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Control of the in-plane epitaxy for bi-epitaxial grain boundary junctions using a new multilayer structure
Document Type
Article
Author
Li, M.Y.; Chang, W.J.; Lin, C.L.; Chi, C.C.; Guan, W.; Wu, M.K.; Kao, H.L.
Source
In: Journal of Applied Physics. (Journal of Applied Physics, 1995, 77(9):4584-4588)
Subject
Language
English
ISSN
00218979

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