학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 417건 | 목록
20~30
Academic Journal
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 20(2):295-307 Jun, 2020
Academic Journal
IEEE Transactions on Information Forensics and Security IEEE Trans.Inform.Forensic Secur. Information Forensics and Security, IEEE Transactions on. 15:3497-3510 2020
Academic Journal
IEEE Transactions on Information Forensics and Security IEEE Trans.Inform.Forensic Secur. Information Forensics and Security, IEEE Transactions on. 14(10):2720-2734 Oct, 2019
Report
Khalek, R. Abdul; Accardi, A.; Adam, J.; Adamiak, D.; Akers, W.; Albaladejo, M.; Al-bataineh, A.; Alexeev, M. G.; Ameli, F.; Antonioli, P.; Armesto, N.; Armstrong, W. R.; Arratia, M.; Arrington, J.; Asaturyan, A.; Asai, M.; Aschenauer, E. C.; Aune, S.; Avagyan, H.; Gayoso, C. Ayerbe; Azmoun, B.; Bacchetta, A.; Baker, M. D.; Barbosa, F.; Barion, L.; Barish, K. N.; Barry, P. C.; Battaglieri, M.; Bazilevsky, A.; Behera, N. K.; Benmokhtar, F.; Berdnikov, V. V.; Bernauer, J. C.; Bertone, V.; Bhattacharya, S.; Bissolotti, C.; Boer, D.; Boglione, M.; Bondì, M.; Boora, P.; Borsa, I.; Bossù, F.; Bozzi, G.; Brandenburg, J. D.; Brei, N.; Bressan, A.; Brooks, W. K.; Bufalino, S.; Bukhari, M. H. S.; Burkert, V.; Buttimore, N. H.; Camsonne, A.; Celentano, A.; Celiberto, F. G.; Chang, W.; Chatterjee, C.; Chen, K.; Chetry, T.; Chiarusi, T.; Chien, Y. -T.; Chiosso, M.; Chu, X.; Chudakov, E.; Cicala, G.; Cisbani, E.; Cloet, I. C.; Cocuzza, C.; Cole, P. L.; Colella, D.; Collins II, J. L.; Constantinou, M.; Contalbrigo, M.; Contin, G.; Corliss, R.; Cosyn, W.; Courtoy, A.; Crafts, J.; Cruz-Torres, R.; Cuevas, R. C.; D'Alesio, U.; Torre, S. Dalla; Das, D.; Dasgupta, S. S.; Da Silva, C.; Deconinck, W.; Defurne, M.; DeGraw, W.; Dehmelt, K.; Del Dotto, A.; Delcarro, F.; Deshpande, A.; Detmold, W.; De Vita, R.; Diefenthaler, M.; Dilks, C.; Dixit, D. U.; Dulat, S.; Dumitru, A.; Dupré, R.; Durham, J. M.; Echevarria, M. G.; Fassi, L. El; Elia, D.; Ent, R.; Esha, R.; Ethier, J. J.; Evdokimov, O.; Eyser, K. O.; Fanelli, C.; Fatemi, R.; Fazio, S.; Fernandez-Ramirez, C.; Finger, M.; Finger Jr., M.; Fitzgerald, D.; Flore, C.; Frederico, T.; Friščić, I.; Fucini, S.; Furletov, S.; Furletova, Y.; Gal, C.; Gamberg, L.; Gao, H.; Garg, P.; Gaskell, D.; Gates, K.; Ducati, M. B. Gay; Gericke, M.; da Silveira, G. Gil; Girod, F. -X.; Glazier, D. I.; Gnanvo, K.; Goncalves, V. P.; Gonella, L.; Hernandez, J. O. Gonzalez; Goto, Y.; Grancagnolo, F.; Greiner, L. C.; Guryn, W.; Guzey, V.; Hatta, Y.; Hattawy, M.; Hauenstein, F.; He, X.; Hemmick, T. K.; Hen, O.; Heyes, G.; Higinbotham, D. W.; Blin, A. N. Hiller; Hobbs, T. J.; Hohlmann, M.; Horn, T.; Hou, T. -J.; Huang, J.; Huang, Q.; Huber, G. M.; Hyde, C. E.; Iakovidis, G.; Ilieva, Y.; Jacak, B. V.; Jacobs, P. M.; Jadhav, M.; Janoska, Z.; Jentsch, A.; Jezo, T.; Jing, X.; Jones, P. G.; Joo, K.; Joosten, S.; Kafka, V.; Kalantarians, N.; Kalicy, G.; Kang, D.; Kang, Z. B.; Kauder, K.; Kay, S. J. D.; Keppel, C. E.; Kim, J.; Kiselev, A.; Klasen, M.; Klein, S.; Klest, H. T.; Korchak, O.; Kostina, A.; Kotko, P.; Kovchegov, Y. V.; Krelina, M.; Kuleshov, S.; Kumano, S.; Kumar, K. S.; Kumar, R.; Kumar, L.; Kumerički, K.; Kusina, A.; Kutak, K.; Lai, Y. S.; Lalwani, K.; Lappi, T.; Lauret, J.; Lavinsky, M.; Lawrence, D.; Lednicky, D.; Lee, C.; Lee, K.; Lee, S. H.; Levorato, S.; Li, H.; Li, S.; Li, W.; Li, X.; Li, W. B.; Ligonzo, T.; Liu, H.; Liu, M. X.; Liu, X.; Liuti, S.; Liyanage, N.; Lorcé, C.; Lu, Z.; Lucero, G.; Lukow, N. S.; Lunghi, E.; Majka, R.; Makris, Y.; Mandjavidze, I.; Mantry, S.; Mäntysaari, H.; Marhauser, F.; Markowitz, P.; Marsicano, L.; Mastroserio, A.; Mathieu, V.; Mehtar-Tani, Y.; Melnitchouk, W.; Mendez, L.; Metz, A.; Meziani, Z. -E.; Mezrag, C.; Mihovilovič, M.; Milner, R.; Mirazita, M.; Mkrtchyan, H.; Mkrtchyan, A.; Mochalov, V.; Moiseev, V.; Mondal, M. M.; Morreale, A.; Morrison, D.; Motyka, L.; Moutarde, H.; Camacho, C. Muñoz; Murgia, F.; Murray, M. J.; Musico, P.; Nadel-Turonski, P.; Nadolsky, P. M.; Nam, J.; Newman, P. R.; Neyret, D.; Nguyen, D.; Nocera, E. R.; Noferini, F.; Noto, F.; Nunes, A. S.; Okorokov, V. A.; Olness, F.; Osborn, J. D.; Page, B. S.; Park, S.; Parker, A.; Paschke, K.; Pasquini, B.; Paukkunen, H.; Paul, S.; Pecar, C.; Pegg, I. L.; Pellegrino, C.; Peng, C.; Pentchev, L.; Perrino, R.; Petriello, F.; Petti, R.; Pilloni, A.; Pinkenburg, C.; Pire, B.; Pisano, C.; Pitonyak, D.; Poblaguev, A. A.; Polakovic, T.; Posik, M.; Potekhin, M.; Preghenella, R.; Preins, S.; Prokudin, A.; Pujahari, P.; Purschke, M. L.; Pybus, J. R.; Radici, M.; Rajput-Ghoshal, R.; Reimer, P. E.; Rinaldi, M.; Ringer, F.; Roberts, C. D.; Rodini, S.; Rojo, J.; Romanov, D.; Rossi, P.; Santopinto, E.; Sarsour, M.; Sassot, R.; Sato, N.; Schenke, B.; Schmidke, W. B.; Schmidt, I.; Schmidt, A.; Schmookler, B.; Schnell, G.; Schweitzer, P.; Schwiening, J.; Scimemi, I.; Scopetta, S.; Segovia, J.; Seidl, R.; Sekula, S.; Semenov-Tian-Shanskiy, K.; Shao, D. Y.; Sherrill, N.; Sichtermann, E.; Siddikov, M.; Signori, A.; Singh, B. K.; Širca, S.; Slifer, K.; Slominski, W.; Sokhan, D.; Sondheim, W. E.; Song, Y.; Soto, O.; Spiesberger, H.; Stasto, A. M.; Stepanov, P.; Sterman, G.; Stevens, J. R.; Stewart, I. W.; Strakovsky, I.; Strikman, M.; Sturm, M.; Stutzman, M. L.; Sullivan, M.; Surrow, B.; Svihra, P.; Syritsyn, S.; Szczepaniak, A.; Sznajder, P.; Szumila-Vance, H.; Szymanowski, L.; Tadepalli, A. S.; Takaki, J. D. Tapia; Tassielli, G. F.; Terry, J.; Tessarotto, F.; Tezgin, K.; Tomasek, L.; Acosta, F. Torales; Tribedy, P.; Tricoli, A.; Triloki; Tripathi, S.; Trotta, R. L.; Tsai, O. D.; Tu, Z.; Tuvè, C.; Ullrich, T.; Ungaro, M.; Urciuoli, G. M.; Valentini, A.; Vancura, P.; Vandenbroucke, M.; Van Hulse, C.; Varner, G.; Venugopalan, R.; Vitev, I.; Vladimirov, A.; Volpe, G.; Vossen, A.; Voutier, E.; Wagner, J.; Wallon, S.; Wang, H.; Wang, Q.; Wang, X.; Wei, S. Y.; Weiss, C.; Wenaus, T.; Wennlöf, H.; Wickramaarachchi, N.; Wikramanayake, A.; Winney, D.; Wong, C. P.; Woody, C.; Xia, L.; Xiao, B. W.; Xie, J.; Xing, H.; Xu, Q. H.; Zhang, J.; Zhang, S.; Zhang, Z.; Zhao, Z. W.; Zhao, Y. X.; Zheng, L.; Zhou, Y.; Zurita, P.
Nucl. Phys. A 1026 (2022) 122447
Academic Journal
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems IEEE Trans. VLSI Syst. Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on. 25(4):1506-1519 Apr, 2017
Academic Journal
In: Science Advances . (Science Advances, April 2022, 8(18))
Conference
In: IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest , 2024 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium, IMS 2024. (IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest, 2024, :62-65)
Conference
In: Proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium , Proceedings - 2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium, VTS 2024. (Proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium, 2024)
Academic Journal
IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 33(3):91-102 Jun, 2016
Academic Journal
In: Journal of High Energy Physics . (Journal of High Energy Physics, March 2022, 2022(3))
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Makris, Y.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어