학술논문
A bonding study toward the quality assurance of Belle-II silicon vertex detector modules
Document Type
Article
Author
Kang, K.H.; Jeon, H.B.; Park, H.; Uozumi, S.; Adamczyk, K.; Aihara, H.; Angelini, C.; Aziz, T.; Babu, V.; Bacher, S.; Bahinipati, S.; Barberio, E.; Baroncelli, T.; Basith, A.K.; Batignani, G.; Bauer, A.; Behera, P.K.; Bergauer, T.; Bettarini, S.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Bosi, F.; Bosisio, L.; Bozek, A.; Buchsteiner, F.; Casarosa, G.; Ceccanti, M.; Červenkov, D.; Chendvankar, S.R.; Dash, N.; Divekar, S.T.; Doležal, Z.; Dutta, D.; Forti, F.; Friedl, M.; Hara, K.; Higuchi, T.; Horiguchi, T.; Irmler, C.; Ishikawa, A.; Joo, C.W.; Kandra, J.; Kato, E.; Kawasaki, T.; Kodyš, P.; Kohriki, T.; Koike, S.; Kolwalkar, M.M.; Kvasnička, P.; Lanceri, L.; Lettenbicher, J.; Mammini, P.; Mayekar, S.N.; Mohanty, G.B.; Mohanty, S.; Morii, T.; Nakamura, K.R.; Natkaniec, Z.; Negishi, K.; Nisar, N.K.; Onuki, Y.; Ostrowicz, W.; Paladino, A.; Paoloni, E.; Pilo, F.; Profeti, A.; Rao, K.K.; Rashevskaia, I.; Rizzo, G.; Rozanska, M.; Sandilya, S.; Sasaki, J.; Sato, N.; Schultschik, S.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Shimizu, N.; Stypula, J.; Tanaka, S.; Tanida, K.; Taylor, G.N.; Thalmeier, R.; Thomas, R.; Tsuboyama, T.; Urquijo, P.; Vitale, L.; Volpi, M.; Watanuki, S.; Watson, I.J.; Webb, J.; Wiechczynski, J.; Williams, S.; Würkner, B.; Yamamoto, H.; Yin, H.; Yoshinobu, T.
Source
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 21 September 2016 831:213-220
Subject
Language
ISSN
0168-9002