학술논문 – 부산대학교 도서관

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Ionizing radiation hardness tests of GaN HEMTs for harsh environments

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Author

Vilas Bôas, Alexis C.; de Melo, M.A.A.; Santos, R.B.B.; Giacomini, R.; Medina, N.H.; Seixas, L.E.; Finco, S.; Palomo, F.R.; Romero-Maestre, A.; Guazzelli, Marcilei A.

Source

In Microelectronics Reliability January 2021 116

Subject

Language

ISSN

0026-2714

Online Access

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