학술논문

二维X射线衍射光谱原位检测单轴拉伸过程中等规聚丙烯晶体的结构演变 / In Situ Detection of Structural Evolution of Isotropic Polypropylene Crystals During Uniaxial Stretching by Two-Dimensional X-Ray Diffraction Spectroscopy
Document Type
Academic Journal
Source
光谱学与光谱分析 / Spectroscopy and Spectral Analysis. 43(5):1426-1433
Subject
二维广角X射线衍射光谱
等规聚丙烯
原位检测
单轴拉伸
晶体形变
Language
Chinese
ISSN
1000-0593
Abstract
聚合物制品在使用过程中,人们最关心的是它的使用失效条件,失效的重要体现就是材料的屈服.目前为止,人们普遍利用位错理论来解释聚合物材料的屈服现象,该理论关注的是晶体的取向和破坏现象,而忽略了晶体的形变和受力情况.事实上,晶体的取向和破坏只是屈服的结果,晶体承受应力的能力才是屈服的直接原因.因此,从晶体的受力和非均匀形变入手研究了聚合物制品的屈服行为,期望为理解聚合物材料的失效行为提供新思路.这里选取被人们广泛使用的等规聚丙烯(iPP)材料作为研究对象,将iPP熔体在不同温度下等温结晶制备出具有不同片晶厚度iPP样品,利用二维广角X射线衍射光谱原位监测了拉伸过程中iPP样品的晶体破坏和晶体取向过程.首次利用"覆盖法"对二维X射线衍射图进行了处理,原位观察了(110)晶面在拉伸过程中的2θ角的变化,区分出了两个方向上(平行于拉伸方向和垂直于拉伸方向)晶体形变的非均一性.结果表明:对于不同片晶厚度的iPP晶体,在单轴拉伸过程中,晶体在不同方向上的受力和形变均是不同的,即晶体的非均一形变是一种普遍现象;晶体的破坏和取向总是同时发生,都是从屈服点位置处开始,这和片晶厚度无关;而晶体破坏时对应的临界应力和晶体厚度有关,片晶越厚,晶体越稳定,需要的临界应力就越大.以上结果表明,原位X射线衍射光谱技术可以实时观测晶体结构在拉伸过程中的变化情况,从而将晶体结构演化和宏观力学性能直接关联.