부산대학교 도서관

Article

Auffenberg, J.; Bissok, M.; Glauch, T.; Haack, C.; Hansmann, T.; Konietz, R.; Leuermann, M.; Penek, Ö.; Rädel, L.; Reimann, R.; Rongen, M.; Schoenen, S.; Schumacher, L.; Stettner, J.; Vehring, M.; Vogel, E.; Wallraff, M.; Wickmann, S.; Wiebusch, C.H.; Aartsen, M.G.; Hill, G.C.; Robertson, S.; Wallace, A.; Whelan, B.J.; Rawlins, K.; Japaridze, G.S.; Taboada, I.; Fazely, A.R.; Ter-Antonyan, S.; Xu, X.W.; Bay, R.; Binder, G.; Filimonov, K.; Gerhardt, L.; Klein, S.R.; Miarecki, S.; Palczewski, T.; Price, P.B.; Tatar, J.; Woschnagg, K.; Goldschmidt, A.; Nygren, D.R.; Przybylski, G.T.; Stezelberger, T.; Stokstad, R.G.; de With, M.; Hebecker, D.; Kolanoski, H.; Kowalski, M.; Becker Tjus, J.; Bos, F.; Eichmann, B.; Kroll, M.; Mandelartz, M.; Schöneberg, S.; Tenholt, F.; Voge, M.; Aguilar, J.A.; Ansseau, I.; Heereman, D.; Meagher, K.; Meures, T.; O'Murchadha, A.; Pinat, E.; Raab, C.; Brayeur, L.; Casier, M.; De Clercq, C.; de Vries, K.D.; de Wasseige, G.; Kunnen, J.; Lünemann, J.; Maggi, G.; Toscano, S.; van Eijndhoven, N.; Argüelles, C.; Axani, S.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Jones, B.J.P.; Moulai, M.; Ishihara, A.; Kuwabara, T.; Lu, L.; Mase, K.; Relich, M.; Stößl, A.; Yoshida, S.; Adams, J.; Berley, D.; Blaufuss, E.; Cheung, E.; Felde, J.; Friedman, E.; Hellauer, R.; Hoffman, K.D.; Maunu, R.; Olivas, A.; Schmidt, T.; Song, M.; Sullivan, G.W.; Beatty, J.J.; Sutherland, M.; Hansen, E.; Koskinen, D.J.; Larson, M.J.; Medici, M.; Rameez, M.; Sarkar, S.; Börner, M.; Fuchs, T.; Meier, M.; Menne, T.; Pieloth, D.; Rhode, W.; Ruhe, T.; Sandrock, A.; Schlunder, P.; de André, J.P.A.M.; DeYoung, T.; Hignight, J.; Lennarz, D.; Mahn, K.B.M.; Neer, G.; Rysewyk, D.; Giang, W.; Grant, D.; Kopper, C.; Nowicki, S.C.; Riedel, B.; Sanchez Herrera, S.E.; Weaver, C.; Wood, T.R.; Woolsey, E.; Yanez, J.P.; Altmann, D.; Anton, G.; Glüsenkamp, T.; Katz, U.; Kittler, T.; Tselengidou, M.; Bron, S.; Carver, T.; Christov, A.; Montaruli, T.; De Ridder, S.; Labare, M.; Meli, A.; Ryckbosch, D.; Vanheule, S.; Vraeghe, M.; Barwick, S.W.; Yodh, G.; Besson, D.Z.; Gallagher, J.; Ahlers, M.; Braun, J.; Chirkin, D.; Day, M.; Desiati, P.; Díaz-Vélez, J.C.; Fahey, S.; Feintzeig, J.; Ghorbani, K.; Gladstone, L.; Griffith, Z.; Halzen, F.; Hanson, K.; Hoshina, K.; Jero, K.; Karle, A.; Kauer, M.; Kelley, J.L.; Kheirandish, A.; Krüger, C.; Mancina, S.; McNally, F.; Merino, G.; Sabbatini, L.; Tobin, M.N.; Tosi, D.; Vandenbroucke, J.; van Rossem, M.; Wandkowsky, N.; Wendt, C.; Westerhoff, S.; Wille, L.; Xu, D.L.; Archinger, M.; Baum, V.; Böser, S.; del Pino Rosendo, E.; di Lorenzo, V.; Eberhardt, B.; Ehrhardt, T.; Fösig, C.-C.; Köpke, L.; Krückl, G.; Peiffer, P.; Sandroos, J.; Steuer, A.; Wiebe, K.; Andeen, K.; Kohnen, G.; Bernhard, A.; Coenders, S.; Huber, M.; Krings, K.; Resconi, E.; Turcati, A.; Classen, L.; Kappes, A.; Dembinski, H.; Evenson, P.A.; Gaisser, T.K.; Gonzalez, J.G.; Koirala, R.; Pandya, H.; Seckel, D.; Stanev, T.; Tilav, S.; Maruyama, R.; Kurahashi, N.; Relethford, B.; Richman, M.; Wills, L.; Bai, X.; Madsen, J.; Seunarine, S.; Spiczak, G.M.; Ahrens, M.; Bohm, C.; Dumm, J.P.; Finley, C.; Flis, S.; Hultqvist, K.; Walck, C.; Wolf, M.; Zoll, M.; Kiryluk, J.; Lesiak-Bzdak, M.; Niederhausen, H.; Xu, Y.; Bose, D.; Dujmovic, H.; In, S.; Jeong, M.; Kang, W.; Kim, J.; Kim, M.; Rott, C.; Clark, K.; Pepper, J.A.; Toale, P.A.; Williams, D.R.; Cowen, D.F.; Anderson, T.; Dunkman, M.; Eller, P.; Huang, F.; Keivani, A.; Lanfranchi, J.L.; Pankova, D.V.; Quinnan, M.; Tešić, G.; Weiss, M.J.; BenZvi, S.; Cross, R.; Botner, O.; Burgman, A.; Euler, S.; Hallgren, A.; Pérez de los Heros, C.; Ström, R.; Taavola, H.; Unger, E.; Becker, K.-H.; Bindig, D.; Helbing, K.; Hickford, S.; Hoffmann, R.; Kopper, S.; Lauber, F.; Naumann, U.; Obertacke Pollmann, A.; Soldin, D.; Ackermann, M.; Bernardini, E.; Blot, S.; Bretz, H.-P.; Franckowiak, A.; Jacobi, E.; Karg, T.; Kintscher, T.; Kunwar, S.; Nahnhauer, R.; Satalecka, K.; Spiering, C.; Stasik, A.; Strotjohann, N.L.; Terliuk, A.; Usner, M.; van Santen, J.

In: Astroparticle Physics. (Astroparticle Physics, June 2017, 92:30-41)

English

09276505