학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 433건 | 목록
190~200
Periodical
Microelectronics Reliability; August-October 2000, Vol. 40 p1317-1322, 6p
Academic Journal
In: Thin Solid Films . (Thin Solid Films, 16 August 1985, 130(1-2):37-45)
Academic Journal
Alunni Solestizi, L.; Amoruso, R.; Biasini, M.; Bocci, V.; Campeggi, C.; Capotosti, A.; Collamati, F.; Faccini, R.; Kanxheri, K.; Mancini Terracciano, C.; Mantini, S.; Marafini, M.; Meddi, F.; Movileanu Ionica, M.; Morganti, S.; Mirabelli, R.; Placidi, P.; Scorzoni, A.; Camillocci, E. Solfaroli; Servoli, L.
Academic Journal
Hügging, F.; Janssen, J.; Wermes, N.; Bellini, V.; Potenza, R.; Sutera, C.; Tuve, C.; Alexopoulos, A.; Bartosik, M.; Cerv, M.; Dabrowski, A.; Dünser, M.; Gastal, M.; Guthoff, M.; Hofmann, T.; Jansen, H.; Pernegger, H.; Roe, S.; Schaefer, D.; Weiss, C.; Wengler, T.; Frais-Kölbl, H.; Bruzzi, M.; D'Alessandro, R.; Lagomarsino, S.; Scaringella, M.; Sciortino, S.; Uplegger, L.; Berdermann, E.; Kis, M.; Schmidt, C.J.; Traeger, M.; Eremin, V.; Brom, J.-M.; Claus, G.; Goffe, M.; Hosslet, J.; Maazouzi, C.; Mathieu, C.; Golubev, A.; Grigoriev, E.; Kuleshov, S.; Cindro, V.; Gorišek, A.; Hiti, B.; Kramberger, G.; Mandic, I.; Mikuž, M.; Muškinja, M.; Zavrtanik, M.; De Boer, W.; Kassel, F.; Bergonzo, P.; Pomorski, M.; Tromson, D.; Belyaev, V.; Beacham, J.; Gan, K.K.; Gui, B.; Kagan, H.; Kass, R.; Konovalov, V.; Moss, J.; Smith, S.; Tannenwald, B.; Schnetzer, S.; Stone, R.; Forneris, J.; Giudice, A.L.; Oliviero, P.; Picollo, F.; Re, A.; Vittone, E.; Trischuk, W.; Venturi, N.; Giroletti, C.; Goldstein, J.; Hutton, C.; Velthuis, J.; Chren, D.; Sopko, B.; Sopko, V.; Bentele, B.; Cumalat, J.; Stenson, K.; Wagner, S.; Artuso, M.; Mountain, R.; Wang, J.C.; Grummer, A.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S.; Taylor, A.; Forcolin, G.; Haughton, I.; Murphy, S.; Oh, A.; Beck, H.; Grosse-Knetter, J.; Quadt, A.; Weingarten, J.; Bäni, L.; Bachmair, F.; Dorfer, C.; Hits, D.; Kasieczka, G.; Reichmann, M.; Sanz, D.; Wallny, R.; Eusebi, R.; Lukosi, E.; Riley, G.; Spanier, S.; Chiodini, G.; Perrino, R.; Spagnolo, S.; Bes, A.; Collot, J.; Dauvergne, D.; Gallin-Martel, L.; Gallin-Martel, M.L.; Hostachy, J.-Y.; Lacoste, A.; Yamouni, M.; Kanxheri, K.; Menichelli, M.; Morozzi, A.; Passeri, D.; Scorzoni, A.; Servoli, L.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, January 2018, 13(1))
Conference
Costantini, F.; Petrucci, G.; Lovecchio, N.; Nardecchia, M.; Di Fiore, V.; De Cesare, G.; Nascetti, A.; Caputo, D.; Ruggi, A.; Tedeschi, L.; Domenici, C.; Placidi, P.; Scorzoni, A.
In: Proceedings - 2017 7th International Workshop on Advances in Sensors and Interfaces, IWASI 2017 , Proceedings - 2017 7th International Workshop on Advances in Sensors and Interfaces, IWASI 2017. (Proceedings - 2017 7th International Workshop on Advances in Sensors and Interfaces, IWASI 2017, 10 July 2017, :241-245)
Conference
In: PRIME 2017 - 13th Conference on PhD Research in Microelectronics and Electronics, Proceedings , PRIME 2017 - 13th Conference on PhD Research in Microelectronics and Electronics, Proceedings. (PRIME 2017 - 13th Conference on PhD Research in Microelectronics and Electronics, Proceedings, 10 July 2017, :201-204)
Conference
Hügging, F.; Janssen, J.; Wermes, N.; Bellini, V.; Potenza, R.; Sutera, C.; Tuve, C.; Alexopoulos, A.; Bartosik, M.; Cerv, M.; Dabrowski, A.; Dünser, M.; Gastal, M.; Guthoff, M.; Hofmann, T.; Jansen, H.; Pernegger, H.; Roe, S.; Schaefer, D.; Weiss, C.; Wengler, T.; Frais-Kölbl, H.; Bruzzi, M.; D’Alessandro, R.; Lagomarsino, S.; Scaringella, M.; Sciortino, S.; Uplegger, L.; Berdermann, E.; Kis, M.; Schmidt, C.J.; Traeger, M.; Eremin, V.; Brom, J.-M.; Claus, G.; Goffe, M.; Hosslet, J.; Maazouzi, C.; Mathieu, C.; Golubev, A.; Grigoriev, E.; Kuleshov, S.; Cindro, V.; Gorišek, A.; Hiti, B.; Kramberger, G.; Mandic, I.; Mikuž, M.; Muškinja, M.; Zavrtanik, M.; De Boer, W.; Kassel, F.; Bergonzo, P.; Pomorski, M.; Tromson, D.; Belyaev, V.; Beacham, J.; Gan, K.K.; Gui, B.; Kagan, H.; Kass, R.; Konovalov, V.; Moss, J.; Smith, S.; Tannenwald, B.; Schnetzer, S.; Stone, R.; Forneris, J.; Lo Giudice, A.; Oliviero, P.; Picollo, F.; Re, A.; Vittone, E.; Trischuk, W.; Venturi, N.; Giroletti, C.; Goldstein, J.; Hutton, C.; Velthuis, J.; Chren, D.; Sopko, B.; Sopko, V.; Bentele, B.; Cumalat, J.; Stenson, K.; Wagner, S.; Artuso, M.; Mountain, R.; Wang, J.C.; Grummer, A.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S.; Taylor, A.; Forcolin, G.; Haughton, I.; Murphy, S.; Oh, A.; Beck, H.; Grosse-Knetter, J.; Quadt, A.; Weingarten, J.; Reichmann, M.; Bachmair, F.; Bäni, L.; Dorfer, C.; Hits, D.; Kasieczka, G.; Sanz-Becerra, D.A.; Wallny, R.; Eusebi, R.; Lukosi, E.; Riley, G.; Spanier, S.; Chiodini, G.; Perrino, R.; Spagnolo, S.; Bes, A.; Collot, J.; Dauvergne, D.; Gallin-Martel, L.; Gallin-Martel, M.L.; Hostachy, J.-Y.; Lacoste, A.; Yamouni, M.; Kanxheri, K.; Menichelli, M.; Morozzi, A.; Passeri, D.; Scorzoni, A.; Servoli, L.
In: Proceedings of Science , European Physical Society Conference on High Energy Physics, EPS-HEP 2017. (Proceedings of Science, 2017)
Periodical
Microelectronics Reliability; 1999, Vol. 39 Issue: 5 p627-634, 8p
Periodical
Microelectronics Reliability; 1999, Vol. 39 Issue: 6 p857-862, 6p
A proposal for a standard procedure for moderately accelerated electromigration tests on metal lines
Periodical
Microelectronics Reliability; 1999, Vol. 39 Issue: 5 p615-626, 12p
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Scorzoni, A.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어