학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 72건 | 목록
10~20
Academic Journal
Abgrall, N.; Allmond, J.M.; Arnquist, I.J.; Avignone, F.T.; Barabash, A.S.; Barton, C.J.; Bertrand, F.E.; Bos, B.; Busch, M.; Buuck, M.; Caldwell, T.S.; Campbell, C.M.; Chan, Y.; Christofferson, C.D.; Chu, P.; Clark, M.L.; Crawford, H.L.; Cuesta, C.; Detwiler, J.A.; Drobizhev, A.; Edwins, D.W.; Efremenko, Y.; Ejiri, H.; Elliott, S.R.; Gilliss, T.; Giovanetti, G.K.; Green, M.P.; Gruszko, J.; Guinn, I.S.; Guiseppe, V.E.; Haufe, C.R.; Hegedus, R.J.; Henning, R.; Aguilar, D.H.; Hoppe, E.W.; Hostiuc, A.; Kidd, M.F.; Kim, I.; Kouzes, R.T.; Lopez, A.M.; Lopez-Castano, J.M.; Martin, E.L.; Martin, R.D.; Massarczyk, R.; Meijer, S.J.; Mertens, S.; Myslik, J.; Oli, T.K.; Othman, G.; Pettus, W.; Poon, A.W.P.; Radford, D.C.; Rager, J.; Reine, A.L.; Rielage, K.; Ruof, N.W.; Stortini, M.J.; Tedeschi, D.; Varner, R.L.; Vasilyev, S.; White, B.R.; Wilkerson, J.F.; Wiseman, C.; Xu, W.; Yu, C.; Zhu, B.X.; Shanks, B.
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 68(3):359-367 Mar, 2021
Academic Journal
Arnquist, I.J.; Hoppe, E.W.; Kouzes, R.T.; Avignone, F.T.; Lannen V, T.E.; Tedeschi, D.; Efremenko, Y.; Green, M.P.; Guiseppe, V.E.; López-Castaño, J.M.; Radford, D.C.; Varner, R.L.; Wilkerson, J.F.; Yu, C.-H.; Barabash, A.S.; Barton, C.J.; Oli, T.K.; Paudel, L.S.; Xu, W.; Bhimani, K.H.; Bos, B.; Caldwell, T.S.; Clark, M.L.; Gruszko, J.; Guinn, I.S.; Haufe, C.R.; Henning, R.; Hervas Aguilar, D.; Li, A.; Martin, E.L.; Othman, G.; Reine, A.L.; Blalock, E.; Busch, M.; Buuck, M.; Detwiler, J.A.; Hostiuc, A.; Ruof, N.W.; Wiseman, C.; Chan, Y.-D.; Poon, A.W.P.; Christofferson, C.D.; Chu, P.-H.; Elliott, S.R.; Kim, I.; Massarczyk, R.; Meijer, S.J.; Rielage, K.; Schaper, D.C.; Zhu, B.X.; Cuesta, C.; Ejiri, H.; Giovanetti, G.K.; Kidd, M.F.; Martin, R.D.; Mertens, S.; Pettus, W.; Vasilyev, S.
In: Physical Review C . (Physical Review C, April 2023, 107(4))
Academic Journal
Arnquist, I.J.; Hoppe, E.W.; Kouzes, R.T.; Avignone, F.T.; Lannen V, T.E.; Tedeschi, D.; Efremenko, Y.; Green, M.P.; Guiseppe, V.E.; López-Castaño, J.M.; Radford, D.C.; Varner, R.L.; Wilkerson, J.F.; Yu, C.-H.; Barabash, A.S.; Barton, C.J.; Oli, T.K.; Paudel, L.S.; Xu, W.; Barton, P.J.; Chan, Y.-D.; Poon, A.W.P.; Bhimani, K.H.; Bos, B.; Caldwell, T.S.; Clark, M.L.; Gruszko, J.; Guinn, I.S.; Haufe, C.R.; Henning, R.; Hervas Aguilar, D.; Li, A.; Martin, E.L.; Othman, G.; Reine, A.L.; Blalock, E.; Busch, M.; Buuck, M.; Detwiler, J.A.; Hostiuc, A.; Ruof, N.W.; Wiseman, C.; Christofferson, C.D.; Chu, P.-H.; Elliott, S.R.; Kim, I.; Massarczyk, R.; Meijer, S.J.; Rielage, K.; Schaper, D.C.; Zhu, B.X.; Cuesta, C.; Lopez, A.M.; Ejiri, H.; Giovanetti, G.K.; Kidd, M.F.; Martin, R.D.; Mertens, S.; Pettus, W.; Vasilyev, S.
In: Physical Review Letters . (Physical Review Letters, 10 February 2023, 130(6))
Academic Journal
Arnquist, I.J.; Hoppe, E.W.; Kouzes, R.T.; Avignone, F.T.; Lannen V, T.E.; Tedeschi, D.; Efremenko, Y.; Green, M.P.; Guiseppe, V.E.; López-Castaño, J.M.; Radford, D.C.; Varner, R.L.; Wilkerson, J.F.; Yu, C.-H.; Barabash, A.S.; Barton, C.J.; Oli, T.K.; Paudel, L.S.; Xu, W.; Bhimani, K.H.; Bos, B.; Caldwell, T.S.; Clark, M.L.; Gruszko, J.; Guinn, I.S.; Haufe, C.R.; Henning, R.; Hervas Aguilar, D.; Li, A.; Martin, E.L.; Othman, G.; Reine, A.L.; Blalock, E.; Busch, M.; Buuck, M.; Detwiler, J.A.; Hostiuc, A.; Ruof, N.W.; Wiseman, C.; Chan, Y.-D.; Poon, A.W.P.; Christofferson, C.D.; Chu, P.-H.; Elliott, S.R.; Kim, I.; Massarczyk, R.; Meijer, S.J.; Rielage, K.; Schaper, D.C.; Cuesta, C.; Giovanetti, G.K.; Kidd, M.F.; Martin, R.D.; Pettus, W.; Vasilyev, S.
In: Physical Review C . (Physical Review C, January 2023, 107(1))
Academic Journal
Elliott, S.R.; Massarczyk, R.; Stortini, M.; Bond, E.M.; Rusev, G.; Dodson, B.; Wiseman, C.; Meijer, S.J.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 1 January 2023, 18(1))
Academic Journal
Arnquist, I.J.; Hoppe, E.W.; Kouzes, R.T.; Avignone, F.T.; Lannen V, T.E.; Tedeschi, D.; Efremenko, Y.; Green, M.P.; Guiseppe, V.E.; López-Castaño, J.M.; Radford, D.C.; Varner, R.L.; Wilkerson, J.F.; Yu, C.-H.; Barabash, A.S.; Barton, C.J.; Oli, T.K.; Paudel, L.S.; Xu, W.; Bhimani, K.H.; Bos, B.; Caldwell, T.S.; Clark, M.L.; Gruszko, J.; Guinn, I.S.; Haufe, C.R.; Henning, R.; Hervas Aguilar, D.; Li, A.; Martin, E.L.; Othman, G.; Reine, A.L.; Blalock, E.; Busch, M.; Buuck, M.; Detwiler, J.A.; Hostiuc, A.; Ruof, N.W.; Wiseman, C.; Chan, Y.-D.; Poon, A.W.P.; Christofferson, C.D.; Chu, P.-H.; Elliott, S.R.; Kim, I.; Massarczyk, R.; Meijer, S.J.; Rielage, K.; Schaper, D.C.; Zhu, B.X.; Cuesta, C.; Lopez, A.M.; Ejiri, H.; Giovanetti, G.K.; Kidd, M.F.; Martin, R.D.; Pettus, W.; Vasilyev, S.
In: Physical Review Letters . (Physical Review Letters, 19 August 2022, 129(8))
Academic Journal
Arnquist, I.J.; Hoppe, E.W.; Kouzes, R.T.; Avignone, F.T.; Lannen V, T.E.; Tedeschi, D.; Efremenko, Y.; Green, M.P.; Guiseppe, V.E.; López-Castaño, J.M.; Radford, D.C.; Varner, R.L.; Wilkerson, J.F.; Yu, C.-H.; Barabash, A.S.; Barton, C.J.; Oli, T.K.; Paudel, L.S.; Xu, W.; Bhimani, K.H.; Bos, B.; Caldwell, T.S.; Clark, M.L.; Gruszko, J.; Guinn, I.S.; Haufe, C.R.; Henning, R.; Hervas Aguilar, D.; Li, A.; Martin, E.L.; Othman, G.; Reine, A.L.; Blalock, E.; Busch, M.; Buuck, M.; Detwiler, J.A.; Hostiuc, A.; Ruof, N.W.; Wiseman, C.; Chan, Y.-D.; Poon, A.W.P.; Christofferson, C.D.; Chu, P.-H.; Elliott, S.R.; Kim, I.; Massarczyk, R.; Meijer, S.J.; Rielage, K.; Zhu, B.X.; Cuesta, C.; Lopez, A.M.; Ejiri, H.; Giovanetti, G.K.; Martin, R.D.; Pettus, W.; Vasilyev, S.
In: Physical Review Letters . (Physical Review Letters, 19 August 2022, 129(8))
Academic Journal
Baudis, L.; Benato, G.; Bond, E.M.; Chiu, P.J.; Elliott, S.R.; Massarczyk, R.; Meijer, S.J.; Müller, Y.
Journal of Instrumentation; 2/1/2023, Vol. 18 Issue 2, p1-15, 15p
Academic Journal
Arnquist, I.J.; Hoppe, E.W.; Kouzes, R.T.; Avignone, F.T.; Lannen, T.E.; Tedeschi, D.; Efremenko, Y.; Green, M.P.; Guiseppe, V.E.; López-Castanõ, J.M.; Radford, D.C.; Varner, R.L.; Wilkerson, J.F.; Yu, C.-H.; Barabash, A.S.; Barton, C.J.; Oli, T.K.; Paudel, L.S.; Xu, W.; Bhimani, K.H.; Bos, B.; Caldwell, T.S.; Clark, M.L.; Gruszko, J.; Guinn, I.S.; Haufe, C.R.; Henning, R.; Hervas Aguilar, D.; Li, A.; Martin, E.L.; Othman, G.; Reine, A.L.; Blalock, E.; Busch, M.; Buuck, M.; Detwiler, J.A.; Hostiuc, A.; Ruof, N.W.; Wiseman, C.; Chan, Y.-D.; Poon, A.W.P.; Christofferson, C.D.; Chu, P.-H.; Elliott, S.R.; Kim, I.; Massarczyk, R.; Meijer, S.J.; Rielage, K.; Zhu, B.X.; Cuesta, C.; Lopez, A.M.; Ejiri, H.; Giovanetti, G.K.; Kidd, M.F.; Martin, R.D.; Pettus, W.; Vasilyev, S.
In: Physical Review C . (Physical Review C, June 2022, 105(6))
Academic Journal
Abgrall, N.; Amman, M.; Barton, P.J.; Bradley, A.W.; Chan, Y.-D.; Drobizhev, A.; Loach, J.C.; Luke, P.N.; Myslik, J.; Poon, A.W.P.; Turqueti, M.; Vetter, K.; Arnquist, I.J.; Hoppe, E.W.; Kouzes, R.T.; Avignone, F.T.; Edwins, D.W.; Tedeschi, D.; Bertrand, F.E.; Cooper, R.J.; Efremenko, Y.; Green, M.P.; Guiseppe, V.E.; Radford, D.C.; Varner, R.L.; Wilkerson, J.F.; Yu, C.-H.; Barabash, A.S.; Barton, C.J.; López-Castaño, J.M.; Oli, T.K.; Xu, W.; Bhimani, K.H.; Bos, B.; Caldwell, T.S.; Clark, M.L.; Gilliss, T.; Gruszko, J.; Guinn, I.S.; Haufe, C.R.; Hegedus, R.J.; Henning, R.; Hervas Aguilar, D.; Li, A.; Martin, E.L.; Othman, G.; Rager, J.; Reine, A.L.; Busch, M.; Christofferson, C.D.; Burritt, T.H.; Buuck, M.; Cuesta, C.; Detwiler, J.A.; Hostiuc, A.; Peterson, D.; Pettus, W.; Robertson, R.G.H.; Ruof, N.W.; Van Wechel, T.D.; Wiseman, C.; Chu, P.-H.; Elliott, S.R.; Kim, I.; Massarczyk, R.; Meijer, S.J.; Rielage, K.; Sayki, B.; Stortini, M.J.; Zhu, B.X.; Lopez, A.M.; Ejiri, H.; Giovanetti, G.K.; Kidd, M.F.; Vasilyev, S.; Yaver, H.; Zimmermann, S.; Martin, R.D.; Mertens, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 1 May 2022, 17(5))
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Meijer, S.J.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어