학술논문 – 부산대학교 도서관

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Gate-all-around technology: Taking advantage of ballistic transport?

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Article

Author

Huguenin, J.L.; Bidal, G.; Denorme, S.; Fleury, D.; Loubet, N.; Pouydebasque, A.; Perreau, P.; Leverd, F.; Barnola, S.; Beneyton, R.; Orlando, B.; Gouraud, P.; Salvetat, T.; Clement, L.; Monfray, S.; Ghibaudo, G.; Boeuf, F.; Skotnicki, T.

Source

In Solid State Electronics 2010 54(9):883-889

Subject

Language

ISSN

0038-1101

Online Access

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