학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 74건 | 목록
20~30
Periodical
Evans, Christopher J.; Bryant, Julia J.; Motohara, Kentaro; Marconi, A.; Abreu, M.; Adibekyan, V.; Alberti, V.; Albrecht, S.; Alcaniz, J.; Aliverti, M.; Allende Prieto, C.; Alvarado Gómez, J. D.; Amado, P. J.; Amate, M.; Andersen, M. I.; Artigau, E.; Baker, C.; Baldini, V.; Balestra, A.; Barnes, S. A.; Baron, F.; Barros, S. C. C.; Bauer, S. M.; Beaulieu, M.; Bellido-Tirado, O.; Benneke, B.; Bensby, T.; Bergin, E. A.; Biazzo, K.; Bik, A.; Birkby, J. L.; Blind, N.; Boisse, I.; Bolmont, E.; Bonaglia, M.; Bonfils, X.; Borsa, F.; Brandeker, A.; Brandner, W.; Broeg, C. H.; Brogi, M.; Brousseau, D.; Brucalassi, A.; Brynnel, J.; Buchhave, L. A.; Buscher, D. F.; Cabral, A.; Calderone, G.; Calvo-Ortega, R.; Canto Martins, B. L.; Cantalloube, F.; Carbonaro, L.; Chauvin, G.; Chazelas, B.; Cheffot, A.-L.; Cheng, Y. S.; Chiavassa, A.; Christensen, L.; Cirami, R.; Cook, N. J.; Cooke, R. J.; Coretti, I.; Covino, S.; Cowan, N.; Cresci, G.; Cristiani, S.; Cunha Parro, V.; Cupani, G.; D'Odorico, V.; de Castro Leão, I.; De Cia, A.; De Medeiros, J. R.; Debras, F.; Debus, M.; Demangeon, O.; Dessauges-Zavadsky, M.; Di Marcantonio, P.; Dionies, F.; Doyon, R.; Dunn, J.; Ehrenreich, D.; Faria, J. P.; Feruglio, C.; Fisher, M.; Fontana, A.; Fumagalli, M.; Fusco, T.; Fynbo, J.; Gabella, O.; Gaessler, W.; Gallo, E.; Gao, X.; Genolet, L.; Genoni, M.; Giacobbe, P.; Giro, E.; Gonçalves, R. S.; Gonzalez, O.; González Hernández, J. I.; Gracia Témich, F.; Haehnelt, M. G.; Haniff, C.; Hatzes, A.; Helled, R.; Hoeijmakers, H.J.; Huke, P.; Järvinen, S.; Järvinen, A.; Kaminski, A.; Korn, A.; Kouach, D.; Kowzan, G.; Kreidberg, L.; Landoni, M.; Lanotte, A.; Lavail, A.; Li, J.; Liske, J.; Lovis, C.; Lucatello, S.; Lunney, D.; MacIntosh, M.; Madhusudhan, N.; Magrini, L.; Maiolino, R.; Malo, L.; Man, A.; Marquart, T.; Marques, E. L.; Martins, A. M.; Martins, C. J. A. P.; Maslowski, P.; Mason, C.; Mason, E.; McCracken, R. A.; Mergo, P.; Micela, G.; Mitchell, T.; Mollière, P.; Monteiro, M.; Montgomery, D.; Mordasini, C.; Morin, J.; Mucciarelli, A.; Murphy, M. T.; N'Diaye, M.; Neichel, B.; Niedzielski, A. T.; Niemczura, E.; Nortmann, L.; Noterdaeme, P.; Nunes, N.; Oggioni, L.; Oliva, E.; Önel, H.; Origlia, L.; Östlin, G.; Palle, E.; Papaderos, P.; Pariani, G.; Peñate Castro, J.; Pepe, F.; Perreault Levasseur, L.; Petit, P.; Pino, L.; Piqueras, J.; Pollo, A.; Poppenhaeger, K.; Quirrenbach, A.; Rauscher, E.; Rebolo, R.; Redaelli, E. M. A.; Reffert, S.; Reid, D. T.; Reiners, A.; Richter, P.; Riva, M.; Rivoire, S.; Rodríguez-López, C.; Roederer, I. U.; Romano, D.; Rousseau, S.; Rowe, J.; Salvadori, S.; Santos, N.; Santos Diaz, P.; Sanz-Forcada, J.; Sarajlic, M.; Sauvage, J.-F.; Schäfer, S.; Schiavon, R. P.; Schmidt, T. M.; Selmi, C.; Sivanandam, S.; Sordet, M.; Sordo, R.; Sortino, F.; Sosnowska, D.; Sousa, S. G.; Stempels, E.; Strassmeier, K. G.; Suárez Mascareño, A.; Sulich, A.; Sun, X.; Tanvir, N.R.; Tenegi-Sanginés, F.; Thibault, S.; Thompson, S. J.; Tozzi, A.; Turbet, M.; Vallée, P.; Varas, R.; Venn, K.; Véran, J.-P.; Verma, A.; Viel, M.; Wade, G.; Waring, C.; Weber, M.; Weder, J.; Wehbe, B.; Weingrill, J.; Woche, M.; Xompero, M.; Zackrisson, E.; Zanutta, A.; Zapatero Osorio, M. R.; Zechmeister, M.; Zimara, J.
Proceedings of SPIE; August 2022, Vol. 12184 Issue: 1 p1218424-1218424-16
Conference
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Poster Previews: SPIE Astronomical Telescopes and Instrumentation 2016. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 29 July 2018, 10015)
Conference
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Optical and Infrared Interferometry and Imaging VI. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10701)
Conference
Monnier, J.D.; Reynolds, M.; Ireland, M.; Wallace, A.; Kraus, S.; Alonso-Herrero, A.; Bonsor, A.; Haniff, C.; Ilee, J.; Juhasz, A.; Kral, Q.; Meru, F.; Young, J.; Baron, F.; Ten Brummelaar, T.; Bayo, A.; Olofsson, J.; Schreiber, M.; Zúñiga-Fernández, S.; Berger, J.-P.; Duchêne, G.; Le Bouquin, J.-B.; Boyajian, T.; Chiavassa, A.; Millour, F.; Morbidelli, A.; Petrov, R.; Ciardi, D.; Creech-Eakman, M.; De Wit, W.-J.; Gallenne, A.; Paladini, C.; Tristram, K.; Defrère, D.; Surdej, J.; Dong, R.; Kratter, K.; Espaillat, C.; Gandhi, P.; Hoenig, S.; Gonzalez, J.-F.; Isella, A.; Jensen, E.; Kane, S.; Kishimoto, M.; Kley, W.; Labadie, L.; Lacour, S.; Laughlin, G.; Michael, E.; Millan-Gabet, R.; Minardi, S.; Mordasini, C.; Morlok, A.; Mozurkewich, D.; Nelson, R.; Oudmaijer, R.; Panic, O.; Packham, C.; Pope, B.; Pott, J.-U.; Quiroga-Nunez, L.H.; Ramos Almeida, C.; Raymond, S.N.; Regaly, Z.; Ridgway, S.; Rinehart, S.; Smith, M.; Stassun, K.; Turner, N.; Vasisht, G.; Tuthill, P.; Van Belle, G.; Weigelt, G.; Wishnow, E.; Wittkowski, M.; Wolf, S.; Zhao, M.; Zhu, Z.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Optical and Infrared Interferometry and Imaging VI. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10701)
Conference
Taylor, W.; Evans, C.; Atkinson, D.; Barrett, J.; Beard, S.; Black, M.; Brierley, S.; Cochrane, W.; Davidson, G.; Fairley, A.; Gonzalez, O.; Lee, D.; MacLeod, A.; Nix, J.; Rees, P.; Strachan, J.; Tait, G.; Waring, C.; Watson, S.; Woodward, B.; Cirasuolo, M.; Conzelmann, R.; Gutierrez, P.; Hammersley, P.; Ives, D.; Iwert, O.; Mainieri, V.; Tulloch, S.; Afonso, J.; Abreu, M.; Cabral, A.; Coelho, J.; Oliveira, A.; Santos, P.; Carollo, M.; Flores, H.; Amans, J.-P.; Fasola, G.; Gaudemard, J.; Guinouard, I.; Haigron, R.; Laporte, P.; Melse, B.-T.; Reix, F.; Rodrigues, M.; Royer, F.; Yang, Y.; Maiolino, R.; Buscher, D.; Fisher, M.; Haniff, C.; Sun, X.; Ferruzzi, D.; Oliva, E.; Tozzi, A.; Paltani, S.; Maire, C.; Schnell, R.; Sordet, M.; Vanzi, L.; Béchet, C.; Boettger, D.; Dauvin, L.; Drass, H.; Dünner, R.; Flores, M.; Luco, Y.; Rojas, F.; Torres, M.; Navarro, Á.V.; Colling, M.; Dalessio, F.; Li Causi, G.; Pedichini, F.; Piazzesi, R.; Garilli, B.; Rota, S.; Hayati, M.; Origlia, L.; Parry, I.; Shen, T.-C.; Von Dran, L.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Ground-based and Airborne Instrumentation for Astronomy VII. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10702)
Periodical
Astronomy and Astrophysics; January 2009, Vol. 503 Issue: 1 p265-279, 15p
Academic Journal
In: Virology . (Virology, 15 January 1986, 148(1):218-220)
Conference
Danchi, W.; Rieke, G.; Roberge, A.; Stapelfeldt, K.; Bailey, V.; Defrère, D.; Ertel, S.; Millan-Gabet, R.; Skemer, A.; Vaz, A.; Bryden, G.; Kennedy, G.; Serabyn, E.; Haniff, C.; Hinz, P.; Wyatt, M.; Mennesson, B.; Weinberger, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Optical and Infrared Interferometry and Imaging V. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2016, 9907)
Conference
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Optical and Infrared Interferometry and Imaging V. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2016, 9907)
Conference
Kraus, S.; Harries, T.J.; Bate, M.R.; Pierens, A.; Jensen, E.L.N.; Bayo, A.; Millan-Gabet, R.; Chiavassa, A.; Surdej, J.; Buscher, D.; Lacour, S.; Petrov, R.; Tuthill, P.; Armitage, P.; Benisty, M.; Paardekooper, S.-J.; Pinte, C.; Masset, F.; Rosotti, G.; Monnier, J.D.; Ireland, M.J.; Duchêne, G.; Espaillat, C.; Hönig, S.; Juhasz, A.; Mordasini, C.; Olofsson, J.; Panic, O.; Meru, F.; Ilee, J.; Kral, Q.; Bonsor, A.; Paladini, C.; Stassun, K.; Turner, N.; Vasisht, G.; Gonzalez, J.-F.; Morbidelli, A.; Matter, A.; Zhu, Z.; Regaly, Z.; Wolf, S.; Berger, J.-P.; Zhao, M.; Morlok, A.; Ciardi, D.; Kane, S.R.; Kratter, K.; Laughlin, G.; Pepper, J.; Raymond, S.; Labadie, L.; Nelson, R.P.; Weigelt, G.; Ten Brummelaar, T.; Oudmaijer, R.; Kley, W.; Pope, B.; Smith, M.; Boyajian, T.; Quiroga-Nuñez, L.H.; Gallenne, A.; Reynolds, M.; De Wit, W.-J.; Wittkowski, M.; Millour, F.; Gandhi, P.; Ramos Almeida, C.; Alonso Herrero, A.; Packham, C.; Kishimoto, M.; Tristram, K.R.W.; Pott, J.-U.; Haniff, C.; Ridgway, S.; Van Belle, G.; Baruteau, C.; Bitsch, B.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Optical and Infrared Interferometry and Imaging V. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2016, 9907)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Haniff, C.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어