학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 129건 | 목록
100~110
Conference
Hazumi, M.; De Haan, T.; Hasegawa, M.; Kato, A.; Kohri, K.; Maki, M.; Minami, Y.; Nagasaki, T.; Sekimoto, Y.; Suzuki, J.; Dotani, T.; Ebisawa, K.; Hasebe, T.; Kaga, T.; Murata, Y.; Nagata, R.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Okada, N.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takeda, Y.; Tominaga, M.; Tsujimoto, M.; Yamasaki, N.Y.; Yoshida, T.; Ghigna, T.; Katayama, N.; Matsumura, T.; Sakurai, Y.; Stever, S.; Sugai, H.; Takakura, S.; Ade, P.A.R.; Calabrese, E.; Hargrave, P.; Noviello, F.; Pisano, G.; Tucker, C.; Adler, A.; Allys, E.; Boulanger, F.; Levrier, F.; Ritacco, A.; Arnold, K.; Flauger, R.; Russell, M.; Seibert, J.; Auguste, D.; Bonis, J.; Henrot-Versillé, S.; Louis, T.; Peloton, J.; Tristram, M.; Aumont, J.; Banday, A.J.; Montier, L.; Mot, B.; Rambaud, D.; Roudil, G.; Aurlien, R.; Banjeri, R.; Brilenkov, M.; Eriksen, H.K.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Gjerløw, E.; Herman, D.; Svalheim, T.L.; Thommesen, H.; Wehus, I.; Austermann, J.; Beall, J.; Duff, S.; Hilton, G.; Hubmayr, J.; Lanen, J.V.; Ullom, J.; Vissers, M.; Baccigalupi, C.; Campeti, P.; Krachmalnicoff, N.; Poletti, D.; Barreiro, R.B.; Casas, F.J.; Diego-Palazuelos, P.; Herranz, D.; De La Hoz, E.; Martinez-Gonzalez, E.; Vielva, P.; Basak, S.; Beck, D.; Cukierman, A.; Kuo, C.L.; Puglisi, G.; Thompson, K.L.; Beckman, S.; Cheung, K.; Hill, C.A.; Lee, A.T.; Raum, C.; Taylor, E.; Westbrook, B.; Bermejo, J.; De Bernardis, P.; Columbro, F.; D'alessandro, G.; De Petris, M.; Lamagna, L.; Masi, S.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Bersanelli, M.; Colombo, L.; Franceschet, C.; Maino, D.; Mandelli, S.; Mennella, A.; Realini, S.; Tomasi, M.; Borrill, J.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Curtis, D.; Linder, E.; Bounissou, S.; Grain, J.; Maffei, B.; Brown, M.; Dickinson, C.; Remazeilles, M.; Bucher, M.; Errard, J.; Ganga, K.; Leloup, C.; Patanchon, G.; Stompor, R.; Carones, A.; Migliaccio, M.; Vittorio, N.; Challinor, A.; Namikawa, T.; Sherwin, B.; Chan, V.; Hlozek, R.A.; Nerval, S.; Chinone, Y.; Nishino, H.; Cliche, J.F.; Dobbs, M.; Montgomery, J.; Cubas, J.; Dachlythra, N.; Gudmundsson, J.E.; Duband, L.; Duval, J.M.; Prouvé, T.; Elleflot, T.; Suzuki, A.; Wollack, E.J.; Essinger-Hileman, T.; Kogut, A.; Shirron, P.; Switzer, E.; Finelli, F.; Gruppuso, A.; Morgante, G.; Paoletti, D.; Sandri, M.; Villa, F.; Gao, J.R.; Genova-Santos, R.; Pagano, L.; Rubino-Martin, J.A.; Gerbino, M.; Natoli, P.; Gervasi, M.; Zannoni, M.; Thorne, B.; Gradziel, M.L.; Murphy, J.A.; Grupp, F.; Weller, J.; Halverson, N.W.; Jaehnig, G.; Hattori, M.; Hirota, Y.; Kobayashi, Y.; Konishi, K.; Ohsaki, H.; Terao, Y.; Yumoto, J.; Hivon, E.; Hoshino, Y.; Sugiyama, S.; Ichiki, K.; Iida, T.; Imada, H.; Kashima, S.; Mitsuda, K.; Nagai, M.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Komatsu, K.; Nagano, Y.; Takase, Y.; Toda, T.; Kawasaki, T.; Kogiso, N.; Ogawa, H.; Okada, N.; Komatsu, E.; Reinecke, M.; Kreykenbohm, I.; Sasaki, M.; Wilms, J.; Kushino, A.; Lattanzi, M.; Luzzi, G.; Maciaszek, T.; Nakamura, S.; Nishibori, T.; Shinozaki, K.; O'sullivan, C.; Trappe, N.; Ohta, I.S.; Polenta, G.; Sakurai, H.; Savini, G.; Winter, B.; Scott, D.; Shiraishi, M.; Tsuji, M.; Signorelli, G.; Tartari, A.; Smecher, G.; Vermeulen, G.; Zonca, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Space Telescopes and Instrumentation 2020: Optical, Infrared, and Millimeter Wave. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11443)
Conference
Shaw, E.C.; Chiang, H.C.; Contaldi, C.R.; Domagalski, R.S.; Eriksen, H.K.; Farhang, M.; Filippini, J.P.; Fissel, L.M.; Freese, K.; Galloway, M.; Gambrel, A.E.; Gandilo, N.N.; Kahn, A.; Lennox, A.; Mocanu, L.M.; Nie, R.; Osherson, B.; Rahlin, A.S.; Thommesen, H.; Wehus, I.K.; Ade, P.A.R.; Ganga, K.; Gualtieri, R.; Gudmundsson, J.E.; Halpern, M.; Hasselfield, M.; Holmes, W.; Irwin, K.D.; Kuo, C.L.; Megerian, K.; Nagy, J.M.; Padilla, I.L.; Runyan, M.C.; Soler, J.D.; Tucker, C.; Turner, A.D.; Weber, A.C.; Young, E.Y.; Akers, S.; Ruhl, J.E.; Wen, S.; Amiri, M.; Wiebe, D.V.; Austermann, J.E.; Beall, J.A.; Becker, D.T.; Duff, S.M.; Grigorian, A.; Hilton, G.; Hubmayr, J.; Reintsema, C.; Ullom, J.; Van Lanen, J.; Vissers, M.R.; Benton, S.J.; Bergman, A.S.; Duivenvoorden, A.J.; Fraisse, A.A.; Jones, W.C.; Kermish, Z.D.; Li, S.; Redmond, S.; Shiu, C.; Song, X.; Van Der List, J.F.; Bock, J.J.; Dore, O.; Hristov, V.V.; Mason, P.V.; Moncelsi, L.; Morford, T.A.; Trangsrud, A.; Tucker, R.S.; Bond, J.R.; Hartley, J.; Huang, Z.; Leung, J.S.-Y.; Nolta, M.; Netterfield, C.B.; Romualdez, L.J.; Shariff, J.A.; Bryan, S.A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy X. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11453)
Conference
Montier, L.; Mot, B.; Aumont, J.; Banday, A.J.; Rambaud, D.; Roudil, G.; De Bernardis, P.; Pisano, G.; Columbro, F.; Lamagna, L.; D'alessandro, G.; De Petris, M.; Masi, S.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Maffei, B.; Bounissou, S.; Grain, J.; Ritacco, A.; Tucker, C.; Ade, P.A.R.; Calabrese, E.; Hargrave, P.; Gudmundsson, J.E.; Dachlythra, N.; Henrot-Versillé, S.; Auguste, D.; Bonis, J.; Louis, T.; Peloton, J.; Tristram, M.; Montgomery, J.; Cliche, J.F.; Dobbs, M.; Prouvé, T.; Duband, L.; Duval, J.M.; Russell, M.; Arnold, K.; Flauger, R.; Seibert, J.; Savini, G.; Winter, B.; Stever, S.; Ishino, H.; Komatsu, K.; Nagano, Y.; Takase, Y.; Toda, T.; Ghigna, T.; Hazumi, M.; Imada, H.; Katayama, N.; Matsumura, T.; Sakurai, Y.; Sugai, H.; Takakura, S.; Thompson, K.L.; Kuo, C.L.; Beck, D.; Cukierman, A.; Puglisi, G.; Tsujimoto, M.; Dotani, T.; Ebisawa, K.; Hasebe, T.; Kaga, T.; Murata, Y.; Nagata, R.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Okada, N.; Sekimoto, Y.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takeda, Y.; Tominaga, M.; Yamasaki, N.Y.; Yoshida, T.; Westbrook, B.; Beckman, S.; Cheung, K.; Hill, C.A.; Lee, A.T.; Raum, C.; Taylor, E.; Adler, A.; Allys, E.; Boulanger, F.; Levrier, F.; Aurlien, R.; Banerji, R.; Brilenkov, M.; Eriksen, H.K.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Gjerløw, E.; Herman, D.; Svalheim, T.L.; Thommesen, H.; Wehus, I.; Austermann, J.; Beall, J.; Duff, S.; Hilton, G.; Hubmayr, J.; Lanen, J.V.; Ullom, J.; Vissers, M.; Baccigalupi, C.; Campeti, P.; Krachmalnicoff, N.; Poletti, D.; Barreiro, R.B.; Casas, F.J.; Diego-Palazuelos, P.; Herranz, D.; De La Hoz, E.; Martinez-Gonzalez, E.; Vielva, P.; Basak, S.; Bermejo, J.; Bersanelli, M.; Colombo, L.; Franceschet, C.; Maino, D.; Mandelli, S.; Mennella, A.; Realini, S.; Tomasi, M.; Borrill, J.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Curtis, D.; Linder, E.; Brown, M.; Dickinson, C.; Remazeilles, M.; Bucher, M.; Errard, J.; Ganga, K.; Leloup, C.; Patanchon, G.; Stompor, R.; Carones, A.; Migliaccio, M.; Vittorio, N.; Challinor, A.; Namikawa, T.; Sherwin, B.; Chan, V.; Hlozek, R.A.; Nerval, S.; Chinone, Y.; Nishino, H.; Cubas, J.; Elleflot, T.; Suzuki, A.; Essinger-Hileman, T.; Finelli, F.; Gruppuso, A.; Kogut, A.; Shirron, P.; Switzer, E.; Wollack, E.J.; Morgante, G.; Paoletti, D.; Sandri, M.; Villa, F.; Gao, J.R.; Genova-Santos, R.; Rubino-Martin, J.A.; Gerbino, M.; Natoli, P.; Pagano, L.; Gervasi, M.; Zannoni, M.; Thorne, B.; Gradziel, M.L.; Murphy, J.A.; Grupp, F.; De Haan, T.; Hasegawa, M.; Kato, A.; Kohri, K.; Maki, M.; Minami, Y.; Nagasaki, T.; Suzuki, J.; Halverson, N.W.; Jaehnig, G.; Hattori, M.; Hirota, Y.; Kobayashi, Y.; Konishi, K.; Ohsaki, H.; Terao, Y.; Yumoto, J.; Hivon, E.; Hoshino, Y.; Sugiyama, S.; Ichiki, K.; Iida, T.; Kashima, S.; Mitsuda, K.; Nagai, M.; Ishimura, K.; Kawasaki, T.; Kogiso, N.; Ogawa, H.; Okada, N.; Komatsu, E.; Reinecke, M.; Weller, J.; Kreykenbohm, I.; Sasaki, M.; Wilms, J.; Kushino, A.; Lattanzi, M.; Luzzi, G.; Maciaszek, T.; Nakamura, S.; Nishibori, T.; Shinozaki, K.; O'sullivan, C.; Trappe, N.; Ohta, I.S.; Polenta, G.; Sakurai, H.; Scott, D.; Shiraishi, M.; Tsuji, M.; Signorelli, G.; Tartari, A.; Smecher, G.; Vermeulen, G.; Zonca, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Space Telescopes and Instrumentation 2020: Optical, Infrared, and Millimeter Wave. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11443)
Conference
Sekimoto, Y.; Dotani, T.; Ebisawa, K.; Hasebe, T.; Hazumi, M.; Kaga, T.; Murata, Y.; Nagata, R.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Okada, N.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takeda, Y.; Tominaga, M.; Tsujimoto, M.; Yamasaki, N.Y.; Yoshida, T.; De Haan, T.; Hasegawa, M.; Kato, A.; Kohri, K.; Maki, M.; Minami, Y.; Nagasaki, T.; Suzuki, J.; Ade, P.A.R.; Calabrese, E.; Hargrave, P.; Pisano, G.; Tucker, C.; Adler, A.; Allys, E.; Boulanger, F.; Levrier, F.; Ritacco, A.; Arnold, K.; Flauger, R.; Russell, M.; Seibert, J.; Auguste, D.; Bonis, J.; Henrot-Versille, S.; Louis, T.; Peloton, J.; Tristram, M.; Aumont, J.; Banday, A.J.; Montier, L.; Mot, B.; Rambaud, D.; Roudil, G.; Aurlien, R.; Banerji, R.; Brilenkov, M.; Eriksen, H.K.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Gjerløw, E.; Herman, D.; Svalheim, T.L.; Thommesen, H.; Wehus, I.; Austermann, J.; Beall, J.; Duff, S.; Hilton, G.; Hubmayr, J.; Lanen, J.V.; Ullom, J.; Vissers, M.; Baccigalupi, C.; Campeti, P.; Krachmalnicoff, N.; Poletti, D.; Barreiro, R.B.; Casas, F.J.; Diego-Palazuelos, P.; Herranz, D.; De La Hoz, E.; Martinez-Gonzalez, E.; Vielva, P.; Basak, S.; Beck, D.; Cukierman, A.; Kuo, C.L.; Puglisi, G.; Thompson, K.L.; Beckman, S.; Cheung, K.; Hill, C.A.; Lee, A.T.; Raum, C.; Taylor, E.; Westbrook, B.; Bermejo, J.; De Bernardis, P.; Columbro, F.; D'Alessandro, G.; De Petris, M.; Lamagna, L.; Masi, S.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Bersanelli, M.; Colombo, L.; Franceschet, C.; Maino, D.; Mandelli, S.; Mennella, A.; Realini, S.; Tomasi, M.; Borrill, J.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Curtis, D.; Linder, E.; Bounissou, S.; Grain, J.; Maffei, B.; Brown, M.; Dickinson, C.; Remazeilles, M.; Bucher, M.; Errard, J.; Ganga, K.; Leloup, C.; Patanchon, G.; Stompor, R.; Carones, A.; Migliaccio, M.; Vittorio, N.; Challinor, A.; Namikawa, T.; Sherwin, B.; Chan, V.; Hlozek, R.A.; Nerval, S.; Chinone, Y.; Nishino, H.; Cliche, J.F.; Dobbs, M.; Montgomery, J.; Cubas, J.; Dachlythra, N.; Gudmundsson, J.E.; Duband, L.; Duval, J.M.; Prouve, T.; Elleflot, T.; Suzuki, A.; Essinger-Hileman, T.; Kogut, A.; Shirron, P.; Switzer, E.; Wollack, E.J.; Finelli, F.; Gruppuso, A.; Morgante, G.; Paoletti, D.; Sandri, M.; Villa, F.; Gao, J.R.; Genova-Santos, R.; Rubino-Martin, J.A.; Gerbino, M.; Natoli, P.; Pagano, L.; Gervasi, M.; Zannoni, M.; Ghigna, T.; Thorne, B.; Imada, H.; Katayama, N.; Matsumura, T.; Sakurai, Y.; Stever, S.; Sugai, H.; Takakura, S.; Gradziel, M.L.; Murphy, J.A.; Grupp, F.; Halverson, N.W.; Jaehnig, G.; Hattori, M.; Hirota, Y.; Kobayashi, Y.; Konishi, K.; Ohsaki, H.; Terao, Y.; Yumoto, J.; Hivon, E.; Hoshino, Y.; Sugiyama, S.; Ichiki, K.; Iida, T.; Kashima, S.; Mitsuda, K.; Nagai, M.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Komatsu, K.; Nagano, Y.; Takase, Y.; Toda, T.; Kawasaki, T.; Kogiso, N.; Ogawa, H.; Okada, N.; Komatsu, E.; Reinecke, M.; Weller, J.; Kreykenbohm, I.; Sasaki, M.; Wilms, J.; Kushino, A.; Lattanzi, M.; Luzzi, G.; MacIaszek, T.; Nakamura, S.; Nishibori, T.; Shinozaki, K.; O Sullivan, C.; Trappe, N.; Ohta, I.S.; Polenta, G.; Sakurai, H.; Savini, G.; Winter, B.; Scott, D.; Shiraishi, M.; Tsuji, M.; Signorelli, G.; Tartari, A.; Smecher, G.; Vermeulen, G.; Zonca, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy X. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2020, 11453)
Academic Journal
O'Dea, D.T.; Clark, C.N.; Contaldi, C.R.; Ade, P.A.R.; Tucker, C.; Amiri, M.; Burger, B.; Davis, G.; Hasselfield, M.; Wiebe, D.; Benton, S.J.; Netterfield, C.B.; Bock, J.J.; Crill, B.P.; Doré, O.; Filippini, J.P.; Golwala, S.; Hristov, V.V.; Mason, P.V.; Morford, T.A.; Runyan, M.C.; Schenker, M.A.; Trangsrud, A.; Tucker, R.S.; Bonetti, J.A.; Holmes, W.; Turner, A.D.; Bond, J.R.; Farhang, M.; Bryan, S.; Montroy, T.E.; Ruhl, J.E.; Chiang, H.C.; Fraisse, A.A.; Gudmundsson, J.E.; Jones, W.C.; Rahlin, A.S.; Fissel, L.M.; Gandilo, N.N.; Shariff, J.A.; Soler, J.D.; Hilton, G.; Irwin, K.; Reintsema, C.; Kuo, C.L.; MacTavish, C.J.
In: Astrophysical Journal . (Astrophysical Journal, 1 September 2011, 738(1))
Academic Journal
In: Applied Optics . (Applied Optics, 10 April 2020, 59(11):3324-3339)
Academic Journal
Hochberg, Y.; D'Ambrosio, N.; Schaeffner, K.; Biasotti, M.; Gatti, F.; Faverzani, M.; Ferri, E.; Giachero, A.; Nucciotti, A.; Puiu, A.; Cocco, A.G.; Mangano, G.; Pisanti, O.; Marcucci, L.E.; Betti, M.G.; Cavoto, G.; Mancini-Terracciano, C.; Mariani, C.; Pandolfi, F.; Polosa, A.D.; Rossi, N.; Monticone, E.; Rajteri, M.; Colijn, A.P.; Carabe-Lopez, J.; Garcia-Abia, P.; Molinero-Vela, A.; Santorelli, R.; Gomez-Tejedor, G.G.; Boscá, A.; Calle, F.; Martínez, J.; Pedrós, J.; de Salas, P.F.; Gariazzo, S.; Pastor, S.; Strid, C.F.; Conrad, J.; Ferella, A.; Gudmundsson, J.E.; de los Heros, C.P.; Messina, M.; Zurek, K.M.; Chang, C.; Kahn, Y.; Gentile, C.; Raitses, Y.; Chung, W.; Lisanti, M.; Tully, C.G.; Zhao, F.
In: Progress in Particle and Nuclear Physics . (Progress in Particle and Nuclear Physics, May 2019, 106:120-131)
Conference
Salatino, M.; Xu, Z.; Zhu, N.; Lashner, J.; Didier, J.; Gerbino, M.; Simon, S.M.; Coughlin, K.; McMahon, J.; Ali, A.; Ashton, P.C.; Chinone, Y.; Goeckner-Wald, N.; Hill, C.A.; Bryan, S.; Crowley, K.T.; Fabbian, G.; Galitzki, N.; Keating, B.; Teply, G.; Gudmundsson, J.E.; Kusaka, A.; Miller, A.D.; Puglisi, G.; Reichardt, C.L.; Lee, A.T.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10708)
Conference
Hill, C.A.; Ali, A.; Ashton, P.C.; Chinone, Y.; Cukierman, A.; Lee, A.T.; Westbrook, B.; Kusaka, A.; Rao, M.S.; Suzuki, A.; Bruno, S.M.M.; Crowley, K.T.; Dunkley, J.; Staggs, S.; Simon, S.M.; McMahon, J.; Sierra, C.; Arnold, K.S.; Galitzki, N.; Keating, B.; Teply, G.; Barron, D.; Bryan, S.; Coppi, G.; Dicker, S.; Xu, Z.; Zhu, N.; Fabbian, G.; Gallardo, P.A.; Niemack, M.D.; Gudmundsson, J.E.; Hubmayr, J.; Ullom, J.N.; Matsuda, F.; Mauskopf, P.D.; Puglisi, G.; Salatino, M.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10708)
Conference
Galitzki, N.; Henderson, S.; Lashner, J.; Matsuda, F.; May, A.J.; McCallum, N.; Niemack, M.D.; Parshley, S.C.; Piccirillo, L.; Sathyanarayana Rao, M.; Salatino, M.; Seibert, J.S.; Silva-Feaver, M.; Stevens, J.R.; Suzuki, A.; Teply, G.; Tsai, C.; Vavagiakis, E.M.; Ali, A.; Ashton, P.C.; Barron, D.; Goeckner-Wald, N.; Lee, A.T.; Raum, C.; Thornton, R.; Westbrook, B.; Wollack, E.J.; Austermann, J.E.; Beall, J.A.; Dober, B.; Hubmayr, J.; Ullom, J.N.; Vissers, M.R.; Baccigalupi, C.; Baildon, T.; Chesmore, G.E.; Golec, J.E.; McMahon, J.; Sierra, C.; Simon, S.M.; Bruno, S.M.M.; Choi, S.K.; Crowley, K.T.; Dunkley, J.; Healy, E.E.; Ho, S.-P.P.; Li, Y.; Lungu, M.; Staggs, S.T.; Bryan, S.; Mauskopf, P.D.; Calisse, P.G.; Coppi, G.; Devlin, M.J.; Dicker, S.; Limon, M.; Nati, F.; Orlowski-Scherer, J.L.; Xu, Z.; Zhu, N.; Arnold, K.S.; Beckman, S.; Chinone, Y.; Crowley, K.D.; Cukierman, A.; Duff, S.M.; Fabbian, G.; Gallardo, P.A.; Gerbino, M.; Gudmundsson, J.E.; Hill, C.A.; Hilton, G.C.; Howe, L.A.; Jeong, O.; Keating, B.; Koopman, B.J.; Kiuchi, K.; Kusaka, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy IX. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2018, 10708)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Gudmundsson, J.E.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어