학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 86건 | 목록
10~20
Report
Anderson, A. J.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Avva, J. S.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cho, H. -M.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Fu, J.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Gilbert, A.; Groh, J. C.; Guns, S.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Rahlin, A.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Report
Bender, A. N.; Anderson, A. J.; Avva, J. S.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Benson, B. A.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cho, H. -M.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Fu, J.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Gilbert, A.; Groh, J. C.; Guns, S.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Rahlin, A.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Academic Journal
Montgomery, J.; Cliche, J.-F.; Dobbs, M.A.; Noble, G.I.; Rouble, M.; Ade, P.A.R.; Tucker, C.; Ahmed, Z.; Bianchini, F.; Cukierman, A.; Goeckner-Wald, N.; Irwin, K.D.; Kuo, C.-L.; Omori, Y.; Story, K.T.; Thompson, K.L.; Wu, W.L.K.; Yoon, K.W.; Cho, H.; Anderes, E.; Anderson, A.J.; Benson, B.A.; Jonas, M.; Kubik, D.L.; Nguyen, H.; Rahlin, A.; Barry, P.S.; Thakur, R.B.; Bender, A.N.; Bleem, L.E.; Carlstrom, J.E.; Carter, F.W.; Chang, C.L.; Chou, T.-L.; Crawford, T.M.; Dibert, K.; Dutcher, D.; Gambrel, A.E.; Henning, J.W.; Hood, J.C.; Leitch, E.M.; Lowitz, A.E.; Meyer, S.S.; Natoli, T.; Padin, S.; Pan, Z.; Quan, W.; Shirokoff, E.; Sobrin, J.A.; Archipley, M.; Daley, C.; Fu, J.; Guyser, R.; Harke-Hosemann, A.H.; Nadolski, A.; Vieira, J.D.; Avva, J.S.; Groh, J.C.; Guns, S.; Harrington, N.L.; Holzapfel, W.L.; Huang, N.; Jeong, O.B.; Lee, A.T.; Millea, M.; Aylor, K.; Knox, L.; Prabhu, K.; Thorne, B.; Balkenhol, L.; Chaubal, P.; Gupta, N.; Reichardt, C.L.; Schiappucci, E.; Byrum, K.; Cecil, T.W.; Gualtieri, R.; Kuhlmann, S.; Wang, G.; Yefremenko, V.; Benabed, K.; Bouchet, F.R.; Galli, S.; Hivon, E.; Paschos, P.; Bryant, L.; Gardner, R.W.; Riedel, B.; Stephen, J.; Chen, G.; Howe, D.; Jones, A.; Michalik, D.; Riebel, D.; De Haan, T.; Denison, E.V.; Hilton, G.C.; Vale, L.R.; Ding, J.; Khaire, T.S.; Novosad, V.; Pearson, J.; Posada, C.M.; Elleflot, T.; Suzuki, A.; Everett, W.; Halverson, N.W.; Sayre, J.T.; Feng, C.; Lu, C.; Umilta, C.; Ferguson, K.R.; Whitehorn, N.; Foster, A.; Korman, M.; Ruhl, J.E.; Kofman, A.M.; Smecher, G.; Stark, A.A.; Vanderlinde, K.; Young, M.R.
In: Journal of Astronomical Telescopes, Instruments, and Systems . (Journal of Astronomical Telescopes, Instruments, and Systems, 1 January 2022, 8(1))
Academic Journal
Sobrin, J.A.; Dutcher, D.; Carlstrom, J.E.; Chou, T.-L.; Meyer, S.S.; Pan, Z.; Quan, W.; Anderson, A.J.; Bender, A.N.; Benson, B.A.; Rahlin, A.; Barry, P.S.; Thakur, R.B.; Bleem, L.E.; Carter, F.W.; Chang, C.L.; Crawford, T.M.; Dibert, K.; Gambrel, A.E.; Henning, J.W.; Hood, J.C.; Leitch, E.M.; Lowitz, A.E.; Natoli, T.; Padin, S.; Shirokoff, E.; Jonas, M.; Kubik, D.L.; Nguyen, H.; Byrum, K.; Cecil, T.W.; Gualtieri, R.; Harke-Hosemann, A.H.; Kuhlmann, S.; Wang, G.; Yefremenko, V.; Foster, A.; Korman, M.; Ruhl, J.E.; Saliwanchik, B.; Goeckner-Wald, N.; Bianchini, F.; Cukierman, A.; Irwin, K.D.; Kuo, C.-L.; Omori, Y.; Story, K.T.; Thompson, K.L.; Yoon, K.W.; Ahmed, Z.; Wu, W.L.K.; Montgomery, J.; Cliche, J.-F.; Dobbs, M.A.; Noble, G.I.; Rouble, M.; Nadolski, A.; Archipley, M.; Daley, C.; Fu, J.; Guyser, R.; Kofman, A.M.; Tandoi, C.; Vieira, J.D.; Ade, P.A.R.; Tucker, C.; Cho, H.-M.; Anderes, E.; Austermann, J.E.; Denison, E.V.; Hilton, G.C.; Vale, L.R.; Avva, J.S.; Guns, S.; Harrington, N.L.; Holzapfel, W.L.; Huang, N.; Jeong, O.B.; Lee, A.T.; Millea, M.; Aylor, K.; Knox, L.; Prabhu, K.; Thorne, B.; Balkenhol, L.; Chaubal, P.; Gupta, N.; Reichardt, C.L.; Schiappucci, E.; Benabed, K.; Bouchet, F.R.; Galli, S.; Hivon, E.; Bryant, L.; Gardner, R.W.; Paschos, P.; Riedel, B.; Stephen, J.; Chen, G.; Howe, D.; Jones, A.; Michalik, D.; Riebel, D.; Haan, T.D.; Ding, J.; Khaire, T.S.; Novosad, V.; Pearson, J.; Posada, C.M.; Everett, W.; Halverson, N.W.; Sayre, J.T.; Feng, C.; Holder, G.P.; Lu, C.; Umilta, C.; Ferguson, K.R.; Whitehorn, N.; Suzuki, A.; Smecher, G.; Stark, A.A.; Vanderlinde, K.; Young, M.R.
In: Astrophysical Journal, Supplement Series . (Astrophysical Journal, Supplement Series, 2022, 258(2))
Report
Ap. J. 765 (2013) 20
Broadband, millimeter-wave antireflection coatings for large-format, cryogenic aluminum oxide optics
Academic Journal
Nadolski, A.; Vieira, J.D.; Kofman, A.M.; Cheshire, J.R.; Farwick, J.; Florez, L.; Fu, J.; Guyser, R.; Harke-Hosemann, A.H.; Harris, R.J.; Meier, J.; Tandoi, C.; Sobrin, J.A.; Anderson, A.J.; Basu Thakur, R.; Bender, A.N.; Benson, B.A.; Carlstrom, J.E.; Carter, F.W.; Chang, C.L.; Dutcher, D.; Gallicchio, J.; Gambrel, A.E.; Henning, J.W.; Lowitz, A.E.; Meyer, S.S.; Natoli, T.; Padin, S.; Pan, Z.; Quan, W.; Rahlin, A.; Shirokoff, E.; Ade, P.A.R.; Tucker, C.; Ahmed, Z.; Irwin, K.D.; Kuo, C.-L.; Story, K.T.; Thompson, K.L.; Yoon, K.W.; Jonas, M.; Kubik, D.L.; Nguyen, H.; Avva, J.S.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Groh, J.C.; Guns, S.; Harrington, N.L.; Holzapfel, W.L.; Huang, N.; Jeong, O.; Lee, A.T.; Cecil, T.W.; Kuhlmann, S.; Wang, G.; Yefremenko, V.; Bryant, L.; Gardner, R.W.; Paschos, P.; Stephen, J.; Chesmore, G.E.; McMahon, J.; Cliche, J.F.; Montgomery, J.; Noble, G.I.; Dierickx, M.; Kovac, J.; Stark, A.A.; Ding, J.; Novosad, V.; Pearson, J.; Posada, C.M.; Everett, W.; Halverson, N.W.; Sayre, J.T.; Ferguson, K.R.; Whitehorn, N.; Foster, A.; Korman, M.; Ruhl, J.E.; Howe, D.; Jones, A.; Michalik, D.; Riebel, D.; Suzuki, A.; Vanderlinde, K.; Smecher, G.; Young, M.R.
In: Applied Optics . (Applied Optics, 1 April 2020, 59(10):3285-3295)
Academic Journal
Bender, A.N.; Barry, P.S.; Byrum, K.; Carlstrom, J.E.; Carter, F.W.; Cecil, T.W.; Chang, C.L.; Harke-Hosemann, A.H.; Henning, J.W.; Kuhlmann, S.; Wang, G.; Yefremenko, V.; Anderson, A.J.; Basu Thakur, R.; Benson, B.A.; Dutcher, D.; Gallicchio, J.; Gambrel, A.E.; Leitch, E.M.; Lowitz, A.E.; Meyer, S.S.; Padin, S.; Pan, Z.; Quan, W.; Rahlin, A.; Shirokoff, E.; Sobrin, J.A.; Jonas, M.; Kubik, D.L.; Nguyen, H.; Avva, J.S.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Groh, J.C.; Guns, S.; Harrington, N.L.; Holzapfel, W.L.; Huang, N.; Jeong, O.B.; Lee, A.T.; Ade, P.A.R.; Tucker, C.; Ahmed, Z.; Irwin, K.D.; Kuo, C.-L.; Story, K.T.; Thompson, K.L.; Yoon, K.W.; Cho, H.-M.; Bryant, L.; Gardner, R.W.; Paschos, P.; Stephen, J.; Cliche, J.F.; Dobbs, M.A.; Gilbert, A.; Montgomery, J.; Noble, G.I.; Denison, E.V.; Hilton, G.C.; Vale, L.R.; Ding, J.; Khaire, T.S.; Novosad, V.; Pearson, J.; Posada, C.M.; Everett, W.; Halverson, N.W.; Sayre, J.T.; Ferguson, K.R.; Whitehorn, N.; Foster, A.; Korman, M.; Ruhl, J.E.; Fu, J.; Guyser, R.; Kofman, A.M.; Nadolski, A.; Vieira, J.D.; Howe, D.; Jones, A.; Michalik, D.; Riebel, D.; Suzuki, A.; Natoli, T.; Vanderlinde, K.; Smecher, G.; Stark, A.A.; Young, M.R.
In: Journal of Low Temperature Physics . (Journal of Low Temperature Physics, 1 April 2020, 199(1-2):182-191)
Academic Journal
Anderson, A.J.; Benson, B.A.; Jonas, M.; Kubik, D.L.; Nguyen, H.; Rahlin, A.; Barry, P.S.; Thakur, R.B.; Bender, A.N.; Carlstrom, J.E.; Carter, F.W.; Chang, C.L.; Dutcher, D.; Gallicchio, J.; Gambrel, A.E.; Henning, J.W.; Leitch, E.M.; Lowitz, A.E.; Meyer, S.S.; Padin, S.; Pan, Z.; Quan, W.; Shirokoff, E.; Sobrin, J.A.; Ade, P.A.R.; Tucker, C.; Ahmed, Z.; Irwin, K.D.; Kuo, C.-L.; Story, K.T.; Thompson, K.L.; Yoon, K.W.; Cho, H.-M.; Avva, J.S.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Groh, J.C.; Guns, S.T.; Harrington, N.L.; Holzapfel, W.L.; Huang, N.; Jeong, O.B.; Lee, A.T.; Byrum, K.; Cecil, T.W.; Harke-Hosemann, A.H.; Kuhlmann, S.; Wang, G.; Yefremenko, V.; Bryant, L.; Gardner, R.W.; Paschos, P.; Stephen, J.; Cliche, J.F.; Dobbs, M.A.; Gilbert, A.; Montgomery, J.; Noble, G.I.; Denison, E.V.; Hilton, G.C.; Vale, L.R.; Ding, J.; Khaire, T.S.; Novosad, V.; Pearson, J.; Posada, C.M.; Everett, W.; Halverson, N.W.; Sayre, J.T.; Ferguson, K.R.; Whitehorn, N.; Foster, A.; Korman, M.; Ruhl, J.E.; Fu, J.; Guyser, R.; Kofman, A.M.; Nadolski, A.; Vieira, J.D.; Howe, D.; Jones, A.; Michalik, D.; Riebel, D.; Suzuki, A.; Natoli, T.; Vanderlinde, K.; Smecher, G.; Stark, A.A.; Young, M.R.
In: Journal of Low Temperature Physics . (Journal of Low Temperature Physics, 1 April 2020, 199(1-2):320-329)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Riebel, D.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어