부산대학교 도서관

Article

Anderson, M.R.; Asahi, S.; Bartlett, D.; Boulay, M.; Caden, E.; Chauhan, D.; Chen, M.; Clark, K.J.; Dai, X.; Fatemighomi, N.; Fletcher, E.; Graham, K.; Guillian, E.; Harvey, P.; Heise, J.; Horne, D.; Hreljac, B.; Iida, T.; Krar, B.; Kraus, C.; Lam, I.; Lan, C.; Liu, X.; Liu, Y.; Manecki, S.; Martin, R.D.; Mauel, J.; McDonald, A.B.; Miller, C.; Mony, E.; Novikov, V.M.; O'Keeffe, H.M.; O'Sullivan, E.; Quirk, S.; Riccetto, S.; Seddighin, M.; Semenec, I.; Skensved, P.; Sonley, T.; Tam, B.; Tian, L.; Walker, M.; Ward, M.; Wright, A.; Zhao, T.; Andringa, S.; Barros, N.; Barao, F.; Cox, M.A.; Inácio, A.S.; Lozza, V.; Maio, A.; Maneira, J.; Nae, S.; Prior, G.; Anselmo, L.; Bialek, A.; Cleveland, B.; Deluce, C.; Duncan, F.; Fabris, D.; Ford, R.; Gagnon, N.; Hall, S.; Lafleur, F.; Lawson, I.; Lin, Y.H.; Arushanova, E.; Back, A.R.; Di Lodovico, F.; Jones, P.G.; Lane, R.; Langrock, S.; Liggins, B.; Mottram, M.J.; Nolan, L.J.; Stringer, M.I.; Wilson, J.R.; Askins, M.; Bonventre, R.; Callaghan, E.J.; Caravaca, J.; Descamps, F.; Jackson, C.M.; Kamdin, K.; Kaptanoglu, T.; Kefelian, C.; Land, B.J.; Orebi Gann, G.D.; Prouty, J.C.; Smiley, M.; Fischer, V.; Grant, C.; Pershing, T.; Pickard, L.; Svoboda, R.; Zhang, T.; Auty, D.J.; Gaur, A.; Gilje, K.; Gorel, P.; Hallin, A.L.; Hedayatipour, M.; Hu, J.; Krauss, C.B.; Mekarski, P.; Petriw, Z.; Shaker, F.; Sharma, M.K.; Sibley, L.; Singh, K.; Veinot, J.G.C.; Yanez, J.P.; Zhang, Y.; Earle, A.D.; Falk, E.; Hartnell, J.; Lefeuvre, G.M.; Leming, E.J.; Mills, C.; Mlejnek, M.; Nirkko, M.; Peeters, S.J.M.; Rigan, M.; Sinclair, J.R.; Waterfield, J.; White, R.F.; Barnard, Z.; Bayes, R.; Braid, D.; Chkvorets, O.; Connors, C.; Cressy, D.; Darrach, C.; Depatie, M.M.; Duhaime, N.; Farrugia, A.; Grove, J.; Hallman, D.; Hussain, S.M.A.; Jillings, C.J.; Khaghani, P.; Korte, S.; Pracsovics, D.; Richardson, R.; Rost, P.M.; Rumleskie, J.; Schumaker, M.A.; Schwendener, M.H.; Shantz, T.; Virtue, C.J.; Vázquez-Jáuregui, E.; Walton, S.C.; Woosaree, P.; Beier, E.W.; Coulter, I.T.; Grullon, S.; Heintzelman, W.J.; Klein, J.R.; Knapik, R.; Lebanowski, L.; Luo, M.; Marzec, E.; Mastbaum, A.; Secrest, J.; Seibert, S.; Shokair, T.M.; Van Berg, R.; Zummo†]deceased, A.; Dittmer, J.; Meyer, M.; Petzoldt, J.; Sörensen, A.; Von Krosigk, B.; Weigand, J.J.; Zuber, K.; Biller, S.D.; Cavalli, L.; Cookman, D.; Dunger, J.; Jelley, N.A.; Jones, C.; Kroupova, T.; Lidgard, J.; Majumdar, K.; Morton-Blake, I.; Paton, J.; Reichold, A.; Segui, L.; Tseng, J.; Turner, E.; Wang, J.; Blucher, E.; Labe, K.; Latorre, A.; Strait, M.; Carvalho, J.; McCauley, N.; Robertson, A.; Rose, J.; Stainforth, R.; Walker, J.M.G.; Davis-Purcell, B.; Helmer, R.L.; Wasalski, O.; Frankiewicz, K.; Gooding, D.; Li, A.; Hans, S.; Maguire, S.; Rosero, R.; Yeh, M.; Kaspar, J.; Kippenbrock, L.; Kofron, J.; Scislowski, D.; Tatar, J.; Tolich, N.; Tseung, H.W.C.; Winchester, T.J.; Keeter, K.; Kormos, L.L.; Parnell, M.J.; González-Reina, O.I.

In: Journal of Instrumentation. (Journal of Instrumentation, May 2021, 16(5))

English

17480221