학술논문
Understanding metric-related pitfalls in image analysis validation
Document Type
Article
Author
Reinke, A.; Tizabi, M.D.; Eisenmann, M.; Heckmann-Nötzel, D.; Kavur, A.E.; Rädsch, T.; Christodoulou, E.; Godau, P.; Maier-Hein, L.; Jäger, P.F.; Baumgartner, M.; Isensee, F.; Maier-Hein, K.; Petersen, J.; Sudre, C.H.; Antonelli, M.; Cardoso, M.J.; Acion, L.; Arbel, T.; Bakas, S.; Benis, A.; Buettner, F.; Cheplygina, V.; Chen, J.; Cimini, B.A.; Farahani, K.; Ferrer, L.; Galdran, A.; van Ginneken, B.; Glocker, B.; Hashimoto, D.A.; Hoffman, M.M.; Martel, A.L.; Huisman, M.; Jannin, P.; Kahn, C.E.; Kainmueller, D.; Kainz, B.; Karargyris, A.; Kleesiek, J.; Kofler, F.; Kooi, T.; Kopp-Schneider, A.; Kozubek, M.; Kreshuk, A.; Kurc, T.; Landman, B.A.; Litjens, G.; Madani, A.; Meijering, E.; Menze, B.; Moons, K.G.M.; Müller, H.; Nichyporuk, B.; Nickel, F.; Rafelski, S.M.; Rajpoot, N.; Reyes, M.; Riegler, M.A.; Rieke, N.; Saez-Rodriguez, J.; Sánchez, C.I.; Shetty, S.; Summers, R.M.; Taha, A.A.; Tiulpin, A.; Tsaftaris, S.A.; Van Calster, B.; Varoquaux, G.; Yaniv, Z.R.
Source
In: Nature Methods . (Nature Methods, February 2024, 21(2):182-194)
Subject
Language
English
ISSN
15487105
15487091
15487091