학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 311건 | 목록
190~200
Academic Journal
Wierzchowski, W.; Wieteska, K.; Balcer, T.; Klinger, D.; Sobierajski, R.; Zymierska, D.; Chalupsky, J.; Hajkova, V.; Burian, T.; Gleeson, A. J.; Juha, L.; Tiedtke, K.; Toleikis, S.; Vysin, L.; Wabnitz, H.; Gaudin, J.
Academic Journal
Klinger, D.; Zymierska, D.; Minikayev, R.; Nowakowska-Langier, K.; Pelka, J. B.; Nowicki, L.; Kozankiewicz, B.; Caliebe, W.
Book
In: Criminologists on Terrorism and Homeland Security . (Criminologists on Terrorism and Homeland Security, 1 January 2011, :17-39)
Conference
Hájková, V.; Juha, L.; Boháček, P.; Burian, T.; Chalupský, J.; Vyŝín, L.; Gaudin, J.; Heimann, P.A.; Hau-Riege, S.P.; Jurek, M.; Klinger, D.; Pelka, J.; Sobierajski, R.; Krzywinski, J.; Messerschmidt, M.; Moeller, S.P.; Nagler, B.; Rowen, M.; Schlotter, W.F.; Swiggers, M.L.; Turner, J.J.; Vinko, S.M.; Whitcher, T.; Wark, J.; Matuchová, M.; Bajt, S.; Chapman, H.; Dzelzainis, T.; Riley, D.; Andreasson, J.; Hajdu, J.; Iwan, B.; Timneanu, N.; Saksl, K.; Fäustlin, R.; Singer, A.; Tiedtke, K.; Toleikis, S.; Vartaniants, I.; Wabnitz, H.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics III. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2011, 8077)
Academic Journal
Klinger, D.; Sobierajski, R.; Nietubyc, R.; Krzywinski, J.; Pelka, J.; Juha, L.; Jurek, M.; Zymierska, D.; Guizard, S.; Merdji, H.
Academic Journal
Pelka, J. B.; Sobierajski, R.; Klinger, D.; Paszkowicz, W.; Krzywinski, J.; Jurek, M.; Zymierska, D.; Wawro, A.; Petroutchik, A.; Juha, L.; Hajkova, V.; Cihelka, J.; Chalupsky, J.; Burian, T.; Vysin, L.; Toleikis, S.; Sokolowski-Tinten, K.; Stojanovic, N.; Zastrau, U.; London, R.; Hau-Riege, S.; Riekel, C.; Davies, R.; Burghammer, M.; Dynowska, E.; Szuszkiewicz, W.; Caliebe, W.; Nietubyc, R.
Conference
Lee, R.W.; Vinko, S.M.; Whitcher, T.; Nelson, A.J.; Budil, K.; Cauble, R.C.; Döppner, T.; Glenzer, S.H.; Shepherd, R.; Nagler, B.; Chalupsky, J.; Gregori, G.; Murphy, W.J.; Wark, J.S.; Zastrau, U.; Förster, E.; Uschmann, I.; Fäustlin, R.; Bajt, S.; Chapman, H.; Düsterer, S.; Laarmann, T.; Toleikis, S.; Tschentscher, T.; Sobierajski, R.; Jurek, M.; Klinger, D.; Krzywinski, J.; Hastings, J.B.; White, W.E.; Juha, L.; Burian, T.; Cihelka, J.; Hajkova, V.; Bornath, T.; Fortmann, C.; Göde, S.; Meiwes-Broer, K.-H.; Przystawik, A.; Redmer, R.; Reinholz, H.; Röpke, G.; Thiele, R.; Tiggesbäumker, J.; Dzelzainis, T.; Riley, D.; Ajardo, M.; Kozlova, M.; Heimann, P.; Falcone, R.W.; Khattak, F.Y.; Khorsand, A.R.; Lee, H.-J.; Mercere, P.; Saksl, K.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Soft X-Ray Lasers and Applications VIII. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2009, 7451)
Conference
Lee, R.W.; Vinko, S.; Whitcher, T.; Nelson, A.; Chapman, H.; Döppner, T.; Glenzer, S.H.; Nagler, B.; Chalupsky, J.; Gregori, G.; Murphy, W.J.; Wark, J.S.; Zastrau, U.; Förster, E.; Uschmann, I.; Fäustlin, R.; Bajt, S.; Düsterer, S.; Laarmann, T.; Toleikis, S.; Tschentscher, T.; Sobierajski, R.; Jurek, M.; Klinger, D.; Krzywinski, J.; Juha, L.; Burian, T.; Cihelka, J.; Hajkova, V.; Bornath, T.; Fortmann, C.; Göde, S.; Meiwes-Broer, K.; Przystawik, A.; Redmer, R.; Reinholz, H.; Röpke, G.; Thiele, R.; Tiggesbäumker, J.; Dzelzainis, T.; Riley, D.; Fajardo, M.; Kozlova, M.; Heimann, P.; Khattak, F.; Khorsand, A.R.; Lee, H.; Mercere, P.; Saksl, K.
In: IEEE International Conference on Plasma Science , 2009 IEEE International Conference on Plasma Science - Abstracts, ICOPS 2009. (IEEE International Conference on Plasma Science, 2009)
Conference
Cihelka, J.; Juha, L.; Chalupský, J.; Renner, O.; Hájková, V.; Vyšín, L.; Rosmej, F.B.; Galtier, E.; Schott, R.; Saksl, K.; Khorsand, A.R.; Riley, D.; Nelson, A.J.; Lee, R.W.; Hau-Riege, S.; London, R.A.; Dzelzainis, T.; Heimann, P.A.; Nagler, B.; Vinko, S.; Wark, J.; Whitcher, T.; Toleikis, S.; Tschentscher, T.; Fäustlin, R.; Wabnitz, H.; Bajt, S.; Stojanovic, N.; Chapman, H.; Krzywinski, J.; Sobierajski, R.; Klinger, D.; Jurek, M.; Pelka, J.; Kuba, J.; Sokolowski-Tinten, K.; Gleeson, A.J.; Störmer, M.; Andreasson, J.; Hajdu, J.; Iwan, B.; Timneanu, N.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2009, 7361)
Academic Journal
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Klinger, D.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어