학술논문
Impact of magnetic field on the stability of the CMS GE1/1 GEM detector operation
Document Type
Article
Author
De Lentdecker, G.; Irshad, A.; Moureaux, L.; Petre, L.; Yang, Y.; Tytgat, M.; Hong, Y.; Rendon, C.; Hadjiiska, R.; Iaydjiev, P.; Misheva, M.; Rashevski, G.; Shopova, M.; Sultanov, G.; Agapitos, A.; Ban, Y.; Levin, A.; Li, Q.; Wang, D.; Wang, K.; You, Z.; Avila, C.; Jaramillo, J.; Ramirez, F.; Ruiz, J.; Vanegas, N.; Abdalla, H.; Abdelalim, A.; AbuZeid, S.; Hoepfner, K.; Ivone, F.; Keller, H.; Zaleski, S.; Abbas, M.; Szillasi, Z.; Teyssier, D.; Babbar, J.; Bansal, S.; Bhatnagar, V.; Chauhan, S.; Kaur, A.; Kumar, S.; Luhach, M.; Sahota, A.; Sheokand, T.; Singh, J.; Virdi, A.; Ahmed, A.; Choudhary, B.; Gola, M.; Kaur, H.; Kumar, A.; Naimuddin, M.; Shah, A.; Sharma, R.; Majumdar, N.; Mukhopadhyay, S.; Rout, P.; Abbrescia, M.; Aruta, C.; Colaleo, A.; Dell Olio, D.; De Robertis, G.; Franco, M.; Lacalamita, N.; Licciulli, F.; Loddo, F.; Maggi, M.; Martiradonna, S.; Nuzzo, S.; Pellecchia, A.; Radogna, R.; Ranieri, A.; Simone, F.; Venditti, R.; Verwilligen, P.; Borgonovi, L.; Braibant, S.; Giacomelli, P.; Benussi, L.; Bianco, S.; Campagnola, R.; Caponero, M.; Colafranceschi, S.; Passamonti, L.; Piccolo, D.; Pierluigi, D.; Raffone, G.; Russo, A.; Saviano, G.; Cagnotta, A.; Cassese, F.; Cavallo, N.; De Iorio, A.; Fabozzi, F.; Iorio, A.; Lista, L.; Paolucci, P.; Passeggio, G.; Rossi, B.; Aimè, C.; Braghieri, A.; Calzaferri, S.; Fiorina, D.; Gigli, S.; Riccardi, C.; Vai, I.; Vitulo, P.; Merlin, J.; Kim, J.; Yang, U.; Yoon, I.; Jeong, Y.; Kim, M.; Yu, I.; Jang, W.; Kang, Y.; Kim, S.; Ko, B.; Lee, J.; Park, I.; Watson, I.; Yang, S.; Maghrbi, Y.; Ahmad, A.; Ahmed, W.; Asghar, I.; Hoorani, H.; Kailasapathy, B.; Muhammad, A.; Muhammad, S.; Wajid, A.; Malagalage, K.; Sonnadara, U.; Wickramarathna, D.; Dharmaratna, W.; Liyanage, K.; Perera, N.; Wickramage, N.; Aspell, P.; Bianco, M.; Conde Garcia, A.; Fallavollita, F.; Oliveira, R.; Sharma, A.; Aebi, D.; Akhter, T.; Bouhali, O.; Gilmore, J.; Huang, T.; Juska, E.; Kamon, T.; Kim, H.; Rathjens, D.; Safonov, A.; Abbott, S.; Band, R.; Erbacher, R.; Mocellin, G.; Regnery, B.; Gutierrez, A.; Karchin, P.; Peck, A.; Sturdy, J.; Carlson, J.; Datta, A.; Saltzberg, D.; Black, K.; Everaerts, P.; Galloni, C.; Teague, D.; Vetens, W.; Alsufyani, B.; Butalla, S.; Elkafrawy, T.; Hohlmann, M.; Yanes, E.
Source
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 1 November 2023, 18(11))
Subject
Language
English
ISSN
17480221