; Fontaine, R.; Nolet, F.; Parent, S.; Pratte, J.-F.; Rossignol, T.; Roy, N.; St-Hilaire, G.; Vachon, F.; Cleveland, B.; Der Mesrobian-Kabakian, A.; Farine, J.; Licciardi, C.; Robinson, A.; Walent, M.; Wichoski, U.; Daniels, T.; Daugherty, S.J.; Kaufman, L.J.; Visser, G.; Dolinski, M.J.; Gautam, P.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Richman, M.; Yen, Y.-R.; Dragone, A.; Mong, B.; Odian, A.; Oriunno, M.; Rowson, P.C.; Skarpaas, K.; Fabris, L.; Newby, R.J.; Hughes, M.; Nakarmi, P.; Nusair, O.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Soma, A.K.; Veeraraghavan, V.; Jamil, A.; Li, Z.; Moore, D.C.; Xia, Q.; Kumar, K.S.; Njoya, O.; Leonard, D.S.; Vuilleumier, J.-L.
In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment . (Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 1 October 2019, 940:371-379)
Academic Journal
Li, Z.; Moore, D.C.; Jamil, A.; Xia, Q.; Cen, W.R.; Wen, L.J.; Cao, G.F.; Ding, Y.Y.; Jiang, X.S.; Lv, P.; Ning, Z.; Sun, X.L.; Tolba, T.; Wei, W.; Wu, W.H.; Zhao, J.; Robinson, A.; Caden, E.; Cleveland, B.; Mesrobian-Kabakian, A.D.; Farine, J.; Licciardi, C.; Walent, M.; Wichoski, U.; Odian, A.; Dragone, A.; Kaufman, L.J.; Mong, B.; Oriunno, M.; Rowson, P.C.; Viii, K.S.; Kharusi, S.A.; Brunner, T.; Darroch, L.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Murray, K.; Totev, T.I.; Anton, G.; Hößl, J.; Michel, T.; Wagenpfeil, M.; Ziegler, T.; Arnquist, I.J.; Vacri, M.L.D.; Ferrara, S.; Hoppe, E.W.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Overman, C.T.; Saldanha, R.; Tsang, R.; Badhrees, I.; Chana, B.; Elbeltagi, M.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Koffas, T.; Viel, S.; Vivo-Vilches, C.; Watkins, J.; Barbeau, P.S.; Runge, J.; Beck, D.; Coon, M.; Echevers, J.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.; Bhatta, T.; Larson, A.; Maclellan, R.; Brodsky, J.P.; Heffner, M.; House, A.; Sangiorgio, S.; Stiegler, T.; Brown, E.; Fucarino, A.; Odgers, K.; Croix, A.D.S.; Dilling, J.; Gallina, G.; Krücken, R.; Lan, Y.; Retière, F.; Ward, M.; Cao, L.; Wang, Q.; Wu, X.; Yang, H.; Zhou, Y.; Chambers, C.; Craycraft, A.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Iverson, A.; Todd, J.; Charlebois, S.A.; Fontaine, R.; Nolet, F.; Parent, S.; Pratte, J.-F.; Rossignol, T.; Roy, N.; St-Hilaire, G.; Vachon, F.; Chiu, M.; Giacomini, G.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Tsang, T.; Dalmasson, J.; Devoe, R.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Lenardo, B.G.; Li, G.; Weber, M.; Wu, S.X.; Daniels, T.; Daugherty, S.J.; Visser, G.; Dolinski, M.J.; Gautam, P.; Hansen, E.V.; Lin, Y.H.; Richman, M.; Yen, Y.-R.; Fabris, L.; Newby, R.J.; Feyzbakhsh, S.; Kodroff, D.; Pocar, A.; Hughes, M.; Nakarmi, P.; Nusair, O.; Ostrovskiy, I.; Piepke, A.; Soma, A.K.; Veeraraghavan, V.; Kumar, K.S.; Njoya, O.; Tarka, M.; Leach, K.G.; Natzke, C.R.; Leonard, D.S.; Vuilleumier, J.-L.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 24 September 2019, 14(9))
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Rowson, P.C.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어