학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 274건 | 목록
10~20
Academic Journal
Auger, M.; Chen, Y.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Mettler, T.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bass, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Dolce, M.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Qian, X.; Radeka, V.; Viren, B.; Wei, H.; Yu, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Mastbaum, A.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Terrazas, I.C.; Mooney, M.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Jwa, Y.-J.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Ross-Lonergan, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.; Baller, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Adams, C.; Guenette, R.; Soleti, S.R.; Pontseele, W.V.D.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.A.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Evans, J.J.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Guzowski, P.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Carr, R.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Papadopoulou, A.; Yates, L.E.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Sword-Fehlberg, S.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Tutto, M.D.; Bhattacharya, K.; Church, E.; Wierman, K.; Dytman, S.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Terao, K.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Bhat, A.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Gollapinni, S.; Mogan, A.; Tang, W.; Yarbrough, G.; Asaadi, J.; Williams, Z.; Bay, F.; Wongjirad, T.; Mariani, C.; Murphy, M.; Pandey, V.; Balasubramanian, S.; Cooper-Troendle, L.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 6 July 2018, 13(7))
Academic Journal
Auger, M.; Chen, Y.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bass, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Radeka, V.; Thorn, C.; Viren, B.; Wei, H.; Yu, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Mastbaum, A.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Jwa, Y.-J.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Ross-Lonergan, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.; Terao, K.; Bagby, L.; Baller, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Adams, C.; Guenette, R.; Soleti, S.R.; Pontseele, W.V.D.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.A.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Evans, J.J.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Guzowski, P.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Papadopoulou, A.; Wongjirad, T.; Yates, L.E.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Sword-Fehlberg, S.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Tutto, M.D.; Bhattacharya, K.; Church, E.; Wierman, K.; Dytman, S.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Bhat, A.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Gollapinni, S.; Mogan, A.; Tang, W.; Yarbrough, G.; Asaadi, J.; Williams, Z.; Bay, F.; Mariani, C.; Murphy, M.; Pandey, V.; Balasubramanian, S.; Cooper-Troendle, L.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 6 July 2018, 13(7))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rudolf von Rohr, C.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Viren, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Escudero Sanchez, L.; Jan de Vries, J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; St. John, J.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Terao, K.; Acciarri, R.; Bagby, L.; Baller, B.; Carls, B.; Castillo Fernandez, R.; Cavanna, F.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Adams, C.; Guenette, R.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Martinez Caicedo, D.A.; Bolton, T.; Gollapinni, S.; Horton-Smith, G.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; Vandewater, R.G.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Wongjirad, T.; Yates, L.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Bass, M.; Del Tutto, M.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Vandepontseele, W.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Mariani, C.; Balasubramanian, S.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: European Physical Journal C . (European Physical Journal C, 1 January 2018, 78(1))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rudolf Von Rohr, C.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Viren, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Escudero Sanchez, L.; Jan De Vries, J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Terao, K.; Acciarri, R.; Bagby, L.; Baller, B.; Carls, B.; Castillo Fernandez, R.; Cavanna, F.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Adams, C.; Guenette, R.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Martinez Caicedo, D.A.; Bolton, T.; Gollapinni, S.; Horton-Smith, G.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; Van De Water, R.G.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Wongjirad, T.; Yates, L.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Bass, M.; Del Tutto, M.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Van De Pontseele, W.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Kalousis, L.N.; Lange, G.; Mariani, C.; Pelkey, R.; Balasubramanian, S.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 20 December 2017, 12(12))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Viren, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Terao, K.; Acciarri, R.; Bagby, L.; Baller, B.; Carls, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Gollapinni, S.; Horton-Smith, G.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Bugel, L.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Hen, O.; Moon, J.; Wongjirad, T.; Yates, L.; Abratenko, P.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Bass, M.; Tutto, M.D.; Guenette, R.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Kalousis, L.N.; Mariani, C.; Adams, C.; Balasubramanian, S.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 18 October 2017, 12(10))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Viren, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.A.; Terao, K.; Acciarri, R.; Bagby, L.; Baller, B.; Carls, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Gollapinni, S.; Horton-Smith, G.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Bugel, L.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Hen, O.; Moon, J.; Wongjirad, T.; Yates, L.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Bass, M.; Tutto, M.D.; Guenette, R.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Mariani, C.; Adams, C.; Balasubramanian, S.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 14 September 2017, 12(9))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Bullard, B.; Chen, H.; Geronimo, G.D.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, S.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Radeka, V.; Rescia, S.; Thorn, C.; Viren, B.; Yu, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Terao, K.; Acciarri, R.; Bagby, L.; Baller, B.; Carls, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Gollapinni, S.; Horton-Smith, G.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Wongjirad, T.; Yates, L.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Bass, M.; Tutto, M.D.; Guenette, R.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Pontseele, W.V.D.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Mariani, C.; Adams, C.; Balasubramanian, S.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 4 August 2017, 12(8))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Von Rohr, C.R.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Viren, B.; Zhang, C.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Thomson, M.; Weston, J.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Terao, K.; Acciarri, R.; Bagby, L.; Baller, B.; Carls, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Gollapinni, S.; Horton-Smith, G.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; Van De Water, R.G.; Furmanski, A.P.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Bugel, L.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Hen, O.; Jones, B.J.P.; Moon, J.; Wongjirad, T.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Bass, M.; Del Tutto, M.; Guenette, R.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Mariani, C.; Adams, C.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 14 March 2017, 12(3))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Haenni, R.; Kreslo, I.; Lee, W.M.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rudolf Von Rohr, C.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Chen, K.; Duffin, S.; Farrell, J.; Joshi, J.; Kirby, B.; Lanni, F.; Li, Y.; Lissauer, D.; Mahler, G.; Makowiecki, D.; Mead, J.; Mooney, M.; Qian, X.; Radeka, V.; Rescia, S.; Ruga, A.; Sondericker, J.; Thorn, C.; Viren, B.; Wu, K.C.; Yu, B.; Zhang, C.; Escudero Sanchez, L.; Jan De Vries, J.; Marshall, J.; Thomson, M.; Weston, J.; Foreman, W.; Ho, J.; Norton, N.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; St John, J.; Ayoub, N.; Callahan, C.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Chi, C.-Y.; Cianci, D.; Crespo-Anadon, J.I.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Phipps, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sippach, W.; Smith, A.; Sutton, K.; Tatum, K.; Terao, K.; Acciarri, R.; Aparicio, A.; Aponte, S.; Bagby, L.; Baller, B.; Barger, R.; Biery, K.; Bocean, V.; Boehnlein, D.; Bogert, V.D.; Carls, B.; Castillo Fernandez, R.; Cavanna, F.; Chappa, S.; Cornele, J.; Cowan, P.; Crutcher, G.; Darve, C.; Davis, R.; Erickson, D.; Featherston, D.; Geynisman, M.; Green, J.; Greenlee, H.; Griffin, T.; Healey, P.; Hill, K.; Huffman, D.; James, C.; James, E.; Jaskierny, W.; Johnson, B.; Johnson, M.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kilmer, J.; King, B.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Krull, R.; Kubinski, R.; Lathrop, A.; Lockwitz, S.; Lukhanin, G.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Markley, D.; Miner, W.; Moore, C.D.; Norris, B.; O'Boyle, M.; Olszanowski, T.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Pordes, S.; Raaf, J.L.; A Rameika, R.; Rebel, B.; Rechenmacher, R.; Sanders, R.; Sarychev, M.; Schukraft, A.; Scott, R.; Shoun, M.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Taheri, K.; Teng, J.; Tillman, J.; Toups, M.; Utes, M.; Vendetta, C.; Voirin, E.; Voirin, J.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Zuckerbrot, M.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Martinez Caicedo, D.A.; Bolton, T.; Farooq, S.; Gollapinni, S.; Himes, L.; Horton-Smith, G.; McKee, D.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; Van De Water, R.G.; Furmanski, A.P.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Bugel, L.; Chiu, C.S.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Greene, A.; Hen, O.; Ignarra, C.M.; Jones, B.J.P.; Katori, T.; Moon, J.; Moss, Z.; Smidt, T.; Vergani, S.; Wester, T.; Wongjirad, T.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Henderson, E.; McLean, A.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Goff, B.; Kellogg, P.; Majoros, I.; Tagg, N.; Watkins, P.; Barr, G.; Bass, M.; Del Tutto, M.; Guenette, R.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; McDonald, K.T.; Sands, W.R.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Kalousis, L.N.; Lange, G.; Mariani, C.; Pelkey, R.; Solano-Gonzalez, M.; Adams, C.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Klein, E.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 24 February 2017, 12(2))
Academic Journal
Anghel, I.; Ayres, D.S.; Dharmapalan, R.; Djurcic, Z.; Goodenough, L.; Goodman, M.C.; Grudzinski, J.; Guarino, V.; Huang, X.; Magill, S.; Sahoo, H.; Sanchez, M.C.; Sepulveda-Quiroz, J.; Suter, L.; Talaga, R.L.; Wood, K.; Zhao, A.; Lokajicek, M.; Zalesak, J.; Tzanakos, G.; Singh, V.; Lee, K.; Backhouse, C.; Bays, K.; Howcroft, C.; Lozier, J.; Michael, D.; Mualem, L.; Newman, H.B.; Patterson, R.B.; Pershey, D.; Trevor, J.; Soustruznik, K.; Tas, P.; Aurisano, A.; Sousa, A.; Yang, S.; Thayyullathil, R.B.; Jediny, F.; Martincik, J.; Smolik, J.; Vrba, T.; Choudhary, B.C.; Pandey, P.; Adamson, P.; Ader, C.; Andrews, M.; Bernstein, R.; Biery, K.; Bocean, V.; Bogert, D.; Bowden, M.; Broemmelsiek, D.; Brunetti, G.; Bu, X.; Capista, D.; Childress, S.; Cooper, J.; Del Tutto, M.; Derwent, P.F.; Deuerling, G.; Dey, J.; Ding, P.; Dixon, S.; Foulkes, S.; Freeman, W.; Grossman, N.; Hatcher, R.; Hylen, J.; Jensen, C.; Jensen, D.; Jostlein, H.; Kephart, K.; Koizumi, G.; Kourbanis, I.; Kreymer, A.; Kwarciancy, R.; Lee, A.; Lee, W.M.; Lu, Q.; Lucas, P.; Lukens, P.; Lukhanin, G.; Martens, M.; Matera, K.; McCluskey, E.; Miao, T.; Norman, A.; Paley, J.; Para, A.; Perevalov, D.; Piccoli, L.; Pla-Dalmau, A.; Plunkett, R.K.; Pushka, D.; Rameika, R.A.; Ray, R.; Rebel, B.; Rechenmacher, R.; Reilly, R.; Saoulidou, N.; Schlabach, P.; Shanahan, P.; Tariq, S.; Tesarek, R.J.; Valerio, L.; Wehmann, A.; Wilcer, N.; Wildman, D.; Williams, K.; Xiao, M.; Zwaska, R.; Ghosh, T.; Gomes, R.A.; Tognini, S.C.; Bhuyan, B.; Yadav, N.; Feldman, G.J.; Felt, N.; Kafka, G.K.; Oliver, J.; Schroeter, R.; Toner, R.; Bambah, B.A.; Deepthi, K.N.; Kasetti, S.; Mohanta, R.; Giri, A.; Baird, M.; Bower, C.; Davies, G.S.; Gebhard, M.; Ishitsuka, M.; Johnson, C.; Merritt, H.; Messier, M.D.; Mufson, S.; Musser, J.; Niner, E.; Psihas, F.; Urheim, J.; Whittington, D.; Butkevich, A.; Luchuk, S.; Matveev, V.; Mikheyev, S.P.; Rodkin, D.; Stenkin, Y.; Zadorozhnyy, S.; Catano-Mur, E.; Kutnink, T.; Xin, T.; Potukuchi, B.; Anfimov, N.; Bolshakova, A.; Kulenberg, Ch.; Olshevskiy, A.; Samoylov, O.; Sheshukov, A.; Sotnikov, A.; Grichine, V.; Kotelnikov, S.; Ryabov, V.; Bromberg, C.; Demuth, D.; Habig, A.; Moren, A.; Thomsen, K.; Arms, K.; Betancourt, M.; Bian, J.; Chase, T.R.; Cronin-Hennessy, D.; Desai, S.; Gabrielyan, M.; Gilbert, W.; Heller, K.; Kasahara, S.M.S.; Krahn, Z.; Kwong, J.; Lein, S.; Marshak, M.L.; Miller, W.H.; Nowak, J.; Pawloski, G.; Pearson, N.; Peterson, E.; Poling, R.; Raddatz, N.; Rocco, D.; Ruddick, K.; Rusack, R.; Sachdev, K.; Sherwood, B.; Smith, A.; Strait, M.; Wildberger, R.; Zirnstein, J.; Weber, A.; Bhatnagar, V.; Kumar, A.; Maan, K.; Sahijpal, S.; Singh, J.; Chowdhury, B.; Duyang, H.; Guo, B.; Mishra, S.R.; Petti, R.; Tian, X.; Corwin, L.; Reed, B.; Smith, D.; Arrieta-Diaz, E.; Coan, T.E.; Kravtsov, V.; Wang, B.; Qiu, X.; Wojcicki, S.G.; Blackburn, T.; Davies, J.P.; Hartnell, J.; Tamsett, M.C.; Vinton, L.; Waldron, A.V.; Zamorano, B.; Flumerfelt, E.; Handler, T.; Hatzikoutelis, A.; Kamyshkov, Y.; Mason, P.; Huang, J.; Lang, K.; Mehdiyev, R.; Cunningham, A.; Fenyves, E.J.; Coelho, J.A.B.; Gallagher, H.R.; Mann, W.A.; Mayer, N.; Olson, T.; Schneps, J.; Dukes, E.C.; Ehrlich, R.; Frank, M.J.; Goadhouse, S.; Group, R.; Oksuzian, Y.; Wang, Z.; Meyer, H.; Muether, M.; Solomey, N.; Colo, M.; Devan, A.; Liu, J.; Mathis, M.; Nelson, J.K.; Radovic, A.; Vahle, P.; Phan-Budd, S.
In: Physical Review Letters . (Physical Review Letters, 13 April 2016, 116(15))
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] H. Jostlein
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어