학술논문
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10~20
Academic Journal
Schneider, T.; Behrens, R.; Garcia-Yip, F.; Tanderup, K.; Kertzscher, G.; Johanson, J.; Georgi, P.; Blideanu, V.; Stien, C.; Plagnard, J.; Solc, J.; Sochor, V.; Pinto, M.; Sander, T.; Subiel, A.; Gouldstone, C.; de Prez, L.; Verhaegen, F.; Reniers, B.; Aviles Lucas, P.; Msimang, Z.; Eaton, D. J.; Weigand, F.; Rivard, M. J.
Academic Journal
Schumacher, Bernd; Warnecke, Peter; Poirier, W.; Delgado, I.; Msimang, Z.; Boella, Giorgio; Otto Hetland, Per; Elmquist, R.E.; Williams, J.; Inglis, Dave; Jeckelmann, beat; Gunnarsson, O.; Satrapinsky, Alexandre
IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement. April, 2001, Vol. 50 Issue 21, p242, 3 p.
APMP/TCRI key comparison report of measurement of air kerma for medium-energy x-rays (APMP.RI(I)-K3)
Academic Journal
Lee, J. H.; Hwang, W. S.; Kotler, L. H.; Webb, D. V.; Bueermann, L.; Burns, D. T.; Takeyeddin, M.; Shaha, V. V.; Srimanoroth, S.; Meghzifene, A.; Hah, S. H.; Chun, K. J.; Kadni, T. B.; Takata, N.; Msimang, Z.
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[AR] Msimang, Z.
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