학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 1,762건 | 목록
190~200
Academic Journal
Canadian Geotechnical Journal. April, 2021, Vol. 58 Issue 4, p514, 17 p.
Academic Journal
In: Computers and Geotechnics . (Computers and Geotechnics, June 2021, 134)
Academic Journal
Branch, K.M.; Chen, Y.M.; McGregor, M.; Min, M.; Prosser, R.; Whitney, N.; Spencer, J.V.; Garcia, E.C.
In: Pathogens . (Pathogens, June 2021, 10(6))
Academic Journal
Caraway, B.; Dittmann, J.; Hatakeyama, K.; Pastika, N.; Wilson, J.S.; Adamov, G.; Tsamalaidze, Z.; Acar, B.; Akgün, B.; Atakisi, I.A.; Cekmecelioglu, Y.C.; Gülmez, E.; Hamamci, E.; Kaya, O.; Kaya, M.; Nurdan, K.; Sarkisla, M.A.; Tastan, I.; Tatli, T.; Tekten, S.; Altopp, G.; Burkle, B.; Heintz, U.; Hinton, N.; Landsberg, G.; Spencer, E.; Voelker, J.; Yu, D.; Aspell, P.; Barney, D.; Bombardi, G.; Brondolin, E.; Cerminara, G.; Charitonidis, N.; Cristella, L.; Dannheim, D.; David, A.; Deltoro, J.M.; Dias de Almeida, P.G.; Fiorendi, S.; Fontana Santos Alves, B.A.; Franzoni, G.; French, T.; Gerwig, H.; Gill, K.; Gouskos, L.; Irshad, A.; Kieseler, J.; Kulis, S.; Lange, C.; Leogrande, E.; Linssen, L.; Long, K.; Maier, A.A.; Mannelli, M.; Marchioro, A.; Meschi, E.; Moccia, S.; Noy, M.; Pantaleo, F.; Pereira Gomes, R.; Perkins, H.; Petiot, P.; Pierini, M.; Pitters, F.; Qasim, S.R.; Qu, H.; Quast, T.; Rapacz, K.; Rieger, M.; Rodriguez, A.; Rovere, M.; Selvaggi, M.; Sicking, E.; Sieberer, P.; Troska, J.; Tsirou, A.; Van Onsem, G.P.; Vergine, T.; Vicente Barreto Pinto, M.; da Silva, P.M.; Vizinho de Oliveira, R.; Winter, D.; Alison, J.; An, S.; Andrews, M.; Bryant, P.; Day, E.; Harilal, A.; Mudholkar, T.; Parshook, J.; Paulini, M.; Sanchez, A.; Sun, M.; Weinberg, M.; Anagul, S.; Dumanoglu, I.; Guler, Y.; Gurpinar Guler, E.; Isik, C.; Kara, O.; Simsek, A.E.; Sozbilir, U.; Tali, B.; Tok, U.G.; Kayis Topaksu, A.; Bach, O.; De Silva, M.; Krüger, K.; Reinecke, M.; Sefkow, F.; van de Klundert, M.; Alyari, M.; Bakshi, A.; Banerjee, S.; Braga, D.; Cheung, H.; Derylo, G.; Fahim, F.; Freeman, J.; Gandhi, P.; Gecse, Z.; Gingu, C.; Hammer, M.; Hirschauer, J.; Hoff, J.; Joshi, U.; Lincoln, D.; Lipton, R.; Rubinov, P.; Shenai, A.; Strait, J.; Syal, C.; Voirin, E.; Wang, X.; Wickwire, R.; Čoko, D.; Kristić, A.; Musić, J.; Ozegović, J.; Prvan, M.; Puljak, I.; Noonan, D.; Yumiceva, F.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Hinger, V.; Paulitsch, P.; Pitters, F.; Diaz, D.; Kim, S.; Koetz, K.; Kolberg, T.; Prosper, H.; Yohay, R.; Zhang, J.; Cao, X.; Gu, Y.; Li, B.; Liao, H.; Liu, Y.; Meng, B.; Sun, L.; Wang, F.; Wu, L.; Zhang, H.; Chernichenko, S.; Kachanov, V.; Kalinin, A.; Kulagin, N.; Levin, A.; Shein, I.; Surkov, A.; Tyurin, N.; Uzunian, A.; Choudhury, S.; Pandey, S.; Sharma, S.; Behera, P.; Bloch, P.; Bonomally, S.; Borg, J.; Dauncey, P.; Davies, G.; Everaerts, P.; Langford, J.; Magnan, A.M.; Martelli, A.; Palladino, V.; Rose, A.; Scott, E.; Seez, C.; Strebler, T.; Virdee, T.; Webb, S.N.; Zenz, S.; Cerci, S.; Ozkorucuklu, S.; Sunar Cerci, D.; Nikitenko, A.; Andreev, I.; Gninenko, S.; Karneyeu, A.; Lysova, I.; Tlisov, D.; Alhusseini, M.; Bilki, B.; Debbins, P.; Köseyan, O.K.; Mestvirishvili, A.; Onel, Y.; Schmidt, I.; Tiras, E.; Afanasiev, S.; Ershov, Yu.; Golunov, A.; Golutvin, I.; Gorbounov, N.; Malakhov, A.; Smirnov, V.; Sukhov, E.; Ustinov, V.; Zamiatin, N.; Zarubin, A.; Kanso, H.; Bargassa, P.; Varela, J.; Becheva, E.; Bonanomi, M.; Bonnemaison, A.; Geerebaert, Y.; Lobanov, A.; Magniette, F.; Ochando, C.; Pacheco-Rodriguez, L.; Romanteau, T.; Sauvan, J.B.; Sirois, Y.; Pierre-Emile, T.; Baden, A.; Belloni, A.; Chen, Y.M.; Edberg, T.K.; Eno, S.C.; Lai, Y.; Nabili, S.; Papageorgakis, C.; Brashear, J.; Chatterjee, R.; Frahm, E.; Gilbert, W.; Jain, S.; Krohn, M.; Mans, J.; Morrissey, I.; Quinn, R.; Reichenbach, G.; Revering, M.; Rusack, R.; Saradhy, R.; Strobbe, N.; Urbanski, D.; Kaminskiy, A.; Bhattacharya, S.; Bueghly, J.; Chen, Z.; Gilbert, A.; Odell, N.; Schmitt, M.; Velasco, M.; Heering, A.; Musienko, Y.; Wayne, M.; Adloff, C.; Caregari, S.; Cheng, K.Y.; Jheng, H.R.; Kuo, C.M.; Lee, M.Y.; Roy, A.; Sarkar, T.; Yeh, C.H.; Yu, S.S.; Bakas, G.; Papakrivopoulos, I.; Tsipolitis, G.; Zacharopoulou, A.; Ceard, L.; Chien, C.H.; Hou, W.S.; Li, J.H.; Lu, R.S.; Paganis, E.; Steen, A.; Su, J.W.; Wu, H.Y.; Callier, S.; de La Taille, C.; Dinaucourt, P.; El Berni, M.; Extier, S.; Raux, L.; Thienpont, D.; Bodek, A.; DeBarbaro, P.; Fallon, C.; Garcia-Bellido, A.; Khukhunaishvili, A.; Tan, C.L.; Thaus, R.; Besancon, M.; Bouyjou, F.; Calvet, D.; Couderc, F.; Delagnes, E.; Ganjour, S.; Gevin, O.; Guilloux, F.; Mandjavize, I.; Sahin, O.M.; Titov, M.; Yu, G.B.; Bhattacharya, S.; Bhowmik, D.; Dutta, S.; Dugad, S.; Gagnan, M.; Kameshwar, R.; Mirza, I.; Shukla, R.; Akchurin, N.; De Guio, F.; Hegde, V.; Kunori, S.; Kuryatkov, V.; Lamichhane, K.; Mengke, T.; Peltola, T.; Undleeb, S.; Wang, Z.; Whitbeck, A.; Butler-Nalin, A.; Collura, G.; Dutta, V.; Eckdahl, J.; Gonzalez, T.; Incandela, J.; Kyre, S.; Li, A.; Masterson, P.; Nagar, A.; Odegard, B.; Ortez, W.; Pagenkopf, D.; Quinnan, M.; White, D.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, April 2021, 16(4))
Academic Journal
Caraway, B.; Dittmann, J.; Hatakeyama, K.; Pastika, N.; Wilson, J.S.; Adamov, G.; Tsamalaidze, Z.; Acar, B.; Akgün, B.; Atakisi, I.A.; Cekmecelioglu, Y.C.; Gülmez, E.; Hamamci, E.; Kaya, O.; Kaya, M.; Nurdan, K.; Sarkisla, M.A.; Tastan, I.; Tatli, T.; Tekten, S.; Altopp, G.; Burkle, B.; Heintz, U.; Hinton, N.; Landsberg, G.; Spencer, E.; Voelker, J.; Yu, D.; Aspell, P.; Barney, D.; Bombardi, G.; Brondolin, E.; Cerminara, G.; Charitonidis, N.; Cristella, L.; Dannheim, D.; David, A.; Deltoro, J.M.; Dias de Almeida, P.G.; Fiorendi, S.; Fontana Santos Alves, B.A.; Franzoni, G.; French, T.; Gerwig, H.; Gill, K.; Gouskos, L.; Irshad, A.; Kieseler, J.; Kulis, S.; Lange, C.; Leogrande, E.; Linssen, L.; Long, K.; Maier, A.A.; Mannelli, M.; Marchioro, A.; Meschi, E.; Moccia, S.; Noy, M.; Pantaleo, F.; Pereira Gomes, R.; Perkins, H.; Petiot, P.; Pierini, M.; Pitters, F.; Qasim, S.R.; Qu, H.; Quast, T.; Rapacz, K.; Rieger, M.; Rodriguez, A.; Rovere, M.; Selvaggi, M.; Sicking, E.; Sieberer, P.; Troska, J.; Tsirou, A.; Van Onsem, G.P.; Vergine, T.; Vicente Barreto Pinto, M.; da Silva, P.M.; Vizinho de Oliveira, R.; Winter, D.; Alison, J.; An, S.; Andrews, M.; Bryant, P.; Day, E.; Harilal, A.; Mudholkar, T.; Parshook, J.; Paulini, M.; Sanchez, A.; Sun, M.; Weinberg, M.; Anagul, S.; Dumanoglu, I.; Guler, Y.; Gurpinar Guler, E.; Isik, C.; Kara, O.; Simsek, A.E.; Sozbilir, U.; Tali, B.; Tok, U.G.; Kayis Topaksu, A.; Bach, O.; De Silva, M.; Krüger, K.; Reinecke, M.; Sefkow, F.; van de Klundert, M.; Alyari, M.; Bakshi, A.; Banerjee, S.; Braga, D.; Cheung, H.; Derylo, G.; Fahim, F.; Freeman, J.; Gandhi, P.; Gecse, Z.; Gingu, C.; Hammer, M.; Hirschauer, J.; Hoff, J.; Joshi, U.; Lincoln, D.; Lipton, R.; Rubinov, P.; Shenai, A.; Strait, J.; Syal, C.; Voirin, E.; Wang, X.; Wickwire, R.; Čoko, D.; Kristić, A.; Musić, J.; Ozegović, J.; Prvan, M.; Puljak, I.; Noonan, D.; Yumiceva, F.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Hinger, V.; Paulitsch, P.; Pitters, F.; Diaz, D.; Kim, S.; Koetz, K.; Kolberg, T.; Prosper, H.; Yohay, R.; Zhang, J.; Cao, X.; Gu, Y.; Li, B.; Liao, H.; Liu, Y.; Meng, B.; Sun, L.; Wang, F.; Wu, L.; Zhang, H.; Chernichenko, S.; Kachanov, V.; Kalinin, A.; Kulagin, N.; Levin, A.; Shein, I.; Surkov, A.; Tyurin, N.; Uzunian, A.; Choudhury, S.; Pandey, S.; Sharma, S.; Behera, P.; Bloch, P.; Bonomally, S.; Borg, J.; Dauncey, P.; Davies, G.; Everaerts, P.; Langford, J.; Magnan, A.M.; Martelli, A.; Palladino, V.; Rose, A.; Scott, E.; Seez, C.; Strebler, T.; Virdee, T.; Webb, S.N.; Zenz, S.; Cerci, S.; Ozkorucuklu, S.; Sunar Cerci, D.; Nikitenko, A.; Andreev, I.; Gninenko, S.; Karneyeu, A.; Lysova, I.; Tlisov, D.; Alhusseini, M.; Bilki, B.; Debbins, P.; Köseyan, O.K.; Mestvirishvili, A.; Onel, Y.; Schmidt, I.; Tiras, E.; Afanasiev, S.; Ershov, Yu.; Golunov, A.; Golutvin, I.; Gorbounov, N.; Malakhov, A.; Smirnov, V.; Sukhov, E.; Ustinov, V.; Zamiatin, N.; Zarubin, A.; Kanso, H.; Bargassa, P.; Varela, J.; Becheva, E.; Bonanomi, M.; Bonnemaison, A.; Geerebaert, Y.; Lobanov, A.; Magniette, F.; Ochando, C.; Pacheco-Rodriguez, L.; Romanteau, T.; Sauvan, J.B.; Sirois, Y.; Pierre-Emile, T.; Baden, A.; Belloni, A.; Chen, Y.M.; Edberg, T.K.; Eno, S.C.; Lai, Y.; Nabili, S.; Papageorgakis, C.; Brashear, J.; Chatterjee, R.; Frahm, E.; Gilbert, W.; Jain, S.; Krohn, M.; Mans, J.; Morrissey, I.; Quinn, R.; Reichenbach, G.; Revering, M.; Rusack, R.; Saradhy, R.; Strobbe, N.; Urbanski, D.; Kaminskiy, A.; Bhattacharya, S.; Bueghly, J.; Chen, Z.; Gilbert, A.; Odell, N.; Schmitt, M.; Velasco, M.; Heering, A.; Musienko, Y.; Wayne, M.; Adloff, C.; Caregari, S.; Cheng, K.Y.; Jheng, H.R.; Kuo, C.M.; Lee, M.Y.; Roy, A.; Sarkar, T.; Yeh, C.H.; Yu, S.S.; Bakas, G.; Papakrivopoulos, I.; Tsipolitis, G.; Zacharopoulou, A.; Ceard, L.; Chien, C.H.; Hou, W.S.; Li, J.H.; Lu, R.S.; Paganis, E.; Steen, A.; Su, J.W.; Wu, H.Y.; Callier, S.; de La Taille, C.; Dinaucourt, P.; El Berni, M.; Extier, S.; Raux, L.; Thienpont, D.; Bodek, A.; DeBarbaro, P.; Fallon, C.; Garcia-Bellido, A.; Khukhunaishvili, A.; Tan, C.L.; Thaus, R.; Besancon, M.; Bouyjou, F.; Calvet, D.; Couderc, F.; Delagnes, E.; Ganjour, S.; Gevin, O.; Guilloux, F.; Mandjavize, I.; Sahin, O.M.; Titov, M.; Yu, G.B.; Bhattacharya, S.; Bhowmik, D.; Dutta, S.; Dugad, S.; Gagnan, M.; Kameshwar, R.; Mirza, I.; Shukla, R.; Akchurin, N.; De Guio, F.; Hegde, V.; Kunori, S.; Kuryatkov, V.; Lamichhane, K.; Mengke, T.; Peltola, T.; Undleeb, S.; Wang, Z.; Whitbeck, A.; Butler-Nalin, A.; Collura, G.; Dutta, V.; Eckdahl, J.; Gonzalez, T.; Incandela, J.; Kyre, S.; Li, A.; Masterson, P.; Nagar, A.; Odegard, B.; Ortez, W.; Pagenkopf, D.; Quinnan, M.; White, D.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, April 2021, 16(4))
Conference
2005 IEEE 36th Power Electronics Specialists Conference Power Electronics and Applications Power Electronics Specialists Conference, 2005. PESC '05. IEEE 36th. :399-405 2005
Conference
2005 IEEE 36th Power Electronics Specialists Conference Power Electronics and Applications Power Electronics Specialists Conference, 2005. PESC '05. IEEE 36th. :1959-1965 2005
Conference
Twentieth Annual IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition, 2005. APEC 2005. Applied Power Electronics Applied Power Electronics Conference and Exposition, 2005. APEC 2005. Twentieth Annual IEEE. 1:428-434 Vol. 1 2005
Conference
2004 IEEE International Engineering Management Conference (IEEE Cat. No.04CH37574) Engineering management Engineering Management Conference, 2004. Proceedings. 2004 IEEE International. 2:829-833 Vol.2 2004
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Chen, Y.M.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어