학술논문
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180~190
Academic Journal
In: Journal of Cereal Science . (Journal of Cereal Science, January 2013, 57(1):141-145)
Academic Journal
In: JAOCS, Journal of the American Oil Chemists' Society . (JAOCS, Journal of the American Oil Chemists' Society, October 2012, 89(10):1867-1872)
Conference
Mele, L.; Amico, G.; Battistelli, E.S.; Buzi, D.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; Bernardis, P.D.; Leo, M.D.; Petris, M.D.; Gilles, V.; Lamagna, L.; Masi, S.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Mattei, A.; Pelosi, A.; Perciballi, M.; Zullo, A.; Ade, P.; Pisano, G.; Tucker, C.; Alberro, J.G.; Bottani, A.; Lerena, M.M.G.; Mundo, L.M.; Ringegni, P.; Scóccola, C.; Almela, A.; Etchegoyen, A.; Ferreyro, L.P.; Fracchia, D.; Redondo, M.E.G.; Platino, M.; Salum, J.M.; Arnaldi, L.H.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Harari, D.; Pastoriza, H.; Auguste, D.; Bonis, J.; Gaspard, M.; Henrot-Versillé, S.; Jules, E.; Louis, T.; Tristram, M.; Wicek, F.; Aumont, J.; Bernard, J.-P.; Giard, M.; Marty, W.; Montier, L.; Pajot, F.; Rambaud, D.; Azzoni, S.; May, A.; McCulloch, M.; Melhuish, S.; Piccirillo, L.; Banfi, S.; Ba, A.; Gervasi, M.; Nati, F.; Passerini, A.; Spinelli, S.; Zannoni, M.; B lier, B.; Bennett, D.; Burke, D.; Gayer, D.; Gradziel, M.; Murphy, J.A.; Murphy, J.D.; O'Sullivan, C.; Scully, S.; Bergé, L.; Dumoulin, L.; Marnieros, S.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Bersanelli, M.; Cavaliere, F.; Franceschet, C.; Incardona, F.; Mennella, A.; Pezzotta, F.; Tomasi, M.; Vigan, D.; Bigot-Sazy, M.-A.; Bleurvacq, N.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Dheilly, S.; Ganga, K.; García, B.; Giraud-Heraud, Y.; Grandsire, L.; Hamilton, J.-C.; Hoang, D.T.; Kaplan, J.; Loucatos, S.; Mousset, L.; Perbost, C.; Piat, M.; Pr le, D.; Stankowiak, G.; Stolpovskiy, M.; Thermeau, J.-P.; Torchinsky, S.; Voisin, F.; Bonaparte, J.; Fasciszewski, A.; Kristukat, C.; Bunn, E.; Gasperis, G.D.; Vittorio, N.; Maffei, B.; Polenta, G.; Puddu, R.; Romero, G.E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Tartari, A.; Timbie, P.; Tucker, G.
In: Journal of Physics: Conference Series , 10th Young Researcher Meeting. (Journal of Physics: Conference Series, 28 May 2020, 1548(1))
Conference
Kaiser, Ł.; Babaeizadeh, M.; Erhan, D.; Finn, C.; Levine, S.; Mohiuddin, A.; Sepassi, R.; Tucker, G.; Miłos, P.; Osiński, B.; Czechowski, K.; Kozakowski, P.; Michalewski, H.; Campbell, R.H.
In: 8th International Conference on Learning Representations, ICLR 2020 , 8th International Conference on Learning Representations, ICLR 2020. (8th International Conference on Learning Representations, ICLR 2020, 2020)
Conference
In: 8th International Conference on Learning Representations, ICLR 2020 , 8th International Conference on Learning Representations, ICLR 2020. (8th International Conference on Learning Representations, ICLR 2020, 2020)
Conference
In: Advances in Neural Information Processing Systems , 34th Conference on Neural Information Processing Systems, NeurIPS 2020. (Advances in Neural Information Processing Systems, 2020, 2020-December)
Conference
Tucker, G.; Ade, P.A.R.; Pisano, G.; Tucker, C.; Auguste, D.; Berge, L.; Bonis, J.; Dumoulin, L.; Henrot-Versille, S.; Jules, E.; Marnieros, S.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Wicek, F.; Fasciszewski, A.; Hampel, M.R.; Melo, D.; Arnaldi, L.H.; Gomez Berisso, M.; Gonzalez, M.; Harari, D.; Pastoriza, H.; Bonaparte, J.; Kristukat, C.; Belier, B.; Mattei, A.; Tartari, A.; Pelosi, A.; Perciballi, M.; Maffei, B.; Gaspard, M.; Giard, M.; Aumont, J.; Bernard, J.-P.; Marty, W.; Montier, L.; Pajot, F.; Rambaud, D.; Rasztocky, E.; Romero, G.E.; Almela, A.; Cerutti, A.C.C.; Duca, C.; Etchegoyen, A.; Ferreyro, L.P.; Fracchia, D.; Garcia, B.; Garcia Redondo, M.E.; Platino, M.; Salum, J.M.; Supanitsky, A.D.; Zullo, A.; Murphy, J.D.; Burke, D.; O Sullivan, C.; Bennett, D.; Gayer, D.; Gradziel, M.; Murphy, J.; Scully, S.; Louis, T.; Puddu, R.; Petris, M.D.; Amico, G.; Battistelli, E.S.; Bernardis, P.D.; Buzi, D.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; D Alessandro, G.; Leo, M.D.; Gilles, V.; Lamange, L.; Mele, L.; Masi, S.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Polenta, G.; Schillaci, A.; May, A.; McCulloch, M.; Piccirillo, L.; Wright, M.; Mousset, L.; Torchinsky, S.A.; Sazy, M.-A.B.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Dheilly, S.; Ganga, K.M.; Herau, Y.G.; Grandsire, L.; Kaplan, J.; Loucatos, S.; Perbost, C.; Piat, M.; Prele, D.; Stankowiak, G.; Stolpovski, M.; Thermeau, J.P.; Voisin, F.; Bersanelli, M.; Cavaliere, F.; Franceschet, C.; Incardona, F.; Mennella, A.; Pezzotta, F.; Tomasi, M.; Viganò, D.; Banfi, S.; Baù, A.; Gervasi, M.; Nati, F.; Passerini, A.; Spinelli, S.; Zannoni, M.; Gasperis, G.D.; Vittorio, N.; Gamboa, M.M.; Alberro, J.G.; Mundo, L.M.; Ringegni, P.; Scoccola, C.; Azzoni, S.; Bunn, E.; Timbie, P.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy X. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11453)
Conference
In: Advances in Neural Information Processing Systems , 34th Conference on Neural Information Processing Systems, NeurIPS 2020. (Advances in Neural Information Processing Systems, 2020, 2020-December)
Conference
Murphy, J.D.; Burke, D.; Osullivan, C.; Bau, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gaspard, M.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Gradziel, M.; Hampel, M.R.; Incardona, F.; Kristukat, C.; Melo, D.; Mennella, A.; Murphy, J.A.; Nati, F.; Passerini, A.; Pezzotta, F.; Scully, S.; Spinelli, S.; Tomasi, M.; Vigano, D.; Vittorio, N.; Zannoni, M.; Gamboa Lerena, M.M.; Louis, T.; Maffei, B.; Mattei, A.; May, A.; McCulloch, M.; Mundo, L.M.; Pelosi, A.; Perciballi, M.; Piccirillo, L.; Puddu, R.; Rasztocky, E.; Ringegni, P.; Romero, G.E.; Scoccola, C.; Tartari, A.; Timbie, P.; Tucker, G.; Wright, M.; Dheilly, S.; Ganga, K.M.; Giraud-Heraud, Y.; Grandsire, L.; Kaplan, J.; Loucatos, S.; Perbost, C.; Piat, M.; Prêle, D.; Stankowiak, G.; Stolpovskiy, M.; Thermeau, J.-P.; Voisin, F.; Zullo, A.; Hamilton, J.-C.; Mousset, L.; Torchinsky, S.A.; Bernard, J.-P.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M.-A.; Chapron, C.; Gilles, V.; Lamagna, L.; Mele, L.; Masi, S.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Polenta, G.; Schillaci, A.; De Petris, M.; Belier, B.; Bonis, J.; Bunn, E.; Buzi, D.; Chanial, P.; Pisano, G.; Tucker, C.; Duca, C.; Etchegoyen, A.; Ferreyro, L.P.; Fracchia, D.; Garcia, B.; Garcia Redondo, M.E.; Platino, M.; Salum, J.M.; Supanitsky, A.D.; Gomez Berisso, M.; Gonzalez, M.; Harari, D.; Pastoriza, H.; Ade, P.; Dumoulin, L.; Henrot-Versille, S.; Jules, E.; Marnieros, S.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Wicek, F.; Alberro, J.G.; Marty, W.; Montier, L.; Pajot, F.; Rambaud, D.; Almela, A.; Bonaparte, J.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Dalessandro, G.; De Gasperis, G.; Amico, G.; Arnaldi, L.H.; Bennett, D.; Cobos Cerutti, A.C.; Auguste, D.; Berge, L.; Aumont, J.; Azzoni, S.; Battistelli, E.S.; Banfi, S.; De Bernardis, P.; De Leo, M.; Coppolecchia, A.; Cavaliere, F.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy X. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11453)
Conference
Stankowiak, G.; Piat, M.; Grandsire, L.; Hamilton, J.Ch.; Mousset, L.; Prele, D.; Thermeau, J.P.; Torchinsky, S.A.; Voisin, F.; Bigot-Sazy, M.-A.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Dheilly, S.; Ganga, K.M.; Giraud-Heraud, Y.; Kaplan, J.; Loucatos, S.; Perbost, C.; Stolpovskiy, M.; Battistelli, E.S.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Petris, M.D.; Masi, S.; Amico, G.; Buzi, D.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; Leo, M.D.; Gilles, V.; Lamagna, L.; Mele, L.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Mattei, A.; Pelosi, A.; Perciballi, M.; Zullo, A.; Gonzalez, M.; Arnaldi, L.H.; Berisso, M.G.; Harari, D.; Pastoriza, H.; Hoang, T.D.; Marnieros, S.; Auguste, D.; Berge, L.; Bonis, J.; Dumoulin, L.; Gaspard, M.; Henrot-Versille, S.; Jules, E.; Louis, T.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Wicek, F.; Mennella, A.; Bersanelli, M.; Cavaliere, F.; Franceschet, C.; Incardona, F.; Pezzotta, F.; Tomasi, M.; Vigano, D.; Zannoni, M.; Banff, S.; Baffu, A.; Gervasi, M.; Nati, F.; Passerini, A.; O'Sullivan, C.; Bennett, D.; Burke, D.; Gayer, D.; Gradziel, M.; Murphy, J.A.; Murphy, J.D.; Scully, S.; Tartari, A.; Spinelli, S.; Ade, P.; Pisano, G.; Tucker, C.; Alberro, J.G.; Mundo, L.M.; Ringegni, P.; Almela, A.; Cerutti, A.C.C.; Duca, C.; Etchegoyen, A.; Ferreyro, L.P.; Fracchia, D.; Garcia, B.; Redondo, M.E.G.; Hampel, M.R.; Melo, D.; Platino, M.; Salum, J.M.; Supanitsky, A.D.; Aumont, J.; Bernard, J.-P.; Giard, M.; Marty, W.; Montier, L.; Pajot, F.; Rambaud, D.; Azzoni, S.; Belier, B.; Bonaparte, J.; Fasciszewski, A.; Bunn, E.; De Gasperis, G.; Vittorio, N.; Lerena, M.M.G.; Scoccola, C.; Kristukat, C.; Maffei, B.; May, A.; McCulloch, M.; Piccirillo, L.; Wright, M.; Polenta, G.; Puddu, R.; Romero, G.E.; Rasztocky, E.; Schillaci, A.; Timbie, P.; Tucker, G.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy X. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11453)
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