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Aluminium corrosion in power semiconductor devices

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Article

Author

Leppänen, J.; Ingman, J.; Peters, J.-H.; Hanf, M.; Ross, R.; Koopmans, G.; Jormanainen, J.; Forsström, A.; Ross, G.; Kaminski, N.; Vuorinen, V.

Source

In Microelectronics Reliability October 2022 137

Subject

Language

ISSN

0026-2714

Online Access

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