학술논문 – 부산대학교 도서관

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Ge 1−xSn x stressors for strained-Ge CMOS

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Article

Author

Takeuchi, S.; Shimura, Y.; Nishimura, T.; Vincent, B.; Eneman, G.; Clarysse, T.; Demeulemeester, J.; Vantomme, A.; Dekoster, J.; Caymax, M.; Loo, R.; Sakai, A.; Nakatsuka, O.; Zaima, S.

Source

In Solid State Electronics 2011 60(1):53-57

Subject

Language

ISSN

0038-1101

Online Access

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