학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 2,392건 | 목록
180~190
Report
Hezaveh, Y. D.; Marrone, D. P.; Fassnacht, C. D.; Spilker, J. S.; Vieira, J. D.; Aguirre, J. E.; Aird, K. A.; Aravena, M.; Ashby, M. L. N.; Bayliss, M.; Benson, B. A.; Bleem, L. E.; Bothwell, M.; Brodwin, M.; Carlstrom, J. E.; Chang, C. L.; Chapman, S. C.; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; De Breuck, C.; de Haan, T.; Dobbs, M. A.; Fomalont, E. B.; George, E. M.; Gladders, M. D.; Gonzalez, A. H.; Greve, T. R.; Halverson, N. W.; High, F. W.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hoover, S.; Hrubes, J. D.; Husband, K.; Hunter, T. R.; Keisler, R.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lueker, M.; Luong-Van, D.; Malkan, M.; McIntyre, V.; McMahon, J. J.; Mehl, J.; Menten, K. M.; Meyer, S. S.; Mocanu, L. M.; Murphy, E. J.; Natoli, T.; Padin, S.; Plagge, T.; Reichardt, C. L.; Rest, A.; Ruel, J.; Ruhl, J. E.; Sharon, K.; Schaffer, K. K.; Shaw, L.; Shirokoff, E.; Stalder, B.; Staniszewski, Z.; Stark, A. A.; Story, K.; Vanderlinde, K.; Weiß, A.; Welikala, N.; Williamson, R.
Report
Vieira, J. D.; Marrone, D. P.; Chapman, S. C.; De Breuck, C.; Hezaveh, Y. D.; Weiss, A.; Aguirre, J. E.; Aird, K. A.; Aravena, M.; Ashby, M. L. N.; Bayliss, M.; Benson, B. A.; Biggs, A. D.; Bleem, L. E.; Bock, J. J.; Bothwell, M.; Bradford, C. M.; Brodwin, M.; Carlstrom, J. E.; Chang, C. L.; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; de Haan, T.; Dobbs, M. A.; Fomalont, E. B.; Fassnacht, C. D.; George, E. M.; Gladders, M. D.; Gonzalez, A. H.; Greve, T. R.; Gullberg, B.; Halverson, N. W.; High, F. W.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hoover, S.; Hrubes, J. D.; Hunter, T. R.; Keisler, R.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lueker, M.; Luong-Van, D.; Malkan, M.; McIntyre, V.; McMahon, J. J.; Mehl, J.; Menten, K. M.; Meyer, S. S.; Mocanu, L. M.; Murphy, E. J.; Natoli, T.; Padin, S.; Plagge, T.; Reichardt, C. L.; Rest, A.; Ruel, J.; Ruhl, J. E.; Sharon, K.; Schaffer, K. K.; Shaw, L.; Shirokoff, E.; Spilker, J. S.; Stalder, B.; Staniszewski1, Z.; Stark, A. A.; Story, K.; Vanderlinde, K.; Welikala, N.; Williamson, R.
Report
Hou, Z.; Reichardt, C. L.; Story, K. T.; Follin, B.; Keisler, R.; Aird, K. A.; Benson, B. A.; Bleem, L. E.; Carlstrom, J. E.; Chang, C. L.; Cho, H-M.; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; de Haan, T.; de Putter, R.; Dobbs, M. A.; Dodelson, S.; Dudley, J.; George, E. M.; Halverson, N. W.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hoover, S.; Hrubes, J. D.; Joy, M.; Knox, L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lueker, M.; Luong-Van, D.; McMahon, J. J.; Mehl, J.; Meyer, S. S.; Millea, M.; Mohr, J. J.; Montroy, T. E.; Padin, S.; Plagge, T.; Pryke, C.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Schaffer, K. K.; Shaw, L.; Shirokoff, E.; Spieler, H. G.; Staniszewski, Z.; Stark, A. A.; van Engelen, A.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Williamson, R.; Zahn, O.
2014 ApJ, 782, 74
Report
Story, K. T.; Reichardt, C. L.; Hou, Z.; Keisler, R.; Aird, K. A.; Benson, B. A.; Bleem, L. E.; Carlstrom, J. E.; Chang, C. L.; Cho, H-M.; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; de Haan, T.; Dobbs, M. A.; Dudley, J.; Follin, B.; George, E. M.; Halverson, N. W.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hoover, S.; Hrubes, J. D.; Joy, M.; Knox, L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lueker, M.; Luong-Van, D.; McMahon, J. J.; Mehl, J.; Meyer, S. S.; Millea, M.; Mohr, J. J.; Montroy, T. E.; Padin, S.; Plagge, T.; Pryke, C.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Schaffer, K. K.; Shaw, L.; Shirokoff, E.; Spieler, H. G.; Staniszewski, Z.; Stark, A. A.; van Engelen, A.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Williamson, R.; Zahn, O.
Report
Sayre, J. T.; Ade, P.; Aird, K. A.; Austermann, J. E.; Beall, J. A.; Becker, D.; Benson, B. A.; Bleem, L. E.; Britton, J.; Carlstrom, J. E.; Chang, C. L.; Cho, H-M.; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; Datesman, A.; de Haan, T.; Dobbs, M. A.; Everett, W.; Ewall-Wice, A.; George, E. M.; Halverson, N. W.; Harrington, N.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holzapfel, W. L.; Hubmayr, J.; Irwin, K. D.; Karfunkle, M.; Keisler, R.; Kennedy, J.; Lee, A. T.; Leitch, E.; Li, D.; Lueker, M.; Marrone, D. P.; McMahon, J. J.; Mehl, J.; Meyer, S. S.; Montgomery, J.; Montroy, T. E.; Nagy, J.; Natoli, T.; Nibarger, J. P.; Niemack, M. D.; Novosad, V.; Padin, S.; Pryke, C.; Reichardt, C. L.; Ruhl, J. E.; Saliwanchik, B. R.; Schaffer, K. K.; Shirokoff, E.; Story, K.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Williamson, R.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, E.
Proc. SPIE 8452, Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy VI, 845239 (October 5, 2012)
Report
Story, K.; Leitch, E.; Ade, P.; Aird, K. A.; Austermann, J. E.; Beall, J. A.; Becker, D.; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bleem, L. E.; Britton, J.; Carlstrom, J. E.; Chang, C. L.; Chiang, H. C.; Cho, H-M.; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; Datesman, A.; de Haan, T.; Dobbs, M. A.; Everett, W.; Ewall-Wice, A.; George, E. M.; Halverson, N. W.; Harrington, N.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holzapfel, W. L.; Hoover, S.; Huang, N.; Hubmayr, J.; Irwin, K. D.; Karfunkle, M.; Keisler, R.; Kennedy, J.; Lee, A. T.; Li, D.; Lueker, M.; Marrone, D. P.; McMahon, J. J.; Mehl, J.; Meyer, S. S.; Montgomery, J.; Montroy, T. E.; Nagy, J.; Natoli, T.; Nibarger, J. P.; Niemack, M. D.; Novosad, V.; Padin, S.; Pryke, C.; Reichardt, C. L.; Ruhl, J. E.; Saliwanchik, B. R.; Sayre, J. T.; Schaffer, K. K.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Stalder, B.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Williamson, R.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, E.
Proc. SPIE 8451, Software and Cyberinfrastructure for Astronomy II, 84510T (September 24, 2012)
Report
Austermann, J. E.; Aird, K. A.; Beall, J. A.; Becker, D.; Bender, A.; Benson, B. A.; Bleem, L. E.; Britton, J.; Carlstrom, J. E.; Chang, C. L.; Chiang, H. C.; Cho, H. M.; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; Datesman, A.; de Haan, T.; Dobbs, M. A.; George, E. M.; Halverson, N. W.; Harrington, N.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hoover, S.; Huang, N.; Hubmayr, J.; Irwin, K. D.; Keisler, R.; Kennedy, J.; Knox, L.; Lee, A. T.; Leitch, E.; Li, D.; Lueker, M.; Marrone, D. P.; McMahon, J. J.; Mehl, J.; Meyer, S. S.; Montroy, T. E.; Natoli, T.; Nibarger, J. P.; Niemack, M. D.; Novosad, V.; Padin, S.; Pryke, C.; Reichardt, C. L.; Ruhl, J. E.; Saliwanchik, B. R.; Sayre, J. T.; Schaffer, K. K.; Shirokoff, E.; Stark, A. A.; Story, K.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Williamson, R.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Zahn, O.
Proc. SPIE 8452, Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy VI, 84520E (September 27, 2012)
Report
Henning, J. W.; Ade, P.; Aird, K. A.; Austermann, J. E.; Beall, J. A.; Becker, D.; Benson, B. A.; Bleem, L. E.; Britton, J.; Carlstrom, J. E.; Chang, C. L.; Cho, H. -M.; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; Datesman, A.; de Haan, T.; Dobbs, M A.; Everett, W.; Ewall-Wice, A.; George, E. M.; Halverson, N. W.; Harrington, N.; Hilton, G. C.; Holzapfel, W. L.; Hubmayr, J.; Irwin, K. D.; Karfunkle, M.; Keisler, R.; Kennedy, J.; Lee, A. T.; Leitch, E.; Li, D.; Lueker, M.; Marrone, D. P.; McMahon, J. J.; Mehl, J.; Meyer, S. S.; Montgomery, J.; Montroy, T. E.; Nagy, J.; Natoli, T.; Nibarger, J. P.; Niemack, M. D.; Novosad, V.; Padin, S.; Pryke, C.; Reichardt, C. L.; Ruhl, J. E.; Saliwanchik, B. R.; Sayre, J. T.; Schaffer, K. K.; Shirokoff, E.; Story, K.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Williamson, R.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, E.
Proc. SPIE 8452, Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy VI, 84523A (October 5, 2012)
Report
George, E. M.; Ade, P.; Aird, K. A.; Austermann, J. E.; Beall, J. A.; Becker, D.; Bender, A.; Benson, B. A.; Bleem, L. E.; Britton, J.; Carlstrom, J. E.; Chang, C. L.; Chiang, H. C.; Cho, H-M.; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; Datesman, A.; de Haan, T.; Dobbs, M. A.; Everett, W.; Ewall-Wice, A.; Halverson, N. W.; Harrington, N.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holzapfel, W. L.; Hoover, S.; Huang, N.; Hubmayr, J.; Irwin, K. D.; Karfunkle, M.; Keisler, R.; Kennedy, J.; Lee, A. T.; Leitch, E.; Li, D.; Lueker, M.; Marrone, D. P.; McMahon, J. J.; Mehl, J.; Meyer, S. S.; Montgomery, J.; Montroy, T. E.; Nagy, J.; Natoli, T.; Nibarger, J. P.; Niemack, M. D.; Novosad, V.; Padin, S.; Pryke, C.; Reichardt, C. L.; Ruhl, J. E.; Saliwanchik, B. R.; Sayre, J. T.; Schaffer, K. K.; Shirokoff, E.; Story, K.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Williamson, R.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, E.
Proc. SPIE 8452, Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy VI, 84521F (September 24, 2012)
Conference
The Conference Record of the Twenty-Second IEEE Photovoltaic Specialists Conference - 1991 Photovoltaic Specialists Conference, 1991., Conference Record of the Twenty Second IEEE. :722-727 vol.1 1991
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Williamson, R.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어