학술논문
Construction and quality assurance of the Belle II silicon vertex detector
Document Type
Conference Paper
Author
Barberio, E.; Baroncelli, Ti.; Baroncelli, To.; Caria, G.; Taylor, G.N.; Urquijo, P.; Webb, J.; Williams, S.; Bauer, A.; Buchsteiner, F.; Friedl, M.; Irmler, C.; Schultschik, S.; Schwanda, C.; Thalmeier, R.; Yin, H.; Li, Y.; Bilka, T.; Červenkov, D.; Doležal, Z.; Kandra, J.; Kodyš, P.; Kvasnička, P.; Bahinipati, S.; Dash, N.; Resmi, P.K.; Basith, A.K.; Behera, P.K.; Libby, J.; Bhuyan, B.; Kumar, M.; Lalwani, K.; Kumar, R.; Aziz, T.; Mayekar, S.N.; Mohanty, G.B.; Prasanth, K.; Rao, K.K.; Sahoo, D.; Batignani, G.; Bertacchi, V.; Bettarini, S.; Casarosa, G.; de Nuccio, M.; Forti, F.; Lueck, T.; Martini, A.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Zani, L.; Bosi, F.; Ceccanti, M.; Mammini, P.; Profeti, A.; Bosisio, L.; la Licata, C.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Gobbo, B.; Komarov, I.; Rashevskaya, I.; Higuchi, T.; Joo, C.; Morii, T.; Paladino, A.; Watanabe, M.; Czank, T.; Ishikawa, A.; Watanuki, S.; Aihara, H.; Grimaldo, J.A.M.; Onuki, Y.; Sasaki, J.; Tanigawa, H.; Wan, K.; Watson, I.J.; Hara, K.; Kohriki, T.; Nakamura, K.R.; Sato, N.; Suzuki, J.; Tanaka, S.; Tsuboyama, T.; Jeon, H.B.; Kang, K.H.; Lee, S.C.; Park, H.; Lee, J.Y.; Bacher, S.; Bozek, A.; Kaleta, M.; Natkaniec, Z.; Ostrowicz, W.; Rozanska, M.; Stypula, J.; Wiechczynski, J.
Source
In: Proceedings of Science , 27th International Workshop on Vertex Detectors, VERTEX 2018. (Proceedings of Science, 2018, 348)
Subject
Language
English
ISSN
18248039