학술논문
Reflectivity and PDE of VUV4 Hamamatsu SiPMs in liquid xenon
Document Type
Article
Author
Nakarmi, P.; Ostrovskiy, I.; Soma, A.K.; Hughes, M.; Nusair, O.; Piepke, A.; Veeraraghavan, V.; Retière, F.; Brunner, T.; Mamahit, S.B.; Croix, A.D.S.; Dilling, J.; Doria, L.; Edaltafar, F.; Gallina, G.; Gornea, R.; Krücken, R.; Lan, Y.; Massacret, N.; Ward, M.; Kharusi, S.Al.; Chambers, C.; Darroch, L.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Murray, K.; Totev, T.I.; Alfaris, M.; Blatchford, J.; Feyzbakhsh, S.; Kumar, K.S.; Pocar, A.; Tarka, M.; Anton, G.; Hößl, J.; Michel, T.; Wagenpfeil, M.; Ziegler, T.; Arnquist, I.J.; Vacri, M.L.D.; Ferrara, S.; Hoppe, E.W.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Overman, C.T.; Saldanha, R.; Tsang, R.; Badhrees, I.; Chana, B.; Elbeltagi, M.; Goeldi, D.; Koffas, T.; Viel, S.; Vivo-Vilches, C.; Watkins, J.; Barbeau, P.S.; Runge, J.; Beck, D.; Coon, M.; Echevers, J.; Li, S.; Yang, L.; Belov, V.; Karelin, A.; Kuchenkov, A.; Stekhanov, V.; Zeldovich, O.; Bhatta, T.; Larson, A.; Maclellan, R.; Breur, P.A.; Dragone, A.; Kaufman, L.J.; Mong, B.; Odian, A.; Oriunno, M.; Rowson, P.C.; Viii, K.S.; Brodsky, J.P.; Heffner, M.; House, A.; Sangiorgio, S.; Stiegler, T.; Brown, E.; Fucarino, A.; Odgers, K.; Caden, E.; Cleveland, B.; Mesrobian-Kabakian, A.D.; Farine, J.; Licciardi, C.; Robinson, A.; Walent, M.; Wichoski, U.; Cao, G.F.; Ding, Y.Y.; Jiang, X.S.; Lv, P.; Ning, Z.; Sun, X.L.; Wei, W.; Wen, L.J.; Wu, W.H.; Zhao, J.; Cao, L.; Wang, Q.; Wu, X.; Yang, H.; Zhou, Y.; Charlebois, S.A.; Fontaine, R.; Nolet, F.; Parent, S.; Pratte, J.-F.; Rossignol, T.; Roy, N.; St-Hilaire, G.; Vachon, F.; Chiu, M.; Giacomini, G.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Tsang, T.; Craycraft, A.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Iverson, A.; Todd, J.; Wager, T.; Dalmasson, J.; Devoe, R.; Gratta, G.; Jewell, M.J.; Lenardo, B.G.; Li, G.; Weber, M.; Wu, S.X.; Daniels, T.; Visser, G.; Dolinski, M.J.; Gautam, P.; Hansen, E.V.; Richman, M.; Fabris, L.; Newby, R.J.; Jamil, A.; Li, Z.; Moore, D.C.; Xia, Q.; Leach, K.G.; Natzke, C.R.; Leonard, D.S.; Njoya, O.; Vuilleumier, J.-L.
Source
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 17 January 2020, 15(1))
Subject
Language
English
ISSN
17480221