학술논문 – 부산대학교 도서관

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Heavy ion irradiation induced hard error in MTJ of the MRAM memory array

Document Type

Article

Author

Zhao, P.X.; Liu, T.Q.; Cai, C.; Li, D.Q.; Ji, Q.G.; He, Z.; Zhai, P.F.; Sun, Y.M.; Gu, S.; Liu, J.

Source

In Microelectronics Reliability September 2019 100-101

Subject

Language

ISSN

0026-2714

Online Access

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