학술논문
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190~200
Conference
In: Adjunct Proceedings - 2018 IEEE International Symposium on Mixed and Augmented Reality, ISMAR-Adjunct 2018 , Adjunct Proceedings - 2018 IEEE International Symposium on Mixed and Augmented Reality, ISMAR-Adjunct 2018. (Adjunct Proceedings - 2018 IEEE International Symposium on Mixed and Augmented Reality, ISMAR-Adjunct 2018, 2 July 2018, :397-398)
Conference
O'Sullivan, C.; Bernard, J.-P.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Gault, A.; Gayer, D.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Hamilton, J.-C.; Harari, D.; Haynes, V.; Hoang, D.T.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Loucatos, S.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Marnieros, S.; May, A.; McCulloch, M.; Melhuish, S.; Montier, L.; Mundo, L.M.; Murphy, J.A.; Murphy, J.D.; Olivieri, E.; Pajot, F.; Pastoriza, H.; Perbost, C.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Prêle, D.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Salatino, M.; Scóccola, C.G.; Scully, S.; Stolpovskiy, M.; Timbie, P.; Torchinsky, S.A.; Tucker, G.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Ade, P.; Kristukat, C.; Mattei, A.; Pelosi, A.; Pisano, G.; Schillaci, A.; Suarez, F.; Tucker, C.; Amico, G.; Battistelli, E.; Buzi, D.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Lamagna, L.; Masi, S.; Mele, L.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Polenta, G.; Puddu, R.; Zullo, A.; Auguste, D.; Bonis, J.; Couchot, F.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Guerrard, E.; Henrot-Versillé, S.; Jules, E.; Louis, T.; Perdereau, O.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Vanneste, S.; Wicek, F.; Aumont, J.; Maffei, B.; Banfi, S.; Baù, A.; Gervasi, M.; Passerini, A.; Spinelli, S.; Zannoni, M.; Barbarán, G.; Bonaparte, J.; Di Donato, A.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Luterstein, R.; Medina, M.C.; Romero, G.E.; Battaglia, P.; Bersanelli, M.; Franceschet, C.; Incardona, F.; Mennella, A.; Pezzotta, F.; Viganò, D.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bigot-Sazy, M.-A.; Bleurvacq, N.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Columbro, F.; D'Agostino, R.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Dumoulin, L.; Gamboa Lerena, M.M.; García, B.; Tartari, A.; Thermeau, J.-P.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10708)
Conference
Salatino, M.; Chapron, C.; Hoang, D.T.; Coppi, G.; De Gasperis, G.; Di Donato, A.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M.M.; García, B.; Gault, A.; Gayer, D.; Giraud-Héraud, Y.; Grandsire, L.; Hamilton, J.-C.; Haynes, V.; Incardona, F.; Kaplan, J.; Loucatos, S.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; May, A.J.; McCulloch, M.A.; Melhuish, S.; Mennella, A.; Mundo, L.M.; Murphy, J.A.; Murphy, J.D.; O'Sullivan, C.; Perbost, C.; Pezzotta, F.; Piccirillo, L.; Ringegni, P.; Scóccola, C.G.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Timbie, P.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Watson, B.; Bélier, B.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Harari, D.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Mattei, A.; Medina, M.C.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Romero, G.E.; Schillaci, A.; Scully, S.; Tucker, G.; Zullo, A.; Maestre, S.; Marty, W.; Montier, L.; Rambaud, D.; Bernard, J.-P.; Giard, M.; Pajot, F.; Marnieros, S.; Bergé, L.; Dumoulin, L.; Olivieri, E.; Henrot-Versillé, S.; Auguste, D.; Bonis, J.; Couchot, F.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Guerrard, E.; Jules, E.; Louis, T.; Perdereau, O.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Vanneste, S.; Wicek, F.; Ade, P.; Pisano, G.; Tucker, C.; Amico, G.; Battistelli, E.; Buzi, D.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Leo, M.; De Petris, M.; Lamagna, L.; Masi, S.; Mele, L.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Polenta, G.; Puddu, R.; Aumont, J.; Maffei, B.; Banfi, S.; Baù, A.; Gervasi, M.; Passerini, A.; Spinelli, S.; Zannoni, M.; Piat, M.; Prêle, D.; Thermeau, J.P.; Torchinsky, S.A.; Voisin, F.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Bennett, D.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M.-A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; D'Agostino, R.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10708)
Conference
O'Sullivan, C.; Bennett, D.; Bonaparte, J.; Bunn, E.; Coppi, G.; D'Agostino, R.; De Gasperis, G.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Gamboa Lerena, M.M.; García, B.; Giard, M.; Gradziel, M.; Haynes, V.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Marnieros, S.; May, A.; McCulloch, M.; Melhuish, S.; Montier, L.; Mundo, L.M.; Murphy, J.A.; Olivieri, E.; Pajot, F.; Piccirillo, L.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Scóccola, C.G.; Suarez, F.; Vittorio, N.; Watson, B.; De Leo, M.; De Petris, M.; Amico, G.; Buzi, D.; Coppolecchia, A.; Gault, A.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Harari, D.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Lowitz, A.; Masi, S.; Medina, M.C.; Mele, L.; Paiella, A.; Pastoriza, H.; Piacentini, F.; Polenta, G.; Puddu, R.; Romero, G.E.; Schillaci, A.; Timbie, P.; Tucker, G.; Zullo, A.; Pelosi, A.; Mennella, A.; Battaglia, P.; Bersanelli, M.; Cavaliere, F.; Franceschet, C.; Incardona, F.; Pezzotta, F.; Viganò, D.; Zannoni, M.; Banfi, S.; Baù, A.; Gervasi, M.; Passerini, A.; Spinelli, S.; Piat, M.; Bigot-Sazy, M.-A.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Giraud-Héraud, Y.; Grandsire, L.; Kaplan, J.; Loucatos, S.; Perbost, C.; Prêle, D.; Salatino, M.; Stolpovskiy, M.; Tartari, A.; Thermeau, J.-P.; Torchinsky, S.A.; Voisin, F.; Ade, P.; Pisano, G.; Tucker, C.; Auguste, D.; Bonis, J.; Couchot, F.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Guerrard, E.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D.T.; Jules, E.; Louis, T.; Perdereau, O.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Vanneste, S.; Wicek, F.; Aumont, J.; Maffei, B.; Burke, D.; Gayer, D.; Murphy, J.D.; Scully, S.; Mattei, A.; Bleurvacq, N.; Chapron, C.; Hamilton, J.-C.; Barbarán, G.; Battistelli, E.; Bélier, B.; Bergé, L.; Bernard, J.-P.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Buzzelli, A.; Columbro, F.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Di Donato, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10708)
Conference
May, A.J.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Gamboa Lerena, M.M.; García, B.; Gault, A.; Gayer, D.; Gradziel, M.; Haynes, V.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Marnieros, S.; McCulloch, M.A.; Mundo, L.M.; Murphy, J.A.; Murphy, J.D.; O'Sullivan, C.; Olivieri, E.; Ringegni, P.; Scóccola, C.G.; Suarez, F.; Timbie, P.; Vittorio, N.; Watson, B.; Chapron, C.; Piat, M.; Thermeau, J.-P.; Bigot-Sazy, M.-A.; Bleurvacq, N.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Grandsire, L.; Hamilton, J.-C.; Harari, D.; Hoang, D.T.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Loucatos, S.; Mattei, A.; Medina, M.C.; Mele, L.; Montier, L.; Pajot, F.; Pastoriza, H.; Perbost, C.; Prêle, D.; Rambaud, D.; Romero, G.E.; Salatino, M.; Scully, S.; Stolpovskiy, M.; Tartari, A.; Torchinsky, S.A.; Tucker, G.; Voisin, F.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Masi, S.; Schillaci, A.; Amico, G.; Battistelli, E.; Buzi, D.; Lamagna, L.; Paiella, A.; Pelosi, A.; Piacentini, F.; Polenta, G.; Puddu, R.; Zullo, A.; Ade, P.; Pisano, G.; Tucker, C.; Auguste, D.; Bonis, J.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Guerrard, E.; Henrot-Versillé, S.; Jules, E.; Louis, T.; Perdereau, O.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Vanneste, S.; Wicek, F.; Aumont, J.; Maffei, B.; Banfi, S.; Baù, A.; Gervasi, M.; Passerini, A.; Spinelli, S.; Zannoni, M.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Bersanelli, M.; Cavaliere, F.; Franceschet, C.; Incardona, F.; Mennella, A.; Pezzotta, F.; Viganó, D.; Coppi, G.; Melhuish, S.; Piccirillo, L.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J.-P.; Bonaparte, J.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzzelli, A.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10708)
Conference
Burke, D.; Gayer, D.; Kalinauskaite, E.; O'Sullivan, C.; Murphy, J.D.; Bennett, D.G.; Gradziel, M.L.; Murphy, J.A.; De Petris, M.; De Leo, M.; Amico, G.; Battistelli, E.; Buzi, D.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Lamagna, L.; Masi, S.; Mele, L.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Polenta, G.; Puddu, R.; Schillaci, A.; Mennella, A.; Battaglia, P.; Bersanelli, M.; Cavaliere, F.; Franceschet, C.; Incardona, F.; Pezzotta, F.; Viganò, D.; Zannoni, M.; Banfi, S.; Baù, A.; Gervasi, M.; Passerini, A.; Spinelli, S.M.; Auguste, D.; Bonis, J.; Couchot, F.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Guerrard, E.; Henrot-Versillé, S.; Jules, E.; Louis, T.; Perdereau, O.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Wicek, F.; Aumont, J.; Maffei, B.; Barbarán, G.; Luterstein, R.; Bélier, B.; Bergé, L.; Drilien, A.-A.; Dumoulin, L.; Holtzer, N.; Marnieros, S.; Néel, D.; Olivieri, E.; Rigaut, O.; Bernard, J.-P.; Giard, M.; Montier, L.; Pajot, F.; Rambaud, D.; Torchinsky, S.A.; Bigot-Sazy, M.-A.; Bleurvac, N.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Giraud-Héraud, Y.; Grandsire, L.; Hamilton, J.-C.; Hoang, D.T.; Kaplan, J.; Loucatos, S.; Perbost, C.; Piat, M.R.; Prêle, D.; Salatino, M.; Stolpovskiy, M.; Thermeau, J.-P.; Voisin, F.; Bonaparte, J.; Di Donato, A.; Fasciszewski, A.; Bunn, E.F.; Buzzelli, A.; D'Agostino, R.; De Gasperis, G.; Lukovic, V.; Vittorio, N.; Coppi, G.; Haynes, V.; May, A.J.; McCulloch, M.A.; Melhuish, S.J.; Piccirillo, L.; Watson, B.; Etchegoyen, A.; García, B.; Suarez, F.; Gamboa-Lerena, M.; Scóccola, C.G.; Gault, A.; Lowitz, A.; Timbie, P.T.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Harari, D.; Pastoriza, H.; Korotkov, A.L.; Tucker, G.S.; Kristukat, C.; Lande, J.; Medina, M.C.; Romero, G.E.; Mundo, L.; Ringegni, P.; Pisano, G.; Tucker, C.E.; Scully, S.P.; Tartari, A.; Mattei, A.; Pelosi, A.; Zullo, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XI. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10531)
Conference
In: Proceedings of the 2017 ACM International Conference on Interactive Surfaces and Spaces, ISS 2017 , Proceedings of the 2017 ACM International Conference on Interactive Surfaces and Spaces, ISS 2017. (Proceedings of the 2017 ACM International Conference on Interactive Surfaces and Spaces, ISS 2017, 17 October 2017, :72-81)
Academic Journal
In: Materials Science and Engineering A . (Materials Science and Engineering A, 1 August 1989, 115(C):229-244)
Academic Journal
In: Hyperfine Interactions . (Hyperfine Interactions, March 1989, 46(1-4):501-508)
Academic Journal
In: Hyperfine Interactions . (Hyperfine Interactions, February 1988, 42(1-4):1017-1020)
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